[PDF] Top 20 J168 e 2016 4 IEICE 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J168 e 2016 4 IEICE
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J168 e 2016 4 IEICE 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J168 e 2016 4 IEICE
... (z(t), z(t + 1), z(t + 2)). 4. Application to Scan Testing A scan-designed circuit under consideration consists of a single or multiple scan chains and the remaining combina- tional logic circuit (kernel). A scan ... 完全なドキュメントを参照
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J121 j IEICE 2005 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J121 j IEICE 2005 6
... 縮退故障のテスト生成アルゴリズムを用いたパス遅延故障に対する テスト生成法 大谷 浩平 † 大竹 哲史 †† 藤原 秀雄 †† A Test Generation Method for Path Delay Faults Using Stuck-at Fault Test Generation Algorithms ... 完全なドキュメントを参照
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J120 j IEICE 2005 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J120 j IEICE 2005 6
... 入力隣接レジスタにデータ転送を行う命令が別のレジ スタの値を必要とするかもしれない．すなわち，ある 命令に先行して別の命令を実行する必要がある．提案 手法では，選択した複数の命令の実行順序に関する依 存関係を半順序関係として抽出し，外部入力から入力 隣接レジスタの値を正当化するために必要なすべての ... 完全なドキュメントを参照
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J106 j IEICE 2003 9 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J106 j IEICE 2003 9
... るための十分条件を示し たが ，この十分条件での故障 検出率を実験的に 評価する．実験には ，ワークステー ションとし て Sun Blade 1000 を用い，テ スト 生成に は TestGen （ Synopsys ）を 用いた ．対象と す る 回 路 は ， DP4 及び ISB-RISC である． DP4 は四つのベン チマーク回路 Tseng ， ... 完全なドキュメントを参照
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J130 j IEICE 2006 8 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J130 j IEICE 2006 8
... VLSI の大規模化，複雑化に伴い， VLSI のテスト はますます困難な問題となっており，テストの費用の 削減及びテストの質の向上が求められている．テスト 費用を示す評価尺度として，テスト生成時間やテスト 実行時間がある．また，テストの質を示す評価尺度と して，故障検出効率がある．故障検出効率は，回路の ... 完全なドキュメントを参照
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J96 j IEICE 2002 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J96 j IEICE 2002 6
... パターン の生成，応答の解析が 可能であるのでシ ステ ムクロックでテスト 可能であると考えている．ただし ， シ ステムクロックは ，通常動作時の最大遅延だけから 決定するのではなく，テ スト 動作時の最大遅延も考慮 し て決定するものとする．し たが って ，テ スト 動作時 の最大遅延が 通常動作時の最大遅延よりも大きい場合， ... 完全なドキュメントを参照
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J94 j IPSJ 2002 5 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J94 j IPSJ 2002 5
... ETCDF 更新手続きを繰り返す． ETCDF 更 新 手 続 き（ i 番 目 の 制 御 ス テップ を ETCDF に追加する手続き ） ： i − 1 番目の制御ステッ プ まで の ETCDF を G i−1 とする． s i−1 ， s i をそれ ぞれ ， i − 1 ， i 番目の制御ステップ に対応する F SM の状態とする． E ... 完全なドキュメントを参照
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J104 j IEICE 2003 7 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J104 j IEICE 2003 7
... type3 の制御経路，観測経路を用いることによ り， M に 属するすべての組合せ 回路要素を 同時にテ ストできる．このテ ストの間，制御経路及び 観測経路 に 現れ る制御信号（ テストプ ラン ）を固定し ておくこ とができる．つまり，一つのテ スト セッション M に 対し て ，一つの 制御パターン を 与えれば ，連続クロッ クでテ スト ... 完全なドキュメントを参照
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J158 e JETTA 2011 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J158 e JETTA 2011 4
... Proposed 50 477,836 99.999 100.000 1 0 6.98 25 468,620 99.999 99.999 0 4 8.19 aborted faults, and test generation time, respectively. The combinational part for the proposed methods in- clude the confusion ... 完全なドキュメントを参照
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J170 e IEICE 2016 8 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J170 e IEICE 2016 8
... [3] D. Hely, F. Bancel, M. L. Flottes, and B. Rouzeyre, “Securing scan control in crypto chips,” Journal of Electronic Testing - Theory and Applications, vol.23, no.5, pp.457–464, Oct. 2007. [4] B. Yang, K. Wu, ... 完全なドキュメントを参照
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J126 e IEICE 2006 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J126 e IEICE 2006 4
... Figure 4 shows an example of a compatibility graph and our target ...Fig. 4 (a) and (b), respectively. Figure 4 (c) shows an example of our target ... 完全なドキュメントを参照
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J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4
... In order to evaluate the efficiency of the proposed method, we consider the observation-point selection based on the k-toggle coverage metric as a baseline. First, we obtain the k-toggle coverage for all the regis- ters ... 完全なドキュメントを参照
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J73 j IEICE 1999 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J73 j IEICE 1999 4
... 近 の 並 列 計 算に お い て 重 要と され て い る 通 信コ スト を ，同 期 周 期 L，通信路帯域幅の 逆数 g，パケット サ イズ B といったパラ メータに より 表すことを 可能にし たモデ ル であ る．本論文では ，デ ータ数 n の選 択 問題に 対し ， p 個のプ ロセッサを 用いて BSP モデル上で任意の整数 d (1 < ... 完全なドキュメントを参照
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J170 e 2016 8 IEICE 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J170 e 2016 8 IEICE
... In [13], we introduced another class of generalized shift Fig. 6 Generalized feedback shift register (GFSR). Fig. 7 Symbolic simulation of R 5 . registers called generalized feedback shift registers (GFSR) , shown in ... 完全なドキュメントを参照
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J169 e IEEE 2016 9 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J169 e IEEE 2016 9
... packet at v 5 is recursively forwarded to all destinations v 1 , v 2 , and v 3 . It is found that no channel competition occurs in steps 3 and 4 as shown in Fig. 1a. Previous methods [7], [8], [9] sent separate ... 完全なドキュメントを参照
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C168 2007 5 ETS 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara
... Section 4.2 has shown that the Type 1 wrapper is inefficient in terms of bandwidth utilization. The Type 2 NoC wrapper in Fig. 7, is designed to complement the Type 1 wrapper in this aspect. Extra load/shift ... 完全なドキュメントを参照
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mycv e 最近の更新履歴 Hideshi Itoh
... Faculty Fellow, Research Institute of Economy, Trade & Industry (RIETI), July 2013–March 2016. Associate member, The Science Council of Japan (SCJ), March 2006–September 2008. CESifo Research Network Fellow, ... 完全なドキュメントを参照
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TA4 最近の更新履歴 Econometrics Ⅰ 2016 TA session
... For example the stock price is assumed to follow a lognormal distribution by many cases.. Also log normal distribution is used by Black Scholes equation.[r] ... 完全なドキュメントを参照
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sd2011 12 hack4j 02 最近の更新履歴 Hack For Japan sd2011 12 hack4j 02
... で開始されました。当初は紙媒体を考えましたが、 更新の関係から、Webサイトでなくてはならないと 思い、サイトで公開することになりました。 筆者がかかわったこのプロジェクトについて、少 し詳しく経緯などを紹介したいと思います。Hack For Japanでの取り組みをイメージしていただけれ ... 完全なドキュメントを参照
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sd2012 07 hack4j 07 最近の更新履歴 Hack For Japan sd2012 07 hack4j 07
... 今回の2日間だけでも多くの成果が生まれました が、これらのほとんどのプロジェクトがソースコー ドをGitHub上に公開し、誰もがアクセスできるこ とも重要だと思います。オープンテクノロジを使っ てソリューションを開発し、世界にその成果を公開 する。今回のイベントの目的はアワードそのもので はなく、そのムーブメントに参加することです。さ ... 完全なドキュメントを参照
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