半導体デバイス製造内訳
半導体デバイス製造のウエットプロセスにおける帯電・放電現象の解明とその対策
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Title 電子顕微鏡による半導体デバイスの解析技術に関する研究 Author(s) 朝山, 匡一郎 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI Rights Osaka Universit
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Kokusai Semiconductor Equipment Corp. 同社は 半導体製造装置の販売 サービス事業を行っています 1992 年に当地に法人を設立してから 20 年以 上の実績を有しています 同社は 高品質な半導体製造装置の販売及びサービスにより 高い評価を得ています 実際 複数の
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半導体パッケージの反りと残留応力評価および応力 に起因する電子デバイスの電気的特性変動評価 平成 25 年 2 月 松田和敏
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セグメント変更について FY09 エレクトロニクス コンスーマープロダクツ & デバイス テレビデジタルイメージングオーディオ ビデオ半導体コンポーネント SLCD の持分法による投資損益は コンスーマープロダクツ & デバイス の営業損益に含まれています PC その他ネットワークビジネス は PC
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製品含有化学物質に関する指針 半導体製品編 第 5 版 2013 年 2 月 20 日 富士電機株式会社 電子デバイス事業本部 [ MGn5001 付属書 2 ]
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この講義のねらい ナノ 量子効果デバイス 前澤宏一 本講義は 超高速 超高周波デバイスの基盤となる化合物半導体 へテロ接合とそれを用いたデバイスに関して学ぶ 特に高電子移動度トランジスタ (HEMT) やヘテロバイポーラトランジスタ (HBT) などの超高速素子や これらを基礎とした将来デバイスであ
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軽量なパワーデバイス 或いは Si 半導体デバイスでは実現できない過酷な環境で動作する耐熱 耐放射線性デバイスの作製材料として期待されている さらに SiC は Si 同様熱酸化により絶縁膜を作製できるため 次世代の MOS(Metal Oxide Semiconductor) 型パワーデバイスの作
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米中摩擦懸念も IoT ビッグデータなどの情報爆発で構造変化続く 半導体: 産業のコメから社会基盤全体のコメへ改めて拡大続く 半導体製造装置: 半導体生産増受け前工程中心に 2019 年も拡大 産業用ロボット: インダストリ 4.0 無人化 省力化需要高まる 工作機械: 高機能自動車 半導体製造に不
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電子政府 電子基盤 電子医療 電子商取引等の振興においての他省庁の支援 インターネットサービスおよびプラットフォームに関するガバナンス 国内の半導体デバイス製造促進に関連する問題への対応 IT 関連問題における国際機関との連携 デジタル デバイド解消 メディア ラボ アジア関連問題への対応 IT 分
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超音波洗浄技術を用いた次世代半導体デバイスの洗浄技術に関する研究
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RIETI - 半導体生産方式におけるUMCJの強さを分析:トヨタ生産方式の半導体版?
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ディスクリート半導体の基礎
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ディスクリート半導体の基礎
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[NE ハンドブックシリーズ] パワー半導体
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2. 個別の動向 1 業況判断業況判断は 製造業 非製造業とも横ばい感が強いなか 悪化とする企業が増えた 製造業は 変化なし とする企業の割合が高い 自動車 半導体関連 スマートフォン関連で 良くなった とする企業がある一方 原燃料価格の高騰等により 悪くなった とする企業の割合が増加した 非製造業
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フレキシブルシートデバイスを実現するためには 電子的機械的機能を有する機能性繊維状基材を高速連続製造するとともに その繊維状基材を製織によって大面積集積化する 織物製造技術を模して応用発展させた新たな製造技術の創出が必要である つまり 将来のメーター級大面積デバイスの高機能化 低コスト化のためには
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業種別 通貨別組入比率 (2018 年 11 月 30 日現在 ) 業種別 通貨別 その他 43.1% キャッシュ等 1.3% 銀行 21.1% 食品 飲料 タバコ 7.5% 半導体 半導体製造装置 9.7% エネルギー 9.1% 電気通信サービス 8.1% インドネシアルピア 2.3% タイバーツ
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博士論文 パワー半導体製造工程における高温熱処理と シリコン結晶欠陥の研究 A study on high-temperature annealing and silicon crystal defects for power semiconductor manufacturing process
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Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258
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