• 検索結果がありません。

走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

... 。 電子線源としては市販の走査電子顕微鏡による電子線を 利用できるため,小規模な研究室で運用でき,マシンタ イムに左右されない研究が可能となる。しかし,電子顕 微鏡内は高真空に保つ必要があり,ネイティブなタンパ ク質など水分を含む試料を直接は観察できない。そこ で,1 気圧環境を維持し,かつ電子線透過可能なカーボ ン薄膜(隔膜) 9) ...

6

JSM-IT200 走査電子顕微鏡

JSM-IT200 走査電子顕微鏡

... 低加速電圧 低加速電圧で観察することで、より表面の観察がおこなえます。光学顕微鏡像で観察された試料表面の汚れは、加速電圧 15 kV で観 察しても見えにくいですが、加速電圧を 2 kV に下げることで鮮明に観察することができます。 モンタージュ:Zeromag から広領域の観察と分析が簡単に自動で行えます ...

24

JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)

JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)

... コピー&ペースト不要の自動レイアウトによる結果出力(SMILE VIEW TM Lab) Z mag ero L ive Analysis LV A uto HV 3D SMV *1 Zeromag( 光学像 ) の撮影には、ステージナビゲーションシステム ( オプション ) が必要です *2 EDS 元素分析装置 ( オプション ) が必要です JCM-700[r] ...

24

走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル

走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル

... • 反射電子像 COMPO像では表面の組成がコント ラストに反映される。重い場所が明 るく、軽い場所が暗い。TOPO像では 画面の右側からライトで照らされた ような陰影が付く為、表面の凹凸が はっきりと判断出来る。立体像は COMPOとTOPO像の重ね合わせ。結 晶性試料の場合は結晶方位の違い がコントラストに反映される。表面か らかなり深い領域(μmオーダー)まで の信号が出てくる ...

14

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

... (ネットワークアナライザ) (株)アポロウェーブ 卓上顕微鏡(SEM) (株)日立ハイテクノロジーズ 高周波伝送特性測定装置(C27+C28+C29) (株)アポロウェーブ 卸 売 業 資本金の額又は出資の総額が1億円以下の会社又は常時使用する従業員の数が100人以下の会社及び個人 小 売 業 資本金の額又は出資の総額が5千万円以下の会社又は常時使用する従業員の数が50人以下の会社及び個人 サービス業 ...

8

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

... 射角度が非常に小さく,光学顕微鏡に較べ深い焦点深度を もつ(図 6). SEM の到達分解能は,電子銃と対物レンズの組み合わ せによって異なる(電子銃とレンズについては後述).こ の分解能は,値が小さいほど高分解能で高倍率の測定が可 能となる.図 7 は主な SEM についてその到達分解能の算 出例である.熱電子放出型電子銃はアウトレンズ方式の対 ...

6

近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

... SNOM 光学像が同時に得られる。透過光は偏光無依存のダイ クロイックミラーで反射されフィルタ(光てこ用半導体レー ザー波長除去)と検光子を通して光電子増倍管に導かれる。 この装置を用いてクロム薄膜標準試料(石英基板上に成膜 された膜厚 20 nm、2 µ m×2 µ m のクロスハッチ)を観察した 結果が図 9 に示される。(a)は AFM によるトポ像、(b)は近接 場(非磁性)像である。走査範囲は 5 ...

10

甲殻類幼生の走査型電子顕微鏡観察のための試料作製法

甲殻類幼生の走査型電子顕微鏡観察のための試料作製法

... 果があることが判明した .家庭用電子レンジを用 いる際はあらかじめ試科を入れない固定ピンで固 定液が沸騰する照射条件を決めておき,沸騰する 直前の照射時間で照射するとよい.今回は海水中 で孵化したアルテミ ア幼生を用いて各種固定条件 を検討したが,淡水性の甲殻類を含めて種による 条件の差異はもちろん存在するであろう.どの種 の幼生においても共通だと思われるのはマイクロ [r] ...

6

上図 ( 左 ) は, 原子間力顕微鏡 (AFM) による固液界面ナノバブルの計測イメージ図である. 固液界面ナノバブルの計測には AFM が最もよく用いられているが, その理由は液中での走査が可能であ

上図 ( 左 ) は, 原子間力顕微鏡 (AFM) による固液界面ナノバブルの計測イメージ図である. 固液界面ナノバブルの計測には AFM が最もよく用いられているが, その理由は液中での走査が可能であ

... 編集出版部会からのお知らせ 一各種行事・広告などの掲載についてー インターネットの普及により情報発信・交換能力の比類ない進展がもたらされました.一方,ハー ドコピーとしての学会誌には,アーカイブ的な価値のある内容を手にとって熟読できる点や,一連の ページを眺めて全貌が容易に理解できる点など,いくら電子媒体が発達してもかなわない長所がある ...

69

走査トンネル顕微鏡を用いた2次元キャリア分布計測技術とデバイス開発への適用

走査トンネル顕微鏡を用いた2次元キャリア分布計測技術とデバイス開発への適用

... る と , 探 針 - 試料間にトンネル電流が流れる。 フィードバック回路によりこのトンネル電流を一定 に保持しつつprobeが試料表面を走査することで, 原子層ステップなどの2次元表面凹凸像を計測でき る。トンネル電流が探針-試料間距離に対して指数 関数的に変化するために極めて優れた垂直空間分解 能を実現できる。また,probe先端原子を介したト ンネル現象を利用しているため水平空間分解能も極 ...

6

走査型電子顕微鏡による減数分裂の観察-香川大学学術情報リポジトリ

走査型電子顕微鏡による減数分裂の観察-香川大学学術情報リポジトリ

... も少数ではあるが紡錘糸が付着している様子が 確認できる。また,図7で染色体が両極に押し やられたようになっていることをあわせて考え ると,動原体微小管が動原体の部分だけを引っ 張っているのではなく染色体全体を引っ張って いる可能性がある。 次に細胞板形成に注目すると,細胸板は極 微小管の残存物がゴルジ小胸と融合してできる といわれている[r] ...

6

Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

... 領域) に設けた計測用の専用パターンを光学式顕微鏡で撮像し、計測を行ってい た [30]。この計測用パターンは n 回目の回路パターン形成工程と、n + 1 回目の 回路パターン形成工程で、それぞれ異なるパターンが形成されるようになって おり、各パターンのずれを定量化することでオーバーレイの計測が可能である。 この手法では計測用パターンのサイズを光学式顕微鏡で解像できる程度に大き ...

81

プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

... 図 8 AFM5500M 測定までの流れ 図 9 測定の親和性 表面形状の計測および分析装置はプローブ顕微鏡以外にも種々の装置があり,代表的な装置として電子顕微鏡(SEM: Scanning Electron Microscope)があげられる。プローブ顕微鏡の最大の利点としては,高分解能でのリアルな高さ情報が ...

10

走査型電子顕微鏡によるカキ富有の果面の微細構造-香川大学学術情報リポジトリ

走査型電子顕微鏡によるカキ富有の果面の微細構造-香川大学学術情報リポジトリ

... 香川大学農学部学術報告 中 低 利 明,葦 渾 正 義 220 一方,樽谷ら(6)は果面をトルイジンブルー液紅浸して,ひび割れ部位を認め,細裂傷と呼んでいる・ 本報は光学顕微鏡に厳ぺて分解能および焦点深度の優れる走査型電子顕微鏡を用ぃて.−,カキの成熟果の果面の微細構 造を観察し,果粉の形状と果皮のき裂についてニ,三の知見を得たのでそ・の結果を述[r] ...

5

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

... 4-2-2 電子線エネルギー損失分光法(EELS) 電子線が試料を透過する時に、入射電子線の一部は 非弾性散乱されてエネルギーを失う。電子線エネルギ ー損失スペクトルは、この電子線のエネルギー分布を 測定し、物質の結合状態や組成を分析する方法である。 この方法は現在では微細な構造をもつ半導体の構造等 ...

52

走査型電子顕微鏡による冠さび菌感染エンバク葉内部の観察--試料作製法の検討-香川大学学術情報リポジトリ

走査型電子顕微鏡による冠さび菌感染エンバク葉内部の観察--試料作製法の検討-香川大学学術情報リポジトリ

... Freeze fracture:isoaTnylacetate, Freeze董racture:absolute ethanol, 1iquid N 1iquid N dry:HitachiHCP−1,Criticalpointdry:HitachiHCP−1, Criticalpoint 1iquid CO2 1iquid CO2 Co[r] ...

11

走査型プローブ顕微鏡によるラテックス/デンプンブレンドフィルムの相分離状態の観察

走査型プローブ顕微鏡によるラテックス/デンプンブレンドフィルムの相分離状態の観察

... たが、厚さ約 1 µ m の極めて薄いブレンドフィルムにしか適用できないという制限があ る。 4 結論 表層付近の弾性率や探針振動の位相の遅れを微小な領域で画像化する走査型プロー ブ顕微鏡(力学的測定モードを供えた原紙間力顕微鏡)を用いて、ブレンドフィルム内 の SB ラテックスとデンプンの相分離状態を明瞭に示すことができた。透過型電子顕微 ...

14

山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

... “スピン偏極 STM による磁性ナノクラスターの電子スピン状態の直接観察” [8] Alexander von Humboldt 財団(ドイツ国)研究助成 (2008 年-2010 年) “Study of magnetic excitation in magnetic nanoclusters by means of inelastic spin-polarized STM” ...

7

前回の復習 (1) 原子を操る, 量子を操る 原子を見る, 操る 走査プローブ顕微鏡 (STM, AFM) ナノサイエンス 巨視的量子現象 量子統計 ボース粒子とフェルミ粒子 4 He と 3 He 液体ヘリウム ( 4 He) の超流動 原子気体のボース アインシュタイン凝縮

前回の復習 (1) 原子を操る, 量子を操る 原子を見る, 操る 走査プローブ顕微鏡 (STM, AFM) ナノサイエンス 巨視的量子現象 量子統計 ボース粒子とフェルミ粒子 4 He と 3 He 液体ヘリウム ( 4 He) の超流動 原子気体のボース アインシュタイン凝縮

... Si ドーピング ドーピング 伝導帯 価電子帯 ~1eV ~10000K P + ~0.1eV ドナー (電子供与体) アクセプター (電子受容体) ドナー(電子供与体)不純物を添加して,伝導帯に電子 が供給されるようにしたものをn-型半導体, アクセプター(電子受容体)不純物を添加して,価電子 帯に正孔ができるようにしたものをp-型半導体という 水素原子に似ている..[r] ...

49

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

... 図 15 試料に対する電子の入射角と検出器の位置関係:(a) STEM-HAADF 法.検出器は主に熱散漫散乱電子を検出する高 角に置かれ,主に試料中の原子量の差を反映した Z コントラ ストが得られる,(b)STEM-BF 法.入射角 α p と取り込み角 α BF が同程度のとき透過波は最大の効率で検出されるが同時に 一部の回折波も取り込まれる.また α p + α BF > θ を満たした面の ...

10

Show all 2776 documents...

関連した話題