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光情報処理デバイス用ワイドギャップ半導体 : エピタキシャル成長と電子・光・磁気物性 利用統計を見る

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Academic year: 2021

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(1)

山梨大学工学部研究報告 第51号 2002年

光情報処理デバイス用ワイドギャップ半導体

―エピタキシャル成長と電子・光・磁気物性―

 電気電子システム工学科

松本俊 鍋谷暢一

 ll−VI族化合物半導体の多くは直接遷移型のエネ ルギーバンド構造をもち,バンドギャップが広いこ とから,紫外域から可視短波長領域におけるレーザ ダイオード,発光ダイオード,光ディテクタ,光変 調器などの光情報処理デバイスへの応用が可能であ る.光デバイスの性能の向上や動作波長の制御を行 うためには,電子をナノ領域に閉じ込めてその運動 量を制御できる量子構造の採用が不可欠である.ま た半導体に磁性元素を添加し,電子のスピンを制御 することによって既存の光電子デバイスに新たな機 能を発現させることが可能である.このような量子 構造や磁性半導体には界面急峻性や空間選択的な ドーピング技術が要求され,平衡状態での結晶成長 法では作製できない.本研究室では,分子線エピタ キシー(Molecular Beam Epitaxy, MBE)法を用い てll−VI族化合物半導体のエピタキシャル成長を行 い,その物性を調べている. 「一12

1亘10 皿1副

±18

下6

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コ」2 ∧ ◆1 、 0 \文=O.04  \To=7K T=9K ZnM nSe厚み=12A  xニ0.07 ■   To=7K

      ZnCdSe井戸層厚[A]

図1 [(ZnMnSe)12A/(ZnCdSe)4∼35A]超格子のバン

   ドギャップの外部磁界によるシフト量と

  ZnCdSe層厚の関係.電子を閉じ込めている

  ZnCdSe層が薄くなると外部磁界の効果が大き    くなったように見える.

1.希薄磁性半導体量子構造

2.量子構造の構造評価

 希薄磁性半導体であるZnMnSeと非磁性半導体

であるZnCdSeを数十Aの周期で積層した

ZnMnSe/ZnCdSe超格子を作製し,外部磁界によ

るバンドギャップ変化を測定して磁性原子が電子ス ピンに及ぼす影響を調べた.ZnCdSeの層厚とバン ドギャップ変化量の関係を図1に示す.電子が閉じ

込められているZnCdSeの層厚が薄くなると超格

子のバンドギャップが磁界で大きく変化することが 分かる.この結果は,電子スピン制御に寄与する

Mn原子の実効的な濃度が量子構造をもたない

ZnMnSeに比べて増大することを示している.電

子をさらに高次元に閉じ込めるために,傾斜基板上 に発生する原子ステップを利用した量子細線の作製 も行っている.(1)一(4)  量子構造は電子のド・プロイ波長(数十A)以下 の大きさの異なる材料を接合したものであり,その 構造が実際に実現されているかどうかを原子レベル で調べる必要がある.この構造評価を,透過型電子 顕微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM) を用いて行った.図2(a)はInP基板上に成長した CdSe/ZnSe歪超格子の断面TEM像である. CdSe とZnSeはそれぞれ格子定数が6.07Aと5.67Aと異 なるために,格子像の格子点間隔を精密に測定すれ ば各層の原子組成を知ることができる.図2(b)は図 2(a)から求めたCd組成であり,超格子の設計値で ある約12分子層の周期で変調していることがわかっ た.同様の評価によって,CdSe/ZnSe量子細線の 形成も確認した.この方法でいろいろな半導体ナノ 構造を原子レベルで評価している.(5’6) 一17一

(2)

山梨大学工学部研究報告   1.0   0.8 恨0.6 召o・4   0.2   0.0 成長方向      0      10      20     30      40        成長方向の位置[分子層] 図2 (a)CdSe/ZnSe歪超格子の断面TEM写真.原子    の位置が格子像として写っている.(b)TEM像よ    り求めたCd原子の濃度分布.設計どおりの構   造が原子レベルで確認された.

3.透明酸化物半導体ZnO

 酸化物半導体であるZnOはバンドギャップが室 温で3.3eVと大きく,375nmより長波長の光に対 して透明である.透明な電子デバイスや紫外領域で の光デバイス用材料として研究を進めている.図3 はMBE装置内で酸素プラズマを発生させることに

よってGaAs基板上に成長したZnOの発光スペク

トルである.励起子の発光が支配的で,結晶欠陥や 不純物による発光が極めて小さいことから,高品質

結晶であることがわかる.現在,p型ZnOの作製

を目的として窒素ドーピングや,希薄磁性酸化物半

導体の作製を目的としてMnを添加したZnMnOの

成長を行っている.

4.広帯域対応半導体ZnSeO

 酸素(0)は電気陰性度が3.5と他のVI族元素よ

りも大きいため,例えばZnSe中の一部のSeを0

と置換すると電子は0原子に束縛され,強い発光 を示す.さらに0の濃度を高くしたZnSeO混晶の

バンドギャップは,図4に点線で示すような0組

成に比例してZnSeとZnOのバンドギャップの間

の値をとるのではなく,特異なふるまいが期待され る.Tight−Bindingモデルによる理論計算によって 図4の実線で示すように大きく湾曲することを明ら かにした.このような巨大ボーイングが発現する と,バンドギャップの制御範囲が広がるため, ZnSeO混晶は紫外から赤外までの広い波長範囲へ

の応用が可能である.MBEを用いて実際にZnSeO

混晶を成長し,その光学特性を調べた結果,バンド ギャップがほぼ計算どおりの酸素組成依存性もつこ とがわかった.現在,バンドギャップ広帯域制御の 研究を進めている. 縄     エネルギー[eV] 3.5     3.4     3.3      3.2 3.1

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     Zn9ザ

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800 1000 1200 1400    350    360    370    380    390    400       波長[nm] 図3 ZnO結晶の発光スペクトル.バンドギャップ付   近に鋭い発光が観測され高品質結晶であること    がわかる.     0     20     40    60     80    100         0組成[%] 図4 ZnSeO混晶のバンドギャップの酸素組成依存   性.酸素組成を制御して紫外線領域から赤外線   領域までバンドギャップを広帯域に変化させら    れる. 一18一

(3)

光情報処理デバイス用ワイドギャップ半導体 主な発表論文 (1)MBE growth and RHEED characterization of     MnSe/ZnSe superlattices on GaAs(100)sub−     strates,1. Ishibe, Y. Nabetani, T. Kato, and T.     Matsumoto, J. Crystal Growth,214/215, p.172     (2000) (2)MBE growth of MnTe/ZnTe superlattices on     GaAs(100)vicinal substrates, T. Suzuki,1.     Ishibe, Y. Nabetani, T. Kato, and T. Matsu−     moto, J. Crystal Growth,237−239, p.1374     (2002) (3)Potential profile and quantum energy level in     ZnSe/CdSe/ZnSe strained quantum well grown     on vicinal GaAs substrate, Y. Nabetani, T.     Kato, and T. Matsumoto, J. Crystal Growth,     2141215,p.665(2000) (4) (5) (6) Arrangement of atoms and strain distribution in CdSe/ZnSe strained single quantum well on vicinal GaAs substrate, Y. Nabetani, T. Kato, and T. Matsumoto, J, Appl. Phys,89, p.154 (2001) High resolution transmission electron micro− scope analysis of CdSe/ZnSe strained layer su− perlattices grown on InP, Y. Nabetani, Y. Ko− bayashi, T. Kato, and T. Matsumoto, Phys. Status Solidi B,229, p.209(2002) 且RTEM observation of CdSe/ZnSe SQWs grown on vicinal GaAs substrate, Y. Nabetani, Y.Kobayashi, Y. Ito, T. Kato, and T. Matsu− moto, J. Crystal Growth,237−239, p.1541 (2002) 一19一

参照

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