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疲労き裂への応力拡大係数解析ひずみゲージの適用

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Academic year: 2022

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キーワード:応力拡大係数,疲労き裂,ひずみゲージ,破壊力学,

連絡先:〒182-8520 東京都調布市調布ヶ丘3-5-1 (株)共和電業 TEL042-488-1111 :〒158-0082 東京都世田谷区等々力8-15-1 東京都市大学総合研究所 TEL03-5706-3111

疲労き裂への応力拡大係数解析ひずみゲージの適用

(株)共和電業 正会員 ○齊藤順倫 正会員 高木真人 黒崎 茂

東京都市大学 正会員 横山 薫 フェロー 三木千壽

1.はじめに

鋼構造物に生じた疲労き裂の評価には破壊力学パ ラメータの一つである応力拡大係数を使用すること が有効である.そこで第3著者らは,応力拡大係数解 析に特化したひずみゲージ(K値ゲージ)の開発を行

ってきた1),2).これまで,模擬き裂として,き裂幅

0.2mmの貫通き裂を放電加工機で板厚1.5mmの試験 片(SUS630-H900材)に挿入し,静的に引張載荷を行 い開発したK値ゲージの精度検証を行ってきた1). 一方鋼橋等の鋼構造物で発見されるき裂のほとん どは表面き裂であり,現在,開発した技術を表面き裂 へ応用することを考えている.本報では,その検討の 第1段階として,放電加工で貫通模擬き裂を導入した 試験体に繰返し引張載荷を行い,模擬き裂端部に疲 労き裂を導入し,導入した疲労き裂先端部のK値の解 析を実施した結果について報告する.

2.応力拡大係数解析ひずみゲージ

2.1応力拡大係数解析ゲージ(K値ゲージ)概要 使用したK値ゲージのゲージパターンを図1に示 す.K値ゲージは,ゲージグリッドを 0°から±90°に 配置して,ゲージ長1mmで4枚のゲージ素子(G1~

G4)から成り立っている.

2.2応力拡大係数の解析式

K 値ゲージのひずみ値から応力拡大係数を解析す る式に使われている文字について下記に示す.

1~ 4;

G G

  ゲージ素子G1~G4ひずみ値 F1;材料定数係数,R1,R2;ゲージ寸法係数 E;縦弾性係数, ν;ポアソン比

r 1=1.5, r 2 =2.5, r 3 =3.5, r 4 =4.5mm (図1)

開口モード応力拡大係数K式は,4素子を使用し た式(1)を使用するが,狭溢部のKを求める場合,2 素子を使用した式(2)も提案されている.

(1)

(2)

本稿では,上記2式を使用したKを比較する。

ただし式中の文字式を下記に示す.

3.実験方法 3.1試験片

使用した試験片形状を図 2 に示す.試験片の材質 は, SM400Aである。試験片板幅25mm(=2W),試験 片中央部に,模擬き裂として放電加工で10mm のス リットを挿入した.

3.2疲労き裂の導入とひずみ計測方法

き裂先端部,表裏4箇所にK値ゲージを貼り,ひ ずみ測定を以下の2状態で行った.

(1) 繰り返し載荷前の模擬き裂の応力拡大係数解析 図1 K値ゲージパターン(11×9.5mm)

 

) (

2 ) (

2 1 1

4 3 2

1

R R

K

G

F

G G G

 

) , ( 9

) 5 7 ( 4

2 /

1

3

FE

,

) (

) (

2 1 2 2

2 3 1 2 3 2

1  

r r

r R r

 

) (

) (

2 3 2 4

2 3 3 2 3 4

2

r r

r R r

 

1 3

1

(

1 2

)

G G

K F R R

 

 

土木学会第71回年次学術講演会(平成28年9月)

‑749‑

Ⅰ‑375

(2)

静荷重を階段状にして,静ひずみ測定を行った.

(2)疲労き裂での応力拡大係数解析

(1)の実験後,一定の振幅による繰り返し載荷を行 った.0.7mm 程度の疲労き裂発生後,K 値ゲージを 疲労き裂先端部に,再度貼替え,(1)同様にひずみ測 定を行った.き裂先端部の写真を図3に示す。

4.実験結果および考察 4.1負荷応力対ひずみ値

疲労き裂先端部にK値ゲージを貼付けた試験結果 を図4に示す.き裂の表側右をFR,左側をFLとし,

裏側右をBR,左側BLとした.FRとBLが,同一き

裂先端部の表裏となる.図4はFLの疲労き裂の負荷 応力対 4個のゲージ素子のひずみ値である.解析的

に,G1=G2, G3=G4が導かれている1)が,本実験結果

も,この関係を裏付けている.

4.2解析値と実験値との比較

K 値ゲージで得られたひずみ値から,疲労き裂の 応力拡大係数(K)を,解析値と比較した.なお,

本実験で使用した縦弾性係数はE=200GPa, ポアソ

ン比ν=0.3である.4素子式(1)で解析した図5と,2

素子式(2)で解析した図6である.その際,使用した 解析値は,有限幅板中の貫通き裂3)のKを使用した.

図5,6の両図ともに,破線で示される誤差±10%

線図付近の値になっている.図5の4素子ゲージで は,FL,BL が,全体で誤差±10%内に入っているが,

FR,BRは,最大15%以内で得られている.

5.結 言

応力拡大係数解析用ひずみゲージ(K 値ゲージ)

を使い,疲労き裂の応力拡大係数を4素子式と2素 子式で求めた.その結果,両者の応力拡大係数は,解 析値との誤差が最大±10%~±15%で得られることが 明らかになった.

参考文献

1)黒崎茂,山地周作,小針遼,兼平光隆,施村偉,志村穣,き裂の応 力 拡 大 係 数 解 析 ひ ず み ゲ ー ジ の 開 発 , 日 本 機 械 学 会 論 文 集 , Vol.81(2015)No.824 p14-00535

2)共和電業,応力拡大係数測定用ひずみゲージおよび応力拡大係数算 出方法,特許申請中(2014),特許申請番号2015-011900.

3)C.E.Feddersen:Disccussion to:Okabe Strain Crack Toughness Testing of Metallic Materials,ASTM STP,410,p.77,1966

0 20 40 60 80 100 120 140

0 100 200 300 400 500 600 G1 G2 G3 Applied stress σ(MPa)0 G4

Strain (× 10−6)

0 2 4 6 8 10 12 14 16 18

0 2 4 6 8 10 12 14 16 18

解析値 FR FL BR BL

±10%

Analytical value (MPa 𝑚)

Experimental value (MPa𝑚)

0 2 4 6 8 10 12 14 16 18

0 2 4 6 8 10 12 14 16 18

解析値

FR FL BR BL

±10%

Analytical value (MPa 𝑚)

Experimentalvalue (MPa𝑚)

Comparable crack tip

(Electrical discharge machining)

Fatigue crack tip

図4 疲労き裂の負荷応力とひずみ値

図6 2素子による疲労き裂の応力拡大係数 図5 4素子による疲労き裂の応力拡大係数

図3 模擬き裂先端部からの疲労き裂

0.1mm

土木学会第71回年次学術講演会(平成28年9月)

‑750‑

Ⅰ‑375

参照

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3.解析結果 図-6