[PDF] Top 20 J81 e IEICE 2000 8 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J81 e IEICE 2000 8

... 5. Conclusions In this paper, we have presented wait-free linearizable implementations shown in Table 2, which are four im- plementations of read/write registers and two imple- mentations of general objects. In general, ... 完全なドキュメントを参照

... 回路 C P ′ ともとの回路 C は分岐の位置が異なるだ けで機能的には等価である．したがって，ベクトル v を C に印加したときの内部のゲート g i に割り当てら れる値と， v を C P ′ に印加したときの g i に対応する内 部のゲート g i ′ に割り当てられる値は同じである． v を 回路 C P ′ に印加したとき，ゲート g ... 完全なドキュメントを参照

... Figure 3. Thru Function without Mask paths in a data path can prevent application of a desired in- put to a two-input module. In particular, this can happen if the paths for propagating the values start from the same ... 完全なドキュメントを参照

... 1. Introduction Test generation for a sequential circuit is, in general, a difficult and intractable task which may be unsolvable within a reasonable time for a large-scale circuit [1, 2]. Methods of solution include ... 完全なドキュメントを参照

... E-mail: ohtake, hiroki-w, masuzawa, fujiwara @is.aist-nara.ac.jp Abstract — This paper presents a non-scan design-for- testability (DFT) method for VLSIs designed at register- transfer level (RTL) to achieve ... 完全なドキュメントを参照

... ログラムテンプレートとは，オペランドの値が未決定 のテストプログラムであり，テスト対象モジュールに 対し，テストパターンの正当化及びテスト応答の観測 を行う命令列からなる．この手法では，テンプレート に 対 し ，い く つ か の ラ ン ダ ム パ タ ー ン を オ ペ ラ ン ド に与えたシミュレーション結果から回帰解析により制 ... 完全なドキュメントを参照

... Example 1: Let us consider how indirect implication (H=1 → B=1) in Figure 1(a) can be easily derived using the new structure of the complete implication graph. First, assignment B=0 binds variables E and F to 0 and ... 完全なドキュメントを参照

... Chikateru JINNO †∗ , Michiko INOUE † , and Hideo FUJIWARA † あら まし 本論文では ，ホールド と スイッチの機能を考慮し て ，内部平衡構造を拡張し た順序回路のクラスで ある内部切換平衡構造を提案する．提案するクラスは ，組合せテ スト 生成複雑度でテ スト 生成可能であり，平衡 ... 完全なドキュメントを参照

... International Test Conference, pp.[r] ... 完全なドキュメントを参照

... In this paper, we consider BIST of register-transfer-level (RTL) data paths. We introduce a new concept, single- control testability of a data path, that guarantees high fault coverage by BIST of the test-per-clock ... 完全なドキュメントを参照

... 井上 智生 （ 正員 ） 昭 63 明大・工・電子通信卒．平 2 同大 大学院博士前期課程了．同年松下電器産業 （ 株 ）入 社．明治大大学院博士後期課程を 経て，平 5 奈良先端大情報科学研究科助手． 平 11 より広島市立大学情報科学部助教授． 松下電気電器産業（ 株 ）に おいて マイクロ プ ロセッサの研究開発に 従事．明治大，奈良先端大，広島市大 に おいて ，テスト 生成，並列処理，テスト 容易化設計に 関する ... 完全なドキュメントを参照

... 1. Introduction Test generation for sequential circuits is, in general, a difficult and intractable task which may be unsolvable within a reasonable time for a large-scale circuit[1,2]. When all the flip-flops of a ... 完全なドキュメントを参照

... However, we cannot achieve the fixed-control testability by adding only the thru functions. The thru functions guarantee controllability of a single path. In case of a hardware ele- ment which has two data inputs, a test ... 完全なドキュメントを参照

... test generation for all maximal (on the relation) TEMs is necessary and sufficient to obtain a complete test sequence. Furthermore, we present a class of acyclic sequential circuits for which the num- ber of maximal TEMs ... 完全なドキュメントを参照

... 7. Experimental results We implemented the presented TPG algorithm in ATPG system SPIRIT [5] and ran experiments on the ISCAS’85[1] benchmark circuits and full scan version of the ISCAS’89[2] benchmark circuits on a 450 ... 完全なドキュメントを参照

... 法で の クラスタ再構成法を 改 良し た 改良 LCC 法を 提案する．提案手法では ，クラ スタヘッド 変更数だけでなくクラスタヘッド 数を抑え ることも考慮し ている．シ ミュレ ーシ ョンによる比較 では ，提案手法が LCC 法よりクラスタヘッド 数を 小 さく抑え ることを示す．また ，トポロジ ー変化とクラ スタ再構成を 繰り返し た場合，結果的に 改良 LCC 法 の方が クラスタヘッド ... 完全なドキュメントを参照

... M j を通る場合を考 える．観測経路が M j の非伝搬入力 x 上を通る場合， M j の伝搬入力 x と出力ポート z 間にスルー機能が ない場合には，任意の値を伝搬できない．ここで， M j の y に定数を与えて x–z 間のスルー機能を実現でき る場合について考える．外部入力から M j ... 完全なドキュメントを参照

... SoC の実動作速度での連 続し たテ スト 系列の 印加に 利用可能であ る． c の G J は 無閉路であるので ，条件 1 より， c の各入力端子に 対し て， SoC の外部入力から 一つ以上の単純経路が 存 在する．更に 条件 3 より，各コアは 一つの 形状が 選択 され ， G J ... 完全なドキュメントを参照

... 4. 2. 1 制御経路の決定と DFT 要素付加 各組合せ回路要素に対し，最小の付加ハードウェア で実現できる制御経路（ 2 入力組合せ回路要素の場合 は，互いに共通部分をもたない二つの制御経路）を決 定し， DFT 要素（マルチプレクサ，スルー機能）を付 加する．制御経路を求める組合せ回路要素は，一つず つ処理していくが，先の処理で付加した DFT 要素は ... 完全なドキュメントを参照

... 昭 44 阪大・工・電子卒．昭 46 同大大 学院博士後期課程了．阪大工学部助手，明 治大理工学部教授を経て，現在，奈良先端 科学技 術大学院大学情報科 学研究科教授． 昭 56 ウォータールー大客員助教授．昭 59 マッギル大客員準教授．論理設計，高信頼 設 計 ，設 計 自 動化 ，テ ス ト容 易 化 設計 ，テ ス ト生 成 ，並 列処 理，計算複雑度に関する研[r] ... 完全なドキュメントを参照