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原子分解能クライオ電子顕微鏡単粒子解析

世界初! 細胞内の線維を切るハサミの機構を解明 この度 名古屋大学大学院理学研究科の成田哲博准教授らの研究グループは 大阪大学 東海学院大学 豊田理化学研究所との共同研究で 細胞内で最もメジャーな線維であるアクチン線維を切断 分解する機構をクライオ電子顕微鏡法注 1) による構造解析によって解明する

世界初! 細胞内の線維を切るハサミの機構を解明 この度 名古屋大学大学院理学研究科の成田哲博准教授らの研究グループは 大阪大学 東海学院大学 豊田理化学研究所との共同研究で 細胞内で最もメジャーな線維であるアクチン線維を切断 分解する機構をクライオ電子顕微鏡法注 1) による構造解析によって解明する

... い、最終データ収集には大阪大学超高圧電子 顕微鏡セ ンターの電子顕微鏡 (FEI 社 Titan Krios)を用いた。1111 枚の電子顕微鏡写真から 86388 個の像を解析、マグネシウム原子が直接 観察できる ...3.8Å 分解能で構造決定を行った(図 3)。 ...

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概要 μ-pic とは近年開発された微細構造を持った粒子検出器であり X 線 γ 線などの電磁波や μ 粒子 α 粒子などの荷電粒子の位置や軌跡を測定できる この μ-pic は従来のガス検出器 に比べて 1 高位置分解能 90μm 2 時間分解能が良い 3 構造が簡単であり 将来 的な大量生産に向

概要 μ-pic とは近年開発された微細構造を持った粒子検出器であり X 線 γ 線などの電磁波や μ 粒子 α 粒子などの荷電粒子の位置や軌跡を測定できる この μ-pic は従来のガス検出器 に比べて 1 高位置分解能 90μm 2 時間分解能が良い 3 構造が簡単であり 将来 的な大量生産に向

... MIP 粒子といい、 LHC 又は SLHC で 検出したい粒子は GeV オーダーであるためこの MIP 粒子である。この粒子を検出する時は電離 して出てくる電子が少なく信号が小さくなるので、この少ない電子を増幅させて大きな信号に変換 する必要がある。 MIP 粒子検出器として要求される増幅率は 10 4 ...

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図 2 In0.9Ni0.1TaOx NiOx ( 空孔 ) のない安定な多元系酸化物半導体が得られていること,4) X 線回折結晶構造解析と透過電子顕微鏡観察により, InTaO 4 のウォルフラマイト型結晶構造の薄膜もしくは単結晶 1 次粒子が得られていること, 以上を評価することで,PLA 法

図 2 In0.9Ni0.1TaOx NiOx ( 空孔 ) のない安定な多元系酸化物半導体が得られていること,4) X 線回折結晶構造解析と透過電子顕微鏡観察により, InTaO 4 のウォルフラマイト型結晶構造の薄膜もしくは単結晶 1 次粒子が得られていること, 以上を評価することで,PLA 法

... In 0.9 Ni 0.1 TaO x ,と NiO x の薄膜ともに,マクロ的には柱状のモ フォロジー構造を有しているが,かなりポーラスな形態とな っている.アブレート種である,原子・ラジカル・イオン・ クラスタ等は,混合ガス雰囲気分子とも衝突しながら, O 原 子を取り込むことでアブレート時の酸素欠損を補償しつつ, 特有のモフォロジーを形成しながら堆積基板上に成長したと 考えられる.混合ガス雰囲気圧力が上がると( ...

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第1章 電子顕微鏡のハードウェア

第1章 電子顕微鏡のハードウェア

... 分解能を向上させるには、対物レンズの C c を小さくすると共に、電子線のエネルギー幅を 小さくすることが課題となる。 図 21 は種々の電子源に対して横軸に C c 、縦軸に分解能を示した。曲線 A-D に用いた Q を決める条件を表 III に示した。 電子源として LaB 6 を用いた場合、  E/E=5x10 -6 として ...もの高 ...

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走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

... 2. 3 DET 計測による金粒子のブラウン運動計測 DXTによる計測経験から,DETによるタンパク質等, 生体高分子の計測は,隔膜上に Ni-NTA 等を介して配向 性を持たせた状態で吸着させ,人為的に導入したシステ イン等のチオール基を介して金粒子を標識し,その金粒 子の運動を時分割で取得し,生体高分子の運動として計 測する。その前段階として,生体高分子の代わりにチ ...

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Title 電子顕微鏡による半導体デバイスの解析技術に関する研究 Author(s) 朝山, 匡一郎 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI Rights Osaka Universit

Title 電子顕微鏡による半導体デバイスの解析技術に関する研究 Author(s) 朝山, 匡一郎 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI Rights Osaka Universit

... (3)数Ω程度の抵抗上昇を示すコンタクトホールの解析 W プラグ構造のコンタクト抵抗は通常、2~4Ω/個とされている。この抵抗の数倍~十倍程度 の高抵抗は一般的にはプロセスの不安定性に由来するものとされ、回路的にも動作マージン を見込んで設計されている。しかしながら長期にわたる使用条件や一定の信頼性加速試験環 境においては、初期には検出されない高抵抗原因となることが懸念される。よってこれらの数 ...

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JSM-IT200 走査電子顕微鏡

JSM-IT200 走査電子顕微鏡

... ■ オフライン解析用ソフトウェア 装置の稼働率が上がります オフラインでデータ管理、解析、レポート作成が行えるソフトウェアがあります。保存したデータから元素マップの元素の指定、定量マッ プ作成、ポップアップスペクトルによる再確認等のデータ処理およびレポート作成を、装置から独立した別の PC で行うことで、装置 の稼働率が上がります。 ...

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JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)

JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)

... ステレオペア 3D 構築だけでなく、4 画像から 3D 構築、着色、画像編集等がおこなえる多機能ソフトウェアです。 一度設定したレイアウト、ワークフロー(操作工程)が保存でき、データの入力のみで同じ動作をおこなえるため、作業効率は非常に 高いです。 さらに、ISO25178 など表面解析における各種規格に対応しています。 SMILE VIEW TM Map ...

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C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

... (ネットワークアナライザ) (株)アポロウェーブ 卓上顕微鏡(SEM) (株)日立ハイテクノロジーズ 高周波伝送特性測定装置(C27+C28+C29) (株)アポロウェーブ 卸 売 業 資本金の額又は出資の総額が1億円以下の会社又は常時使用する従業員の数が100人以下の会社及び個人 小 売 業 資本金の額又は出資の総額が5千万円以下の会社又は常時使用する従業員の数が50人以下の会社及び個人 サービス業 ...

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原子的構造解析システムの現状と課題(II)

原子的構造解析システムの現状と課題(II)

... 3 周 辺 機 器 透過型電子顕微鏡の試料作製などの周辺機材と して、従来から超音波カッタ一、精密グラインダー、 ディンフ。ルグラインダ一、イオンミリング装置、精密切 断機、電解研磨装置、簡易型ドラフターが配備され ている。現像・引き延ばし・プリントなど暗室作業用の 機材も一式所内に装備している。イメージスキャナ(フ ィノレムスキャナ)の普及で印画紙への引き延ばし・プリ[r] ...

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走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

... ③ 磁性試料 磁性試料の観察は,磁界レンズを用いる SEM では注意 が必要である.磁性試料が磁界強度の強い仮想レンズ部 (図 8 参照)に近いほど,試料が磁化され電子線の調整が 困難になる.また磁界の影響を受けやすいサイズの大きい 試料では,試料台から外れてレンズ部に吸い付いてしまう 可能性も生じる.これらを回避するためには,仮想レンズ 部と試料間の距離を遠ざける必要がある.それには,仮想 ...

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Files  原子分解能ホログラフィーによる中距離局所構造のサイエンス Template

Files 原子分解能ホログラフィーによる中距離局所構造のサイエンス Template

... 従来の原子分解能ホログラフィー法では、放射光実験施設等の 大型実験施設が必要であった。そこで、我々は、実験室で容易に ホログラムを測定するために、電子顕微鏡を用いた逆 X 線光電 子ホログラフィー法を提唱した[1]。本発表では、市販の SEM を 使用し、実験室レベルで原子分解能ホログラム測定が可能であ ることを示す。 ...

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ショットキー陰極電子銃の電界および電子軌道解析

ショットキー陰極電子銃の電界および電子軌道解析

... 1.はじめに 各種材料を原子レベルで観察・計測・分析する電子顕 微鏡や電子線微量分析装置、ナノメータースケールの微 細加工を可能にする電子線リソグラフィー装置などの電 子ビーム応用装置は、先端技術を支える装置として各分 野で重要な役割を果たしている。これらの電子ビーム応 用装置では、試料の微小領域を十分な電子密度で照射で ...

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1M5-1 Convolutional Neural Networkを用いた電子顕微鏡連続切片画像Z補間

1M5-1 Convolutional Neural Networkを用いた電子顕微鏡連続切片画像Z補間

... 1. 序論 コネクトミクスと呼ばれる新しい研究分野では、脳における 神経細胞間の結合や神経繊維配線の構造を網羅的に調べ、その 機能的意味を理解してゆくことを目的としている。この研究分 野が生まれた背景には、重要なブレイクスルーが二つあった。 一つは、これまでの技術では見ることが難しかった神経細胞の 詳細な繊維状構造を電子顕微鏡によりナノメートルのスケール で見られるようになったことである。もう一つは、 ...

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原子面分解能ナノ磁性測定法の開発に成功 -強磁性体磁気モーメント測定における分解能世界記録-

原子面分解能ナノ磁性測定法の開発に成功 -強磁性体磁気モーメント測定における分解能世界記録-

... た。そして、ウプサラ大学の Jan Rusz 博士らによる収束電子回折条件での EMCD 信号強度 分布の理論計算結果を基に、武藤教授らが、名古屋大学未来材料・システム研究所超高圧電子 顕微鏡施設に設置されている収差補正走査透過分析電子顕微鏡 *10 を利用して、 原子サイズに絞 ...

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共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)

共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)

... 病理組織学標本作製装置 (バキュームロータリー ・ ティッシュテックパラフィン包埋装置・滑走式ミクロトーム ・ クライオスタット ・ 写真顕微鏡 ・ 蛍光顕微鏡 ・ 実体顕微鏡・他) 生命科学研究センター棟 ...

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技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

... 1990年代の半ばに、パーソナル・コンピュータ(PC) にグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)が 搭載されると、透過型電子顕微鏡の操作をGUIからす ることが一般的となった。まず、電子顕微鏡画像は高 精細度のCCDカメラで取り込まれて、PC上に表示さ れるとともにPCに内蔵するハードディスクなどに画像 ファイリングされるようになり、エネルギー分散型X ...

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高分解能 3DX 線顕微鏡 サブミクロン X 線 CT システム

高分解能 3DX 線顕微鏡 サブミクロン X 線 CT システム

... ・ 一般的に使用されるW線源だけではなく、観察試料・目的にあわせて選択できるX線源 (Cu標準Cr/Mo/Wオプション) ・ 密度差の小さな試料から最大限のコントラストを引き出します 電子部品 ...

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TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

... 図 15 試料に対する電子の入射角と検出器の位置関係:(a) STEM-HAADF 法.検出器は主に熱散漫散乱電子を検出する高 角に置かれ,主に試料中の原子量の差を反映した Z コントラ ストが得られる,(b)STEM-BF 法.入射角 α p と取り込み角 α BF が同程度のとき透過波は最大の効率で検出されるが同時に 一部の回折波も取り込まれる.また α p + α BF > θ ...

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粒子法と分布点音源法による超音波浮揚液滴形状解析について

粒子法と分布点音源法による超音波浮揚液滴形状解析について

... 珂iWADA*1,KoheiYUGE*2 ABSTRACT:Numericalsimulationofanultrasoniclevitateddropletshapeisdiscussed.Inthe circumstancesofacousticstandingwave,waterdropletsaretrappedatthesoundpressurenodefro[r] ...

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