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ᢥ₂ฬ Single Event-Induced Error Propagation Through Nominally-off Transmission Gates

಴ౖ IEEE Transaction on Nuclear Science, Vol.53, No. 6, pp.3558- 3562 , Dec. 2006.

⪺⠪ฬ J. M. Hutson, V. Ramachandran, B. L. Bhuva, X. Zhu ,R. D. Schrimpf, Amusan, L. M. Massengill

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(1) ᭎ⷐ㩷

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(2) ᐨ⺰㩷

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(3) Technology and Simulation setup㩷

65nm䈫130nm䈱CMOSᛛⴚ਎ઍ䈮䈧䈇䈩䉲䊚䊠䊧䊷䉲䊢䊮䊔䊷䉴䈪䈱ᬌ⸛䉕ታᣉ䈚䈢䇯130nm

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(4) Error Mechanisms㩷

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(5) D-䊐䊥䉾䊒䊐䊨䉾䊒䈪䈱Upset㩷

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࿑ 3.2.5-5䈮䇮65nm䈱Dဳ䊐䊥䉾䊒䊐䊨䉾䊒䈱࿁〝䈮䈍䈇䈩䇮䊃䊤䊮䉳䉢䊮䊃䊌䊦䉴䈏౉኿䈚䈢䈫䈐

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(7) ⺋䊤䉾䉼䈫䇮Triple Bit Upset Error㩷

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(8) ⚿⺰㩷

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