第 5 章 ポリスチレンマトリックス界面に存在するポリスチレンブラシ鎖の分子鎖熱
6.2. 実験
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122 6.2.2. Langmuir Blodgett膜調製
DAB水面上単分子膜を目的の表面圧まで圧縮し、表面圧を維持したまま、LB膜累積 装置を用いて、水平引き上げ法により、あらかじめ水中に沈めておいたマイカ基板に0.1 mm/sの速さで単分子膜を1層移し取り、表面形態観察用試料とした。また、膜構造解 析用サンプルは、垂直引き上げ法により、あらかじめ水中に沈めておいたシリコン基板
に5 mm/sの速さで単分子膜を1層移し取った。両サンプルとも、累積後、デシケータ
ー中にて室温で1日間静置した。
6.2.3. 原子間力顕微鏡による表面形態観察
原子間力顕微鏡(AFM)を用いて表面形態観察を行った。カンチレバーは、オリンパ ス社製OMCL-RC800-PB1(バネ定数0.11 N/m、Si3N4製)を用いた。測定は、コンタク トモードで行った。
6.2.4. ステアリン酸Langmuir膜およびLB膜調製と中性子反射率測定
ステアリン酸 Langmuir 膜の中性子反射率測定を、J-PARC の MLF に設置してある
SOFIA中性子反射率計を用いて行った。第二章、Figure 2-5に示すサンプルステージ上
に水平にLB トラフを設置した(山田悟史 KEK物構研助教が作成したものをお借りし た)。水相には重水を用いた。Langmuir膜の散乱長密度が、重水および空気に対して十 分なコントラストとなるように、それぞれステアリン酸と重水素化ステアリン酸の
1.0×10-2 Mトルエン溶液を調製し、1:1で混合して展開溶液とした。測定は、水相温度
293 Kの条件下で、重水界面上にステアリン酸トルエン溶液を展開し、Figure 7-12に示
すように、中性子が通るためのアルミニウムの窓付きのカバーで密閉した。10 分間放 置後、圧縮速度3.13×10-4 nm2·molecule-1·sec-1)で圧縮し、Wilhelmy法を用いてπ-A測定 を行った。その後、表面圧20 mN/mで保持し、NR測定測定を行った。また、重水素化 ステアリン酸LB膜は、表面圧20 mN/mで水平引き上げ法により、重水素化ステアリン
酸Langmuir膜一層をシリコン基板上に累積することで調製した。
Figure 6-12. Schematic image of LB trough for neutron reflectivity.
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Figure 6-13. LB trough setup for neutron reflectivity at SOFIA.
6.2.5. X線反射率測定による薄膜の構造解析
X線反射率(XR)測定は、Rigaku R-AXIS-IVを用いて行った。X線源はCu-Kα で、
50 kV、250 mAの定格出力で測定を行った。データ解析およびモデル計算は、Rigakuの
GlobalFitを用いて行った。
6.2.6. 層状ペロブスカイト薄膜の水平力顕微鏡測定
層状ペロブスカイト薄膜表面の分子運動性をLFM測定に基づき評価した。測定は、
SPI4000(SII Nano Technology Inc.)を用い、速度0.5 K·min-1で昇温し各温度にて5 min保 持した後、温度を保持したまま走査速度1.0 μm·s-1、静的荷重5 nNの条件で水平力測定 を行った。カンチレバーはSi3N4製、ノンコート、トライアングル型、バネ定数0.10 N·m
-1のものを使用した。探針の走査方向はカンチレバーの長軸方向に対して90 ºとした。
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