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走査型近接場光学顕微鏡を用い

近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

近接場磁気光学顕微鏡の現状と課題

... 以下のサイズの情報得るには、NA 高くするか λ短くするしかない。NA 大きくする方法の1 つとして例えば屈折率 n の大きな液滴用いて高解 像度得る方法は以前から知られている。また、sin α 大 き く す る 手 段 と し て 半 球 レ ン ズ (SIL: solid immersion ...

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TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

TEM 像の解釈 ( ) 今野豊彦 a 東北大学金属材料研究所 キーワード : 透過電子顕微鏡 (TEM), 走査型透過電子顕微鏡 (STEM) 1. はじめに 透過電子顕微鏡 (TEM) は電子の粒子と波としての性質 をたくみに用いて物質の構造を解析する類まれな装置であ る. すなわちレンズ作用は

... TEM)は電子の粒子と波としての性質 たくみに用いて物質の構造解析する類まれな装置であ る.すなわちレンズ作用は荷電粒子が受けるローレンツ力 利用して行われる一方,波の持つ干渉性最大限活かして試 料からの回折と結像が行われる.この TEM 用いる研究者 が共通して行う基本的な作業がある.試料挿入し,電子 ...

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る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

る対象の磁気状態を乱す可能性があり注意が必要である これに対し磁気光学顕微鏡は系を乱さず磁気状態を見 ることのできる優れた技術である さらに MFM が観測し ているのは試料の磁化そのものではなく 試料から発生する磁束であるのに対し 磁気光学顕微鏡では試料の磁化そのものを観測できる 光学顕微鏡の分解

... ナノテクノロジ社SPI-3800使用)示す 1 。初磁化状態にも かかわらず、全体が同一方向に揃っており、MFM像はプロ ーブの走査方向によって像が異なる。しかしながら、同じ長 方 形 ド ッ ト に つ い て 、 SII ナ ノ テ ク ノ ロ ジ SPI-4000 /SPA300HVにより、低磁気モーメントプローブ用い高真 ...

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山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

山田豊和 Ph.D. 博士 ( 理学 ) 千葉大学融合科学研究科特任准教授 連絡先 住所 千葉市稲毛区弥生町 研究分野 表面物理学 磁性 走査プローブ顕微鏡 研究テーマ スピン偏極走査トンネル顕微鏡

... "吸収電流法による SEM 用スピン検出器の開発研究" [3]独立行政法人 日本学術振興会 科学研究費補助金(特別研究員奨励費) 2004-2006 年度研究助成 "スピン偏極トンネル分光走査顕微鏡法による表面原子磁性の研究" [4]財団法人 伊藤科学振興会 2005 年度 伊藤科学研究助成金 ...

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技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

技術の系統化調査報告「光学顕微鏡の技術系統化調査」

... 7.3 光学ガラスの進歩 14) レンズ用のガラス、すなわち光学ガラスの製造法 ...色消し対物レンズ 完成させた。同時に彼が発見した太陽スペクトルの 暗線(フラウンホーファー線)における屈折率の精密 測定も行い、そのデータに基づきレンズの設計・製造 行った。またギナンの製造法は、その後フランス のパラマントワ Parra-Mantois 社やイギリスのチャン ス Chance ...

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プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

プローブ顕微鏡“AFM5500M”による微小領域の三次元形状計測

... Z 走査用と X,Y 走査用(各 2)の 5 分割された電極が配置されている。内側電極基準(GND)に各軸の電極に電圧印加することにより圧電素子にひずみ発生さ せる。外側電極に—V 印加で厚み方向が収縮し,軸方向に延びる。また,逆に +V 印加で厚み方向が膨張し,軸方向に収縮する。 同様な原理により,鉛直(Z)方向は Z ...

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走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

走査電子顕微鏡の原理と応用 ( 観察, 分析 ) Principle and Application of Scanning Electron Microscope/Syunya WATANABE 日立ハイテクノロジーズグローバルアプリケーションセンタ渡邉俊哉 1. はじめに走査電子顕微鏡 (Sca

... 射角度が非常に小さく,光学顕微鏡に較べ深い焦点深度 もつ(図 6). SEM の到達分解能は,電子銃と対物レンズの組み合わ せによって異なる(電子銃とレンズについては後述).こ の分解能は,値が小さいほど高分解能で高倍率の測定が可 能となる.図 7 は主な SEM についてその到達分解能の算 出例である.熱電子放出電子銃はアウトレンズ方式の対 ...

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共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)

共同研究施設 共同利用機器一覧 1. 形態解析研究室 ( 大学院棟 ) 設備名 透過型電子顕微鏡 (JEM-1400Plus) 走査型電子顕微鏡 ( 日立 S-3000N)

... 病理組織学標本作製装置 (バキュームロータリー ・ ティッシュテックパラフィン包埋装置・滑走式ミクロトーム ・ クライオスタット ・ 写真顕微鏡 ・ 蛍光顕微鏡 ・ 実体顕微鏡・他) 生命科学研究センター棟 ...

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走査型プローブ顕微鏡によるラテックス/デンプンブレンドフィルムの相分離状態の観察

走査型プローブ顕微鏡によるラテックス/デンプンブレンドフィルムの相分離状態の観察

... での繊維壁構造の観察や手抄き紙表面にある繊維の画像が紹介されている 7) 。岡本ら 8) も同様に観察し、クラフトパルプのミクロフィブリル径の計測行った。また空閑ら 9) はアルキルケテンダイマー粒子の熱溶融による形態変化観察した。 Bassemir ら 10) は探 針で走査する際の摩擦力の分布塗工面と非塗工面で比較したり、平版インキが乾燥す る前に樹脂 ...

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Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

Title Author(s) 先端半導体デバイス対応欠陥レビュー走査型電子顕微鏡の画像処理技術に関する研究 原田, 実 Citation Issue Date Text Version ETD URL DOI /7258

... 焦点位置の変化に感度持つ周波数成分抽出するため、合焦画像の周波数 成分と合焦位置から 1 ステップ分焦点位置ずらした画像の周波数成分の差分 算出した。各画像から算出した差分の累積図 3.4 の棒グラフとして示す。な お、図 3.4 では、周波数成分のうち x 方向の成分示している。前述の通り、こ ...

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C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

C ナノ材料分析 評価装置 C1 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 4,830 円 加工 評価室 1 C2 分析走査電子顕微鏡 6,720 円 加工 評価室 1 C3 高速液中原子間力顕微鏡 ( 株 ) 生体分子計測研究所 2,570 円 加工 評価室 2 C4 走査型プローブ顕微鏡システム 2,

... 備 考 1 上記表中の利用料は、1時間当たりの機器利用に係る金額(消費税相当額含む)であり、 これに当該機器利用時間数乗じた金額が利用料金となります。 2 1時間未満の機器利用及び1時間超える機器利用に係る1時間未満の端数については、 それぞれ1時間の機器利用として、利用料金算出するものとします。 3 ...

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交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

交番磁気力顕微鏡 : 空間分解能 5nm と高機能性の実現 秋田大学 工学資源学研究科附属理工学研究センター教授齊藤準 機器開発タイプ ( 平成 23 年度 ~26 年度 ) 開発課題名 : ベクトル磁場検出 高分解能 近接場磁気力顕微鏡の開発中核機関 : 秋田大学参画機関 :( 株 ) 日立ハイテ

... → 探針振動に、励振力にならない交番磁気力信号源とした周波数変調が発生. 周波数復調器、ロックインアンプ 追加. → 振動波形周波数復調し、ロックイン検出により交番磁気力計測. ✓ロックイン検出用いることで、 試料表面での磁場計測が可能. ...

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2013 年 3 月発行滋賀県工業技術総合センター信楽窯業技術試験場情報誌 窯業技術試験場試作展感性価値対応型陶器製品の開発 Ⅱ P.2 5 講演会 平成 24 年度技術講演 講習会 P.5 新しい機器の紹介 走査型電子顕微鏡 P.6 仕事のヒント 回転体の展開撮影 P.6 研究会 信楽陶製照明器具

2013 年 3 月発行滋賀県工業技術総合センター信楽窯業技術試験場情報誌 窯業技術試験場試作展感性価値対応型陶器製品の開発 Ⅱ P.2 5 講演会 平成 24 年度技術講演 講習会 P.5 新しい機器の紹介 走査型電子顕微鏡 P.6 仕事のヒント 回転体の展開撮影 P.6 研究会 信楽陶製照明器具

... 窯業技術試験試作展 感性価値対応陶器製品の開発Ⅱ P.2 〜 5 講演会 平成24年度技術講演・講習会 P.5 新しい機器の紹介 走査電子顕微鏡 P.6 仕事のヒント 回転体の展開撮影 P.6 研究会 信楽陶製照明器具開発研究会 P.7 人材育成 信楽窯業技術試験研修生 OB 会 P.7 着任のご挨拶 長 横井川正美 P.8 ...

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技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

技術の系統化調査報告「透過型電子顕微鏡技術発展の系統化調査」

... 作用してエネルギー失って放射される。この電子 レンズで集めてEELS分光器に導入する。EELS分光 器走査してEELSスペクトルが得られる。この装置 では通常の電子線と異なり電子線走査することによ りSTEM像得、EELSスペクトルのピークの一つ ...

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走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル

走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル

... • 分析装置PCに直接自分のUSBなど記録メディア差し込まない。 当研究室専用のUSB利用し、解析用PC経由してデータ取り 出す事 • 分析室内に導入するものは全て素手で触らない。備品利用し て汚した場合は自分で洗浄する事 ...

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800 日本金属学会誌 (2002) 第 66 巻 型炉 ( ジャパンハイテック 株製 ) 中にセットされた. 小型炉は光学顕微鏡のステージ上に取り付けられ, リフロー中のボールの溶融, 凝固状態を TV モニターで観察しながらリフローを行った. リフローは窒素雰囲気中で行われ, 昇温速度 50 K

800 日本金属学会誌 (2002) 第 66 巻 型炉 ( ジャパンハイテック 株製 ) 中にセットされた. 小型炉は光学顕微鏡のステージ上に取り付けられ, リフロー中のボールの溶融, 凝固状態を TV モニターで観察しながらリフローを行った. リフローは窒素雰囲気中で行われ, 昇温速度 50 K

... 3.5 シェア試験後のボール接合体の破面組織 Fig. 14 にシェア試験後の破面 SEM 観察した結果示 す.本研究におけるシェア試験のシェア高さは,プリント基 板表面から約 50 mm とした.37Pb ボール(Fig. 14(a))にお いて,破面にはフラットな部分とデインプル部が観察され, 破壊形態が延性破壊と脆性破壊の混合であることがわか ...

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走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

走査電子顕微鏡を用いた1分子ダイナミクス計測法の開発

... 定義した。 結晶標識する。そこに白色X 線照射し,金ナノ結晶 由来の回折点時分割で取得することにより,ラベルさ れている分子の運動計測する方法である。 DXT 法の最 大の特徴は,極めて高い分解能であり,最高で 0.01Å の 構造変化とらえることが可能である。また,時分割能 も高速カメラの開発より,ナノ秒レベルまで可能となっ ...

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走査型熱顕微鏡(SThM)の開発 研究シーズ | 明治大学

走査型熱顕微鏡(SThM)の開発 研究シーズ | 明治大学

... 集積回路内のトラン タ 微 デバイ の温度や熱物性値10nm の空間分解能 計測 技術,装置の開発行っ いま 。走査顕微鏡 微細加工技術組合わせ こ ,基本的 計測技術の革新的飛躍が行わ いま 。 用 途 半 体微 デバイ の温度計測,ナノ材料の物性評価 ...

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ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡

ナノテクノロジーの応用 カーボンナノチューブ、光半導体、走査型プローブ顕微鏡

... カーボンナノチューブの用途としてフラットパネルディスプレイが現在もっとも工業化に近 い。省電力で、電流密度が大きく、高輝度で常温で作動でき 、しかもコスト的にも安価にできる 可能性のあることから注目されている。しかも、ディスプレイ市場は、世界的には数兆円の規模 といわれ、 現在良く用いられている CRT や液晶ディスプレイ、 プラズマディスプレイ上回る製 ...

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上図 ( 左 ) は, 原子間力顕微鏡 (AFM) による固液界面ナノバブルの計測イメージ図である. 固液界面ナノバブルの計測には AFM が最もよく用いられているが, その理由は液中での走査が可能であ

上図 ( 左 ) は, 原子間力顕微鏡 (AFM) による固液界面ナノバブルの計測イメージ図である. 固液界面ナノバブルの計測には AFM が最もよく用いられているが, その理由は液中での走査が可能であ

... の「蚕当計」 2 点ならびに「蚕当計原器」,さらには 『蚕当計秘訣』の真筆と版本は,福島県伊達市霊山 町にある泉原養蚕用具整理室に良好な保存状態で 保管されている.また,岡谷市の蚕糸博物館にも伊 達地方製作であることが確認できる蚕当計が保存 されており,この技術が我が国の近代化の初期に, すでに全国に伝わっていたことがわかる.このよう に「蚕当計」と『蚕当計秘訣』は,かつて我が国 ...

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