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[PDF] Top 20 J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4

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J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4

J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4

... To increase the testability of the complete design and to ease RT-level test generation, various DFT methods at RT-level have also been proposed. The most com- mon methods are based on full-scan or partial scan. However, ... 完全なドキュメントを参照

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J168 e 2016 4 IEICE 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J168 e 2016 4 IEICE

J168 e 2016 4 IEICE 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J168 e 2016 4 IEICE

... [5] J. Lee, M. Tehranipoor, C. Patel, and J. Plusquellic, “Securing de- signs against scan-based side-channel attacks,” IEEE Trans. De- pendable and Secure Computing, vol.4, no.4, pp.325–336, 2007. [6] S. ... 完全なドキュメントを参照

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J158 e JETTA 2011 4 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J158 e JETTA 2011 4

J158 e JETTA 2011 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J158 e JETTA 2011 4

... [ 4 , 13 ] and our pro- posed method do not need any authentication, and they provide special test modes to prevent secret informa- tion from leakage ...[ 4 ], JTAG test controller is augmented so that it ... 完全なドキュメントを参照

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J126 e IEICE 2006 4 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J126 e IEICE 2006 4

J126 e IEICE 2006 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J126 e IEICE 2006 4

... Fig. 7 Heuristic of graph division. nection. Our proposed algorithm repeats the division process from a 0-partition, that is, only one block that includes all the memories, to obtain the target partition. As the algo- ... 完全なドキュメントを参照

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C215 2010 4 DDECS 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara

C215 2010 4 DDECS 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara

... [3] B. Yang, K. Wu, and R. Karri. "Scan based side channel attack on dedicated hardware implementations of data encryption standard." International Test Conference 2004, pp. 339–344, 2004. [4] B. Yang, K. ... 完全なドキュメントを参照

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C216 2010 4 DDECS 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara

C216 2010 4 DDECS 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara

... E-mail: {ohtake, hiroshi-i, fujiwara}@is.naist.jp Abstract—This paper proposes a new synthesis method for propagating information of paths from register transfer level (RTL) to gate level. The method enables false ... 完全なドキュメントを参照

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J73 j IEICE 1999 4 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J73 j IEICE 1999 4

J73 j IEICE 1999 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J73 j IEICE 1999 4

... 近 並 列 計 算に お い て 重 要と され て い る 通 信コ スト を ,同 期 周 期 L,通信路帯域幅 逆数 g,パケット サ イズ B といったパラ メータに より 表すことを 可能にし たモデ ル であ る.本論文では ,デ ータ数 n 選 択 問題に 対し , p 個プ ロセッサを 用いて BSP モデル上で任意整数 d (1 < ... 完全なドキュメントを参照

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J152 e IEICE 2010 6 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J152 e IEICE 2010 6

J152 e IEICE 2010 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J152 e IEICE 2010 6

... In Table 5, Columns 3 and 4 denote the system-level cost and the corresponding test time of [3] for each TAM width in the above two scenarios. Columns 5 and 6 denote the system-level cost and the corresponding ... 完全なドキュメントを参照

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J154 e MJCS 2010 1 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J154 e MJCS 2010 1

J154 e MJCS 2010 1 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J154 e MJCS 2010 1

... Science City, 630-0192 Japan. *{norlina,ooichiayee,zuri}@fke.utm.my, +fujiwara@is.naist.jp ABSTRACT This paper introduces a new class of assignment decision diagrams (ADD) called thru-testable ADDs based on a ... 完全なドキュメントを参照

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J153 e IEICE 2010 7 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J153 e IEICE 2010 7

J153 e IEICE 2010 7 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J153 e IEICE 2010 7

... enumerated, where s is an integer and is initially 0. Since the number of modules in a circuit at RTL is very small, it is conceivable that the time required for obtaining the set of the minimum sub RTL paths is very ... 完全なドキュメントを参照

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J150 e IEICE 2010 1 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J150 e IEICE 2010 1

J150 e IEICE 2010 1 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J150 e IEICE 2010 1

... In consideration of these tests, a fault-independent one- pattern test generation method and a fault-independent two- pattern test generation method that enable complete logical fault testing and timing fault testing ... 完全なドキュメントを参照

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J106 j IEICE 2003 9 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J106 j IEICE 2003 9

J106 j IEICE 2003 9 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J106 j IEICE 2003 9

... るため十分条件を示し たが ,この十分条件で故障 検出率を実験的に 評価する.実験には ,ワークステー ションとし て Sun Blade 1000 を用い,テ スト 生成に は TestGen ( Synopsys )を 用いた .対象と す る 回 路 は , DP4 及び ISB-RISC である. DP4 は四つベン チマーク回路 Tseng , ... 完全なドキュメントを参照

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J121 j IEICE 2005 6 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J121 j IEICE 2005 6

J121 j IEICE 2005 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J121 j IEICE 2005 6

... [定義 4 ] ( ノ ン ロ バ スト テ ス ト 可 能な パ ス 遅 延 故障 ) 組 合 せ 回 路 パ ス 遅 延 故 障 P ↑ (P ↓) に 対 し て , 2 パ タ ー ン テ ス ト v 1 , v 2  が 存 在 し ,す べ て パ ス 外 ... 完全なドキュメントを参照

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J130 j IEICE 2006 8 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J130 j IEICE 2006 8

J130 j IEICE 2006 8 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J130 j IEICE 2006 8

... 完全スキャン設計法で問題点を解消する手法とし て強可検査性に基づくテスト容易化設計法 [4] や固定 制御可検査性に基づくテスト容易化設計法 [5] がある. これら手法では,データパス強可検査性を利用し ている.強可検査性とは,すべて回路要素に対して, 任意印加・観測を可能とするテストプラン(制 ... 完全なドキュメントを参照

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mycv e 最近の更新履歴  Hideshi Itoh

mycv e 最近の更新履歴 Hideshi Itoh

... “Economic Theories of Middle Management: Monitoring, Communication, and the Middle Man- ager’s Dilemma,” Japan Labor Review Vol.7, No,4 (2010), 5–22 (with Fumitoshi Moriya). “Complementarities among ... 完全なドキュメントを参照

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J Firm Frontier2010 最近の更新履歴  Hideshi Itoh J Firm Frontier2010

J Firm Frontier2010 最近の更新履歴 Hideshi Itoh J Firm Frontier2010

... 図 4 ∆ z < 0 ケース xxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxx ... 完全なドキュメントを参照

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J120 j IEICE 2005 6 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J120 j IEICE 2005 6

J120 j IEICE 2005 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J120 j IEICE 2005 6

... ンがテストプログラムに変換できない場合がある.こ 場合,テストプログラムが存在しない故障,すなわ ち,命令レベル自己テスト下で冗長である故障にモ ジュール単体へテストパターンを求めてしまうだけ でなく,実際には検出可能である故障に対してテスト プログラムに変換できないテストパターンを求めてし ... 完全なドキュメントを参照

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sd2013 03 hack4j 15 最近の更新履歴  Hack For Japan sd2013 03 hack4j 15

sd2013 03 hack4j 15 最近の更新履歴 Hack For Japan sd2013 03 hack4j 15

...  この定義ポイントは、「相互利用性」にありま す。データをオープンに公開し相互利用性を高める ことで、さまざまなデータセットを組み合わせるこ とが可能となるからです。データセットを公開する ことで、その組織がもともと目的としていた利用用 途以外価値が生まれたり、新たなイノベーション が生まれることがオープンデータ狙いと言っても いいでしょう。政府や自治体がデータプラット ... 完全なドキュメントを参照

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C151 2006 10 ICCD 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara

C151 2006 10 ICCD 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara

... Delete po from PO if the path list P(po) has been empty.[r] ... 完全なドキュメントを参照

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sd2012 01 hack4j 03 最近の更新履歴  Hack For Japan sd2012 01 hack4j 03

sd2012 01 hack4j 03 最近の更新履歴 Hack For Japan sd2012 01 hack4j 03

... 早く公開し、更新を続ける 製品がユーザに受け入れられ、要求を満足させて いるかどうかは、公開してユーザ反応を見てみる までわかりません。今回原発事故に関しては、正 確な状況把握ができないにもかかわらず迅速に届 けることが求められていました。そのために、でき るだけ早く開発してユーザから意見を得て、更新 を続けてゆくというプロセスを採用しました。 ... 完全なドキュメントを参照

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