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MEMS023 光学検査顕微鏡

光学機器 測定顕微鏡 Catalog No.4273

光学機器 測定顕微鏡 Catalog No.4273

... 顕微鏡下での検査・観察測定において、使用する対物レンズの高分解能・長作動距離がその操作性に重要なファクタとなります。また、視野全域で鮮明な 像を得るためには可視光領域の広い範囲で色収差を補正したアポクロマート仕様(赤・青・黄の 3 波長補正)であること、像面湾曲・点収差などを補正し たプラン( plan )仕様であることも同様です。ミツトヨの FS 対物レンズはこうした[r] ...

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TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

... 1. はじめに 透過電子顕微鏡( TEM)は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る.すなわちレンズ作用は荷電粒子が受けるローレンツ力を 利用して行われる一方,波の持つ干渉性を最大限活かして試 料からの回折と結像が行われる.この TEM を用いる研究者 が共通して行う基本的な作業がある.試料を挿入し,電子を 試料に照射し,そして試料の下面からでてきた電子波をレン ...

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走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

... 射角度が非常に小さく,光学顕微鏡に較べ深い焦点深度を もつ(図 6). SEM の到達分解能は,電子銃と対物レンズの組み合わ せによって異なる(電子銃とレンズについては後述).こ の分解能は,値が小さいほど高分解能で高倍率の測定が可 能となる.図 7 は主な SEM についてその到達分解能の算 出例である.熱電子放出型電子銃はアウトレンズ方式の対 物レンズと組み合わされて熱電子銃型 SEM と呼ばれ,ア ...

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共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)

共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)

... 病理組織学標本作製装置 (バキュームロータリー ・ ティッシュテックパラフィン包埋装置・滑走式ミクロトーム ・ クライオスタット ・ 写真顕微鏡 ・ 蛍光顕微鏡 ・ 実体顕微鏡・他) 生命科学研究センター棟 ...

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走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

... 定義した。 結晶を標識する。そこに白色X 線を照射し,金ナノ結晶 由来の回折点を時分割で取得することにより,ラベルさ れている分子の運動を計測する方法である。 DXT 法の最 大の特徴は,極めて高い分解能であり,最高で 0.01Å の 構造変化をとらえることが可能である。また,時分割能 も高速カメラの開発より,ナノ秒レベルまで可能となっ ている。これらは他の計測法にくらべ 100 倍以上の性能 ...

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ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡

ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡

... 走査型プローブ顕微鏡分野において、 強化すべき技術の1つとして、 プローブ技術がある。 これは、プローブが走査型プローブ顕微鏡のキーテクノロジーであることから必須である。 プローブ技術の開発には、 半導体加工用の微細加工技術や精密制御技術等が用いられるが、 日本の半導体加工技術は、欧米に引けをとらない技術水準にあり、基盤技術力としてそれら ...

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プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

...  STM は,トンネル電流を利用したプローブ顕微鏡であるが,1986 年には絶縁物表面の観察も可能な原子間力顕微鏡(AFM : Atomic Force Microscope)が開発され,その後表面科学および関連産業分野で急速に普及してきた。 (株)日立ハイテクサイエンス(旧・セイコー電子工業(株))は,日本において最初に STM の原子像観察に成功した旧通産省・ ...

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偏光顕微鏡 ECLIPSE LV100N POL/Ci-POL

偏光顕微鏡 ECLIPSE LV100N POL/Ci-POL

... ・ 高NAと長作動距離を同時に実現したCFI60光学系を搭載。 ・ クランプ式の再焦準装置を搭載。被検物の交換もスムーズ。 なぜ、50Wなのに100W以上に明るいのか? 光源の輝度は、ワット数には比例しません。独自開発のハロゲン光源 は、フィラメントの最適化による高輝度化、光源面積の光学的な拡大 による瞳の充足度の向上などにより、50Wながら100W以上の明るさ ...

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技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

... 4-2-2 電子線エネルギー損失分光法(EELS) 電子線が試料を透過する時に、入射電子線の一部は 非弾性散乱されてエネルギーを失う。電子線エネルギ ー損失スペクトルは、この電子線のエネルギー分布を 測定し、物質の結合状態や組成を分析する方法である。 この方法は現在では微細な構造をもつ半導体の構造等 の観察と分析に利用されている。電子顕微鏡で使用し ている磁場型レンズはレンズの拡大率(縮小率)が限ら ...

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山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

... "吸収電流法による SEM 用スピン検出器の開発研究" [3]独立行政法人 日本学術振興会 科学研究費補助金(特別研究員奨励費) 2004-2006 年度研究助成 "スピン偏極トンネル分光走査顕微鏡法による表面原子磁性の研究" [4]財団法人 伊藤科学振興会 2005 年度 伊藤科学研究助成金 ”回転走査型スピン偏極トンネル顕微分光によるスピン電子物性の研究” [5]財団法人 旭硝子財団 ...

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From Eye to Insight ワークフローを最適化 S9 i/s9 D/S9 E アポクロマート実体顕微鏡

From Eye to Insight ワークフローを最適化 S9 i/s9 D/S9 E アポクロマート実体顕微鏡

... ワークフローを最適化 S9 シリーズ実体顕微鏡で作業速度を最大 20 % 向上 * 検査、作業、スクリーニングや解剖など、長時間の拡大観 察は疲れる作業と諦めていませんか。ライカはクリアで 立体感ある見えと、快適な作業を提供するため、 S9 実 体顕微鏡シリーズを開発しました。卓越した光学技術と ...

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留意点 指導面 顕微鏡操作はすべての教科書で扱っている基本の技能であり, 生物学的に探究する方法の習得が目標である 観察の基礎となる顕微鏡操作が未熟であることが多いため, 今後の観察をスムーズに進めるためにも各生徒が顕微鏡に触れ, 操作に慣れるようにすることを意識して指導する 観察の中心となる光学顕

留意点 指導面 顕微鏡操作はすべての教科書で扱っている基本の技能であり, 生物学的に探究する方法の習得が目標である 観察の基礎となる顕微鏡操作が未熟であることが多いため, 今後の観察をスムーズに進めるためにも各生徒が顕微鏡に触れ, 操作に慣れるようにすることを意識して指導する 観察の中心となる光学顕

... 顕微鏡のレンズは,顕微鏡の命ともいえる大切なところである。レンズ面を,指で触ることはもちろん, 息を吹きかけたり,ティッシュペーパーで拭いたりするのも厳禁である。観察後のメンテナンスを行う習 慣をつけるとレンズの状態を悪化させにくい。年度毎に業者の点検を受けるとなおよい。 整備用具は,主にカメラ用品店で購入できる。用具は,眼鏡レンズ拭き,繊維が出ない紙(クリーニン ...

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交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

... 製品化・実用化の見込み • 交番磁気力顕微鏡のシステムは(株)日立ハイ テクサイエンスが事業化を検討中. • ハード磁性探針は日東光器(株)のFePt探針 が使用でき、さらに性能が優れるFePt-MgO 系探針をラインナップに加えることを検討中. • ソフト磁性探針はFeCoB系非晶質探針を候補 ...

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Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

... 図 4.1: 比較検査において製造ばらつきに起因した誤検出 (黄枠) が大量に発生す る事例 2 つ目の識別処理では、欠陥候補点を中心として、16 × 16 画素の局所画像を 切り出し、局所画像の濃淡値を特徴量として識別器を構成した。全ての欠陥候 補が良品と判定された場合、検査画像内には欠陥が含まれないと判定する。半 導体デバイスの欠陥画像を、ユーザが定義した基準で自動分類する手法として、 ...

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感染症の診断は 原因微生物を患者検体から検出することにより確定される 病原微生物の検出方法 顕微鏡検査培養 同定検査免疫学的検査核酸同定検査 ( 遺伝子検査 ) 信頼できる結果を得るためには? 用いられた検体の品質が検査に適したものでなければならない!

感染症の診断は 原因微生物を患者検体から検出することにより確定される 病原微生物の検出方法 顕微鏡検査培養 同定検査免疫学的検査核酸同定検査 ( 遺伝子検査 ) 信頼できる結果を得るためには? 用いられた検体の品質が検査に適したものでなければならない!

... 塗抹標本の作り方 患者検体 採取部位 使用器具 塗抹方法 喀痰 膿性部分 膿性部分がない場合は粘 液性の濃い部分 釣型白金線(尖端 の2~3mmを直 角に曲げたもの 釣型白金線で膿性部分をつ り上げ、米粒大の約1/3量 をとり、薄く引き伸ばして 塗抹 尿 均一になるよう混和 毛細管ピペット 毛細管ピペットにて1滴滴 下し、広げることなくその まま乾燥。ただし、膿尿は 薄[r] ...

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JSM-IT200 走査電子顕微鏡

JSM-IT200 走査電子顕微鏡

... 画像 光学像を拡大すれば SEM 画像に! ■ Zeromag 光学像を拡大すれば SEM 像に切り替わります Zeromag は、ステージ位置に連動したホルダーグラフィック画像 や CCD 画像 *(光学像)と SEM 像が連動する機能です。目で見た ままの光学像で視野探しを行い、像を拡大すると SEM 像に切り替わ ...

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技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

... 7.3 光学ガラスの進歩 14) レンズ用のガラス、すなわち光学ガラスの製造法 を最初に研究し確立したのは、スイスのギナン(P. L. Guinand, 1748-1824)である。色消しレンズが発明 され、酸化鉛を多く含有するフリントガラス(工芸 用に多用された)がレンズに使われるようになると、 脈理など屈折率の不均一性や可視光域透過率が問題 となっていた。彼は耐火粘土製るつぼで原材料を高 ...

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る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

... 直線偏光をプローブに入射し、試料の磁気光学効果によ る偏光の回転を検光子により検出すれば磁気光学効果を用 いたイメージングができるはずである。しかし、単なる光学 像に比べ磁気光学像はコントラストが大変低いのである。一 般にプローブ光の波長において十分な光の透過強度を保っ ...

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近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

... 3.2 偏光子・検光子法による磁気光学イメージング 直線偏光をプローブに入射し、試料の磁気光学効果効果による偏光の回転を検光子により検出す れば磁気光学効果を用いたイメージングができる。一般にプローブ光の波長において十分な光の透過 強度を保った場合、ファラデー回転としてはせいぜい 1-2゜と小さいため、コントラストの高い像が ...

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JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)

JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)

... 組成の異なる異物を容易に発見することができ、さらに瞬時に構成する元素が分かります。 レポート作成も容易なので、現場へのフィードバックを迅速におこなえます。 SEM では光学像で観察できない組成コントラストを観察できるので、同じ倍率でも異なる情報が得られます。 低真空モード標準搭載により無処理で観察、分析ができるので、製造ラインの抜き取り検査にも使用 ...

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