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酸化亜鉛薄膜における圧力依存性分析及び熱処理効果 1190067

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Academic year: 2021

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高知工科大学システム工学群電子・光工学専攻 学士論文要旨 2019 年 2 月 14 日

酸化亜鉛薄膜における圧力依存性分析及び熱処理効果

1190067 桑原 裕樹 (光・エネルギー研究室)

(指導教員 李 朝陽 教授)

1.背景と目的

酸化亜鉛は電気光学的に優れた特性を有するため、ガスセ ンサー、透明導電膜の応用に用いられてきた材料である[1]。

本研究では、RFマグネトロンスパッタ法で成膜時の圧力の異 なる酸化亜鉛薄膜を作製し、結晶性を制御し、構造特性・光 学特性を解析し、新規ガスセンサーを製作するにあたって必 要不可欠であるナノ構造の制御方法を調査する。既存の半導 体式ガスセンサーの検知方式は金属酸化物半導体の表面にガ スが接触したときに生じる半導体の抵抗値の変化を検出する

[2]。対して、今回構想している新規ガスセンサーでは、AZO

基板上にZnOナノ構造を作製し、表面積の割合を増やすこと でガスの吸着率を増やし、光ルミネセンスの変化から検知し ようと考えている[3]。

2. 実験内容

RF

マグネトロンスパッタ法で成膜時の圧力を

0.5Pa

から

7Pa

の範囲で変化させ、成膜時の圧力が異なる酸化亜鉛薄膜 を

AZO

基板上に5枚作製した。

次に、水素雰囲気中でアニーリング処理を行うことで

ZnO

ナノ構造が成長する適切な条件を調べた。作製したサンプル に対して、XRD,PL,FE-SEM,透過率測定の方法で特性の評価 の分析を行った。

最後に最もナノ構造の成長が良かったサンプルを用いて、

H

2

,O

2雰囲気中における

PL

測定を行い、PL強度の変化の有 無を確認することで、センサーへの応用が可能か検証した。

3.実験結果

成膜された酸化亜鉛薄膜から圧力依存性が確認できた。成 膜時に圧力を増加させると、柱状構造が基板面に対して垂直 に成長する傾向が強い事が確認できた。つまり、圧力を増加 させると、C 軸方向の粒子サイズが大きくなり、結晶性が良 くなる事が確認できた。

次に、成膜したサンプルに対して熱処理を施し、構造特性 を確認すると、図1と図

2

のような結果になった。図1より、

ナノロッドのサイズ、密度は成膜時の圧力に大きく依存し、

圧力が高いほどサイズが大きく、密度が高くなった。光学特 性を図

3

に示した。また、図

2

より、可視光の

510nm

(緑光)

からのピークが強く観測され、このピークは酸素欠陥による ものだと考えた。また、成膜時の圧力が高くなるにつれて、

強度は強くなった。

最後に最もナノ構造の成長が良かったサンプルを用いて、

H

2

,O

2雰囲気中における

PL

測定を行い強度の変化を確認した。

その結果を図

4

に示す。

O

2雰囲気中で熱処理したサンプルは熱処理前(nanorods) と比較すると、PL強度が低下することが確認できた。これは 酸素雰囲気中で熱処理されたことによって、酸素欠陥が低減 されたこと理由だと考えた。

H

2雰囲気中で熱処理したサンプルを熱処理前(nanorods) のサンプルと比較した結果、強度が強くなることが確認でき た。これは

H

2ガスによって

O

2-が除去され、ナノ構造内に酸 素空孔を生成したためだと考えられる。また、H2雰囲気中で 熱処理したサンプルを再度、空気中で熱処理した結果、熱処 理前(nanorods)の値に近づいていることから、リカバリー効果 も期待できると考えた。

2 XRD

パターン

図 3 PL

スペクトル 図

1 SEM

像の表面図(a)と断面図(b)

(上から下の順番:0.5, 1, 3, 5, 7Pa)

4 H

2

,O

2雰囲気中における

PL

スペクトル

4. まとめ

成膜時の圧力を増加させると、酸化亜鉛薄膜の結晶性 がよくなる。熱処理を行うことで、全てのサンプルにお いて

ZnO

ナノ構造が合成できた。成膜時の圧力が高くな るにつれて、ZnOナノ構造の密度が高く、AZO基板に対 して垂直の配向性がよいことが分かった

PL

の強度は

H

2

雰囲気中では強度は強くなり、O2雰囲気中では強度が低 下することがわかった。

よって、本研究の合成されたの酸化亜鉛ナノロッドは新規 ガスセンサーに応用できることがわかった。

5. 参考文献

[1] T. Tsuji, H. Kojima, M. Hirohashi, J. Surf. Fin. Soc. Jpn. 49 (1998)996

[2]

小林哲彦:水素および可燃性ガスセンサ技術,水素エネル ギー システム,19-1, 46/51 (1994)

[3] X. Li, C. Li, T. Kawaharamura, other 5 authors, Nanoscience and Nanotechnology Letter, 6, 174-180 (2014)

350 400 450 500 550 600 650 700 750 800 850 Wavelength (nm)

Intensity (a.u.)

nanorods O

2

H

2

Recovery

30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40

Intensity (a.u.)

2 Theta (degree)

0.5 Pa 1Pa 3 Pa 5 Pa 7 Pa

350 400 450 500 550 600 650 700 750 800 850 Wavelength (nm)

Intensity (a.u.)

0.5 Pa 1 Pa 3 Pa 5 Pa 7 Pa

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