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S C A S 新分析装置紹介 新分析技術
SCAS NEWS 2012-Ⅰ 1 はじめに
低炭素社会実現の鍵を握るエネルギーデバイスとしてリチ ウムイオン二次電池(LIB)が注目されています。LIBの電極構 造と電池性能との相関関係を理解するためには,活物質,バイ ンダー,導電助剤から構成される複雑な構造を持つ電極に対し て適切な評価・分析手法の適用が重要となります。LIB関連材 料を対象とした分析手法は多種にわたりますが,本稿では特に 電子エネルギー損失分光法(EELS),X線吸収微細構造解析
(XAFS),X線光電子分光法(XPS)について紹介します。
2 LIB関連材料の評価技術
LIBは多種の材料で構成されているため,前処理を含めた適切 な分析手法の選択,結果の評価が重要となります。形態観察,構 造解析,表面分析の観点からの評価手法を下記に示します。
3 分析事例
標準的正極材であるコバルト酸リチウムの分析事例を紹介し ます(図1)。電極試料の前処理,観察を含めて不活性雰囲気下
(大気非暴露)で行います。
3.1 TEM-EELSによる分析
ミクロな形態観察,構造解析に関してはTEM-EELSを利用し ます。LIB性能はリチウムイオンの移動度に大きく影響されま す。TEMの高い空間分解能を利用し,リチウムイオンの移動の障 壁となる活物質表面の局所的な構造解析,価数などの化学状態 解析をEELS分析にて実施しています。
3.2 XAFSによる分析
X線を利用したXAFSでは着目した元素の価数,配位構造の評 価を実施しています。遷移金属を含む正極活物質の分析に有用 です。TEMと異なり真空でなくても分析が可能なため,充放電 しながらの構造変化の追跡などin-situ分析が可能なことも特徴 です。
3.3 XPSによる分析
長期間の使用により生じる電極付着物,活物質の変質など極 表層における化学状態変化の分析を実施しています。
評価手法 得られる情報 形態
観察
透過電子顕微鏡(TEM)
走査電子顕微鏡(SEM) 構成材料の形状
構造 解析
電子エネルギー損失分光(TEM-EELS)
X線吸収微細構造解析(XAFS)
X線回折(XRD)
ラマン分光(RAMAN)
核磁気共鳴(NMR)
構造解析・価数 結晶構造解析 Li 拡散
表面 分析
X 線光電子分光(XPS)
オージェ電子分光(AES)
飛行時間型二次イオン質量分析
(TOF-SIMS)
組成解析 SEI※分析
高橋 照央
(たかはし てるお)
筑波事業所
当社では以上のような個々の評価手法の組み合わせにより,
電極材料に関するミクロ(粒子局所および表面)からマクロ(試 料全体)に至るまでの評価に取り組んでおります。
4 おわりに
本稿では標準的なコバルト酸リチウムにおけるデータ取得の 例を示しましたが,実際の開発において生じる様々な課題に対し てはデータの取得だけでなく,知識,経験を生かしたサービスの 提供を行っております。さらに当社では既存の評価手法だけでな く,LIB材料の新しい評価手法開発にも積極的に取り組んでおり ます。今後も豊富な経験と知識を活かし,総合分析サービスの提 供を通して電池開発における問題解決に貢献いたします。
リチウムイオン二次電池関連材料の最新評価技術
筑波事業所 高橋 照央
図1 LIB 関連材料の評価例
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表1 LIB 関連材料の評価例
※ SEI:Solid Electrolyte Interface の略
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ዪᚲ㗔ၞ䈱⁁ᘒಽᨆIntensity / a.u.
900 800 700 600
Energy Loss / eV
O-K, Co-L
2,3᭴ㅧ⸃ᨆ
ర⚛䈱ଔᢙ䋬㈩᭴ㅧ㕙ಽᨆ
ᭂጀ䈱⁁ᘒಽᨆ䊶ಽᏓ⹏ଔ2 μm
2 μm Co1
0 1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000
524 526 528 530 532 534 536 538 540 542
Counts / s
Binding Energy (eV)
Co䊙䉾䊏䊮䉫䋨AES䋩 O
1S䉴䊕䉪䊃䊦䋨XPS䋩᭴ㅧផቯ
Absorbance / a.u.
7850 7800 7750 7700
Energy / eV
Co-Co⚿ว ⚂2.5㷬 Co-O⚿ว ⚂1.5㷬
Li Co O
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