ハイレートスパッタリング装置の製作
著者
鶴丸 哲哉, 坂元 渉, 大串 哲彌, 沼田 正
雑誌名
鹿児島大学工学部研究報告
巻
20
ページ
93-96
別言語のタイトル
THE MANUFACTURE OF THE HIGH RATE SPUTTERING
ハイレートスパッタリング装置の製作
著者
鶴丸 哲哉, 坂元 渉, 大串 哲彌, 沼田 正
雑誌名
鹿児島大学工学部研究報告
巻
20
ページ
93-96
別言語のタイトル
THE MANUFACTURE OF THE HIGH RATE SPUTTERING
ハイレートスパッタリング装置の製作
鶴 丸 哲 哉 * ・ 坂 元 渉 ・ 大 串 哲 弥 ・ 沼 田 正
(受理昭和53年5月31日) THEMANUFACTUREOFTHEHIGHRATESPUTTERINGTelsuyaTsuRuMARu,WataruSAKAMoTo,TetsuyaOGusHI
andTadashiNuMATA Usualsputteringmethodshaveaweakpointthatsputteringcurrentisalittleandastickingvelocity islowduringthedepositionproccss・WehavebeentroubledbylowgermaniumstickingcoeHicient inproductingaNb3Gethinfilm・Therefbre,inordertomakeithigher,wemanufLcturedthehigh ratesputteringapparatuswhereinamagneticfieldisperpendiculartoanelectricfieldincontradiction toaparallelelectricfieldinthefbrmer・Utilizingthisapparatus,wecouldincreasethesputteringcurrent bynearly2-3×lOtimes・Asaresult,germaniumstickingcoefficicntwasmadehighertoobtainastoichi-ometeicNb3GeandalsothismethodwasclarifiedtobeveryusefUlinshorteningthesputteringtime. § 1 . ま え が き 2つの電極間でガス放電すると,陰極表面は,イオ ン化されたガス分子によって叩かれる.そのために, 陰 極 物 質 が 叩 き 出 さ れ る . こ の 現 象 を 利 用 し て 薄 膜 を 作製する方法をスパッタリングという.')'2)このスパ ッタリング法では,高融点材料による薄膜作製を比較 的手軽に出来る.しかも膜の密着性が良いという利点 がある.しかしながら付着速度が遅く,電力消費が有 効でない欠点がある.3)筆者らは高いTcをもつ超伝 導体であるlVb3Ge薄膜を作製しているが,この欠点 のために1Vもの付着率に比べてGeの付着率が悪く化 学量論的なZV63Geの作製が困難であった. そこでこの付着速度を高めようとするものが磁場を 利用したハイレートスパッタリングである.筆者らは こ の ハ イ レ ー ト ス パ ッ タ 装 置 を 製 作 し た . 従 来 の ス パ ッ タ リ ン グ で は 磁 場 を 電 界 に 平 行 に 印 加 す る 型 は あったが,この場合でもスパッタ電流はあまり増加し ない.しかしこのハイレートスパッタ装置では磁場を 電 界 に 垂 直 に 印 加 し て 飛 躍 的 に ス パ ッ タ 電 流 を 増 加 さ せ て い る . こ の ハ イ レ ー ト ス パ ッ タ 法 は 近 年 用 い ら れ *鹿児島大学大学院電子工学専攻 るようになったものである.4)スパッタ電流が増加す るために(筆者らの場合では従来の数十倍)Gどの付 着率がよくなり筆者らのZVb3Ge作製に関しての問題 が解決されることが明らかになった.またスパッタ速 度が増加したためにスパッタ時間が従来の数時間から 数十分になり不純物の混入も少なくなった.以下筆者 らのハイレートスパッタ装置の製作を報告する. § 2 . ハ イ レ ー ト ス パ ッ タ リ ン グ の 原 理 第 1 図 は ペ ニ ン グ マ グ ネ ト ロ ン と 言 わ れ る も の で あ るが磁場をカソードと平行に印加すると電子は磁界か ら力を受けて円筒内でサイクロトロン運動を行なう. したがって磁界がない場合より電子のmeanfreepath が長くなりガス圧が低くてもガスのイオン効率は高く 大きなスパッタ電流がえられる.したがって付着速度 が高くなる. §3.スパッタリング装置 装置は次のようなものである.ターゲット支持台上 にターゲットを置く.80mmゆ∼100mm‘の円形ター ゲットが使用可能である.ターゲット支持台の下にフ ェライト系永久磁石(内径60mm‘,外径100mm’)をP
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ELECTRONPATHCATHODE
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Fig.lペニングマグネトロンである.磁界は紙面に 上 か ら 下 に 通 っ て る . 磁 界 と 巡 界 は 垂 直 に な っ て い て , 電 子 は サ イ ク ロ イ ド 連 動 す る .LENGTH(m、)
Fig.3水平磁界成分を高さのパラメータとして測定 した.図111の斜線部分は磁界の位憤を示す. タ ー ゲ ッ ト は 半 径 4 0 m m の も の を 使 っ て い る . 取りつけてある.ターゲット上,約20mmのところ に基板サポーターとヒーターがあり,これに基板を取 りつけ約1000.cまで熱することができる.アノード はゲッター作用により内壁に付詩した不純物ガスが放 砥による熱によって再放出しないように3mm,銅パ ○ 0 鹿 児 島 大 学 工 学 部 研 究 報 告 第 2 0 号 ( 1 9 7 8 ) Fig.2スパッタリングチャンバーの図である. A ) 熱 芯 対 B ) ヒ ー タ ー と 基 板 C ) 3 m m ‘ 冷 却 用 パ イ プ D ) タ ー ケ ッ ト E ) マ グ ネ ッ ト F ) ス パ ッ タ 電 線 G ) ク ー ラ ン ト 侍 06
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イブで水冷してある.このアノードは105mm1,高さ 4 0 m m の ス テ ン レ ス で あ る . 直 流 ス パ ッ タ 電 源 は セ レ ン整流器により金波整流した後,チョークコイルとコ ンデンサーによって平滑されたものである,雰囲気に は A γ ガ ス を ニ ー ド ル バ ル プ を 通 し て 導 入 す る . ベ ル ジャ内はl0-0Torr台まで真空度が上げられる.真空 計は熱陰極電離真空計とピラニ真空計を用いた. 第 3 図 は 磁 界 分 布 を 示 め し た も の で あ る . 磁 石 が ド ー ナ ツ 状 で あ る の で 磁 界 分 布 の 断 而 の 片 方 を 示 し た . タ ー ゲ ッ ト に 対 し て 水 平 成 分 の 磁 界 分 布 を と っ て い る . ス パ ッ タ 遮 圧 に よ る 電 界 は タ ー ゲ ッ ト に ほ ぼ 垂 直 に な る . ロ ー レ ン ツ カ を 利 用 す る た め に 磁 界 の 水 平 成分が重要となる.したがって水平成分をブロードに 分 布 さ せ る た め に 磁 石 の 中 心 に 軟 鉄 を 入 れ て い る . ま Fig.4ハイレートスパッタリング装侭の写真 ○ ロ ○ ○ ()0 Q 2 0 . 4
ARGONPRESSURE(ToRR)
Fig.5(b)スパツタ電流とAγ圧の図.スパッタ電圧 は350V一定である. 95 § 5 . ま と め このハイレートスパッタ装置を用いると従来の数十 倍の付着速度を得ることが出来た.これによって付若 た磁界分布が変化しないように装置材料として18−8 ステンレスを使用している. 5図(a)はアルゴン圧を一定としてスパッタ電圧を変 化 さ せ た 場 合 の 放 電 特 性 で あ る . 非 常 に 急 激 に ス パ ッ タ電流が増大するし,ターゲットの表面状態によって も変化するので正確に値を決めることは難しい.電圧 を上昇させていく場合と下降させていく場合とでは, 後者の方が1.5∼2.0倍もスパッタ電流が多い.第5図 (b)はスパッタ電圧を一定にしてAァ圧を変化させて いった場合である.0.1Torr以上では急激な変化は認 められない.スパッタ電流は0.1Torr以下で急激に変 化する.磁石をつけない場合ではAγ圧0.3Torr,ス パツタ電圧750Vで40mAであり,Aγ圧0.2Torrで は20mAのスパッタ電流しか流れない. (b)ZVb-Ge分布 次にスパッタされた粒子がどのような分布で基板上 に付着するかを調べた.第6図がその結果である.対 称的な分布をしている.またターゲット表面を見ると 磁界の水平成分が最大のところがよくスパッタされて いることが解かる. § 4 . ス パ ッ タ リ ン グ 特 性 (a)放電特性 ターゲットとして80mm妙のZVb板を用いた.第{弘0300350400
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21
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0 0 0 0 0 伯︵誤U−E○一○︶zoFくα衿之山UzoQ①○︲p之 雌 丸 。 坂 元 ・ 大 串 ・ 沼 田 : ハ イ レ ー ト ス パ ッ タ リ ン グ 装 置 の 製 作0005
︵気E︶﹄之山匡匡.◎の之胃匡山﹄﹄.Qの 0SPUTTERINGVOLTAGE(V)
Fig.5(a)スパッタ電流とスパッタ誼圧の図Aγ圧は 0.2Torr一定である. △ X SuBSTRATELOcATION(m、) Fig.6ハイレートスパツタによるjV6−Gcの付着分 布VS=350v
Y 、 1 ZO96 鹿 児 島 大 学 工 学 部 研 究 報 告 第 2 0 号 ( 1 9 7 8 ) 率の悪い物質でも容易にスパツタできる.また磁界の 水平成分のピーク点をターゲット内においておけば, ターゲット端からの異常放電がない.したがってシー ルドが不用である.しかしこのことはターケットが全