透過電子顕微鏡(TEM)像
TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は
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2 今中鏡子 方法光学顕微鏡では電子顕微鏡の倍率は得られないが, 物質を色分けして, 広範囲な組織の観察に適している 1. 試料ジャガイモ, サツマイモ, ナガイモ ( 青森県産 ), ムカゴ ( 広島県産 ), サトイモ ( 鹿児島県産 ), レンコン ( 熊本県産 ), ショウガ ( 高知県 )
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電子回折顕微鏡 Electron Diffraction Microscope 上村理 a b, 郷原一寿 Osamu Kamimura and Kazutoshi Gohara a 株式会社日立製作所中央研究所 b 北海道大学大学院工学研究院 要 旨我々は, 資源やエネルギー開発の分野において重要
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山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡
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近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題
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偏光顕微鏡 ECLIPSE LV100N POL/Ci-POL
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る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解
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走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca
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走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル
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走査トンネル顕微鏡を用いた2次元キャリア分布計測技術とデバイス開発への適用
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プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測
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Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258
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走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発
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技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」
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JSM-IT200 走査電子顕微鏡
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共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)
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透過型電子顕微鏡JEM-2010の20年
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第1章 電子顕微鏡のハードウェア
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JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 NeoScope(TM)
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From Eye to Insight ワークフローを最適化 S9 i/s9 D/S9 E アポクロマート実体顕微鏡
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