JAIST Repository: 液体電極プラズマ発光分光分析法における流路形状に関する研究
2
0
0
全文
(2) C13p6 液体電極プラズマ発光分光分析法における流路形状に関する研究 渡辺洋平(高村禅研究室) 【背景】 液体電極プラズマ発光分光分析法(LEP-AES)は、プラズマ を利用した元素分析法である。狭小部を有するマイクロ流路 に導電性試料を送液し、流路両端から直流電圧を印加すると 狭小部に電界が集中する。それにより液体の温度が急上昇し、 気泡が発生する。この気泡内部に発生したプラズマを分光す ることで液体中元素の分析が可能になる(図1) 。しかし、発 光強度が低いという短所がある。それを解決するため、試料 がよりプラズマに導入されやすくなるように、狭小部に凹凸 構造導入した。本研究では凹凸構造の大きさを変え、プラズ マや測定感度にどのような影響があるか調べた。. 図 1 LEP-AES の概要. 【実験方法】 フォトリソグラフィー法によりシリコンウェハ上に厚膜レ ジスト SU-8 3050 の流路パターンを形成した(図 2) 。これを 鋳型として PDMS に流路を転写した。これに送液用の穴を開 け、石英ガラスと接着し測定チップとした。試料には Cd、Pb、 Ca、Zn、K を含む 0.1M 硝酸水溶液を用いた。溶液を、チッ. 図 2 凹凸構造の概要. プとシリコンチューブで接続したシリンジポンプを用いて 100 μL/min で送液し、その間に直流 1500 V の電圧を 3 mson、2 ms-off を 1 パルスとし 10 パルス印加した。分光器 (Ocean Optics)を用いて、発光強度を測定した。 【結果と考察】 図3に凹凸の面積ごとの Pb 測定結果を示す。発光強度が最 も高かったのは W50D50 の凹凸であった。それ以上の面積を 有する凹凸では発光強度が極端に低下した。これは、凹凸構 造が大きすぎるため、液体試料の逃げ場があり、プラズマへの導入があまりされなかったた めと考えられる。W25D50 と W50D25 と W25D25×2 は面積が同じにも関わらず、W(横幅) の小さい W25D50 の発光強度が高くなった。これは、横幅が狭いことで液体試料が凹凸構 造内でより保持されたためと考えられる。Pb では凹凸の無い流路と比較して最大で 3.4 倍 の発光強度増加となった。 【参考文献】 1. 液体電極プラズマ発光分析法における副流路の効果 畑下 和輝 2014 年修士論文 Keywords: 液体電極プラズマ、MEMS、微小流体デバイス、元素分析.
(3)
関連したドキュメント
漏洩電流とB種接地 1)漏洩電流とはなにか
う東京電力自らPDCAを回して業 務を継続的に改善することは望まし
Q-Flash Plus では、システムの電源が切れているとき(S5シャットダウン状態)に BIOS を更新する ことができます。最新の BIOS を USB
直流電圧に重畳した交流電圧では、交流電圧のみの実効値を測定する ACV-Ach ファンクショ
リスク研究の分野では、 「リスク」 を検証する際にその対になる言葉と して 「ベネフ ィッ ト」
現在、電力広域的運営推進機関 *1 (以下、広域機関) において、系統混雑 *2 が発生
光を完全に吸収する理論上の黒が 明度0,光を完全に反射する理論上の 白を 10
接続対象計画差対応補給電力量は,30分ごとの接続対象電力量がその 30分における接続対象計画電力量を上回る場合に,30分ごとに,次の式