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ガルバニック腐食

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Academic year: 2021

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キーワード解説

ミニマルファブ

現在のデバイス製造に必要な大規模工場(メガファブ)に対して、多品種少量生産に特化した超小型製造システムがミニマ ルファブである。人サイズの同じ外観に標準化された小型製造装置に半導体製造一工程ごとの機能を詰め込み、これらを 複数台連結することでデバイスチップを生産する。投資額と電力消費をメガファブの1/1,000にすることを目指している。

スラリー

CMPに使用される研磨液。SiO2やCeO2などの研磨砥粒、pH調整剤、酸化剤、防食剤などを含む。

ガルバニック腐食

異なる金属が溶液中で接触すると局部電池が形成され、電位がより卑な(イオン化傾向が高い)金属で腐食が進行し、もう 一方の金属は腐食が抑制される。この異種金属接触腐食をガルバニック腐食と言う。

〒103-0022 東京都中央区日本橋室町2丁目2番1号 室町東三井ビルディング

電話(03)6214-1090 FAX(03)3241-1047 HP http://www.kanto.co.jp/times/ 

E-mail : [email protected] 編集責任者 : 猪瀬真人

平成 29 年 7 月発行

※無断転載および複製を禁じます。

CMP

化学機械平坦化(Chemical Mechanical Planarization)もしく は、化学機械研磨(Chemical Mechanical Polishing)の略。研 磨液(スラリー)に含まれている砥粒の機械的作用と、薬液の化学 的作用の相乗効果により、ウェーハ表面を平坦化する技術。研磨 後のウェーハ表面には、砥粒、研磨屑、有機残渣、金属不純物など が残留するため、CMP後は専用の薬液などで適切な洗浄を行う 必要がある。

荷重

ウェーハ プラテン

パッドスラリー

ポリッシング ヘッド

関東化学のCMP後洗浄液

製品名称 適応プロセス 洗浄対象

CMP-M200シリーズ W-CMP パーティクル、有機残渣、金属不純物 CMP-B200シリーズ Cu-CMP

Co-CMP パーティクル、有機残渣、金属不純物 CMP-B300シリーズ STI-CMP

ILD-CMP パーティクル、金属不純物 各種汚染物 する 洗浄性

特 徴 基板表面 各種材料 へのダメージが さい

希釈 して 使用 出来 るため プロセスコストの 低減 可能

参照

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