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SiC表面におけるH2Pc分子の吸着形態の観察

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Academic year: 2021

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Annual Meeting of the Japan Society of Vacuum and Surface Science 2020

SiC 表面における H

2

Pc 分子の吸着形態の観察

○江本 暁

1

,河村 和哉

2

,黒木 伸一郎

2

,内藤 正路

3

,碇 智徳

1*

1宇部工業高等専門学校,2広島大学ナノデバイス・バイオ融合科学研究所,3九州工業大学大学院工学研究院

Observation of absorption formation of H

2

Pc molecule at SiC surface

○Satoru Emoto

1

, Kazuya Kawamura

2

, Shin-ichiro Kuroki

2

, Masamichi Naitoh

3

, Tomonori Ikari

1*

1National Institute of Technology, Ube Collage, 2Hiroshima University, 3Kyushu Institute of Technology

1. 緒言 フタロシアニン(Pc)は、可視光吸収が可能で熱的、 化学的安定性に優れていることから、有機薄膜太陽電 池やガスセンサーなどの有機デバイス材料として注目 されている1)。ここでは、Pc 分子による薄膜の形成状 態によって、デバイス性能に大きな影響を与える為、 Pc 分子の基板表面への吸着から膜形成までの過程と その状態を明らかにする必要がある。本発表では、炭 化ケイ素(SiC)表面上へ無金属フタロシアニン(H2Pc) を蒸着し、蒸着量及び基板表面構造の変化に伴う吸着 形態を表面電子状態により調べた。 2. 実験方法 基板である 4H-SiC(0001)表面上に Si 蒸着及び加熱 を行うことで、(3×3)やグラフェンといった幾つかの 再構成表面を形成した。基板温度は、パイロメータに より観測した。Pc 分子の蒸着は室温にて行い、H2Pc 粉 末を入れた坩堝を通電加熱することで蒸着した。吸着 した分子配向と薄膜構造の評価は、最表面電子状態を 測 定 す る こ とが で き る準安定原子誘起電子分光法 (MIES)により観測し、低速電子線回折(LEED)により表 面の周期構造を観察した。 3. 実験結果 Fig.1 に、4H-SiC(0001)基板上に(3×3)表面を形成 し、その表面へ H₂Pc 分子の蒸着量を変化した際の MIES 観測結果を示した。H2Pc を 200[sec]まで蒸着した表面 では、4~6[eV]に Pc のσ軌道(Pc(σ))に起因するショ ルダーを観測できた 2)。また、400[sec]の蒸着では、 7[eV]付近に Pc のπ軌道によるピークが観測された。 さらに、蒸着量を増加すると、Pc(π)によるピーク強 度が徐々に大きくなっていることと高エネルギー側に Pc に含まれるベンゼンのπ軌道による僅かな状態を 確認できたことから、Pc 分子の配向は基板に対して平 行な状態で吸着していると考えられる。以上のことか ら、蒸着量に伴い、フタロシアニン分子の吸着形態が 変化している可能性を示した。 発表では、(3×3)構造以外にもグラフェン等の SiC 基板における再構成表面の違いによる H2Pc 分子の吸 着形態について比較し、基板表面構造に伴う吸着形態 の変化の要因を議論する。さらに、蒸着後の基板加熱 温度変化に伴う表面状態の観測により、フタロシアニ ン分子の脱離についても示す。

Fig. 1. H2Pc/(3×3)/SiC 表面における MIES 結果

文 献

1) B. Bialek,et.al,; Thin Solid Films, 513. 110-113 (2006).

2) H. Yamane,et.al.; J. Appl. phys., 99. 093705 (2006).

*E-mail: [email protected]

0 2 4 6 8 10 12 14

Depo. Time

2000[sec]

1200[sec]

600[sec]

400[sec]

200[sec]

clean

Pc(π)

Pc(σ)

Kinetic Energy [eV]

In te n sit y [a rb . u n it s]

Fig. 1. H 2 Pc/(3×3)/SiC 表面における MIES 結果  文    献

参照

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