走査型近接場光学顕微鏡を用い

Top PDF 走査型近接場光学顕微鏡を用い:

近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

しかしながら、従来の光学顕微鏡においては光 の回折限界により波長と同程度の解像度しか得られ ないということはよく知られている。実際、パルス 光照射磁場変調で Pt/Co ディスクに記録された長さ 0.3 µ m の矢羽のマーク CCD カメラ付き偏光顕 微鏡で観測すると、矢羽には見えず円にしか見えな い。通常の顕微鏡の解像度はレンズの回折限界で決 まる。分解できる寸法dはd=0.61λ/NA で表され る。NA は開口数で NA=nsinαで与えられる。α はレンズの開口角の 1/2 である。したがって、波長 以下のサイズの情報得るには、NA 高くするか λ短くするしかない。NA 大きくする方法の1 つとして例えば屈折率 n の大きな液滴用いて高解 像度得る方法は以前から知られている。また、sin α 大 き く す る 手 段 と し て 半 球 レ ン ズ (SIL: solid immersion lens)によって同様の情報得る方法も開 発されている。これ解決する手段としてここでは near field( 近 接または近視 野 と訳す)光用 いた
さらに見せる

10 さらに読み込む

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

1. はじめに 透過電子顕微鏡( TEM)は電子の粒子と波としての性質 たくみに用いて物質の構造解析する類まれな装置であ る.すなわちレンズ作用は荷電粒子が受けるローレンツ力 利用して行われる一方,波の持つ干渉性最大限活かして試 料からの回折と結像が行われる.この TEM 用いる研究者 が共通して行う基本的な作業がある.試料挿入し,電子 試料に照射し,そして試料の下面からでてきた電子波レン ズで拡大し蛍光板やフィルム(あるいは CCD カメラ)上に 分布する電子波の空間分布記録するという作業だ.電子波 の空間分布といっても記録媒体に記録されるのは電子波がメ ディアと何らかの物理的相互作用した結果であり,メディア に到達した電子波の強度の空間分布である.そしてその分布 が最終的に我々の視覚にコントラストとして映り我々は物質 に関する情報得る.したがって TEM 像正しく解釈する ためには( 1)電子と試料との相互作用および(2)レンズ 系における結像過程理解しておく必要がある.
さらに見せる

10 さらに読み込む

る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

ナノテクノロジ社SPI-3800使用)示す 1 。初磁化状態にも かかわらず、全体が同一方向に揃っており、MFM像はプロ ーブの走査方向によって像が異なる。しかしながら、同じ長 方 形 ド ッ ト に つ い て 、 SII ナ ノ テ ク ノ ロ ジ SPI-4000 /SPA300HVにより、低磁気モーメントプローブ用い高真 空中で測定すると図2のMFM像のように、ランダムに配列 した白黒の市松模様が見られる。これが本来の磁化状態の姿 である。MFM装置では、AFMのチップの先に磁性体薄膜 コートしたものプローブとして用い、試料の磁束から受け る力画像化している。高モーメント用いた通常のMFM 装置用いた場合、磁性体が微小になると、走査の際にプロ ーブからの磁束により磁化されてしまい、MFM像はプロー ブの走査方向に依存することとなる。
さらに見せる

8 さらに読み込む

山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

"吸収電流法による SEM 用スピン検出器の開発研究" [3]独立行政法人 日本学術振興会 科学研究費補助金(特別研究員奨励費) 2004-2006 年度研究助成 "スピン偏極トンネル分光走査顕微鏡法による表面原子磁性の研究" [4]財団法人 伊藤科学振興会 2005 年度 伊藤科学研究助成金 ”回転走査スピン偏極トンネル顕微分光によるスピン電子物性の研究” [5]財団法人 旭硝子財団 平成 20 年度研究奨励金

7 さらに読み込む

技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

7.3 光学ガラスの進歩 14) レンズ用のガラス、すなわち光学ガラスの製造法 最初に研究し確立したのは、スイスのギナン(P. L. Guinand, 1748-1824)である。色消しレンズが発明 され、酸化鉛多く含有するフリントガラス(工芸 用に多用された)がレンズに使われるようになると、 脈理など屈折率の不均一性や可視光域透過率が問題 となっていた。彼は耐火粘土製るつぼで原材料高 熱溶解し、機械的に攪拌するという現代まで伝わる 製法 1790 年頃に確立した。この製法伝授された フラウンホーファーは、さらに製法の改良進めて 1812 年には大型で均質な光学ガラス作ることに成 功し、天体望遠鏡用の口径 175mm 色消し対物レンズ 完成させた。同時に彼が発見した太陽スペクトルの 暗線(フラウンホーファー線)における屈折率の精密 測定も行い、そのデータに基づきレンズの設計・製造 行った。またギナンの製造法は、その後フランス のパラマントワ Parra-Mantois 社やイギリスのチャン ス Chance 兄弟社に引き継がれ、両国が 19 世紀後半 の光学ガラスの重要な供給元となった。その間、レ ンズの設計理論の進歩があり、諸収差バランスよ く補正するためには当時の光学ガラスにはない屈折率 と分散もつ光学ガラスの出現が望まれるようになっ た。ドイツの光学ガラス研究者ショットは、顕微鏡対 物レンズの設計法確立し光学ガラスの特性に着目し ていたツァイス社のアッベと出会い、1884 年に共同 でバリウム系クラウンガラスなどの新種ガラス開発 すると共に、イエナにガラス工場設立した(3.4 参 照)。このガラスは、旧ガラスに対し屈折率が高く、 アポクロマート対物レンズや高性能写真レンズの設計 に非常に有効であった。1886 年発行の同社カタログ には 19 種の新ガラス含む 44 種の光学ガラスがその
さらに見せる

99 さらに読み込む

プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

 すでに記載したように AFM5500M の特徴は,測定誤差の排除のための『測定の信頼性向上』,生産性向上のための『測定の自 動化』,他検査解析手法とのリンケージのための 『測定の親和性』にある。各々の特徴について以下,1.広走査領域における高 い計測精度,2.測定の自動化による操作性向上,3.他計測装置との測定の親和性の順に説明する。  従来,三次元(XYZ)走査のためのスキャナは, 図 6 に示すような中空円筒使用していた。スキャナの素材は電圧印加す るとひずみ発生する圧電素子にて構成される。中空円筒圧電素子には内側および外側に Z 走査用と X,Y 走査用(各 2)の 5 分割された電極が配置されている。内側電極基準(GND)に各軸の電極に電圧印加することにより圧電素子にひずみ発生さ せる。外側電極に—V 印加で厚み方向が収縮し,軸方向に延びる。また,逆に +V 印加で厚み方向が膨張し,軸方向に収縮する。 同様な原理により,鉛直(Z)方向は Z 走査電極に電圧印加することで圧電素子の軸方向変位発生させる。X 軸走査は X 軸 の走査電極に対して一方に +V,他方に—V の電圧印加し中空円筒構造に対して曲げ動作発生させる(Y 軸も同様)。中空圧電 素子の肉厚が均等でない場合,軸方向変位(Z)において平面と垂直のクロストークが発生する。また,面内方向変位(XY)は中 空円筒構造の曲げ動作によるため平 面に対して湾曲状の平面ひずみが発生する。この現象は平坦な試料の計測において測定誤 差となる。また,広走査領域実現するには圧電素子長くする必要があり,スキャナ部材の剛性低下の要因となる。
さらに見せる

10 さらに読み込む

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

射角度が非常に小さく,光学顕微鏡に較べ深い焦点深度 もつ(図 6). SEM の到達分解能は,電子銃と対物レンズの組み合わ せによって異なる(電子銃とレンズについては後述).こ の分解能は,値が小さいほど高分解能で高倍率の測定が可 能となる.図 7 は主な SEM についてその到達分解能の算 出例である.熱電子放出電子銃はアウトレンズ方式の対 物レンズと組み合わされて熱電子銃 SEM と呼ばれ,ア ウトレンズ方式 FE-SEM とともにミクロンオーダの試料 観察に用いられる.一方,サブミクロンオーダ以下の観察 にはシュノーケルレンズ方式 FE-SEM やインレンズ方式
さらに見せる

6 さらに読み込む

共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)

共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)

病理組織学標本作製装置 (バキュームロータリー ・ ティッシュテックパラフィン包埋装置・滑走式ミクロトーム ・ クライオスタット ・ 写真顕微鏡 ・ 蛍光顕微鏡 ・ 実体顕微鏡・他) 生命科学研究センター棟

10 さらに読み込む

走査型プローブ顕微鏡によるラテックス/デンプンブレンドフィルムの相分離状態の観察

走査型プローブ顕微鏡によるラテックス/デンプンブレンドフィルムの相分離状態の観察

での繊維壁構造の観察や手抄き紙表面にある繊維の画像が紹介されている 7) 。岡本ら 8) も同様に観察し、クラフトパルプのミクロフィブリル径の計測行った。また空閑ら 9) はアルキルケテンダイマー粒子の熱溶融による形態変化観察した。 Bassemir ら 10) は探 針で走査する際の摩擦力の分布塗工面と非塗工面で比較したり、平版インキが乾燥す る前に樹脂 UV コートした場合、数日間で光沢が下がるのは、コート内部でインキフ ィルムが収縮し表面にしわ作るためであること AFM 画像により確かめた。
さらに見せる

14 さらに読み込む

Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

焦点位置の変化に感度持つ周波数成分抽出するため、合焦画像の周波数 成分と合焦位置から 1 ステップ分焦点位置ずらした画像の周波数成分の差分 算出した。各画像から算出した差分の累積図 3.4 の棒グラフとして示す。な お、図 3.4 では、周波数成分のうち x 方向の成分示している。前述の通り、こ の周波数成分バンドパスフィルタにより抽出することが焦点測度の算出にお いて重要である。図 3.4 より回路パターンなし領域の低段差欠陥と,回路パター ン領域の画像では異なった分布とることがわかる。多種多様な外観持つ画 像に対して安定したオートフォーカス処理実現するためにはこれらの分布 カバーする必要がある。ただし、焦点測度の算出に用いる画像 SNR は低いこと から、幅広い帯域抽出するフィルタ採用した場合、ノイズの影響大きく 受けると考えられる。また、画像ごとに抽出対象となる周波数成分が一部の帯 域に偏っていること考慮し、周波数特性が異なる 2 つのバンドパスフィルタ 導入し、入力画像に応じてバンドパスフィルタ切り替えることとした。以降、 低周波よりの周波数成分抽出するもの低周波側フィルタ、高周波よりの周 波数成分抽出するもの高周波側フィルタと記載する。図 3.4 は開発したバン ドパスフィルタの周波数特性も示しており、2 つのフィルタが回路パターン領域 および回路パターンなし領域の画像の周波数成分にそれぞれ対応している。な お、後述するとおりエッジ抽出フィルタは高速化の観点から空間フィルタ適用
さらに見せる

81 さらに読み込む

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

備 考 1 上記表中の利用料は、1時間当たりの機器利用に係る金額(消費税相当額含む)であり、   これに当該機器利用時間数乗じた金額が利用料金となります。 2 1時間未満の機器利用及び1時間超える機器利用に係る1時間未満の端数については、 それぞれ1時間の機器利用として、利用料金算出するものとします。 3 複数の機器利用する場合については、各機器の利用料合算した金額が利用料金となります。
さらに見せる

8 さらに読み込む

交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

→ 探針振動に、励振力にならない交番磁気力信号源とした周波数変調が発生. 周波数復調器、ロックインアンプ 追加. → 振動波形周波数復調し、ロックイン検出により交番磁気力計測. ✓ロックイン検出用いることで、 試料表面での磁場計測が可能.

24 さらに読み込む

2013 年 3 月発行滋賀県工業技術総合センター信楽窯業技術試験場情報誌 窯業技術試験場試作展感性価値対応型陶器製品の開発 Ⅱ P.2 5 講演会 平成 24 年度技術講演 講習会 P.5 新しい機器の紹介 走査型電子顕微鏡 P.6 仕事のヒント 回転体の展開撮影 P.6 研究会 信楽陶製照明器具

2013 年 3 月発行滋賀県工業技術総合センター信楽窯業技術試験場情報誌 窯業技術試験場試作展感性価値対応型陶器製品の開発 Ⅱ P.2 5 講演会 平成 24 年度技術講演 講習会 P.5 新しい機器の紹介 走査型電子顕微鏡 P.6 仕事のヒント 回転体の展開撮影 P.6 研究会 信楽陶製照明器具

窯業技術試験試作展 感性価値対応陶器製品の開発Ⅱ P.2 〜 5 講演会     平成24年度技術講演・講習会    P.5 新しい機器の紹介   走査電子顕微鏡          P.6 仕事のヒント     回転体の展開撮影       P.6 研究会        信楽陶製照明器具開発研究会     P.7 人材育成       信楽窯業技術試験研修生 OB 会 P.7 着任のご挨拶     長 横井川正美   P.8 新規採用職員の紹介  技師 三浦拓巳           P.8 収蔵品紹介      御用火鉢           P.8 表紙の写真は、信楽透器(透光性陶器)で試作した陶板です。
さらに見せる

8 さらに読み込む

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

4-2-2 電子線エネルギー損失分光法(EELS) 電子線が試料透過する時に、入射電子線の一部は 非弾性散乱されてエネルギー失う。電子線エネルギ ー損失スペクトルは、この電子線のエネルギー分布 測定し、物質の結合状態や組成分析する方法である。 この方法は現在では微細な構造もつ半導体の構造等 の観察と分析に利用されている。電子顕微鏡で使用し ている磁場レンズはレンズの拡大率(縮小率)が限ら れるため、レンズ2段にして2枚のレンズ使うとい う光学系の改良により入射する電子線の照射プローブ 系が絞れるようになった。このため、微細化が進む半 導体デバイスの分析手段として使用されるようになっ た。装置は試料の下側の鏡体の下部に取り付けられ、 90度の磁場セクターと4極子レンズにより構成され る。図4-12図に電子線損失エネルギー分光器装着し た走査透過電子顕微鏡の構成示す。電子線プロー ブから照射された電子は試料中で試料中の原子と相互 作用してエネルギー失って放射される。この電子 レンズで集めてEELS分光器に導入する。EELS分光 器走査してEELSスペクトルが得られる。この装置 では通常の電子線と異なり電子線走査することによ りSTEM像得、EELSスペクトルのピークの一つ 選んで分光器固定し電子線走査して元素マッピン グ像得る。これらの情報から試料中のある位置にあ る元素の種類がわかり、試料中の元素の分布がわかる。
さらに見せる

52 さらに読み込む

走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル

走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル

• 分析装置PCに直接自分のUSBなど記録メディア差し込まない。 当研究室専用のUSB利用し、解析用PC経由してデータ取り 出す事 • 分析室内に導入するものは全て素手で触らない。備品利用し て汚した場合は自分で洗浄する事

14 さらに読み込む

800 日本金属学会誌 (2002) 第 66 巻 型炉 ( ジャパンハイテック 株製 ) 中にセットされた. 小型炉は光学顕微鏡のステージ上に取り付けられ, リフロー中のボールの溶融, 凝固状態を TV モニターで観察しながらリフローを行った. リフローは窒素雰囲気中で行われ, 昇温速度 50 K

800 日本金属学会誌 (2002) 第 66 巻 型炉 ( ジャパンハイテック 株製 ) 中にセットされた. 小型炉は光学顕微鏡のステージ上に取り付けられ, リフロー中のボールの溶融, 凝固状態を TV モニターで観察しながらリフローを行った. リフローは窒素雰囲気中で行われ, 昇温速度 50 K

3.5 シェア試験後のボール接合体の破面組織 Fig. 14 にシェア試験後の破面 SEM 観察した結果示 す.本研究におけるシェア試験のシェア高さは,プリント基 板表面から約 50 mm とした.37Pb ボール(Fig. 14(a))にお いて,破面にはフラットな部分とデインプル部が観察され, 破壊形態が延性破壊と脆性破壊の混合であることがわか る.シェア方向(図中矢印)から考えて,破壊は界面で脆性的 に生じ,亀裂がボールに及んだ場合に延性破壊が生じると考 えられる.対照的に 36Pb2Ag ボール(Fig. 14(b))におい て,ほぼ破面全体がフラットであることから脆性破壊が生じ たことがわかる.以上の結果から,両ボール接合体における シェア強度が,冷却速度が遅くなるにつれて低下した原因は,
さらに見せる

9 さらに読み込む

走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

定義した。 結晶標識する。そこに白色X 線照射し,金ナノ結晶 由来の回折点時分割で取得することにより,ラベルさ れている分子の運動計測する方法である。 DXT 法の最 大の特徴は,極めて高い分解能であり,最高で 0.01Å の 構造変化とらえることが可能である。また,時分割能 も高速カメラの開発より,ナノ秒レベルまで可能となっ ている。これらは他の計測法にくらべ 100 倍以上の性能 である。また,環境中の化学的条件による影響も非常に 受けにくいという特徴もある。これらの特徴生かし, 細胞表面のカリウムイオンチャンネル(KcsA)の回転運 動 5) ,好熱性古細菌由来のシャペロニンタンパク質のサ ブユニット間協調運動など証明した 6) 。しかし,欠点 として使用している白色X 線源の利用が挙げられる。こ の白色 X線は非常に高輝度なものが必要であり,KEKや SPring-8 といった大型放射光施設利用しなければなら ない。また,適した白色X 線が得られるビームラインは 限られていて,他の研究目的のユーザーとのマシンタイ ムの競合が発生している。そのため,計測機会が非常に 限られてしまい,計測結果に対するフィードバックに時 間要し,研究の進行が制限されている。そこで,X 線 の代わりに電子線用いる計測法,電子線 1 分子計測法 DET(Diffracted Electron Tracking)の開発試みた 7, 8) 。 電子線源としては市販の走査電子顕微鏡による電子線 利用できるため,小規模な研究室で運用でき,マシンタ イムに左右されない研究が可能となる。しかし,電子顕 微鏡内は高真空に保つ必要があり,ネイティブなタンパ ク質など水分含む試料直接は観察できない。そこ で,1 気圧環境維持し,かつ電子線透過可能なカーボ ン薄膜(隔膜) 9) を通して内部観察可能な小型のセル, 環境セル(Environmental cell)開発した。
さらに見せる

6 さらに読み込む

走査型熱顕微鏡(SThM)の開発 研究シーズ | 明治大学

走査型熱顕微鏡(SThM)の開発 研究シーズ | 明治大学

集積回路内のトラン タ 微 デバイ の温度や熱物性値10nm の空間分解能 計測 技術,装置の開発行っ いま 。走査顕微鏡 微細加工技術組合わせ こ ,基本的 計測技術の革新的飛躍が行わ いま 。 用 途 半 体微 デバイ の温度計測,ナノ材料の物性評価

1 さらに読み込む

ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡

ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡

カーボンナノチューブの用途としてフラットパネルディスプレイが現在もっとも工業化に近 い。省電力で、電流密度が大きく、高輝度で常温で作動でき 、しかもコスト的にも安価にできる 可能性のあることから注目されている。しかも、ディスプレイ市場は、世界的には数兆円の規模 といわれ、 現在良く用いられている CRT や液晶ディスプレイ、 プラズマディスプレイ上回る製 品が実現できれば、大規模な産業となるものと考えられる。現在の問題点はアレイの作製法、電 子放出の効率さらに高めて、均一性保つこと、安定な電流特性、低電圧駆動 、発光ムラ無 くすこと、 ゲート電圧低くすることなどがある。 アレイの作製法としては基板に垂直配向させ る方法が有効と思われるが、 現在その点も不明で理論解明が急がれる。 ディスプレイへの応用と その商品化の技術開発について、 サムソン SD I が実用化に近いデモ品展示して優位に競ってお り、 世界に先駆けて製品化のスケジュール公表している。 韓国から日本へのこの関係の出願も、 最近顕著な増加傾向にある。日本が世界に対してイニシアチブとるために、電気メーカー、デ ィスプレイメーカーと公的機関、 大学含めた共同プロジェクト早急に立ち上げる必要がある。
さらに見せる

27 さらに読み込む

上図 ( 左 ) は, 原子間力顕微鏡 (AFM) による固液界面ナノバブルの計測イメージ図である. 固液界面ナノバブルの計測には AFM が最もよく用いられているが, その理由は液中での走査が可能であ

上図 ( 左 ) は, 原子間力顕微鏡 (AFM) による固液界面ナノバブルの計測イメージ図である. 固液界面ナノバブルの計測には AFM が最もよく用いられているが, その理由は液中での走査が可能であ

の「蚕当計」 2 点ならびに「蚕当計原器」,さらには 『蚕当計秘訣』の真筆と版本は,福島県伊達市霊山 町にある泉原養蚕用具整理室に良好な保存状態で 保管されている.また,岡谷市の蚕糸博物館にも伊 達地方製作であることが確認できる蚕当計が保存 されており,この技術が我が国の近代化の初期に, すでに全国に伝わっていたことがわかる.このよう に「蚕当計」と『蚕当計秘訣』は,かつて我が国 支えた養蚕という産業技術において,人々が「熱」 と深く関わり,それ自らの営みに如何に巧みに利 用してきたか伝えている足跡であると言える. 本報告は日本伝熱学会熱遺産準備委員会(平成 28 年度)及び同熱遺産委員会(平成 29 年度から) における活動の一環として行った調査活動による ものである.また,調査においては,伊達市教育委 員会の山田将之様,岡谷蚕糸博物館の高林千幸館長, 林久美子学芸員に多大なるご支援・ご教示頂いた. ここに深甚な感謝の意表します.
さらに見せる

69 さらに読み込む

Show all 10000 documents...