Author(s)
仲村, 力也; 近藤, 了嗣
Citation
琉球大学工学部紀要(70): 1-8
Issue Date
2009-03
URL
http://hdl.handle.net/20.500.12000/16688
金属 多結 晶の組織観察画像処理 による
ひずみ計算 プログラムの構築
仲村 力也 *
近藤 了嗣**
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directionforagrinia sapproximatedwithan ellipseuslngthemethodofleastsquaresandtheprlnCIPal strainareobtainedasthelongandtheshortaxesoftheellipse. Thecalculationaccuracyoftheseprograms isexaminedindetailed.
Keyword:Plastl●●Clty,ImageProcesslng,Thinnl●ngProcessl●ng,Non-unifom Der formationofPolycrystalline.
1 緒 言 金属多結 晶の弾塑性変形 は,構成要素 である個 々 の結 晶粒 に生 じる不均 一変形 の組 み合 わせ に よ り 生 じてい る.個 々の結 晶粒 内部 の不均一変形 は,鰭 晶粒 界 に堆積 す る転位 列 が形 成 す る内部応 力 場(1) や弾性 不適合応 力(2),塑性ひずみ の非適合性(3)の効 果 な どが重畳 して生 じてい る.このた め,従来,金 属多結 晶の不均一変形 の支配 的原 因は,隣接結晶粒 間で結 晶粒 界 を通 して働 く変形 拘 束 の相 互作用 と 考 え られ て きた. しか しなが ら,金属多結晶の不均一変形 を結晶粒 の集 団挙動 として観察 した場合 ,必ず しも隣接結 晶 粒 間で粒 界 を通 して働 く変形 拘 束 の相 互作 用 だ け では説 明で きない現象 も確認 され てい る.例 えば, 巨視 的 には塑性 域 の外 部負荷 の境 界 条件 が課 され てい るに も関わ らず ,全 くすべ り変形 が生 じない結 晶粒 が確認 され てい る.逆 に外部負荷 の境界条件 と 比較 して,明 らかに過大 な形状変化 が生 じてい る結 晶粒 も確認 され てい る.この よ うな外部負荷 の境界 条件 と整合 しない結 晶粒 の過 小変形や過大変形 は, 通 常,その結 晶粒 の周 囲に存在す る結 晶粒 の変形状 態 と比較 して特異 であるが,必ず しも特異 な場合 ば か りとは限 らず ,周 囲 ・遠方 の結 晶粒 と群 を形成 し て集 団挙動 を呈 してい る場合 がある.この よ うな金 属多結 晶の変形挙動 を論 じるた めには,隣接結晶粒 原 稿 受 付 2009年 5月 14 日 . ●大 学 院 理 工 学 研 究 科 機 械 シ ス テ ム 工 学 専 攻
(Graduate Student,Dept.ofMechanicalSystems
Eng.Fac.ofEng.)
= 機 械 シ ス テ ム 工 学 科
(Dept.ofMechanicalSystemsEng.Fac.ofEng.)
間の力学的相互作用 だ けではな く,周 囲 ・遠方 の結 晶粒 間の力学 的相 互作 用 も詳 細 に検討 す る必 要 が ある と考 え られ る. 数値解析 的 には,金属多結晶の集 団挙動 には結 晶 粒 の周 囲遠方 に存在 す る結 晶粒 に生 じた不均 一 変 形 の 『遠 隔効 果
』
(Remoteeffect)や 『影 響 範 囲』 (Affectedzone)
(4)(5),結晶粒 間に働 く『多体相互作用』 (Multi-bodyinteraction)(6)(7)の効果 の検討 の重要性 が報告 され てい る.また,結晶粒 の遠 隔効果 の影響 範 囲は半径約 10結 晶粒程度 で,測定 ・観察範 囲内 に約 400個以上の結 晶粒 が含 まれていれ ば,多結 晶 の変形挙動 を適切 に評価 で きる と報告 され てい る. これ らの報告結果 か ら従来 の測定 ・観 察範 囲 を局 所 に限定す る実験観 察方 法で は, (例 えば,結晶粒 が 400個以下の場合,)多結晶の変形挙動 を厳密 に 評価 で きてい ない こ とが懸念 され る.また,実際 に 金属 多結 晶 内部 の不均 一変形 を集 団挙動 と して評 価す るためには,どの程度 の測 定 ・観察範 囲が必要 になるのか (例 えば,400個 以上 あれ ば十分 か)実 証試 験 を行 う必要 がある と考 え られ る.す なわ ち, 最初 に遠 隔効 果や影 響範 囲の効 果 を検討 す る必 要 がある と考 え られ るが,実験観察 手法 で遠 隔効果や 影響範 囲の効果 を検討 した事例 は,著者 らが知 る限 り報 じられていない.そ もそ も,遠 隔効果や影響範 囲 の効果 を検討 す るた めに も必 要 とな る広 範 囲 の 実験観 察領 域 で金 属 多結 晶 の不均 一 変形 挙動 を検 討 した事例 も著者等 が知 る限 り報 じられてい ない . この支配 的原 因 は広 範 囲の実験観 察領 域 にお け る 結 晶粒 のひずみ測定が時間的 ・労力 的 に極 めて困難 だか らと考 え られ る.そ こで,本研 究では金属多結 晶の不均 一変形 を結 晶粒 の集 団挙動 として評価 ,検討 す るた めの準備 段 階 と して,広範 囲の組織観察結果 か ら画像処理 に よ り各 結 晶粒 のひず み を 自動 的 に計 算 す るた め に必 要 なプ ログラムを構築す る と共 に,そ の計算精度 に 関 して,既 知 の結晶粒 モデル のひず み計算結果 か ら 検討 した結果 を述べ る. 2 理 姶 本組織観 察画像 処理 に よる結 晶粒 のひず み計 算 プ ログラムは,結 晶粒界線 図の細線化 処理段 階,結 晶粒 の全方 向のひずみ測定段 階,楕 円近似法 に よる 主ひずみ量,主ひずみ方 向の計算 の三段 階で構成 さ れ る.以下,詳細 を述べ る. 2.1細魚化処理 本ひず み計算 プ ログラムは変 形 前後 にお け る結 晶粒 界線 図 か ら各 結 晶粒 のひ ず み を計算す る構成 となってい る.そ こで,最初 に基 準 とな る結 晶粒 界線 図 か ら線 幅 に起 因す る計 算誤 差 を除去す るため,結晶粒界線 図の細線化処理 を行 う.なお,細線化処理 は結晶粒 界線 図の二値 画像 に 適用す るもの として,Hilditch(8)の逐次 削除 (画 素の 値 を1か ら0に置 き換 える)に よ り線 幅 が 1の連結 線 図形 を作成す る.ここでは,逐次削除条件 として, 図形画素 の境界点 ,端 点,孤 立点 ,連結性 の保 障 に 関す る 6条件 を設 定 した.以下,詳 細 を述べ る. 条件
1
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図形画素で ある. 図 1に 8近傍画素 を示す .図 1中 poが対象物領 域 の図形画素である場合,削除す る. 条件 2.境界点ではない. poの近傍画素pl,P3,P5,P7の うち少 な くとも一 つ の画素 の値 がOでなけれ ばな らない .す なわ ち, 画素 の連結性 を8連結 としてい るた め,近傍画素 の 内一つが0で あれ ばp。は境界画 素 とな る. 条件3.端点 ではない. 図2に示す よ うな端点p4を保存す るための条件 であ る.なお,この条件 がない と線 は細線化 の過程 で短縮す る. 条件4.孤 立点ではない. この条件 は逐 次 削除 の方 式 で直前 の処 理結 果 を 用いて評価 す る.poの8近傍 画素の内,少 な くとも 一つ の画素の値 がlの ときpoは孤立点ではない. 条件5.連結性 を保 障す る. この条件 は画素 poに連結 す る成分 の値 が 1でな けれ ばな らない こ とを保 障す る.画 素 poを削除 し て も近傍画素 の値 は同 じく 1で あ り連結性 が損 な われ ることはない.ここでは,図3に示す4種類 の 何れ かに該 当す る場合 ,削除候補 とす る. 条件6.線 暗2の場合 は一方 を削除す る. この条件 は,p.の8近傍 の画 素 と poを同時 に削 除 して も連結成分が1であるこ とを保 障す る. 以上,述べた6条件 を基準に逐次 削除 が 自動的 に行 えるよ うに反復計算 プ ログラムを作成 した. 2.2鞍 鼻粒 のひずみ計算 結 晶粒 のひずみ 測 定 法 の概略 を図 4に示す .最初 に変形前後 にお ける結 晶粒 の重心 G を求 める.次 に変形前後 にお ける結 晶粒 の重 心Gを基準位 置 ,測定方 向の寸法 を押 ), l2(e)として,ひずみ e(e)を測定す る・なお,Cは測 定方 向 と基準軸方 向(x軸方 向)と成す角度 で ある. ♂(♂)=l2(e)-ll(C) 吊β) す な わ ち,変形 前 後 の結 晶粒 の寸法や重 心 の位 置 (座標値)は細線化 処理 された結 晶粒界線 の位置 を 基準 に計算す る.結 晶粒界線 図上 にお ける結 晶粒界 線 の座標 は細線 化 処理 過 程 で割 り当てた画 素 の値 (1:粒 界線領域 ,o:その他 の領域)で判別す る. 結晶粒 の領域 は粒 界線 で閉 じられた領域 で,結晶粒 寸法 は結 晶粒 の領域上の画素数 か ら定義 され る.こ のた め,ひずみ の計算精度 は結晶粒界線 図 (組織観 察画像) の解像度 に依存す るこ とに注意 を要す る. 以上,述べ た結 晶粒 のひずみ を全方 向50 間隔で 図1 8近傍 画素 p4P3 P
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p○ PI
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図2 線 の端点 図3 連結性 の保存 と消去条件 γ 図4 結 晶粒 のひずみ測定自動計算す るプ ログラムを作成 した.
2
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3
楕 円近似法 に よる主ひずみ畳,主ひずみ方 向の 計算 各結 晶粒 に関 して図 5 に示す よ うに結 晶 粒 の全方 向Cのひずみ量e
(
e)を求 める・このひずみ 分布 に対 して最 小二乗法 に よ り近似楕 円を求 める. そ の長 軸 お よび短 軸長 さか ら得 られ たひず み を公 称 ひず み で表 した最大 主ひずみel(e),最小主 ひず みe2(e)とす る・なお,最 小 二乗 法 におい て楕 円係 数 を決 定す る際,非線形連 立方程式 を解 く必要 があ る・ここでは,解 を収束 させ るため,ひずみ量e
(
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)
に1.0を加算 し,図6に示す よ うな近似楕 円の楕 円 係数 を求 め,ひずみ計算 した後 ,再び 1.0を差 し引 く方法(9)を採用 した.この後,公称ひずみ で表 した el
(
e
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,e2(e)を次式 で表す対数ひずみcl(e),C2(e)に 換算 した. si(e
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・(2) 以 上,述べ た楕 円近似法 に よる近似解 を 自動 的に 得 るた め,反復計算 プ ログラムを作成 した. ハU nUl [・ ] lTTt t q STt
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30 60 90 lュo150180 Angletoloading血 ectioll【deg] (C)6--15% 図 8 円形 モ デル の Oo によるひずみ量の変化 も滑 らかで,特異な結果を示 す よ うな方 向は見 られ ない. 図 9に円形 モデルの 450方 向に引張 りひずみ を 与えた場合 の全方 向ひずみ分布 を示す .紙面 の都合 上,150方 向 と 300方 向に引張 りひずみ を与えた 場合 の結果 は省 略す るが,何れ の場合 も Oo方向に 引張 りひずみ を与 えた場合 の結果 とOo方 向以外の 方 向に引張 りひずみ を与 えた場合 の相違 は,基準座 標 軸か ら見て,円形 モデル の形状変化 にせ ん断変形 が加 味 され る こ とであ る.なお,このせ ん断変形 は 基準軸 と成す 角 度 と公 称 ひずみ 量 の増加 に伴 い顕 著に表れ る.す なわち,図 9に示す 450方 向に引 張 りひずみ を与 えた場合 ,顕著 にな る. oo方 向 に引張 りひずみ を与 えた場 合 と同様,刺 定方 向に よるひずみ量の変化 は滑 らかであ り,特異 な結果 を示す方 向は見 られ ない.また,引張 り方 向 の450 と 1350方 向のひずみ量 も,高精度 に測定 さ れ てい る.しか しなが ら,引張 りの公称ひずみ量を 増加 させ た場合 ,線幅が極端 に太 い場合 ,若干,真 の値 よ り低 い値 になってい る.これ らの結果 か ら線 幅 が極端 に太 い場合,せ ん断変形後 の結晶粒形状が 細線化 処理段 階で損 なわれ るこ とが懸念 され る.こ の原 因 に関 して は,今後,検討 の余地 が残 され る. 引張 り方 向 Oo ,150 ,300,450 のそれぞれの 全方 向ひずみ計算結果 か ら楕 円近似法 に よ り,主ひ ずみ量,主ひずみ方 向を求 めた結果 を図10に示す . ここで,縦軸 の値 は境界条件 に課 した引張 り方向に お ける結 晶粒 の公称ひずみであ り,この値 が楕 円近 l l [・ ] uTt IJ拙 1 0 tT! tI J IS TtZ u !u JO N l l[・]u
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似法 に よ り求 め られ た主ひずみ量の値 であ る.横 軸 い る結果 に関 しては,公称ひずみ と各結晶粒 に生 じ の値 は境界条件 に課 した引張 りひずみ量で ある. る主ひずみの値 は,ほぼ等 しく,公称 ひずみの増加 全 方 向ひず み測 定結果 の測 定精度 が保 障 され て に伴 い,ほぼ線形 的に増加 してい るこ とがわか る 0 30 60 90 120 150180 A岬letoloadingdire・ction
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す なわ ち,楕 円近似 法 に よる主ひずみ 量 と主ひず み 方 向の測 定精度 は保 障 され た . 図 11に楕 円形モデル の Oo 方 向に引張 りを与 え た場 合 の全方 向ひずみ分布 を示す .円形 モデル と同 様 ,測 定方 向に よるひず み量 の変化 は滑 らかで あ り, 特異 な結果 を示す方 向は見 られ ない .しか しなが ら, 線幅 の増加 と公称 ひず み量 の増加 に従 って,境 界条 件 に課 した 引張 りひ ず み よ りも値 が小 さくな る結 果 が表れてい る.この方 向は楕 円の長 軸方 向に一致 してお り,短軸方 向のひずみ測 定結果 には表 れ てい ない.この こ とか ら,細線化 処理 過程 で長軸方 向の 凸部 が過度 に削除 され た こ とが懸念 され る.この こ とか ら,本 プ ログ ラムの適 用範 囲 は線 幅 が概 ね 24 画 素程度 まで に限定 され る こ とに注意 を要す る. 図 12に正方形モデル の Oo方 向に引張 を与 えた 場合 の全方 向ひず み分布 を示す .ひず み分布 は引張 方 向の 00 , 1800方 向を ピー クに引張方 向 と直 交 す る 900方 向 に傾 くに従 って線 形 的 に減 少 してい る.この こ とは,全方 向ひずみ測定方 法 が,その方 向の最大寸法変化 か ら計算 してい るた め,正方形 モ デ ル の角 部 の形 状 変化 が計 算 結 果 に支 配 的 に寄 与 す る こ とに起 因す る.また,線 幅 が極 端 に太 い場合 , 角部や 凸部 が細線化処理 の際,損 な われ るた め,線 幅 の増加 に従 い,ひずみ測定結果 の減 少傾 向が非線 形 になる.これ らのひず み分布 の傾 向か ら公称 ひず み が概 ね 10%前後 の段 階 まで の測 定精度 は保 障 で きる と考 え られ る. 図 13に六角形モデル の Oo方 向に引 張 を与 えた
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30 60 90 120 150180 Angletoload血gdirection【deg】 場合 の全方 向ひず み分布 を示す .ひず み分布 は正方 形 モデ ル と同様 に測 定方 向が引張方 向 と直 交す る 900方 向 に傾斜 す るに従 って減 少 してい る.また, 600方 向で急激 な減少 して 600方 向か ら 900 (実 際 は1200 ) まで は,同 じ値 を示 してい る. 六角形 モデル で は,正方形モデル の角部 (成す角 度 900) よ り鈍角 な方 向が引張 り方 向か ら 600方 向 と1200方 向に存在す るため,測 定方 向が Oo か ら600 までは 600方 向の寸法変化 がひずみ測定結 果 に支配 的 に寄 与 し,600 か ら 900 まで は引張方 向 と直交す る 900方 向の寸法変化 が測定結果 に支 配 的 に寄 与す る.す なわ ち,ひず み の測定結果 が測 定方 向 に依存 して急激 に変化 す る原 因 は正方 形 モ デル と同様 ,角 部 が過度 に評価 され てい るこ とに起 因す る.このた め,線幅 が極端 に太 く,角部 が細線 化 処理 の際 に損 なわれ た場合,精度 が極端 に劣化す る. この点 に関 して は,検討 の余地 が残 され るが, 公称 ひず み が概 ね 10%前後 の段 階 まで,線 幅 が 24 画素程度 まで に関 して は,測定精度 が保 障 され るこ とがわか った. 楕 円形 モデル ,正方形 モデル,六角形モデルの全 方 向ひ ず み測 定結 果 か ら結 晶粒 界 の線 幅や外 部負 荷 の境界 条件 に関 して,本 プ ログ ラムの適用範 囲が 制 限 され るこ とが明 らかになった .これ らのひずみ 測 定結 果 か ら楕 円近似 陰 に よ り求 めた主ひずみ量, 主ひず み方 向の結果 は,ひずみ測 定結果 の誤差 を再 現す るだ けに過 ぎないので,紙面の都合上,省 略す る.[・]
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30 60 90 120150180 Angletoload山gdirection[deg】 (C)6--15% 図 11 堕 円形 モデル の Oo 方 向引張 りの結果 (d)6--20%以 上 の結 果 か ら材 料 に過 大荷 重や過 大 な強制 変 位 が作用す るこ とで,結 晶粒 に局所 的 に過大 な形状 変形 が生 じる場合や湾 曲や回転 が生 じる場 合 ,計算
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--15% 図 13 六角形 モデル の Oo方 向引張 りの結果 (d)6
-=20%部や角部が過度 に削除 され ,本来 の結 晶粒形状 ,及 び,形 状変化 を追従 で きない場合 が生 じる.このた め,本 プ ログ ラムの適 用範 囲 は,概 ね粒 界線 幅 が 24画素程度 までに制 限 され る こ とが 明 らか になっ た. しか しなが ら,公 称ひずみ の値 が 10%前後 の段 階 まで評価 で きれ ば,多結晶の不均一 変形 を集 団挙 動 として検討す る分 には十分 と考 え られ る.また, 通常,組織観察画像 か ら結晶粒 界線 図 を作成す る場 合,結 晶粒 の面積 に対 して結 晶粒 界 は細 いた め,過 常は24画 素 も必要 としない .例 え,粒 界すべ りや 表面 あれ (す なわち,三次元的 な局所 変形)が生 じ, 結 晶粒界領域 に斜影 が生 じてい て も,24画素 もあ れ ば,十分 に結晶粒 界 の領域 を補 完で きる と共 に結 晶粒形状 を再現で きる. す なわち,本研究 に よ り金属 多結晶 の組織観察画 像 か ら各結 晶粒 に生 じるひず み 計算 を 自動 的 に行 い,金属多結晶 の不均一変形 を集 団挙動 として評価 す る準備 が成 された と考 え られ る.
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緒 言 金 属 多結 晶 の組 織観 察結 果 の画像 処理 に よ り結 晶粒 に生 じるひず み計 算 プ ログ ラムの構 築 を行 う と共 に,その解析精度 に関 して検討 を行 った.得 ら れた結果 は以下の通 りである. (1) 結 晶粒 界 の細線化 処理 プ ログ ラムは,モデ ル形状や線 幅 に依存せず ,線 幅 1画素 の結晶粒界線 図を作成 で きるこ とを確落 した.しか しなが ら,級 幅 が極端 に太 い場合 ,結 晶粒 モデ ル の凸部や角部 が 損 なわれ るた め,原 形 の再現性 が要求 され る場合 , 本 プ ログラムの適用範 囲は,概 ね線 幅24画素程度 まで に制限 され るこ とが明 らかになった. (2) 結 晶粒 のひず み測 定プ ログ ラムは,モデル 形状 ・寸法 に依存せず ,任意 の方 向の画素数 を 自動 計算 し,ひずみ を測定で きるこ とを確認 した.しか しなが ら,本測定方法 の場合 ,モデル 角部や面 内の せ ん断変形 が過度 に評価 され る場 合 が あ る こ とが わかった.このため,大変形や過度 なせ ん断変形や 捻れ変形 には適用で きず,適用範 囲は公称 ひずみ が 10%程度 までに制限 され るこ とが明 らか になった. (3) 楕 円近似法 に よる主ひず み量,主ひずみ方 向の計算プ ログラムで は,全方 向ひず み測定プ ログ ラム結果 にお ける誤差 の影響 を受 けるた め,適用範 囲 は全 方 向ひずみ 測 定 プ ログ ラムの適 用 範 囲 に留 ま るが,条件 を満 たせ ば,主ひず み量 ,主ひずみ方 向を 自動計算 で きるこ と,その精度 が保 障 され るこ とを確認 した. 謝 辞 最 後 に本研 究 の一部 は高橋産業経 済財 団 の助成 金 の も とに行 われ た.記 して謝意 を表す る. 参考文献1) Livingston,J.D.andChalmers,B.,MultiSlipinBicrystal
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