光学式顕微鏡によるもの、透過型電子顕微鏡によるもの
技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」
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Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258
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透過型電子顕微鏡JEM-2010の20年
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実体顕微鏡総合カタログ
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JSM-IT200 走査電子顕微鏡
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第1章 電子顕微鏡のハードウェア
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技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」
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JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)
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ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡
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2 今中鏡子 方法光学顕微鏡では電子顕微鏡の倍率は得られないが, 物質を色分けして, 広範囲な組織の観察に適している 1. 試料ジャガイモ, サツマイモ, ナガイモ ( 青森県産 ), ムカゴ ( 広島県産 ), サトイモ ( 鹿児島県産 ), レンコン ( 熊本県産 ), ショウガ ( 高知県 )
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走査型電子顕微鏡による減数分裂の観察-香川大学学術情報リポジトリ
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偏光顕微鏡 ECLIPSE LV100N POL/Ci-POL
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走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca
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る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解
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走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発
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走査型プローブ顕微鏡によるラテックス/デンプンブレンドフィルムの相分離状態の観察
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TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は
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走査型電子顕微鏡による冠さび菌感染エンバク葉内部の観察--試料作製法の検討-香川大学学術情報リポジトリ
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走査型電子顕微鏡によるカキ富有の果面の微細構造-香川大学学術情報リポジトリ
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近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題
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