走査型近接場光学顕微鏡を用い
近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題
10
TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は
10
る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解
8
山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡
7
技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」
99
プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測
10
走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca
6
共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)
10
走査型プローブ顕微鏡によるラテックス/デンプンブレンドフィルムの相分離状態の観察
14
Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258
81
C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,
8
交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ
24
2013 年 3 月発行滋賀県工業技術総合センター信楽窯業技術試験場情報誌 窯業技術試験場試作展感性価値対応型陶器製品の開発 Ⅱ P.2 5 講演会 平成 24 年度技術講演 講習会 P.5 新しい機器の紹介 走査型電子顕微鏡 P.6 仕事のヒント 回転体の展開撮影 P.6 研究会 信楽陶製照明器具
8
技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」
52
走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル
14
800 日本金属学会誌 (2002) 第 66 巻 型炉 ( ジャパンハイテック 株製 ) 中にセットされた. 小型炉は光学顕微鏡のステージ上に取り付けられ, リフロー中のボールの溶融, 凝固状態を TV モニターで観察しながらリフローを行った. リフローは窒素雰囲気中で行われ, 昇温速度 50 K
9
走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発
6
走査型熱顕微鏡(SThM)の開発 研究シーズ | 明治大学
1
ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡
27
上図 ( 左 ) は, 原子間力顕微鏡 (AFM) による固液界面ナノバブルの計測イメージ図である. 固液界面ナノバブルの計測には AFM が最もよく用いられているが, その理由は液中での走査が可能であ
69