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研究業績・活動報告2017

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Academic year: 2021

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Table  Etching  rates  of  electron  beam  resists  before  and  after  sequential  chemical  vapor  reaction  (SCV) positive-tone  electron  beam  resist cycle  number  of SCV O 2 RIE  etching  rate [nm min -1 ] Ar  ion millingetching  rate[nm min-1] C 3

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