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基板上にエピタキシャル成長

Si基板上にエピタキシャル成長されたSiGe層における熱酸化機構の研究

Si基板上にエピタキシャル成長されたSiGe層における熱酸化機構の研究

... 上記背景のもと,SiGe のゲートスタック特性の本質的向上向けて,絶縁膜界面で起 きている反応を理解し,高性能な SiGe デバイスの本質的課題を解決する方向性を与えるこ とを本研究の目的としている.本研究の中心は実験的観点からのものであるが,SiGe の酸 化過程における熱力学的計算結果と比較検討をしながら,Thermal oxidation kinetics of SiGe layer ...

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(215) 121 MBE 法による GaN 単結晶基板上への Ⅲ 族窒化物半導体のホモエピタキシャル成長 田邉智之 ( 電気電子工学専攻 ) 渡邉肇之 ( 電気電子工学科 ) 小野基 ( 電気電子工学科 ) 南場康成 ( 電気電子工学専攻 ) 倉井聡 ( 電気電子工学科 ) 田口常正 ( 電気電子

(215) 121 MBE 法による GaN 単結晶基板上への Ⅲ 族窒化物半導体のホモエピタキシャル成長 田邉智之 ( 電気電子工学専攻 ) 渡邉肇之 ( 電気電子工学科 ) 小野基 ( 電気電子工学科 ) 南場康成 ( 電気電子工学専攻 ) 倉井聡 ( 電気電子工学科 ) 田口常正 ( 電気電子

... の回折ピークである。フィッティングを行っ た結果を同図示してあり、半値幅は GaN 単 結晶が 53 arcsec.で、ホモエピタキシャル GaN 薄膜が 89 arcsec.である。このよう基板とエ ピタキシャル薄膜とで格子定数が異なるのは、 GaN 単結晶の高キャリア密度や高点欠陥密度 によるものと考えられる。格子不整合率 ( ∆ a/a) ...

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2. 研究の実施状況 (1) 高品質 AlN 厚膜単結晶の作製 1-1 液相成長法サファイア基板上の AlN 膜の成長において, 下図左に示すように今年度当初の段階では, 部分的な AlN 結晶の侵食も見られ, 基板上への全面に成長は至らなかったが, サファイア基板の設置方法, 窒素ガスの吹き込み方

2. 研究の実施状況 (1) 高品質 AlN 厚膜単結晶の作製 1-1 液相成長法サファイア基板上の AlN 膜の成長において, 下図左に示すように今年度当初の段階では, 部分的な AlN 結晶の侵食も見られ, 基板上への全面に成長は至らなかったが, サファイア基板の設置方法, 窒素ガスの吹き込み方

... (9) 安達正芳, 高杉茉里, 杉山正史, 飯田潤二, 田中明和, 福山博之 Ga-Al 液相成長法により成長した AlN の極性と成長メカニズム 日本結晶成長学会 ナノ構造・エピタキシャル成長分科会 第 5 回窒化物半導体結晶成長講演会 –ナノ構 造、分極の制御と原子レベルでの理解-, 大阪府大阪市, 6 月 21-22 日, (2013) ...

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The Japanese Association for Crystal Growth (JACG) 日本結晶成長学会誌特集 : 固体紫外光源を目指した窒化物半導体結晶成長の最前線 Vol. 41, No. 3 (2014) 解説 昇華法 AlN ウェハー上 HVPE ホモエピタキシャル成長と深紫外

The Japanese Association for Crystal Growth (JACG) 日本結晶成長学会誌特集 : 固体紫外光源を目指した窒化物半導体結晶成長の最前線 Vol. 41, No. 3 (2014) 解説 昇華法 AlN ウェハー上 HVPE ホモエピタキシャル成長と深紫外

... μm して反射ロスが含まれる 外部光透過率スペクトルを測定した結果を Fig. 6 示す. 両者の構造特性は同等であるも関わらず,その光透過 率スペクトルは大きく異なる.昇華法 AlN ウェハーは 300 nm 以下の領域吸収バンドを持ち,波長 290 nm 以 下では光透過率はほぼ 0 %であった.一方,HVPE-AlN ウェハーは 450 nm ...

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時間分解光電子分光法によるSiC基板上グラフェンのキャリアダイナミクス研究

時間分解光電子分光法によるSiC基板上グラフェンのキャリアダイナミクス研究

... SiC 基板グラフェン)に関して、時間分解光電子分光法を駆 使し、その超高速キャリアダイナミクスおよび電荷移動ダイナミクスの包 括研究を行った。その結果、グラフェンにおけるキャリア緩和がディラッ ク電子特有の緩和機構によるものであることを明らかし、さらにはその 緩和メカニズムに関する理論モデルを構築した。また、グラフェンと SiC ...

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Cu(001)基板上鉄窒化物原子層膜の電子・磁気構造の研究

Cu(001)基板上鉄窒化物原子層膜の電子・磁気構造の研究

... 題であった。近年、γ -Fe 4 N という組成をもつ強磁性相が様々な基板エピタキシ ャル成長可能であることが報告され[1,2]、厚膜試料を用いた研究により、系の巨視的 な物性が Fe-N 原子間の強い状態混成という観点から理解されてきた。一方で、構造 の規則度を保ったまま系の次元を下げる方法がなく、磁性の本質的理解つながる原 ...

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特長 01 裏面入射型 S12362/S12363 シリーズは 裏面入射型構造を採用したフォトダイオードアレイです 構造上デリケートなボンディングワイヤを使用せず フォトダイオードアレイの出力端子と基板電極をバンプボンディングによって直接接続しています これによって 基板の配線は基板内部に納められて

特長 01 裏面入射型 S12362/S12363 シリーズは 裏面入射型構造を採用したフォトダイオードアレイです 構造上デリケートなボンディングワイヤを使用せず フォトダイオードアレイの出力端子と基板電極をバンプボンディングによって直接接続しています これによって 基板の配線は基板内部に納められて

... 16素子Siフォトダイオードアレイ S12362/S12363シリーズ 2 特 長 02 広い用途 S12362/S12363シリーズはデュアルエナジーイメージング対応しており、高エネルギーX線と低エネルギーX線を同時に検出するため、2 種類のシンチレータ付フォトダイオードアレイを上下 2層組み合わせて使用できる構造なっています。また、複数配列してラインセンサと ...

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気相エピタキシャル成長GaAsの表面模様と結晶欠陥との対応: University of the Ryukyus Repository

気相エピタキシャル成長GaAsの表面模様と結晶欠陥との対応: University of the Ryukyus Repository

... Some observations were made to study formation mechanism of small grooves directed on [011] on a surface of GaAs epitaxial layer, which was grown on (100) surface of Cr - doped GaAs from[r] ...

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Eagleでの基板設計

Eagleでの基板設計

...  ただし、作業担当者の電子回路スキルによってライブラリの信頼性が変わる・・・  データシートの部品図がボトムビューなのに気付かない・ピン番号をミス・長さの単位を読み違い  個人的な経験では、電子回路工作をやったことのない人間作らせたライブラリはゴミ いや、カスだ  ライブラリの命名規則を予め決めておく必要がある ...

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Th-0, 5:33-5:36 Technical Program Si 上 AlN ダブルバッファ層の界面反応エピタキシャル成長と RF-MBE 法成長 AlN on Si 膜 の XRD 評価 同志社大学界面反応成長研究所, 同志社大学理工学部, 3 アリオス株式会社 大鉢忠,, 佐藤祐喜, 吉

Th-0, 5:33-5:36 Technical Program Si 上 AlN ダブルバッファ層の界面反応エピタキシャル成長と RF-MBE 法成長 AlN on Si 膜 の XRD 評価 同志社大学界面反応成長研究所, 同志社大学理工学部, 3 アリオス株式会社 大鉢忠,, 佐藤祐喜, 吉

... 座長: 荒木 努(立命館大学) T-Fr-1, 9:00 - 9:45(チュートリアル講演) MOVPE のメカニズム:リアクタスケールから基板表面までのマルチスケールな輸送・反応 における窒化物の特異性 東京大学大学院工学系研究科 杉山正和 ...

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窒化アルミニウム単結晶基板の開発

窒化アルミニウム単結晶基板の開発

... SiC 基板作製されたものであり、同研究グループから、c 面 SiC 基板 AlN エピ層の転位密度 ※3 は 3 ×10 8 /cm 2 であ るのに対し、m 面 SiC 基板では 4 ×10 9 /cm 2 と一桁も悪 い値であるもかかわらず、m 面 SiC 基板において観測 ...

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AN-5082 Power56 ウェーブソルダリング基板アセンブリガイドライン

AN-5082 Power56 ウェーブソルダリング基板アセンブリガイドライン

... のような部品配置方向をとることで、はんだブリッジや スキップ、シャドーイングの形成を防げます。 接着剤 Power56 のウェーブソルダリングでは、ウェーブソル ダリング工程フロー全体を通して部品が所定位置維 持されるよう、接着剤を正しく選ぶ必要があります。 部品の搭載から硬化至る搬送中部品が動いたり落 下したりしないよう、プリント(パターン複写)後 ...

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窒化ガリウム基板の開発

窒化ガリウム基板の開発

... 12 示したような形状となった。窪みの 形状は逆錘形状ではなく、V 字谷形状となった。即ち {11-22}面からなるファセット面で挟まれた V 字谷が 400µm の間隔で規則正しく並んだ構造となった。この V 字谷の中心ある底が、ストライプパターン層の位置相 当している。この結晶の平坦化加工後の蛍光顕微鏡写真を 図 13 示した。前述のドット型とは異なり、長く伸びた ...

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低温堆積AlN,GaN バッファ層/サファイア基板上に作製したMOCVD n-GaN の深い準位の比較

低温堆積AlN,GaN バッファ層/サファイア基板上に作製したMOCVD n-GaN の深い準位の比較

... 1 各試料におけるバッファ層と n-GaN エ ピ層の膜厚及び、キャリア濃度をまとめた。 GaN エピ層 の膜厚による影響を Sapphire 1 と Sapphire 2 で比較した。 また、バッファ層の種類による違いは Sapphire 2 と Sapphire 3 を用いて比較を行った。これらの試料、 Ti/Al/Ni/Au のオーミック電極と、Pt/Au のショットキー 電極を GaN ...

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インドシナ産業基板基礎調査団報告書

インドシナ産業基板基礎調査団報告書

... 図表* グローバルMRAへの署名 40 か国 6−7 インドシナの状況 計量標準の国際相互承認協約が署名されて2年が経過し、現在、署名国は 40 か国上り、アジ ア地域では、日本、中国、韓国、タイ、シンガポール、インドの6か国である。また、国際相互承 認の実務的な作業は、6つの地域計量組織(RMO:Regional Metrology Organization)がその多く ...

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電子回路基板のドリル・ルーター加工入門

電子回路基板のドリル・ルーター加工入門

...  ダイヤ目ルータを例各形状を説明する。ドリルと同様把持し回転力を伝えるシャンク部と主切れ刃部、先端 部と分かれる。シャンク径と全長は PCB ドリルと同じでそれぞれ3.175mm(1/8インチ)と38.1mm(1.5インチ) のインチ寸法が用いられている。主切れ刃部は切れ刃を形成する主溝とそれとねじれ角を反対した副溝が主切れ ...

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低転位GaN 基板上縦型トランジスタの開発

低転位GaN 基板上縦型トランジスタの開発

... 極 よ り AlGaN/GaN 界 面 は 2 次 元 電 子 ガ ス (2DEG: Two Dimension Electron Gas)と呼ばれる高濃 度、高電子移動度の電子層が形成される。これらの特長を 活かした高周波・高出力トランジスタが GaN 系 HFET (Heterojunctin Field-Effect Transistor) ※1 ...

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異なる基板上に作成したバナジルフタロシアニン単結晶のAnneal処理効果

異なる基板上に作成したバナジルフタロシアニン単結晶のAnneal処理効果

... 4 38J/m 2 である。石英ガラス は、アルカリハライド系基板のようなクーロン力は持たず、 表面にはファンデルワールス力のようなクーロン力に比 べ非常に小さい吸着エネルギーしか存在しない。本実験結 果から、石英ガラス基板には結品が観察されずアルカリハ ライド系基板に結品成長が観察されることから、吸着工ネ ルギーが大きい方が VOPc は結品化しやすいといえる。前 述[r] ...

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低転位GaN 基板上の低抵抗・高耐圧GaNダイオード

低転位GaN 基板上の低抵抗・高耐圧GaNダイオード

... これまで研究・開発された GaN を用いたパワーデバ イスでは、サファイア、SiC 等の異種基板でエピタキ シャル成長されていたため、主横型のデバイスしかでき なかった。しかし Si や SiC などの既存の大電力用途のデバ イスは縦型が主である。これは、配線、パッケージングの 容易さ、高い面積効率を有するなどの理由から横型比べ ...

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Si基板上GaNのPLスペクトルへの熱処理効果

Si基板上GaNのPLスペクトルへの熱処理効果

... 4.討論:BL 発光の起源 不純物を意図的ドープしない条件で成長した MOVPE GaN エピタキシャル膜は、成長雰囲気含まれる炭素 C、 水素 H が大量添加される。また、実験室や原料微量 存在する酸素 O、珪素 Si や亜鉛 Zn が意図せず添加される ことがある。我々が試験している試料とほぼ同一の条件で 作製された試料の SIMS ...

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