[PDF] Top 20 chapter 5 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara

... 5.3 マイクロプログラム制御 いくつかの制御信号を１語にまとめたのを制御語 一連の制御語をROMやRAM（PLAも可能）などのメモリに格納しておき それを順次取り出すことにより制御信号列を生成する制御方法を ... 完全なドキュメントを参照

... While drastically reducing the test volume and the test application time, test response compactors lose the lo- cation of errors in the scan chains, which is necessary for diagnosis.. Th[r] ... 完全なドキュメントを参照

... （１）実現しようとする順序回路の機能の仕様を記述する 具体的には、状態図（state diagram）で記述する （２）状態図から状態遷移表（state transition table）を作成し、 フリップフロップを用いて状態割当（state assignment）を行なう ... 完全なドキュメントを参照

... GCD システムの設計.. GCD システムの設計.[r] ... 完全なドキュメントを参照

... shows a window for designing GF 2 SR. After entering the necessary information for the design such as the number of flip-flops and logic expressions in JavaScript form for flip- flops, the circuit diagram is generated. ... 完全なドキュメントを参照

... 10.4 非スキャン設計 スキャン設計によるテスト容易化設計は、その有効性が確かめられ 実用化されているが、つぎに述べるような欠点がある 1. 論理合成後の回路に対して変更を加えるので ... 完全なドキュメントを参照

... Osaka, JAPAN fujiwara@ogu.ac.jp Abstract— A binding method for hierarchical testability has been proposed to increase the number of testable operational units in hierarchical testing using behavioral level ... 完全なドキュメントを参照

... With the proposed test 30 % of all segments in the routing network can be tested at 66,7 % better detection accuracy compared to the test by short test paths with one-direct[r] ... 完全なドキュメントを参照

... I. I NTRODUCTION Spurred by the technology leading to millions of transistor integra- tion, System-on-Chip (SoC) has evolved as a new design paradigm, allowing an entire system built on a single silicon. An SoC embeds a ... 完全なドキュメントを参照

... I 3 : SUB R5, R6, R7 -- processor schedules this instr. to ALU1 I 4 : SUB R25, R6, R7 -- processor schedules this instr. to ALU2 This can apply the test sequence to both the ALUs provided that these instructions ... 完全なドキュメントを参照

... nal nodes are registers, the leaves are primary inputs and the edges represent thru functions. Any register on a thru tree can be justified from primary inputs, and can be observed at the primary output with thru ... 完全なドキュメントを参照

... Scan Cell Reordering to Minimize Peak Power during Test Cycle: A Graph Theoretic Approach.. Jaynarayan T Tudu.[r] ... 完全なドキュメントを参照

... Nara, Japan fujiwara@is.naist.jp ABSTRACT Scan circuit testing generally causes excessive switching ac- tivity compared to normal circuit operation. This excessive switching activity causes high peak and average ... 完全なドキュメントを参照

... selection method first obtains, for each test pattern, an SDQL value and the minimum delay defect sizes detectable by the pattern for all the faults and select a test pattern with the min[r] ... 完全なドキュメントを参照

... 2010 年 (64 歳 ) The Last Byte R.Aitken@IEEE_Design&Test ITC’99 ベンチマーク ITC’99@Atlantic City, NJ この The Last Byte の編集者は Scott Davidson で、私に、このコ ラムを書くように依頼した。  ... 完全なドキュメントを参照

... VHDL (VHSIC Hardware Description Language). マイクロ操作（ micro-operation)[r] ... 完全なドキュメントを参照

... Roth により Ｄアルゴリズム（ D-algorithm ）が考案された. 想定する縮退故障をテストするためのテストパターンを生成する[r] ... 完全なドキュメントを参照

... 第８章 ディジタルシステムのテスト 8.1 故障モデル � 物理的欠陥を回路の故障 論理回路の論理機能が故障により別な論理機能に変化してしまう故障を 論理故障（ logical fault ） ... 完全なドキュメントを参照

... ハードウェアにどのような動作を要求するか それに必要なシステム構成を決定する システムの構成要素としては コントローラ、データパス、メモリなど コントローラ ＋ データパス ＝ CPU（中央処理部） ... 完全なドキュメントを参照

... 15 6.2 コントロール／データフローグラフ 6.3 スケジューリング スケジューリングを行うにあたって CDFG に現れる演算を実現するために どのような種類の演算器をどれだけ使うかを決める ... 完全なドキュメントを参照