• 検索結果がありません。

高分解能3DX線顕微鏡

高分解能 3DX 線顕微鏡 サブミクロン X 線 CT システム

高分解能 3DX 線顕微鏡 サブミクロン X 線 CT システム

... X 装置の設置に際しては、下記の通り届け出が必要です。 ● 中央省庁:装置設置の検査終了後 30 日以内に人事院へ ● 公立機関:工事開始の 30 日前までに各都道府県の人事委員会へ ● 民間機関:工事開始の 30 日前までに労働基準監督署へ 詳しくは、弊社支店・営業所までお問い合わせください。 ...

16

平成 25 年 3 月 4 日国立大学法人大阪大学独立行政法人理化学研究所 高空間分解能 かつ 高感度 な革新的 X 線顕微法を開発 ~ 生体軟組織の高分解能イメージングへの応用展開に期待 ~ 本研究成果のポイント X 線波長の 320 分の 1 程度のごく僅かな位相変化を 10nm 程度の空間分解

平成 25 年 3 月 4 日国立大学法人大阪大学独立行政法人理化学研究所 高空間分解能 かつ 高感度 な革新的 X 線顕微法を開発 ~ 生体軟組織の高分解能イメージングへの応用展開に期待 ~ 本研究成果のポイント X 線波長の 320 分の 1 程度のごく僅かな位相変化を 10nm 程度の空間分解

... X線タイコグラフィーに期待されている一つの応用研究が生体試料のイメージングです。 しかしながら、X線タイコグラフィーをバイオイメージング研究に応用していくにはどうし ても克服しなければならない一つの問題がありました。それが感度です。X線タイコグラフ ィーでは、試料の前に、ピンホールや集光鏡などの光学素子を設置して、X線照射領域をマ イクロメートル以下に制限する必要があります。この時、試料からの散乱X強度とこれら ...

7

走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

... 分子ダイナミクスを実験的に計測する方法がようやく可 能となってきた。例えば蛍光分子を利用した 1 分子 FRET 法 2) ,または液中高速AFM を利用した 1 分子計測 法等である 3) 。 FRET 法は全反射顕微鏡など既存の装置 を利用できる利点があるが,環境中の化学的条件による 影響が非常に大きい,また,得られる情報が 2 つの蛍光 分子間の直線的な距離のみといった欠点がある。 AFM ...

6

技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

... 7.3 光学ガラスの進歩 14) レンズ用のガラス、すなわち光学ガラスの製造法 を最初に研究し確立したのは、スイスのギナン(P. L. Guinand, 1748-1824)である。色消しレンズが発明 され、酸化鉛を多く含有するフリントガラス(工芸 用に多用された)がレンズに使われるようになると、 脈理など屈折率の不均一性や可視光域透過率が問題 となっていた。彼は耐火粘土製るつぼで原材料を ...

99

概要 μ-pic とは近年開発された微細構造を持った粒子検出器であり X 線 γ 線などの電磁波や μ 粒子 α 粒子などの荷電粒子の位置や軌跡を測定できる この μ-pic は従来のガス検出器 に比べて 1 高位置分解能 90μm 2 時間分解能が良い 3 構造が簡単であり 将来 的な大量生産に向

概要 μ-pic とは近年開発された微細構造を持った粒子検出器であり X 線 γ 線などの電磁波や μ 粒子 α 粒子などの荷電粒子の位置や軌跡を測定できる この μ-pic は従来のガス検出器 に比べて 1 高位置分解能 90μm 2 時間分解能が良い 3 構造が簡単であり 将来 的な大量生産に向

... 1-2-2. Micro Strip Gas Chamber(MSGC) MWPC での位置分解能、量産性や頻度入射粒子に対応できないという問題を克服するために ワイヤーを使わない MSGC(Micro Strip Gus Chamber)が1988年、A.Oed により開発された。[5] 構造を図1.7に示す。LSI の作成などで用いられるリソグラフィー技術を用いて絶縁体(ポリイミド) ...

41

プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

...  すでに記載したように AFM5500M の特徴は,測定誤差の排除のための『測定の信頼性向上』,生産性向上のための『測定の自 動化』,他検査解析手法とのリンケージのための 『測定の親和性』にある。各々の特徴について以下,1.広走査領域における い計測精度,2.測定の自動化による操作性向上,3.他計測装置との測定の親和性の順に説明する。 従来,三次元(XYZ)走査のためのスキャナは, 図 6 ...

10

る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

... ナノテクノロジ社SPI-3800を使用)を示す 1 。初磁化状態にも かかわらず、全体が同一方向に揃っており、MFM像はプロ ーブの走査方向によって像が異なる。しかしながら、同じ長 方 形 ド ッ ト に つ い て 、 SII ナ ノ テ ク ノ ロ ジ SPI-4000 /SPA300HVにより、低磁気モーメントプローブを用い真 空中で測定すると図2のMFM像のように、ランダムに配列 ...

8

走査型熱顕微鏡(SThM)の開発 研究シーズ | 明治大学

走査型熱顕微鏡(SThM)の開発 研究シーズ | 明治大学

... 集積回路内のトラン タ 微 デバイ の温度や熱物性値を10nm の空間分解能 計測 技術,装置の開発を行っ いま 。走査型顕微鏡 微細加工技術を組合わせ こ ,基本的 計測技術の革新的飛躍が行わ いま 。 用 途 半 体微 デバイ の温度計測,ナノ材料の物性評価 ...

1

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

... 元計測した結果である.(a)は,4 素子の信号を加算した 画像,(b)は観察視野中のさ情報を 256 階調の等高線 形式で表示した画像で,さの情報分布を視覚的に把握で きる.(c)は,(a)の画像の任意位置でのラインプロファ イルで,試料表面の凹凸形状を反映しており,Z 方向の計 測も可能である.(d)は,3 次元構築した画像で,(e)は (d)を 180 度回転させた方向から見た 3 次元構築画像で ...

6

ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡

ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡

... カーボンナノチューブの用途としてフラットパネルディスプレイが現在もっとも工業化に近 い。省電力で、電流密度が大きく、輝度で常温で作動でき 、しかもコスト的にも安価にできる 可能性のあることから注目されている。しかも、ディスプレイ市場は、世界的には数兆円の規模 といわれ、 現在良く用いられている CRT や液晶ディスプレイ、 プラズマディスプレイを上回る製 ...

27

走査トンネル顕微鏡を用いた2次元キャリア分布計測技術とデバイス開発への適用

走査トンネル顕微鏡を用いた2次元キャリア分布計測技術とデバイス開発への適用

... で評価する技術が切望されていた。富士通マイクロエレクトロニクスは,走査トンネル顕微 (STM)を用いて1 nm程度の空間分解能の2次元キャリア分布計測技術を開発し,90 nm 世代以降の微細トランジスタ開発に適用した。製造条件の異なる微細トランジスタに対して, 断面測定で得た2次元キャリア分布とトランジスタ特性の製造条件依存性がよく一致した。 ...

6

山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

... 【研究内容】 物質を構成する最小のユニットである原子・分子を直接観察できる走査トン ネル顕微鏡( STM)を用いる。磁性 STM 探針を用いることで、原子分子の凹凸 像だけでなく電子伝導測定や量子スピン状態を測定することができる。これを スピン偏極 STM とよぶ。また、STM 探針を用いて単一原子分子を走査し、人 工的に磁性原子・有機分子構造体・生命分子構造体を作成できる。この分子構 ...

7

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

... ファイリングされるようになり、エネルギー分散型X 分析装置のシステムが統合された。またインターネ ットに代表されるネットワーク技術の発展により、多 量のデータの伝送が可能となったため透過型電子顕微 を遠隔地から操作を行い、同時に遠隔地での像観察 を行うことが可能となった。透過型電子顕微鏡の自動 化は、本体制御CPUの機能化、精細度CCDの供給、 ...

52

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

... 検出器)とに大きく分けられる.これらの検出器は電子顕微 の中の決った位置に置かれるがカメラ長を選択することで 取り込み角を選択することができる.まず高角円環状暗視野 検出器( HAADF 検出器)は熱散漫散乱(thermal diffuse scat- tering, TDS)を受けた電子の寄与が支配的な高角側(100 mrad 程度)に置かれる(図 15(a)).TDS の効果が大きく現れる ...

10

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

... 備 考 1 上記表中の利用料は、1時間当たりの機器利用に係る金額(消費税相当額を含む)であり、 これに当該機器利用時間数を乗じた金額が利用料金となります。 2 1時間未満の機器利用及び1時間を超える機器利用に係る1時間未満の端数については、 それぞれ1時間の機器利用として、利用料金を算出するものとします。 複数の機器を利用する場合については、各機器の利用料を合算した金額が利用料金となります。 ...

8

第1章 電子顕微鏡のハードウェア

第1章 電子顕微鏡のハードウェア

... 陰極から陽極までの電極形状と、陰極の先端形状を示している。陰極と陽極の距離は加速 電圧によって決められ、電子放射の方式にはよらない。強電界は陰極先端を鋭くして電界 を集中させることによって与えられ、特別な電圧をかけるわけではない。陰極形状が熱 電子放射の場合に比べて鋭い理由である。ただあまり鋭いと熱によって変形するので、陰 極材料の仕事関数、加熱温度、先端形状の微妙なバランスで形状が決まる。 Schottky 放 ...

19

JSM-IT200 走査電子顕微鏡

JSM-IT200 走査電子顕微鏡

... 観れば分かる 元素分析 SEM 観察中に、常に元素分析結果が表示されます Live Analysis は、SEM 観察と EDS 分析を分けて考える必要がなくなる機能 です。観察している領域の X スペクトル表示と、自動定性された主成分の元 素表示を、常に観察画面上で行います。予期しない元素や注目元素を「見つける」 「気付ける」確率の向上が期待できます。 ...

24

生物顕微鏡実体顕微鏡倒立顕微鏡解剖顕微鏡鉱物顕微鏡金属顕微鏡関連製品補充部品 オプション生物顕微鏡 Microscope for biology 便利! ワンタッチ式クレンメル 400 倍 300 倍 BA50 ミクロショット 300 高性能! このクラス最高の広視野接眼レンズを使用 便利! 観察の

生物顕微鏡実体顕微鏡倒立顕微鏡解剖顕微鏡鉱物顕微鏡金属顕微鏡関連製品補充部品 オプション生物顕微鏡 Microscope for biology 便利! ワンタッチ式クレンメル 400 倍 300 倍 BA50 ミクロショット 300 高性能! このクラス最高の広視野接眼レンズを使用 便利! 観察の

... 114-309 形 名 BA80C 総合倍率 40 〜 1000× 接眼レンズ WF10×/18㎜ 接眼マイクロメータ枠付き 対物レンズ アクロマート対物レンズ 4× 10× S40× S100×-oil 鏡筒形式 V型鏡筒 単眼45°傾斜鏡筒 360°回転 接眼スリーブ内径23.2㎜ 焦準装置 ラックピニオン式粗動 微動 ステージ上下動式 標本安全装置付き ステージ [r] ...

13

交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

... • 発明者:齊藤 準、吉村 哲、木下 幸則 • 発明の名称:強磁場計測および磁場値測定用磁気力顕微鏡探針 • 出願番号:特願2014-165435 • 出願人:国立大学法人秋田大学 • 発明者:齊藤 準、吉村 哲 ...

24

Show all 10000 documents...

関連した話題