[PDF] Top 20 J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4
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J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4
... To increase the testability of the complete design and to ease RT-level test generation, various DFT methods at RT-level have also been proposed. The most com- mon methods are based on full-scan or partial scan. However, ... 完全なドキュメントを参照
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J168 e 2016 4 IEICE 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J168 e 2016 4 IEICE
... [5] J. Lee, M. Tehranipoor, C. Patel, and J. Plusquellic, “Securing de- signs against scan-based side-channel attacks,” IEEE Trans. De- pendable and Secure Computing, vol.4, no.4, pp.325–336, 2007. [6] S. ... 完全なドキュメントを参照
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J158 e JETTA 2011 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J158 e JETTA 2011 4
... [ 4 , 13 ] and our pro- posed method do not need any authentication, and they provide special test modes to prevent secret informa- tion from leakage ...[ 4 ], JTAG test controller is augmented so that it ... 完全なドキュメントを参照
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J126 e IEICE 2006 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J126 e IEICE 2006 4
... Fig. 7 Heuristic of graph division. nection. Our proposed algorithm repeats the division process from a 0-partition, that is, only one block that includes all the memories, to obtain the target partition. As the algo- ... 完全なドキュメントを参照
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C215 2010 4 DDECS 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara
... [3] B. Yang, K. Wu, and R. Karri. "Scan based side channel attack on dedicated hardware implementations of data encryption standard." International Test Conference 2004, pp. 339–344, 2004. [4] B. Yang, K. ... 完全なドキュメントを参照
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C216 2010 4 DDECS 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara
... E-mail: {ohtake, hiroshi-i, fujiwara}@is.naist.jp Abstract—This paper proposes a new synthesis method for propagating information of paths from register transfer level (RTL) to gate level. The method enables false ... 完全なドキュメントを参照
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J73 j IEICE 1999 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J73 j IEICE 1999 4
... 近 の 並 列 計 算に お い て 重 要と され て い る 通 信コ スト を ,同 期 周 期 L,通信路帯域幅の 逆数 g,パケット サ イズ B といったパラ メータに より 表すことを 可能にし たモデ ル であ る.本論文では ,デ ータ数 n の選 択 問題に 対し , p 個のプ ロセッサを 用いて BSP モデル上で任意の整数 d (1 < ... 完全なドキュメントを参照
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J152 e IEICE 2010 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J152 e IEICE 2010 6
... In Table 5, Columns 3 and 4 denote the system-level cost and the corresponding test time of [3] for each TAM width in the above two scenarios. Columns 5 and 6 denote the system-level cost and the corresponding ... 完全なドキュメントを参照
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J154 e MJCS 2010 1 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J154 e MJCS 2010 1
... Science City, 630-0192 Japan. *{norlina,ooichiayee,zuri}@fke.utm.my, +fujiwara@is.naist.jp ABSTRACT This paper introduces a new class of assignment decision diagrams (ADD) called thru-testable ADDs based on a ... 完全なドキュメントを参照
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J153 e IEICE 2010 7 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J153 e IEICE 2010 7
... enumerated, where s is an integer and is initially 0. Since the number of modules in a circuit at RTL is very small, it is conceivable that the time required for obtaining the set of the minimum sub RTL paths is very ... 完全なドキュメントを参照
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J150 e IEICE 2010 1 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J150 e IEICE 2010 1
... In consideration of these tests, a fault-independent one- pattern test generation method and a fault-independent two- pattern test generation method that enable complete logical fault testing and timing fault testing ... 完全なドキュメントを参照
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J106 j IEICE 2003 9 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J106 j IEICE 2003 9
... るための十分条件を示し たが ,この十分条件での故障 検出率を実験的に 評価する.実験には ,ワークステー ションとし て Sun Blade 1000 を用い,テ スト 生成に は TestGen ( Synopsys )を 用いた .対象と す る 回 路 は , DP4 及び ISB-RISC である. DP4 は四つのベン チマーク回路 Tseng , ... 完全なドキュメントを参照
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J121 j IEICE 2005 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J121 j IEICE 2005 6
... [定義 4 ] ( ノ ン ロ バ スト テ ス ト 可 能な パ ス 遅 延 故障 ) 組 合 せ 回 路 の パ ス 遅 延 故 障 P ↑ (P ↓) に 対 し て , 2 パ タ ー ン テ ス ト v 1 , v 2 が 存 在 し ,す べ て の パ ス 外 ... 完全なドキュメントを参照
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J130 j IEICE 2006 8 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J130 j IEICE 2006 8
... 完全スキャン設計法での問題点を解消する手法とし て強可検査性に基づくテスト容易化設計法 [4] や固定 制御可検査性に基づくテスト容易化設計法 [5] がある. これらの手法では,データパスの強可検査性を利用し ている.強可検査性とは,すべての回路要素に対して, 任意の値の印加・観測を可能とするテストプラン(制 ... 完全なドキュメントを参照
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mycv e 最近の更新履歴 Hideshi Itoh
... “Economic Theories of Middle Management: Monitoring, Communication, and the Middle Man- ager’s Dilemma,” Japan Labor Review Vol.7, No,4 (2010), 5–22 (with Fumitoshi Moriya). “Complementarities among ... 完全なドキュメントを参照
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J Firm Frontier2010 最近の更新履歴 Hideshi Itoh J Firm Frontier2010
... 図 4 ∆ z < 0 のケース xxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxx ... 完全なドキュメントを参照
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J120 j IEICE 2005 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J120 j IEICE 2005 6
... ンがテストプログラムに変換できない場合がある.こ の場合,テストプログラムが存在しない故障,すなわ ち,命令レベル自己テストの下で冗長である故障にモ ジュール単体へのテストパターンを求めてしまうだけ でなく,実際には検出可能である故障に対してテスト プログラムに変換できないテストパターンを求めてし ... 完全なドキュメントを参照
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sd2013 03 hack4j 15 最近の更新履歴 Hack For Japan sd2013 03 hack4j 15
... この定義のポイントは、「相互利用性」にありま す。データをオープンに公開し相互利用性を高める ことで、さまざまなデータセットを組み合わせるこ とが可能となるからです。データセットを公開する ことで、その組織がもともと目的としていた利用用 途以外の価値が生まれたり、新たなイノベーション が生まれることがオープンデータの狙いと言っても いいでしょう。政府や自治体がデータプラット ... 完全なドキュメントを参照
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C151 2006 10 ICCD 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara
... Delete po from PO if the path list P(po) has been empty.[r] ... 完全なドキュメントを参照
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sd2012 01 hack4j 03 最近の更新履歴 Hack For Japan sd2012 01 hack4j 03
... 早く公開し、更新を続ける 製品がユーザに受け入れられ、要求を満足させて いるかどうかは、公開してユーザの反応を見てみる までわかりません。今回の原発事故に関しては、正 確な状況の把握ができないにもかかわらず迅速に届 けることが求められていました。そのために、でき るだけ早く開発してユーザからの意見を得て、更新 を続けてゆくというプロセスを採用しました。 ... 完全なドキュメントを参照
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