二探触子法による欠陥像の再構成
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(2) CS6-054. キルヒホフ逆解析 キルヒホフ近似は,境界上の を入射波と反射波 の和で置き換えたものであり,境界型の等価散乱源 を採用して式 を線形化する.キルヒホフ近似 が高周波近似であることを考慮し,積分の主要項を なる条件を満足する停留点 法線 が からの寄与として評価する. と,次式を得る. 図. 欠陥形状の再構成 1点入射多点計測. 図. 欠陥形状の再構成 4点入射多点計測. ここで, は自由表面における縦波 縦波の反射係 は散乱振 数を表している.これより,特異関数 のフーリエ逆変換として次のように書ける. 幅. 数値解析による欠陥像の再構成 図 に欠陥と超音波送受信のための探触子の配置 を示す.欠陥モデルとして,円形キャビティとクラッ クの複合モデルを想定した.一つの送信探触子に対 おきに多点配置し,形状再構 して受信探触子は は,境界要素法を用いて 成に必要な遠方散乱波 の範囲で作成した. 無次元化波数 図 は,超音波を一点で入射し,散乱波を片側多 点で受信した場合の再構成結果である.片側の計測 波形だけでは再構成像は不鮮明であるものの,送受 信が行われた側の欠陥形状は確認できる.. 図 は一点入射多点計測を おきに計4側面か 行い,各々の送信側面で多点受信をした場合の再構 成図を画像合成した結果である.この結果は,一探 触子法のボルン逆解析とキルヒホフ逆解析の再現特 性 と同様な傾向を示しており,各方向の再構成像 を合成することで二探触子法においてもボルン逆解 析は欠陥内部像,キルヒホフ逆解析は欠陥境界像の 再構成が可能であることを示している.. 結論 ボルン逆解析は欠陥内部を再構成し,キルヒホフ 逆解析は欠陥境界を再現することが二探触子法によ る逆散乱解析でも明らかになった.一探触子法に比 べ再生感度の低下が見られるが,一探触子法で得ら れる後方散乱波よりも,二探触子法で計測される任 意方向の散乱振幅が平均的に小さいことが影響して いると考えられる.. 参考文献 北原道弘 中畑和之 廣瀬壮一 線形化逆散乱解析法の欠陥 位置と形状再構成能に関する一検討 応用力学論文集. 図. 欠陥および探触子の配置. -363-. 土木学会第56回年次学術講演会(平成13年10月).
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