トップPDF E in SMExam2016 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in SMExam2016 ans

E in SMExam2016 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in SMExam2016 ans

E in SMExam2016 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in SMExam2016 ans

統計力学演習 (Wednesday February 8th 2017) 期末試験 解答例 & 解説 1 解答 1. 次小問に答えよ。 (20 点 ) 1-1. ある系におけるミクロカノニカル分布熱力学的 重率を W(U, δU) とする。系エネルギー固有値 E i に

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E in SM04 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM04 最近の更新履歴 物理学ノート

E σ = −µ 0 Hσ (4.3) で 与 え ら れ る 。仮 に H > 0 な ら 上 向 き 状 態 エ ネ ル ギ ー が 低 く ,下 向 き 状 態 エ ネ ル ギ ー が 高 い 。逆 に H < 0 なら上向き状態エネルギーが高く,下向き状態エネルギーが低い。このように,スピンは磁場と同 じ向きに揃おうとする傾向を持つ。

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E in SM01 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM01 最近の更新履歴 物理学ノート

標本点: 試行によって得られる個々結果。それ以上細分化できない。素事象ともいう。すべて標本点に 番号をふって, i = 1, 2, . . . , Ω とする。 標本空間: 標本点すべてからなる集合。 事象: 標本空間部分集合(空集合や全体集合でも可) 。 A, B などで表す。任意事象は,標本点またはそ 組み合わせで構成される。

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E in SM02 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM02 最近の更新履歴 物理学ノート

今,ある量子系エネルギー固有値問題が完全に解けたとする。すなわち ˆ H ϕ i = E i ϕ i (2.2) を満たす全て ϕ i と E i が得られた事になる。ここで i = 1, 2, · · · は,エネルギー低い順序に定める :

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E in Me 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me 最近の更新履歴 物理学ノート

1. 直線上ある点 A 位置ベクトル a に,直線と平行なベクトル d 定数倍を加える。 2. 原点から直線に降ろした垂線足を H , H 位置ベクトルを h とする。 P と H を結ぶ線は, h と直 交する。 3. 直線同一でない 2 つ点 S, T 位置ベクトルをそれぞれ s, t とする。 P は線分 ST を適当に 内分または外分した点である。

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E in Me05 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me05 最近の更新履歴 物理学ノート

1-3. 運動方程式を t で積分し,時刻 t における y 方向速度 v y (t) を求めよ。 1-4. 運動方程式をもう一度 t で積分し,時刻 t で高さ y(t) を求めよ。 1-5. 質点が最高点に到達する時刻 t h とその高さ y h を求めよ。 ✎ 最高点では速度 v y が 0 になることを用いる。

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E in MeExam2009 最近の更新履歴  物理学ノート E in MeExam2009

E in MeExam2009 最近の更新履歴 物理学ノート E in MeExam2009

10-1. 慣性系だけを用いて考えた場合、運動概略図 ( 座標や働く力など ) を書け。 10-2. 慣性系における運動方程式を書け。 10-3. 運動方程式一般解を求めよ。 10-4. t = 0 で O から距離 ar ところで質点が静止していたという初期条件を選び、質点座標を求めよ。 10-5. 質点に作用する力 S を求めよ。

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E in Me06 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me06 最近の更新履歴 物理学ノート

3-8. この質点が等速運動になる条件およびその終端速度 v ∞ を求めよ。 3-9. 速度 v y (t) をグラフで表せ。 3-10. 下降中高さ y(t) が下ように表されることを確かめよ。 y (t) = − 1 κ log

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E in QM 最近の更新履歴  物理学ノート

E in QM 最近の更新履歴 物理学ノート

電球を 1.0 m 離れて見る場合,単位秒当たり瞳に飛び込む光子は何個か ? 瞳断面積は 0.50 cm 2 とする。 問題 4. 人間目が光を感じるには,視細胞内部にある 1 つ原子が約 2.5 × 10 −19 J エネルギーを受け取る必要 がある。視細胞とその内部原子を,それぞれ半径 10 −6 m, 10 −10 m 球とする。 4-1. 0 等星 *4 から光が,断面積 0.50 cm 2 瞳を通して入り, 1 つ視細胞に集められたとする。光を波と考え
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E in Me06 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me06 ans

E in Me06 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me06 ans

図 23 速度に比例する空気抵抗があるとき垂直投げ上げ運動上向き速度および高さ。空気抵抗係数 k = 10 s −1 場合。 23-8. kt ≪ 1 場合, v y (t) と y(t) を k 1 次まで展開せよ。

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E in Me05 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me05 ans

E in Me05 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me05 ans

22-4. x 方向運動は容易に解けるので,先に積分してその速度 v x (t) と位置 x(t) を求めよ。 【解答】 (4.18) より x 方向には等速度運動なので v x (t) = v x (0) = V cos α, (4.20) x(t) = V t cos α. (4.21)

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E in Me04 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me04 ans

E in Me04 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me04 ans

いた。鎖両端をそれぞれ A と B ,また A から x 離れた点を P とする。 B を力 F で水平に引っ張ると全体が加速度 a で動いた。 19-1. 運動様子を図示せよ。点 P における鎖張力を S とする。 【解答】右図通り。図 S は, A ∼ P 部分を右に引く張力である。もちろ ん実際には P で鎖はくっついているが, S が A ∼ P 部分に働くことを明らか にするため少し離して書いた。図左向き力は, S 反作用であり, P ∼ B 部分を左に引いている。
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E in TDExam2016 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in TDExam2016 ans

E in TDExam2016 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in TDExam2016 ans

熱力学演習 (Wednesday August 3, 2016) 期末試験 解答例 & 解説 1 問題 1. 次文章空欄に入る言葉を答えよ。また 4. で は左辺を含めた数式を書け。 (30 点 ) 1. Helmholtz 自由エネルギー F[T ; X ] は, a. 等温

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E in SM 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM 最近の更新履歴 物理学ノート

許される量子状態 マクロに見たエネルギーが U である状況を再現するミクロな量子状態集まり。エネルギーが, U まわり微小幅範囲内に入る全てエネルギー固有状態とその線形結合(重ね合わせ)を許される量子状態 と呼ぶ。 マクロな系基本的な性質 マクロな量子系では,ある平衡状態に対して許される量子状態ほとんど全てが(マク ロな物理測定で比較する限り)区別できない。言い換えると,「許される量子状態」圧倒的大多数が,マクロ に見ればそっくりである。この大多数そっくりな状態を「典型的状態」と呼ぶ。
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E in Me03 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me03 ans

E in Me03 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me03 ans

2.5 外積を用いる計算例 15 特に P が地面に接するは ωt = 2nπ 時で,その瞬間速度 v A は v A = Rω(1 − cos 2nπ, sin 2nπ) = (0, 0) = 0. (2.72) 地 面 に 接 す る 瞬 間 , P は 静 止 し て い る 。こ れ は 車 輪 が 滑 ら な い こ と を 意 味 す る 。車 輪 平 行 移 動 速 度 r ˙ 0 = (v, 0) と 回 転 運 動 に よ る 速 度 r ˙ A ′ = (−v, 0) 合 成 で あ る 。一 方 P が 車 輪 頂 上 B に あ る 時 , ωt = (2n + 1)π より,その瞬間速度 v B は
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J98 e JETTA 2002 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J98 e JETTA 2002

J98 e JETTA 2002 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J98 e JETTA 2002

a core are propagated to all input ports of the core from TPS, and the test responses appeared at an out- put port of the core are propagated to TRS consecu- tively at the speed of system clock. The propagation of test patterns and responses is achieved by using interconnects and consecutively transparent paths of surrounding cores. All interconnects can be tested in a similar fashion. Therefore, it is possible to apply any test sequence and observe any response sequence consecutively at the speed of system clock. We also proposed a design-for-testability method for making a given SoC consecutively testable based on integer linear programming problem. Our future work is to propose a DFT method for making cores consecutively transparent with minimum hardware overhead.
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J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4

J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4

To increase the testability of the complete design and to ease RT-level test generation, various DFT methods at RT-level have also been proposed. The most com- mon methods are based on full-scan or partial scan. However, a scan-based DFT technique leads to long test application time and it is less useful for at-speed testing. On the other hand, non-scan DFT technique [ 6 , 9 , 13 , 14 , 30 , 37 ] offer low test application time and they facilitate at-speed testing. In [ 6 ], non-scan DFT techniques are proposed to increase the testability of RT-level designs. In [ 30 ], the authors presented a method called orthogonal scan. It uses functional data- path flow for test data, instead of traditional scan-path flow; therefore, it reduces test application time. In [ 13 ], a technique was proposed to improve the hierarchical testability of the data path, which can aid hierarchi- cal test generation. In [ 14 ], the authors presented a DFT technique for extracting functional control- and data-flow information from RT-level description and illustrated its use in design for hierarchical testability. This method has low overhead and it leads to shorter test generation time, up to 2–4 orders of magnitude less than traditional sequential test generation due to the use of symbolic test generation. In [ 37 ], the au- thors presented a method based on strong testability, which exploits the inherent characteristic of datapaths to guarantee the existence of test plans (sequences of control signals) for each hardware element in the datapath. Compared to the full-scan technique, this method can facilitate at-speed testing and reduce test application time. However, it introduces hardware and delay overhead. To reduce overhead, the authors pro- posed a linear-depth time-bounded testability-based DFT method in [ 9 ]. It ensures the existence of a linear- depth time expansion for any testable fault and exper- iments showed that it offers lower hardware overhead than the method in [ 37 ].
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J161 e JETTA 2012 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J161 e JETTA 2012

J161 e JETTA 2012 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J161 e JETTA 2012

Received: 14 November 2011 / Accepted: 26 June 2012 / Published online: 13 July 2012 # Springer Science+Business Media, LLC 2012 Abstract The paper proposes a hierarchical untestable stuck-at fault identification method for non-scan synchro- nous sequential circuits. The method is based on deriving, minimizing and solving test path constraints for modules embedded into Register-Transfer Level (RTL) designs. First, an RTL test pattern generator is applied in order to extract the set of all possible test path constraints for a module under test. Then, the constraints are minimized using an SMT solver Z3 and a logic minimization tool ESPRESSO. Finally, a constraint-driven deterministic test pattern gener- ator is run providing hierarchical test generation and untest- ability proof in sequential circuits. We show by experiments that the method is capable of quickly proving a large num- ber of untestable faults obtaining higher fault efficiency than achievable by a state-of-the-art commercial ATPG. As a side effect, our study shows that traditional bottom-up test
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IWFBCA in onv1 最近の更新履歴  GCOEアジア保全生態学 IWFBCA in onv1

IWFBCA in onv1 最近の更新履歴 GCOEアジア保全生態学 IWFBCA in onv1

8 Aqua Restoration Research Center Kawashima Kasada-machi Kakamigahara-City Gifu Prefecture, 501-6021, Japan 9 Water Resources Environment Technology Center, Tokyo, Japan. We conducted complimentary analysis for fish fauna covering the entire Japanese archipelago as well as the specific regions such as Hokkaido and Kyushu. The results were compared with the protected areas (national parks and other reserves) to see the gaps between them. Although important areas found by the complimentary analysis in Hokkaido were relatively covered by the current reserves, those in Kyushu were not protected. There is a bias of data availability in Kyushu, and therefore we should fill the gaps of database using niche models for various species before complimentary analysis. Sediment control dams and water reservoir constructions and gravel mining are causing progressive sediment starvation in Japanese rivers, which results in rapid degradation of the riverbeds followed by forest expansion. Benthic invertebrates and fish cannot survive there, and migrating fish lose their spawning habitat. Bar-braided channels are changed to single-thread channels, and thereby habitats for overwintering juvenile fish will disappear. The bars and floodplains are covered by trees, because flood disturbances are greatly reduced by dams. The forest expansion has indirect impacts on material flows and organisms in the rivers and floodplains. It may reduce primary production and water temperature, and increase allochthonous input, which affect invertebrates and fish. Not only aquatic organisms, terrestrial animals, such as birds and mammals, also suffer from various impacts of forest expansion. The maximum stream temperature in summer may rise associated with dam construction and global warming. We focused on whitespotted char and Dolly varden as an indicator species, and build a niche model to predict shrinkage of their distribution by those impacts.
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J152 e IEICE 2010 6 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J152 e IEICE 2010 6

J152 e IEICE 2010 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J152 e IEICE 2010 6

∗ 9 = 16). Therefore, we can relax the constraints by considering the test require- ments for each core separately using different variables. (Cost for Transparency) During the optimization of transparency-based TAM design, we have to consider two types of cost. One is the area overhead for making cores transparent and the other is the routing overhead for ad- ditional interconnect. The former cost can be determined within each core while the latter cost depends on the global layout information, and therefore it is difficult to compare these costs. The method in [23] considers that the area over- head for making cores transparent is negligible and tries to minimize only the number of additional interconnects. However, we can get better solution if we know the relative costs between the above two types of cost and both costs can be taken into account simultaneously during the opti- mization.
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