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線の測定につ

X線の測定と線量校正

X線の測定と線量校正

... z 「 AAPM's TG-51 protocol for clinical reference dosimetry of high- energy photon and electron beams」 P.R.Almond et. al, Med. Phys. 26 (1999) p.1847-1870【原典;01はいいとこ取りをしている。】 z 「放射線治療における線量トレーサビリティと標準測定法 ...

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2. X 線による三軸応力測定理論 2. 1 デバイリングによる応力測定法結晶構造をもつ物質にX 線が入射したとき, 式 (1) に示すBraggの条件を満たす結晶において回折現象が生じる. 2d sinθ= nλ (1) ここで, d : 格子面間隔 θ:bragg 角 n : 整数 λ:x 線の

2. X 線による三軸応力測定理論 2. 1 デバイリングによる応力測定法結晶構造をもつ物質にX 線が入射したとき, 式 (1) に示すBraggの条件を満たす結晶において回折現象が生じる. 2d sinθ= nλ (1) ここで, d : 格子面間隔 θ:bragg 角 n : 整数 λ:x 線の

... デバイリング全周を利用したX応力測定理論は, 平らによりcos α 法が提案され,吉岡ら 8) ,佐々木ら 9) によって検出器イメージングプレート(IP)を用いる 方法が提案されている.cos α 法は平面応力状態を仮 定した解析法であるが,cos α 法を拡張した三軸応力 測定法として佐々木-廣瀬法がある.以下では,佐々 木-廣瀬法解析理論について述べる. ...

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X 線小角散乱 / 広角回折装置 置概要 X 線小角散乱装置 装置 :Anton Paar GmbH 製 X 線小角散乱装置 (SAXSess) 設置場所 : 駿河台校舎 2 号館地下 1 階 209B 号室設置年度 : 平成 16 年度性能 : 測定領域 2θ : (SWAX

X 線小角散乱 / 広角回折装置 置概要 X 線小角散乱装置 装置 :Anton Paar GmbH 製 X 線小角散乱装置 (SAXSess) 設置場所 : 駿河台校舎 2 号館地下 1 階 209B 号室設置年度 : 平成 16 年度性能 : 測定領域 2θ : (SWAX

... X を照射すると,物質を構成する原子や分子電子密度を反映して X が散乱される.特に, 物質を透過した X 近傍つまり小角度領域,一般的は散乱角 2 θ <10° 以内現れる散乱・回折を総称 して小角散乱 (Small-angle Scattering) という. X ...

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116 論文 ( 大図, 他 ) て, 人形峠センターでは 2000 年より統一した測定手法でウラン量を評価するために 238 U の子孫核種である 234m Pa から放出される 1,001 kev のガンマ線を測定するパッシブガンマ線法による非破壊測定装置を導入し, 廃棄物の種類 (NaF アル

116 論文 ( 大図, 他 ) て, 人形峠センターでは 2000 年より統一した測定手法でウラン量を評価するために 238 U の子孫核種である 234m Pa から放出される 1,001 kev のガンマ線を測定するパッシブガンマ線法による非破壊測定装置を導入し, 廃棄物の種類 (NaF アル

... 15 示す。図示すよう試験とシミュレーション 結果を合わせると 3 g から 10,000 g まで質量に対して 同じ割合で核分裂中性子数が直線状比例して増加し,両 方結果が重なる 27 g から 198 g 質量範囲では核分 裂中性子数がよく一致することが検証された。これよ ...

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中性子関連技術解説書 1. はじめに 中性子利用技術名 ; 粉末中性子線回折解説書作成者 ; 技術士氏名伊東亮一 粉末中性子線回折は試料に中性子を当て 散乱される中性子線を測定して試料中の原 子構造を調べる分析法です 粉末のままで結晶構造解析ができます 2. 概要 2.1 粉末中性子線回折従来 結晶

中性子関連技術解説書 1. はじめに 中性子利用技術名 ; 粉末中性子線回折解説書作成者 ; 技術士氏名伊東亮一 粉末中性子線回折は試料に中性子を当て 散乱される中性子線を測定して試料中の原 子構造を調べる分析法です 粉末のままで結晶構造解析ができます 2. 概要 2.1 粉末中性子線回折従来 結晶

... 中性子 回折 装置として、 (独) 日本原子力研究開発機構 原子 炉 JRR-3 設置された HRPD(High Resolution Powder Diffractometer)が使用されてきま したが、 J-PARC 設置された iMATERIA や Super HRPD は測定時間を大幅短縮 できることが期待されています。粉末 中性子 ...

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フラットパネルセンサ C9728DK-10 X 線回折装置用 カセッテタイプ (USB 2.0 インターフェース ) 受光面サイズ : mm C9728DK-10 は 18 kev 以下で実施する X 線回折測定のキーデバイスとして開発された 検出特性に優れたデジタル X 線イ

フラットパネルセンサ C9728DK-10 X 線回折装置用 カセッテタイプ (USB 2.0 インターフェース ) 受光面サイズ : mm C9728DK-10 は 18 kev 以下で実施する X 線回折測定のキーデバイスとして開発された 検出特性に優れたデジタル X 線イ

... C9728DK-10 X回折装置用、カセッテタイプ (USB 2.0インターフェース) 受光面サイズ : 52.8 × 52.8 mm C9728DK-10は、18 keV以下で実施するX回折測定キーデバイスとして開発された、検出特性優れたデジタルXイ ...

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X線反射率法による金薄膜の膜厚測定 過去のお知らせ | 先端機器分析センター | 静岡理工科大学

X線反射率法による金薄膜の膜厚測定 過去のお知らせ | 先端機器分析センター | 静岡理工科大学

... X 回折装置 SmartLab を用い X 反射率測定 よ 金薄膜 膜厚評価を紹介し 全自動水 型多目的 X 回折装置 SmartLab 集中法や X 反射率測定 け く 薄膜法 極点測定 残留応力測定等を行うこ ...

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ファイバ型位相変調素子を用いたスペクトル線幅測定法におけるプッシュプル駆動方式

ファイバ型位相変調素子を用いたスペクトル線幅測定法におけるプッシュプル駆動方式

... ファイバ型位相変調素子を用いた スペクトル測定法におけるプッシュプル駆動方式 Push-Pull Drive Method in Linewidth Measurement System with Fiber Type Phase Modulators 小森 大喜†, 木村 悠人†, 森 正和† Daiki KOMORI†, Yuhto KIMURA†, Masakazu MORI† ...

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X線二結晶法によるストライプ状SiO_2/GaAs基板の格子歪の測定: University of the Ryukyus Repository

X線二結晶法によるストライプ状SiO_2/GaAs基板の格子歪の測定: University of the Ryukyus Repository

... 前演・新里・安扇祖:X線二結晶によるストライプ状SiQ/GaAs基板の格子歪の測定 80 夕に対応するかを決定するために用いるものである. そのため,この試料では。帯と「帯の幅に差をつけて, X線トポグラフで。帯とr帯を容易に識別できるよう にした. 為←[、ロの与口目 3.2平均相対格子歪の測定 2節で説明した測定原理に基づきSiO2堆積帯(。 帯)とSiO2除去帯([r] ...

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X線2面入射法による結晶面傾斜角およびX線屈折率の測定: University of the Ryukyus Repository

X線2面入射法による結晶面傾斜角およびX線屈折率の測定: University of the Ryukyus Repository

... A new X-ray double incidence method, by which off- angle of crystal surface and the refractive index of the crystal for X- rays are measured ex- actly, is presented.. X-rays which are Br[r] ...

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X線二結晶法によるストライプ状SiO_2/GaAs基板の格子歪分布の測定: University of the Ryukyus Repository

X線二結晶法によるストライプ状SiO_2/GaAs基板の格子歪分布の測定: University of the Ryukyus Repository

... 7 (b) Contrast changes of X-ray topograph of sample 2 due to increasing or decreas- ing of diffraction angle for right-angle entrance X-rays as shown in Fig.5 (a). These shown topographs[r] ...

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位相変調を用いた半導体レーザのスペクトル線幅測定法

位相変調を用いた半導体レーザのスペクトル線幅測定法

... 理想的な Mach-Zehnder型振幅変調器印 加電圧と出力光特性は図 3.1ようなっ ており、半波長電圧 VπでON/OFFを繰り返す。 これを電界振幅でみると、光出力が 0とこ ろ左右では、電界振幅位相が180度変化 している。したがって、光出力が0ところ ...

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法 (Digital Image Processing) SEXA 法 (single Energy x-ray Absorptiometry) 単色 X 線光子を利用した骨塩定量装置による測定及びpQCT(peripheral Quantitative Computed Tomography) に

法 (Digital Image Processing) SEXA 法 (single Energy x-ray Absorptiometry) 単色 X 線光子を利用した骨塩定量装置による測定及びpQCT(peripheral Quantitative Computed Tomography) に

... (2) 呼吸心拍監視、新生児心拍・呼吸監視、カルジオスコープ(ハートスコープ)又はカル ジオタコスコープは、観察した呼吸曲線、心電曲線、心拍数それぞれ観察結果要点 を診療録記載した場合算定できる。 (3) 新生児心拍・呼吸監視、カルジオスコープ(ハートスコープ)又はカルジオタコスコー ...

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より良い結果を得るために! 蛍光 X 線法の原理と弱点を知ることが大切 蛍光 X 線の試料条件十分な面積と厚み均一 平面 補正で補う面積補正厚み補正材質補正形状補正 装置の日常チェック 測定 作業の制約 最終判断は人間 スペクトルの重なり 試料の情報均一? メッキ? 判断 蛍光 X 線の知識 ばらつ

より良い結果を得るために! 蛍光 X 線法の原理と弱点を知ることが大切 蛍光 X 線の試料条件十分な面積と厚み均一 平面 補正で補う面積補正厚み補正材質補正形状補正 装置の日常チェック 測定 作業の制約 最終判断は人間 スペクトルの重なり 試料の情報均一? メッキ? 判断 蛍光 X 線の知識 ばらつ

... B.ハロゲン(特にCl)スクリーニング ハロゲン分析重要性 ハロゲン系有機化合物は人体有害なものが多い ハロゲン系有機化合物は安定で埋め立て処理も限界がある 焼却処理ではダイオキシン等、有害ガス発生危険性がある ...

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X線二結晶法によるSiO_2-GaAs基板の反りの曲線分布の測定: University of the Ryukyus Repository

X線二結晶法によるSiO_2-GaAs基板の反りの曲線分布の測定: University of the Ryukyus Repository

... The measurement method is applied at room temperature to three cases of SiOz - GaAs substrate whose SiOz film has been deposited umiformly by CVD at 350 CC. These three cases are: i) SiO[r] ...

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管理基準管理方法写真管理基準 (1) 管路等部は マンホール 躯体等の区間毎における両端部及びその途中 ( 施工延長 40m につき 1 箇所 ) で管理項目を測定する ただし 途中測定点は 均等延長程度に割付けし明示する (2) 組立マンホール部は 号線毎のマンホール号種毎に管理項目を測定する (

管理基準管理方法写真管理基準 (1) 管路等部は マンホール 躯体等の区間毎における両端部及びその途中 ( 施工延長 40m につき 1 箇所 ) で管理項目を測定する ただし 途中測定点は 均等延長程度に割付けし明示する (2) 組立マンホール部は 号線毎のマンホール号種毎に管理項目を測定する (

... (4)取付管部は、その規定よる。 マンホール、躯体等区間毎における 両端部及びその途中(施工延長20m つき1箇所)で管理項目を測定する。た だし、途中測定点は、均等延長程度 割付けし明示する。 ...

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2.2 メチルメルカプタン, 硫化水素, 硫化メチル及び二硫化メチル ( 硫黄化合物 ) 試料採取から分析に至るまでの全体的な操作手順 ( 測定方法 ) 敷地境界線における濃度の測定 3 校正用ガスの調製 1 試料の採取 試料ガス採取装置 (3 形式のいずれか ) 試料採取袋 : ポリふ

2.2 メチルメルカプタン, 硫化水素, 硫化メチル及び二硫化メチル ( 硫黄化合物 ) 試料採取から分析に至るまでの全体的な操作手順 ( 測定方法 ) 敷地境界線における濃度の測定 3 校正用ガスの調製 1 試料の採取 試料ガス採取装置 (3 形式のいずれか ) 試料採取袋 : ポリふ

... 《解説》 使用するカラム充てん剤を, 自分自身で液相を被覆(コーティング)することは稀であ るが, 特別注文または市販品を購入するが普通である。しかし, コーティングした充て ん剤を充てんすることはしばしば行うことであり, ここではカラム充てんに関すること ついて述べる。試料濃縮管項(図2.2-8)で用いた接続器具を使用することよっ て, ...

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ドラッグ アンド ドロップ ツールバー 1 ドラッグ アンド ドロップ測定 Infiniium 画面の左側には 信号のデバッグに使用できる測定用アイコンがあります これらの測定アイコンをツールバーから特定の波形にドラッグできます アイコンの境界線が 対応する波形の色に変わります この機能を使用すると

ドラッグ アンド ドロップ ツールバー 1 ドラッグ アンド ドロップ測定 Infiniium 画面の左側には 信号のデバッグに使用できる測定用アイコンがあります これらの測定アイコンをツールバーから特定の波形にドラッグできます アイコンの境界線が 対応する波形の色に変わります この機能を使用すると

... この高速測定モードを利用するは、波形を表示するよう オシロスコープを設定します。次に、周波数、立ち上がり時 間など目的測定をオンします。デフォルト 10 - 90% 以外変更したい場合は、測定しきい値を設定しま ...

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広帯域電力線搬送通信設備の漏洩電波の電界強度等の測定、  及び住宅地の周囲雑音の電界強度の測定に関する報告書

広帯域電力線搬送通信設備の漏洩電波の電界強度等の測定、  及び住宅地の周囲雑音の電界強度の測定に関する報告書

... 周囲雑音測定於ける田園環境標準的な住宅環境としては、情報通信審議会答申 92/101 頁横須賀市 YRP が記載されている。当該測定を実施した家屋は、平成 22 年 11 月 15 日実施した実地測定神奈川県横須賀市 YRP センター1 番館隣 ...

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