トップPDF E in TDExam2016 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in TDExam2016 ans

E in TDExam2016 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in TDExam2016 ans

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環境において, b. 最大 仕事を用いて定義される。 2. エネルギー U (T; X ) は, c. 断熱 環境において, d. 断熱 仕事を用いて定義される。 3. エントロピー S(T ; X ) は,任意断熱操作によっ て, e. 減少 しない。

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E in SMExam2016 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in SMExam2016 ans

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統計力学演習 (Wednesday February 8th 2017) 期末試験 解答例 & 解説 1 解答 1. 次小問に答えよ。 (20 点 ) 1-1. ある系におけるミクロカノニカル分布熱力学的 重率を W(U, δU) とする。系エネルギー固有値 E i に

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E in SM04 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM04 最近の更新履歴 物理学ノート

問題 24. 一様重力下にある理想気体平衡状態を古典近似もとで調べる。位置座標を r = (x, y, z) とし, 0 ≤ x ≤ L, 0 ≤ y ≤ L, 0 ≤ z ≤ H (4.18) を満たす体積 V = L 2 H 箱に閉じ込められた質量 m 単原子分子を考える。それぞれ粒子間に相互作用 はなく,ポテンシャル

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E in SM01 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM01 最近の更新履歴 物理学ノート

2 1 確率論 例 2. 「サイコロ 1 個を 1 回振り出た目を調べる」試行で上用語を確認し,事象と確率変数例を挙げよ。 【解答】この系は出た目で指定できるので,出た目をそのまま使って,標本点を i = 1, 2, . . . , 6 と定める。 事象例は, A = 「出た目が奇数である」 , B = 「出た目が 5 以上」など。確率変数例は, f = ˆ 「出た目」

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E in SM02 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM02 最近の更新履歴 物理学ノート

0 ≤ E 1 ≤ E 2 ≤ . . . . (2.3) 最左辺 0 は基底状態エネルギーを表す *7 。このとき,エネルギーが E 以下であるエネルギー固有状態 総数を状態数 Ω(E) という。状態数は Ω(E) := ∑

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E in Me 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me 最近の更新履歴 物理学ノート

1. 直線上ある点 A 位置ベクトル a に,直線と平行なベクトル d 定数倍を加える。 2. 原点から直線に降ろした垂線足を H , H 位置ベクトルを h とする。 P と H を結ぶ線は, h と直 交する。 3. 直線同一でない 2 つ点 S, T 位置ベクトルをそれぞれ s, t とする。 P は線分 ST を適当に 内分または外分した点である。

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E in Me06 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me06 最近の更新履歴 物理学ノート

) で速度すなわち終端速度 v ∞ と, y ∞ (t) を求めよ *2 。 1-7. v y (t) と y(t) を t 関数としてグラフで表せ。 1-8. kt ≪ 1 場合, v y (t) と y(t) がそれぞれ下ように展開できることを確認せよ。 v y (t) = (v 0 − gt) − k(v 0 t −

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E in Me05 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me05 最近の更新履歴 物理学ノート

1-6. 地面に 落下 する 時刻 t 1 と その瞬 間 速度 v y (t 1 ) を求め よ。ま た t 1 と t h にはど んな 関係 があ るか ? v y (t 1 ) と v 0 にはどんな関係があるか ? 1-7. v y (t) と y(t) を t 関数としてグラフで表せ。 問題 2. 水平面ある方向を x 軸,鉛直上方を y 軸とする。 xy 平面内仰角 α 方向に *3 原点から初速度 V で質点を投げる場合を考える。

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E in MeExam2009 最近の更新履歴  物理学ノート E in MeExam2009

E in MeExam2009 最近の更新履歴 物理学ノート E in MeExam2009

10-1. 慣性系だけを用いて考えた場合、運動概略図 ( 座標や働く力など ) を書け。 10-2. 慣性系における運動方程式を書け。 10-3. 運動方程式一般解を求めよ。 10-4. t = 0 で O から距離 ar ところで質点が静止していたという初期条件を選び、質点座標を求めよ。 10-5. 質点に作用する力 S を求めよ。

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E in QM 最近の更新履歴  物理学ノート

E in QM 最近の更新履歴 物理学ノート

電球を 1.0 m 離れて見る場合,単位秒当たり瞳に飛び込む光子は何個か ? 瞳断面積は 0.50 cm 2 とする。 問題 4. 人間目が光を感じるには,視細胞内部にある 1 つ原子が約 2.5 × 10 −19 J エネルギーを受け取る必要 がある。視細胞とその内部原子を,それぞれ半径 10 −6 m, 10 −10 m 球とする。 4-1. 0 等星 *4 から光が,断面積 0.50 cm 2 瞳を通して入り, 1 つ視細胞に集められたとする。光を波と考え
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E in Me04 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me04 ans

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速度 a で歩くと,板は 水平面に対して 加速度 b で動いた。人が板から受ける水平 方向力を F として以下問いに答えよ。 15-1. 運度様子が分かるように図 ( 座標軸,力,加速度を含む ) を描け。 【解答】右図通り。 x 軸は,地面に静止した座標系である。 F ′ は,板が人か ら受ける力である。本来なら F 始点は人裏に, F ′ 始点はその直下に書 くべきだが,人も板も質点として扱うので力矢印始点を見やすいように移動し
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E in Me06 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me06 ans

E in Me06 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me06 ans

問題 23. 速度に比例する空気抵抗 f = −kmv が働く場合 (k ≥ 0) *17 , y = 0 から初速度 v 0 で質点を投げ上げる運動を考える。 23-1. 鉛直上方を y 軸に選び,運動概略図を描け。 【解答】図 22 通り。

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E in Me05 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me05 ans

E in Me05 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me05 ans

21-6. 地面に落下する時刻 t 1 とその瞬間速度 v 1 を求めよ。また t 1 と t h にはどんな関係があるか ? v 1 と v 0 にはどんな関係があるか ? 【解答】落下点では高さが 0 であるので (4.12) お よび t 1 > 0 より y(t 1 ) = −

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E in SM 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM 最近の更新履歴 物理学ノート

確率物理的な意味に関する基本的な仮定 ある事象 A が起きる確率が極めて 1 に近い場合,実際問題として事象 A が確実に起きると考えられる。以下,「実際問題としては確実」という状況を「ほぼ確実に」と表現する。加えて, 『ある事象 A が起きる確率 Prob p [A] が極めて 1 に近いなら,一度観測において事象 A はほぼ確実に起きる。逆 に,確率 Prob p [A] が極めて小さいなら,一度観測において事象 A はほぼ確実に起きない』と仮定する。
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E in Me03 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me03 ans

E in Me03 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me03 ans

である *5 。 t = 0 で r = (0, 0) = 0 となり,点 P はきちんと原点にある。また n を整数として θ = ωt = 2nπ とき,点 P は地面に接する。その時 P 座標は R(2nπ, 0) = n(2πR, 0). (2.70) つまり n は車輪回転数に対応する。

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J98 e JETTA 2002 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J98 e JETTA 2002

J98 e JETTA 2002 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J98 e JETTA 2002

a core are propagated to all input ports of the core from TPS, and the test responses appeared at an out- put port of the core are propagated to TRS consecu- tively at the speed of system clock. The propagation of test patterns and responses is achieved by using interconnects and consecutively transparent paths of surrounding cores. All interconnects can be tested in a similar fashion. Therefore, it is possible to apply any test sequence and observe any response sequence consecutively at the speed of system clock. We also proposed a design-for-testability method for making a given SoC consecutively testable based on integer linear programming problem. Our future work is to propose a DFT method for making cores consecutively transparent with minimum hardware overhead.
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J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4

J151 e JETTA 2010 4 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J151 e JETTA 2010 4

To increase the testability of the complete design and to ease RT-level test generation, various DFT methods at RT-level have also been proposed. The most com- mon methods are based on full-scan or partial scan. However, a scan-based DFT technique leads to long test application time and it is less useful for at-speed testing. On the other hand, non-scan DFT technique [ 6 , 9 , 13 , 14 , 30 , 37 ] offer low test application time and they facilitate at-speed testing. In [ 6 ], non-scan DFT techniques are proposed to increase the testability of RT-level designs. In [ 30 ], the authors presented a method called orthogonal scan. It uses functional data- path flow for test data, instead of traditional scan-path flow; therefore, it reduces test application time. In [ 13 ], a technique was proposed to improve the hierarchical testability of the data path, which can aid hierarchi- cal test generation. In [ 14 ], the authors presented a DFT technique for extracting functional control- and data-flow information from RT-level description and illustrated its use in design for hierarchical testability. This method has low overhead and it leads to shorter test generation time, up to 2–4 orders of magnitude less than traditional sequential test generation due to the use of symbolic test generation. In [ 37 ], the au- thors presented a method based on strong testability, which exploits the inherent characteristic of datapaths to guarantee the existence of test plans (sequences of control signals) for each hardware element in the datapath. Compared to the full-scan technique, this method can facilitate at-speed testing and reduce test application time. However, it introduces hardware and delay overhead. To reduce overhead, the authors pro- posed a linear-depth time-bounded testability-based DFT method in [ 9 ]. It ensures the existence of a linear- depth time expansion for any testable fault and exper- iments showed that it offers lower hardware overhead than the method in [ 37 ].
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J161 e JETTA 2012 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J161 e JETTA 2012

J161 e JETTA 2012 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J161 e JETTA 2012

Received: 14 November 2011 / Accepted: 26 June 2012 / Published online: 13 July 2012 # Springer Science+Business Media, LLC 2012 Abstract The paper proposes a hierarchical untestable stuck-at fault identification method for non-scan synchro- nous sequential circuits. The method is based on deriving, minimizing and solving test path constraints for modules embedded into Register-Transfer Level (RTL) designs. First, an RTL test pattern generator is applied in order to extract the set of all possible test path constraints for a module under test. Then, the constraints are minimized using an SMT solver Z3 and a logic minimization tool ESPRESSO. Finally, a constraint-driven deterministic test pattern gener- ator is run providing hierarchical test generation and untest- ability proof in sequential circuits. We show by experiments that the method is capable of quickly proving a large num- ber of untestable faults obtaining higher fault efficiency than achievable by a state-of-the-art commercial ATPG. As a side effect, our study shows that traditional bottom-up test
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IWFBCA in onv1 最近の更新履歴  GCOEアジア保全生態学 IWFBCA in onv1

IWFBCA in onv1 最近の更新履歴 GCOEアジア保全生態学 IWFBCA in onv1

8 Aqua Restoration Research Center Kawashima Kasada-machi Kakamigahara-City Gifu Prefecture, 501-6021, Japan 9 Water Resources Environment Technology Center, Tokyo, Japan. We conducted complimentary analysis for fish fauna covering the entire Japanese archipelago as well as the specific regions such as Hokkaido and Kyushu. The results were compared with the protected areas (national parks and other reserves) to see the gaps between them. Although important areas found by the complimentary analysis in Hokkaido were relatively covered by the current reserves, those in Kyushu were not protected. There is a bias of data availability in Kyushu, and therefore we should fill the gaps of database using niche models for various species before complimentary analysis. Sediment control dams and water reservoir constructions and gravel mining are causing progressive sediment starvation in Japanese rivers, which results in rapid degradation of the riverbeds followed by forest expansion. Benthic invertebrates and fish cannot survive there, and migrating fish lose their spawning habitat. Bar-braided channels are changed to single-thread channels, and thereby habitats for overwintering juvenile fish will disappear. The bars and floodplains are covered by trees, because flood disturbances are greatly reduced by dams. The forest expansion has indirect impacts on material flows and organisms in the rivers and floodplains. It may reduce primary production and water temperature, and increase allochthonous input, which affect invertebrates and fish. Not only aquatic organisms, terrestrial animals, such as birds and mammals, also suffer from various impacts of forest expansion. The maximum stream temperature in summer may rise associated with dam construction and global warming. We focused on whitespotted char and Dolly varden as an indicator species, and build a niche model to predict shrinkage of their distribution by those impacts.
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J152 e IEICE 2010 6 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J152 e IEICE 2010 6

J152 e IEICE 2010 6 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J152 e IEICE 2010 6

∗ 9 = 16). Therefore, we can relax the constraints by considering the test require- ments for each core separately using different variables. (Cost for Transparency) During the optimization of transparency-based TAM design, we have to consider two types of cost. One is the area overhead for making cores transparent and the other is the routing overhead for ad- ditional interconnect. The former cost can be determined within each core while the latter cost depends on the global layout information, and therefore it is difficult to compare these costs. The method in [23] considers that the area over- head for making cores transparent is negligible and tries to minimize only the number of additional interconnects. However, we can get better solution if we know the relative costs between the above two types of cost and both costs can be taken into account simultaneously during the opti- mization.
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