ファイル TEF東海メトリクス勉強会 Summary7 4 2 7 10

第7章　欠陥に学ぶ

（p187～203のまとめ）

7.4.2　静的欠陥モデル

欠陥除去率＝E/(E+D)

COQUALMO等のツールの利用

7.5　ベンチマークデータ

・アプリケーションドメインごとの欠陥データ

・欠陥除去率（DRE）のベンチマーク

・SEIレベルと欠陥の関係

・潜在欠陥

・欠陥数がゼロはありえない

・優れているソフトウェアは

　KLOCあたり欠陥数は2個未満であるべき

・安全なソフトウェアは

　KLOCあたり欠陥数は1個未満であるべき

・SEIレベルが向上するDREや出荷後の 　欠陥数が大きく改善される

7.6　工程ごとの欠陥除去

　　　　　　　のコスト効率

要求/設計における修正コスト　1 コーディング工程 　　　　5 正式なテスト工程 　　　25 出荷後の修正 　　　　250

7.7　シンプルな欠陥メトリクスの

　　　　　　　　　定義と使用例

・プロジェクトの進捗がわかる

　（すべてわからないこともある）

・プロジェクトで何が起こっているかを調査し 　理解するために手がかりやヒントになる

7.8　顧客から報告される欠陥に 　　　　　　　　関する逆説

・ユーザー数と正の相関

・出荷前に発見された

　欠陥数と負の相関

7.9　冒頭の質問に対する回答

7.10　まとめ

おしまい