• 検索結果がありません。

alignment 制御による変位雑音対策

ドキュメント内 C:/Home/shinsuke/master/master.dvi (ページ 96-102)

第 7 章 結論

7.3 alignment 制御による変位雑音対策

91

92 7 結論

なる。さらに、alignment lengthの混合によって干渉計の感度としては alignment制御によっ

て逆に干渉計が揺らされてしまっている。

将来干渉計のノイズを下げ る段階においてはalignment によるノイズを下げる必要がある。そ れにはいくつかの方法がある。まず、1つは alignmentからlengthへの couplingを小さくする

ことである。

6.4節で見たようにalignmnetからlengthcoupleする経路はいくつかある。1つはレーザー

光がmirrorの中心に当たっていないために、mirrorに角度揺れを加えたときに、角度揺れが光路長

の変動になってしまうという物である。本実験において、レーザー光のmirrorへのcenteringはあ

まり正確に行われておらず、将来centringを逢わせることによってmiscenteringによるcoupling

を軽減することは可能であると考えられる。もう1つは制御に用いているcoil-magnet actuator

非対称性による物である。coil-actuatorに非対称性があると鏡に角度揺れを加えたときでも鏡が 並進方向に揺すられてしまう。coil-actuatorの非対称性についても各coil-driverの電圧から coil

に流れる電流への変換効率を変えることによって調節することが可能である。

alignment から lengthへの混入を防ぐ ためにはcoil-magnetによる回転中心と laser beam mirrorに当たっている位置を相対的に合わせればよい訳ではない。なぜなら、laser beammirror

へのcenteringについては熱雑音によって振り子の 角度揺れが励起される影響mirrorの中心から

1mm-0.5mm以内に合わせなければいけない([38]参照)事が知られている。このため、mirror

おけるlength alignmentの混入はビームの centring coil-magnet actuatorの非対称性の除

去の両方をおこなわければいけない。

現在、角度揺れから並進揺れへの混入比は0.2を越えるような場所が多い (6.3参照)それに対

して、TAMAでは混入比を 0.01位まで押さえることを目標としている。よって、centering actuatorのバランスをとることで全体として1/10 程度alignment 制御によるノイズを落とすこ とが出来ると予想される。

次に alignment 制御によるノイズを小さくする方法としてはalignmnet制御のゲインが観測帯

域で十分小さくなるようなサーボ系を作ることである。error signal換算での電気雑音が vn[v]

けある時alignment control 1系統あたりmirrorの並進揺れは次のようにかける。

xn =

@x

@v

mirror;pitch=yaw,xApitch=yawFASCvn (7.1)

,@x@v mirror;pitch=yaw,x pitch/yawに対する coil-magnet actuatorに加える電圧から並進揺れへの 混入を表す([m/V])Apitch=yaw pitch/yaw actuatorから実際の角度揺れへの伝達関数を表 す。FASC alignment制御用servo lterの伝達関数を表す。現在alignment 制御用servo lter

には特に雑音対策はされておらず、まだ 、雑音対策をする余地が十分ある。ただ 、mirrorの角度

揺れを十分に押さえるためには20 Hz程度の帯域が必要でありそれに対して干渉計の観測帯域が

150 - 450 Hzであるから150Hzまでに servo gainを十分落とすことは困難である。おそらく

2桁弱なら落とせると考えられる。

つぎ に 、error signal の電気雑音であるが 、現在光源に 700 mW laser を用いているために demodulatorからのoutput (wavefront sensing error signal)は、shot noiseではなくdetector noiseに制限されている。これはdetectorに光を入れたときと全く光を入れないときのdemodulator

からの output電圧が全く同じ noise oorを持っていることから確認される。

7.3. alignment制御による変位雑音対策 93

100 102 104

10–6 10–5 10–4 10–3

frequency[Hz]

error signal [V]

図 7.1: 実線:干渉計の運転時に wavefront sensorに光を入れたときのoutput (error signal)

スペクトル [V/pHz]。破線:wavefront sensorに光を入れないときと入れたときのスペクトル

[V/pHz]

将来 10 W laserが導入されればその分 wavefront sensor signalが増える。実際に干渉計に 入っている光が現在300 mW程度で、10 W laserが導入された時点で3 W程度と考えられてい

るので信号は約10倍になる。ここで、光量が増えればその分ショットノイズも増えるのだがショッ トノイズの増加は光量の平方根で増大し 、それに対して現段階においてはdetectorの雑音でlimit

されているために

p10倍以上はS/Nで得をすることになる。

以上3種類のノイズの軽減が見込まれる。これら以外に alignment制御から干渉計の変位雑音 になる部分がないとすると alignment制御による雑音は 34桁程度は落とすことが出来る物と 見込まれる。

TAMA300において、これらの対策を施し 、alignmnet制御によるノイズを小さくすることが今

後の課題の1つである。

7.3.1 wavefront sensor でのオフセット

wavefront sensorにおいてwavefront sensorへのcenteringによるosetがあることが次のよう

に確認された。BS orientation controlのために cavity透過光をモニターしているのだが 、BS

を freeにした状態でwavefront sensorへのcenteringを動かすとcavity透過光の向きが異なった

( 図7.2

これはcavityの光軸が変化することになる。原理的には wavefront sensorへの centeringに関

わりなくwavefront sensingerror signalが取れるのでこれは何か余計なosetが加わっている

ことになる。

通常、光路長制御の error signalにおいても様々な原因から osetが加わる。wavefront sensor

においても代表的な物で次の 3つがある。1つが RF信号に電気的 ノイズが乗ってしまうこと。

94 7 結論

0 20 40

0.1 0.2

time[sec]

[V]

図7.2: wavefront sensorへのcenteringを動かしたときの透過光の光軸の変化。wavefront sensor

へのcenteringを動かすことによってcavity alignmentが変化する。WFS4 (FM2 sensitive detector) centering pitch方向に動かしたところ、透過光もpitch方向に動いた。

もう1つが理想的な位相変調が出来ずに強度変調が混ざ ってしまい、復調信号に osetが乗るこ

と。もう1つは wavefront sensor特有だが carriercavityの共振の中心にロックしないために

carrierの位相が sidebandに対してずれてし まいosetが乗ることである。最後の原因はcarrier

は最終的には cavity の中心にlock するようにしなければいけないのでcarrier lockを最適化

することで解決される。前の2つは定常的な物ではないのでそれらに対して何か対策が必要であ る。強度変調は必ずいくらか混ざってくるので完全になくすることは出来ない。よって、wavefront sensorにおいて、QPDの各photo detectorに入る光量に比例した量なのでwavefront sensor

のcenteringを常に合わせることで解決する。また、wavefront sensorへのcenteringを合わせるこ

とによってcarrierが共振点からずれることによるosetをうち消すことが出来る。RFの電気的な osetは透過光が最大になるように調節するしかない。しかし 、光路長制御のosetalignment

制御の osetも透過光強度が最大になるように合わせなければいけないのだが 、透過光強度とい う1つの指標に対して複数の物を調節するのは原理的には不可能でなくても実際上はきわめて困 難である。よって、はじめから osetがあまり乗らないようにwavefront sensorのすぐ 近くで復

調するなどの対策も必要と思われる。それでもやはり、最終的な段階では osetを合わせることが

必要には成る。

7.3.2 misalignment に対する定量的考察

今回の実験においては misalignmentに関してじっさいに misalignmentがどれだけあってそれ

によってコントラストやCMRRがど うなっているなどと言う、定量的な考察は全く行っていない。

今後干渉計の感度に関して考得るようになると何が干渉計の感度を limitしているかということ

を調査するためには、misalignmentによる定量的に考える必要がある。

7.3. alignment制御による変位雑音対策 95

7.3.3 coil-magnet actuator 関連

本文中でも述べたように、coil-driverにおける雑音電流による効果などを考慮すると現状におい てcoil-magnet actuatorcouplingが大きすぎることがわかっている。これは、干渉計をlock

引き込むことが出来なかったためにmagnetを大きくしたためである。magnetを大きくしたこと

によって2つの noiseが大きくなる。1つは coil driverでの雑音が大きくなる事とmagnetが大

きくなるために mirror Q値が小さくなって結果として熱雑音が大きくなることである。

本実験において magnetを大きくしてactuatorpowerを大きくしないといけなかった直接的 原因はfeed back電圧が高い周波数saturateするからである。このため、干渉計がlockしにくく、

lockしてもすぐにunlockしてしまっていた。この高い周波数でのsaturateの原因の一つに laser

の周波数雑音が大きすぎ るためだという理由が考えられる。これは干渉計の周波数安定化loop gainをあげるとmirrorへのfeed back電圧が小さくなったことで確認される。今後、MCとつな

いぐ とMCによって周波数雑音が押さえられるために lockに引き込みやすくなると期待される。

そうすると 、magnetを小さくしたり、coil-magnet actuatorcouplingを小さくしたりするこ

とが出来るのでcoil driverの雑音や、mirror Q値の低下によって、現在問題になるであろうと 予想されている noiseは小さくすることが出来る。

また、coil-magnet actuator couplingを小さくするとdynamic rangeが足りなくなるかもし

れないという問題があるが 、これは 別の部分の actuatorを使って dynamic rangeを稼ぐ 予定で

ある。しかしながら、coil-magnet actuatorを小さくすることによって外乱に弱くなってし まう。

外乱の問題については手の施しようがないと思われる。

97

付 録 A 光路長制御系の開発

ドキュメント内 C:/Home/shinsuke/master/master.dvi (ページ 96-102)