[PDF] Top 20 J111 e IEICE 2004 3 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J111 e IEICE 2004 3

... In an SoC design, a great portion of it is filled with reused IPs. Then, actual test cost information obtained from a past design can be used in a reused portion. Moreover, if possible, an estimation of the test cost ... 完全なドキュメントを参照

... 入力隣接レジスタにデータ転送を行う命令が別のレジ スタの値を必要とするかもしれない．すなわち，ある 命令に先行して別の命令を実行する必要がある．提案 手法では，選択した複数の命令の実行順序に関する依 存関係を半順序関係として抽出し，外部入力から入力 隣接レジスタの値を正当化するために必要なすべての ... 完全なドキュメントを参照

... NOT ゲートの出力にはファンアウトがないという回 図 1 ノンロバストテスト可能なパス遅延故障 Fig. 1 A non-robust testable path delay fault. 図 2 パスリーフ化変換（ステップ 1） Fig. 2 The first step of the path-leaf transformation. ... 完全なドキュメントを参照

... るための十分条件を示し たが ，この十分条件での故障 検出率を実験的に 評価する．実験には ，ワークステー ションとし て Sun Blade 1000 を用い，テ スト 生成に は TestGen （ Synopsys ）を 用いた ．対象と す る 回 路 は ， DP4 及び ISB-RISC である． DP4 は四つのベン チマーク回路 Tseng ， 4thIIR ， LWF ， ... 完全なドキュメントを参照

... ．コント ローラ は 有限状態機械，デ ータパスは回路要素と回路要素を 接続する信号線で 記述され る．回路要素は ， PI ， PO ， ラッチ，レジ スタ，マルチプレ クサ，演算モジ ュール ， 観測モジ ュールに 分類され る．この うち，マルチプレ クサ，演算モジ ュール ，観測モジ ュールを組合せ回路 要素と呼ぶ．各回路要素は 端子をもち，それぞれデ ー タ端子，制御端子，観測端子に 分類され る．デ ータ端 子には ... 完全なドキュメントを参照

... VLSI の大規模化，複雑化に伴い， VLSI のテスト はますます困難な問題となっており，テストの費用の 削減及びテストの質の向上が求められている．テスト 費用を示す評価尺度として，テスト生成時間やテスト 実行時間がある．また，テストの質を示す評価尺度と して，故障検出効率がある．故障検出効率は，回路の ... 完全なドキュメントを参照

... As a result of the sharing, the pin overhead decreases to 2. It is also reduced to 1 if Steps 3 and 4 are skipped. We mention here some differences among the three methods. Since the scan-shift operation is needed ... 完全なドキュメントを参照

... This paper is organized as follows. Section 2 introduces some basic concepts, such as the data path digraph, and outlines the problems to be solved. Section 3 addresses the power constraints for problem 1, and ... 完全なドキュメントを参照

... Figure 2. Proposed scan tree architecture Figure 2 describes the proposed scan tree architecture. The switch functionality from ST mode to SS mode is carried out by a pattern recognition module, multiplexers and a ... 完全なドキュメントを参照

... Das (Jadavpur University, India), Hideo Fujiwara (Nara Institute of Science and Technology, Japan), Yungang Li (Beijing Huahong IC Design, China), Yinghua Min (Institute of Computing Tec[r] ... 完全なドキュメントを参照

... A BIST Based on Concurrent Single-Control Testability of RTL Data Paths Ken-ichi YAMAGUCHI † , Hiroki WADA †† , Toshimitsu MASUZAWA ††† , and Hideo FUJIWARA † あらまし レジ スタ転送レ ベルデ ータパスの組込み自己テ スト 法とし て ，単一制御可検査性に 基づ ... 完全なドキュメントを参照

... 値がど のプ ロセ スの 入 力 変数 val の 値と も 一致し な いことや ，あるプ ロセ スの入力変数の値がど のプ ロセ スの作業変数の値とも一致し ない可能性がある．そこ で 本プ ロト コルでは ，作業用変数の値を並べ換え るこ とにより，ヒープ 順序を実現し た後，ネット ワーク全 体に ... 完全なドキュメントを参照

... と定義する． クラスタヘッド に 選択されたノード は ，クラスタ内 及び クラスタ間の 接続関係等の情報の 維持管理といっ た負荷を伴う．また，アプ リケーションレベルでは，ク ラスタヘッド 間の論理リン クからなるクラスタヘッド アーキテクチャを考え る．し たが って ，クラスタ数が 少ないと クラスタヘッド アーキテクチャのネット ワー クサイズが ... 完全なドキュメントを参照

... 4. 2. 1 制御経路の決定と DFT 要素付加 各組合せ回路要素に対し，最小の付加ハードウェア で実現できる制御経路（ 2 入力組合せ回路要素の場合 は，互いに共通部分をもたない二つの制御経路）を決 定し， DFT 要素（マルチプレクサ，スルー機能）を付 加する．制御経路を求める組合せ回路要素は，一つず つ処理していくが，先の処理で付加した DFT 要素は ... 完全なドキュメントを参照

... 井上 智生 （ 正員 ） 昭 63 明大・工・電子通信卒．平 2 同大 大学院博士前期課程了．同年松下電器産業 （ 株 ）入 社．明治大大学院博士後期課程を 経て，平 5 奈良先端大情報科学研究科助手． 平 11 より広島市立大学情報科学部助教授． 松下電気電器産業（ 株 ）に おいて マイクロ プ ロセッサの研究開発に 従事．明治大，奈良先端大，広島市大 に おいて ，テスト 生成，並列処理，テスト 容易化設計に 関する ... 完全なドキュメントを参照

... SoC の連続可検査性とは ，各コア（ 各信号線 ）に 対し て ，他のコアの形状を選択することにより，連続透明 経路及び 信号線を用いて 連続テストアクセ スできる性 質をい う．図 2 では ，時刻 t からの連続し た時刻にコ ア 3 の 各入力端子へテ スト 系列を 印加し ，時刻 t + 1 から 連続し た時刻に 出力され ... 完全なドキュメントを参照

... 昭 44 阪大・工・電子卒．昭 46 同大大 学院博士後期課程了．阪大工学部助手，明 治大理工学部教授を経て，現在，奈良先端 科学技 術大学院大学情報科 学研究科教授． 昭 56 ウォータールー大客員助教授．昭 59 マッギル大客員準教授．論理設計，高信頼 設 計 ，設 計 自 動化 ，テ ス ト容 易 化 設計 ，テ ス ト生 成 ，並 列処 理，計算複雑度に関する研[r] ... 完全なドキュメントを参照

... M j を通る場合を考 える．観測経路が M j の非伝搬入力 x 上を通る場合， M j の伝搬入力 x と出力ポート z 間にスルー機能が ない場合には，任意の値を伝搬できない．ここで， M j の y に定数を与えて x–z 間のスルー機能を実現でき る場合について考える．外部入力から M j ... 完全なドキュメントを参照

... NO Figure 3: Outline of the method. results of these pre-processes are used when selecting instructions for templates or setting a target fault cov- erage at later steps. Then we repeatedly generate tem- plates as ... 完全なドキュメントを参照

... The use of SoC design methodology introduces sev- eral new problems and challenges in testing [2]. First, the cores that are embedded deep inside the silicon chip require a Test Access Mechanisms (TAM) for test data ... 完全なドキュメントを参照