第 6 章 付図・付録
6-24
第 6 章 付図・付録
6-25
図2-1-2 アレニウスモデルでの反応と活性化エネルギー
(模式図)
P.2-5
図2-1-3 アレニウスモデル P.2-6
図2-1-4 アイリングモデル P.2-7
2.2 信頼性試験と認定 図2-2-1 耐用期間の確認方法 P.2-11
表2-2-1 当社標準試験方式 P.2-9
表2-2-2 LSI製品の標準的な信頼性試験項目と抜き取り個数
(○：必須、△：必要に応じて適宜実施)
P.2-13
2.3 潜在欠陥を除去する技術 図2-3-1 PATの概念図 P.2-14
図2-3-2 静的PAT P.2-15
図2-3-3 動的PAT P.2-15
図2-3-4 IDDQのイメージ P.2-16
第3章 故障解析と解析技術 3.1 お客様からの返却品の解析 フロー
図3-1-1 お客様からの返却品の解析フロー P.3-1
3.2 解析装置と解析事例 図3-2-1 X線透過装置 P.3-3
図3-2-2 X線透過装置での観察事例 P.3-3
図3-2-3 超音波探傷装置 (SAT) P.3-4
図3-2-4 超音波探傷装置での観察事例 P.3-4
図3-2-5 エミッション顕微鏡 P.3-5
図3-2-6 エミッション顕微鏡での観察事例 P.3-5
図3-2-7 EBテスター P.3-6
図3-2-8 差像解析事例 (ボルテージコントラスト像を利用
した解析)
P.3-6
図3-2-9 波形解析事例 P.3-7
図3-2-10 OBIRCH解析装置 P.3-8
図3-2-11 OBIRCH解析装置での解析事例 (左：表面解析、
右：裏面解析)
P.3-8
図3-2-12 SDL解析事例 P.3-9
図3-2-13 回路修正用FIB装置 P.3-10
図3-2-14 ナノプローバー P.3-10
図3-2-15 MOS静特性測定解析事例 (左：プロービングの様
子、右：測定結果)
P.3-11
図3-2-16 EBAC解析事例 P.3-11
図3-2-17 光学顕微鏡での観察事例 P.3-12
図3-2-18 SEM装置 P.3-12
図3-2-19 SEMを用いた解析事例 P.3-13
第 6 章 付図・付録
6-26
図3-2-20 FIB/SEM Dual装置 P.3-13
図3-2-21 FIB/SEMを用いた断面解析事例 P.3-14
図3-2-22 STEMでの断面観察事例 (Poly-Siゲート部断面 観察)
P.3-14
図3-2-23 STEM+EDXでの元素分析事例 P.3-15
表3-2-1 当社の故障解析装置 P.3-2
3.3 故障原因特定と問題解決の ツール
図3-3-1 問題解決のアクション P.3-16
第4章 環境関連物質の管理
4.1 化学物質の管理 表4-1-1 RoHS指定対象物質と規制値 P.4-2
表4-1-2 RoHS指令とREACH規制の比較 P.4-3
表4-1-3 ELV指令対象物質と規制値 P.4-4
表4-1-4 ハロゲンフリー製品に適用する基準 P.4-5
第5章 当社製品ご使用上の注意
5.1 実装上の注意 図5-1-1 挿入実装パッケージの推奨ディップ条件 P.5-2
図5-1-2 熱抵抗の模式図 P.5-7
表5-1-1 部品実装後の基板清浄度 (JEITA EDR-4701Cより) P.5-4 5.2 回路設計上の注意 表5-2-1 ディレーティング設計で考慮すること P.5-10 5.3 取り扱いの注意 図5-3-1 静電気の発生 P.5-12
図5-3-2 CDMによる静電破壊の例 P.5-13
図5-3-3 外装表示 P.5-15
表5-3-1 静電気対策 (例) P.5-14
第6章 付図・付録
6.1 地域との共生 図6-1-1 地域環境美化功労者表彰状 P.6-2 6.2 各工場の国際規格適合状況 表6-2-1 各工場の国際規格適合状況 P.6-3 6.3 当社提供資料の解説 図 6-3-1 QC工程図 (例) P.6-4
図6-3-2 信頼性データ (例) P.6-5
図6-3-3 推定市場故障率 (例) P.6-6
図6-3-4 テーピング仕様 (例；一部抜粋) P.6-7
図6-3-5 熱抵抗値についての資料 (例) P.6-8
図6-3-6 パッケージの難燃性 (例) P.6-8
図6-3-7 FMEA (例；一部抜粋) P.6-9
図6-3-8 ESDデータ (例) P.6-10
図6-3-9 推奨ランドパターン (例) P.6-11
図6-3-10 パッケージ断面図 (例) P.6-12
図6-3-11 パッケージ図およびマーキング図 (例) P.6-13
図6-3-12 分析データ (例) P.6-14
第 6 章 付図・付録
6-27
図6-3-13 成分表 (例) P.6-15
図6-3-14 不使用証明書 (例) P.6-16
図6-3-15 RoHS指令適合証明書 (例) P.6-17
図6-3-16 SVHC不使用証明書 (例) P.6-18
図6-3-17 ハロゲン物質不使用証明書 (例) P.6-19
6.4 参照規格 表6-4-1 このハンドブックが参照している規格類 P.6-20 6.5 図表一覧 表6-5-1 図表一覧 P.6-24
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旭化成エレクトロニクス株式会社 品質・環境ハンドブック 2015年09月01日 作成：品質保証センター