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原子分解能分析電子顕微鏡

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

... (ネットワークアナライザ) (株)アポロウェーブ 卓上顕微鏡(SEM) (株)日立ハイテクノロジーズ 高周波伝送特性測定装置(C27+C28+C29) (株)アポロウェーブ 卸 売 業 資本金の額又は出資の総額が1億円以下の会社又は常時使用する従業員の数が100人以下の会社及び個人 小 売 業 資本金の額又は出資の総額が5千万円以下の会社又は常時使用する従業員の数が50人以下の会社及び個人 サービス業 ...

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Files  原子分解能ホログラフィーによる中距離局所構造のサイエンス Template

Files 原子分解能ホログラフィーによる中距離局所構造のサイエンス Template

... 従来の原子分解能ホログラフィー法では、放射光実験施設等の 大型実験施設が必要であった。そこで、我々は、実験室で容易に ホログラムを測定するために、電子顕微鏡を用いた逆 X 線光電 子ホログラフィー法を提唱した[1]。本発表では、市販の SEM を 使用し、実験室レベルで原子分解能ホログラム測定が可能であ ることを示す。 ...

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原子面分解能ナノ磁性測定法の開発に成功 -強磁性体磁気モーメント測定における分解能世界記録-

原子面分解能ナノ磁性測定法の開発に成功 -強磁性体磁気モーメント測定における分解能世界記録-

... 薄切した試料に電子線を当て、試料を透過した電子により像を得て内部構造を観察するのに対 して、走査型電子顕微鏡では試料面上を電子線で走査し、そこから得られる二次電子や、反射 電 子 を 用 い て 表 面 構 造 を 観 察 す る 点 に あ る 。 こ れ ら に 対 し て 走 査 透 過 電 子 顕 微 鏡 ( STEM: Scanning ...

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走査トンネル顕微鏡を用いた2次元キャリア分布計測技術とデバイス開発への適用

走査トンネル顕微鏡を用いた2次元キャリア分布計測技術とデバイス開発への適用

... に保持しつつprobeが試料表面を走査することで, 原子層ステップなどの2次元表面凹凸像を計測でき る。トンネル電流が探針-試料間距離に対して指数 関数的に変化するために極めて優れた垂直空間分解 能を実現できる。また,probe先端原子を介したト ンネル現象を利用しているため水平空間分解能も極 めて高く,個々の表面原子を可視化する原子分解能 を有する。 ...

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近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

... 画像化したい表面 図 3 光ファイバープローブを用いた 近接場顕微鏡の原理を示す図 この光を光電的に検出することによって光 の回折限界よりも小さな領域を見る顕微鏡 ができる。プローブの位置を STM などと同 様のマイクロアクチュエーターにより制御 することにより画像化する技術が利用され る。これを走査型近接場顕微鏡(SNOM, また は, NSOM)とよぶ。偏光を入射し、磁性体で ...

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環境制御型走査プローブ顕微鏡Esweepによるアルミニウム蒸着膜の膜厚測定 分析事例 | 先端機器分析センター | 静岡理工科大学

環境制御型走査プローブ顕微鏡Esweepによるアルミニウム蒸着膜の膜厚測定 分析事例 | 先端機器分析センター | 静岡理工科大学

... Application Note, vol. 16, Feb. 2018. Advanced Instrumental Analysis Center, Shizuoka Institute of Science and Technology 1 キーワード  原子間力顕微鏡 AFM  ダイ ミ クフォ スモ ゙ DFM  膜厚測定 ...

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技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

... 量のデータの伝送が可能となったため透過型電子顕微 を遠隔地から操作を行い、同時に遠隔地での像観察 を行うことが可能となった。透過型電子顕微鏡の自動 化は、本体制御CPUの高機能化、高精細度CCDの供給、 PCの性能アップ、画像のディジタル圧縮技術の発展、 ネットワーク・インフラの整備など総合的な技術発展 の結果可能となってきたといえる。現在では、高価な ...

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プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

...  AFM5500M の操作はパーソナルコンピュータにより行われ,測定結果はディスプレイに表示される。図 5 に記載の制御回 路,XY 駆動回路,Z 制御回路などは専用ステーション内に設置されている。プローブ顕微鏡は前述(プローブ顕微鏡の特徴)し たように原理的に高分解能であるので,設置床面から伝搬される振動ノイズが測定画像データに含まれることがある。この対策 として,通常,除振機構を介して ...

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る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

... 数 (約 15kHz)で振動させるために用いる。プローブの彎曲部 が鉛直方向を向くよう取り付けるが、この装着には若干の習 熟を要する。 プローブホルダー上に光てこ部のアセンブリがすっぽ りと覆うように乗る。プローブと試料との間の原子間力によ る変位の差を検出するために、光てこを用いる。プローブの 直線部の背の部分には反射ミラーが作られており、半導体レ ーザを照射し、反射光を4分割型ディテクタで検出する。原 ...

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山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

... E-mail toyoyamada@faculty.chiba-u.jp 【研究分野】 表面物理学、磁性、走査プローブ顕微鏡 【研究テーマ】 スピン偏極走査トンネル顕微鏡による単一分子の電子スピン 構造の解明と制御 ...

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電子顕微鏡用電子銃の電位分布及び電子軌道の算出

電子顕微鏡用電子銃の電位分布及び電子軌道の算出

... 電子銃の電子 光学的諸性質を論ずる時は,各電極の構造や静電界は軸 (光軸) i こ対して廻転対称と考え,主 l こ近軸光線を問題 にする.故l こ斯る近軸光線を形成する電子軌道を論ずる 際l とは先づ光軸上及びその附近の電位分布を知る事が必 要となる固 E 電位分布の算出 1.近似値計算法 上述の構造を有つ銃内の電位分布を詳細に正確に解析 的手段で求むる事は,出来ない[r] ...

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技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

... 7.3 光学ガラスの進歩 14) レンズ用のガラス、すなわち光学ガラスの製造法 を最初に研究し確立したのは、スイスのギナン(P. L. Guinand, 1748-1824)である。色消しレンズが発明 され、酸化鉛を多く含有するフリントガラス(工芸 用に多用された)がレンズに使われるようになると、 脈理など屈折率の不均一性や可視光域透過率が問題 となっていた。彼は耐火粘土製るつぼで原材料を高 ...

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走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル

走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル

... WDは 10mm以上 であれば好きに変更 して下さい。 EDS分析時はWD=10mm 指 定です WDを大きくすると焦点深度が大きくな り、高低差のある場所でも全体のピント が合いやすくなります。ただし分解能が 下がります ...

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Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

... 領域) に設けた計測用の専用パターンを光学式顕微鏡で撮像し、計測を行ってい た [30]。この計測用パターンは n 回目の回路パターン形成工程と、n + 1 回目の 回路パターン形成工程で、それぞれ異なるパターンが形成されるようになって おり、各パターンのずれを定量化することでオーバーレイの計測が可能である。 この手法では計測用パターンのサイズを光学式顕微鏡で解像できる程度に大き ...

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2 今中鏡子 方法光学顕微鏡では電子顕微鏡の倍率は得られないが, 物質を色分けして, 広範囲な組織の観察に適している 1. 試料ジャガイモ, サツマイモ, ナガイモ ( 青森県産 ), ムカゴ ( 広島県産 ), サトイモ ( 鹿児島県産 ), レンコン ( 熊本県産 ), ショウガ ( 高知県 )

2 今中鏡子 方法光学顕微鏡では電子顕微鏡の倍率は得られないが, 物質を色分けして, 広範囲な組織の観察に適している 1. 試料ジャガイモ, サツマイモ, ナガイモ ( 青森県産 ), ムカゴ ( 広島県産 ), サトイモ ( 鹿児島県産 ), レンコン ( 熊本県産 ), ショウガ ( 高知県 )

...  しかし,これまで研究に用いてきた川上いつゑ門下の 染色法は,他に類をみない美しく鮮明な像を得られるこ とから,その方法を実践可能な状態まで詳しく明記する 責任を感じた。同時にその方法で念願の貯蔵デンプン観 察を食品組織のまま行った。光学顕微鏡観察は,さまざ まな物質を染め分けて判断するので,鮮明で美しい染め 分けの技術が貴重である。それを証明する写真1~85を 掲載した(本観察に当たり,実際の記録写真は1, 200枚に ...

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走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

... ③ 磁性試料 磁性試料の観察は,磁界レンズを用いる SEM では注意 が必要である.磁性試料が磁界強度の強い仮想レンズ部 (図 8 参照)に近いほど,試料が磁化され電子線の調整が 困難になる.また磁界の影響を受けやすいサイズの大きい 試料では,試料台から外れてレンズ部に吸い付いてしまう 可能性も生じる.これらを回避するためには,仮想レンズ 部と試料間の距離を遠ざける必要がある.それには,仮想 ...

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交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

... ・汎用の計測機器である 磁気力顕微鏡 は、非接触原子間力顕微鏡の一形態であり、 探針に磁性体を使用して、磁性体試料と磁性体探針間の磁気力を計測している. ・高密度磁気記録媒体やナノスケール磁性体、等の磁区観察に広く用いられているが、 空間分解能が数10 nm程度であり、空間分解能の向上が強く求められている. ...

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TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

... 図 15 試料に対する電子の入射角と検出器の位置関係:(a) STEM-HAADF 法.検出器は主に熱散漫散乱電子を検出する高 角に置かれ,主に試料中の原子量の差を反映した Z コントラ ストが得られる,(b)STEM-BF 法.入射角 α p と取り込み角 α BF が同程度のとき透過波は最大の効率で検出されるが同時に 一部の回折波も取り込まれる.また α p + α BF > θ ...

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JSM-IT200 走査電子顕微鏡

JSM-IT200 走査電子顕微鏡

... スペクトル表示と元素表示で、観察中の視野のスペクトルと主元素を確認できます。 ■ データ管理アイコン ー SMILE VIEW TM Lab データ一元管理 ー データ管理アイコンを押してデータ管理画面を表示すると、SEM 像から分析まで全データの レポート一括作成、データの見直し、データの再解析が行えます。 ...

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JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)

JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)

... 組成の異なる異物を容易に発見することができ、さらに瞬時に構成する元素が分かります。 レポート作成も容易なので、現場へのフィードバックを迅速におこなえます。 SEM では光学像で観察できない組成コントラストを観察できるので、同じ倍率でも異なる情報が得られます。 低真空モード標準搭載により無処理で観察、分析ができるので、製造ラインの抜き取り検査にも使用 ...

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