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学術講演会発表

5 月 26 日（火） 第 1 日目

■

B

会場

I-1

TEM

・ STEM

（13:00-17:10）

座長：山

s 順、柴田直哉

26pB04-O HAADF/LAADF 結像による W-dope NbSi2 の転位芯構造解析 ○阿部 英司1_{，前村 要介}1_{，萩原 幸司}2_{，中野 貴由}2_{，馬越 佑吉}2

（1_{東京大学 大学院 工学系研究科，}2_{大阪大学 大学院 工学研究科）}

26pB05-O 環状暗視野（ADF）像シミュレーション解析における Frozen phonon model ○吉村 巧己1_{，木本 浩司}2_{，石塚 和夫}2,3_{，松井 良夫}2

（1_{株式会社住化分析センター 筑波事業所，}2_{物質・材料研究機構 先端電子顕微鏡グル}

ープ，3_{HREM Research Inc.）}

26pB06-O 環状暗視野像による結晶構造解析の可能性 2

○木本 浩司1_{，解 栄軍}1_{，廣崎 尚登}1_{，吉村 巧己}2_{，石塚 和夫}3_{，松井 良夫}1

（1_{物質・材料研究機構，}2_{（株）住化分析センター，}3_{HREM Research Inc.）}

26pB07-O STEM imaging of a buried interface

○ Findlay Scott1_{，柴田 直哉}1,2_{，東 慎也}1_{，幾原 雄一}1,3,4

（1_{東京大学 大学院工学系研究科 総合研究機構，}2_{JST さきがけ，}3_{JFCC ナノ構造研究}

所，4_{東北大学 WPI-AIMR）}

26pB08-O TiO2（110）表面の HVEM ／ HAADF STEM 観察

○柴田 直哉1,2_{，後藤 明}1_{，溝口 照康}1_{，Findlay Scott}1_{，Choi S.Y.}1_{，山本 剛久}1,3_{，幾原 雄}

一1,3,4 （1_{東京大学 大学院工学系研究科 総合研究機構，}2_{JST さきがけ研究員，}3_{JFCC ナノ構} 造研究所，4_{東北大学 WPI-AIMR）} 休憩（10 分）

5

月

26

日

︵

火

︶

26pB09-O 高分解能 HAADF-STEM 観察における原子強度の試料さの影響 ○小高 康稔，山崎 貴司

（株式会社富士通研究所）

26pB10-O Cs 補正 STEM による Al-Ni-Co 理想準結晶中の点欠陥定量解析 ○阿部 英司1_{，関 岳人}1_{，Steve Pennycook}2

（1_{東京大学 大学院 工学系研究科，}2_{Oak Ridge National Laboratory）}

26pB11-O 高分解能 HAADF STEM 像に及ぼす色収差係数の影響とその測定方法 ○山崎 貴司，小高 康稔 （株式会社 富士通研究所） 26pB12-O 60kV 収差補正 TEM/STEM の開発及び性能評価 ○佐々木 健夫1_{，沢田 英敬}1_{，中道 智寛}1_{，細川 史生}1_{，應本 和也}1_{，富田 健}1_{，金山 俊克}1_， 近藤 行人1_{，木本 浩司}2_{，末永 和知}3 （1_{日本電子，}2_{物質・材料研究機構 ナノ計測センター 先端電子顕微鏡グループ，}3_産 業技術総合研究所 ナノチューブ応用研究センター カーボン計測評価チーム） 26pB13-O 収差補正走査透過電子顕微鏡における低加速観察の検討 ○中村 邦康，稲田 博実，菊池 秀樹，今野 充，鈴木 裕也 （株式会社 日立ハイテクノロジーズ ナノテクノロジー製品事業本部 那珂事業所） 26pB14-O Cold FEG 搭載収差補正機能付 STEM HD-2700 の低加速電圧への応用

○鈴木 裕也1_{，今野 充}1_{，中村 邦康}2_{，稲田 博実}2 （1_{株式会社日立ハイテクノロジーズ 那珂アプリケーションセンタ，}2_{株式会社日立ハイ} テクノロジーズ 先端解析システム第二設計部） 26pB15-O 収差補正 TEM 観察における正焦点位置の検討 ○山崎 順1_{，玉置 央和}2_{，田中 信夫}1 （1_{名古屋大学 エコトピア科学研究所，}2_{名古屋大学 工学研究科）} 26pB16-O Delta 型新球面収差補正装置 ○沢田 英敬1,2_{，佐々木 健夫}1,2_{，湯浅 修一}1_{，寺尾 光央}1_{，川添 宗之}1_{，細川 史生}1_，金山 俊克1,2_{，近藤 行人}1_{，木本 浩司}2,3_{，末永 和知}2,4

（1_{日本電子 EOD EMG，}2_{Japan Science and Technology Agency, CREST，}3_{物質・材料研}

究機構，4_{産業技術総合研究所）}

■

C

会場

M-1

半導体・デバイス

（13:00-17:25）

座長：大野 裕、大島義文

26pC02-O Comparison of electron holography and SCM methods for 2D dopant profiling

○ Shaislamov Ulugbek1,2_{，Yang Jun-Mo}1_{，Park Kyoung-Woo}1_{，Hyun MoonSeop}1_，Yoo

JungHo1_{，Yang Beelyong}2

（1_{Department of Information and Nanomaterials Engineering, Kumoh National Institute of}

Technology, Korea，2_{Measurement & Analysis Team, National Nanofab Center, Korea，} 3_{Measurement & Analysis Team, National Nanofab Center, Korea，}4_{Measurement &}

Analysis Team, National Nanofab Center, Korea，5_{Measurement & Analysis Team,}

National Nanofab Center, Korea，6_{Department of Information and Nanomaterials}

Engineering, Kumoh National Institute of Technology, Korea） 26pC03-O 電子ビームとピエゾ駆動微小金属プローブを用いた半導体物性測定

○平山 司，韓 明根，加藤 丈晴，吉田 竜視

（財団法人ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所）

26pC04-O CBED 法をもちいた格子湾曲を含む SiGe/Si 界面近傍の二次元格子歪み解析 ○濱邊 麻衣子1_{，齋藤 晃}2_{，田中 信夫}2 （1_{名古屋大学大学院 工学研究科，}2_{名古屋大学 エコトピア科学研究所）} 26pC05-O TEM-EELS による誘電関数の計測精度向上 ○阿南 義弘1_{，高口 雅成}1_{，朝山 匡一郎}2_{，木本 浩司}3_{，松井 良夫}3 （1_{（株）日立製作所 中央研究所，}2_{（株）ルネサステクノロジ，}3_{（独）物質・材料研究} 機構）

26pC06-O Sb ドープ Ni-FUSI ／ SiO2 界面の EELS による状態分析 ○川崎 直彦1_{，杉山 直之}1_{，倉田 博基}2_{，磯田 正二}2

（1_{（株）東レリサーチセンター 形態科学研究部，}2_{京都大学 化学研究所）}

26pC07-O （指） Structural Properties and Growth Behavior of Gallium Antimonide (GaSb) Grown by （20） Molecular Beam Epitaxy

○ KIM Y.H.1_{， NOH Y.K.}2_{，KIM M.D.} 2

（1_{Korea Research Institute of Standards and Science, Republic of Korea，}2_{Department of}

Physics, Chungnam National University, Republic of Korea）

26pC08-O （指） Effect of AlGaAs buffer layer on GaN microstructure grown on GaAs (001) substrate by

（20） MOVPE

○ Parinyataramas Jamreonta1_{，Sanorpim Sakuntam}1,2_{，Onabe Kentaro} 3

（1_{Nanoscience and Technology, Graduate School, Chulalongkorn University, Thailand.，} 2_{Department of Physics, Faculty of Science, Chulalongkorn University, Thailand.，} 3_{Department of Advanced Materials Science, The University of Tokyo, Japan.）}

休憩（10 分）

26pC09-O （指） Microstructural investigation of c-InN films grown on GaAs (001) substrates under In- （20） and N-rich growth conditions

○ Jantawongrit Papaporn1_{，Sanorpim Sakuntam}1_{，Thanachayanont Chanchana} 2_，

Nakamura Teruyuki3_{，Katayama Ryuji}3_{，Onabe Kentaro}3

（1_{Department of Physics, Faculty of Science, Chulalongkorn University, Thailand，} 2_{National Metal and Materials Technology Center, Thailand，}3_{Department of Advanced}

26pC10-O 収差補正電子顕微鏡によるボロンドーパントの可視化と PMOS の不良解析 ○朝山 匡一郎1_{，橋川 直人}1_{，水野 貴之}1_{，鈴木 裕也}2_{，今野 充}2_{，矢口 紀恵}2 （1_{（株）ルネサステクノロジ，}2_{（株）日立ハイテクノロジーズ）} 26pC11-O ナノビーム電子回折法を用いた半導体デバイスの微小領域歪み評価の検討 ○松本 弘昭1_{，佐藤 岳志}1_{，佐藤 高広}1_{，谷口 佳史}2 （1_{（株）日立ハイテクノロジーズ 那珂事業所 那珂アプリケーションセンタ，}2_（株） 日立ハイテクノロジーズ 那珂事業所 先端解析システム第二設計部） 26pC12-O SiC 半導体用低抵抗電極材における界面構造 ○着本 享1_{，斎藤 光浩}1_{，王 中長}1_{，溝口 照康}2_{，山本 剛久}3_{，幾原 雄一}1,2 （1_{東北大学 原子分子材料科学高等研究機構，}2_{東京大学 大学院 工学系研究科 総合} 研究機構，3_{東京大学 大学院 新領域創成科学研究科）} 26pC13-O 電子線ホログラフィーによる InGaN/GaN 量子井戸構造中のピエゾ電場評価 ○田中 成泰1_{，出口 将士}2_{，丹司 敬義}1 （1_{名古屋大学 エコトピア科学研究所，}2_{名古屋大学 大学院工学研究科）}

26pC14-O TlGaInAsN/TlInP 量子井戸中への lateral composition modulation の自発的形成 ○石丸 学1_{，田中 裕輔}1_{，長谷川 繁彦}1_{，朝日 一}1_{，佐藤 和久}2_{，今野 豊彦}2

（1_{大阪大学 産業科学研究所，}2_{東北大学 金属材料研究所）}

26pC15-O Opto-TEM 法による w-ZnO 単結晶中の転位の局在電子状態解析 ○大野 裕，太子 敏則，米永 一郎 （東北大学 金属材料研究所） 26pC16-O 4H-SiC ウエハ中の貫通螺旋転位の透過型電子顕微鏡による解析 ○松畑 洋文1_{，奥山 貴樹}2_{，高橋  徹夫}1_{，滝沢 武男}2 （1_{産業技術総合研究所 エネルギー半導体エレクトロニクス研究ラボ，}2_{日本大学 文理} 学部 物理学科）

■

D

会場

I-3

光学顕微鏡・各種顕微法

（13:00-15:40）

座長：富取正彦、山下典理男

26pD05-O 生体硬組織観観察型 3 次元内部構造顕微鏡の開発 ○横田 秀夫1_{，古城 直道}2_{，藤崎 和弘}3_{，中村 佐紀子}1_{，山形 豊}1_{，樋口 俊郎}4 （1_{理化学研究所，}2_{関西大学，}3_{北海道大学，}4_{東京大学）} 休憩（10 分） 26pD06-O FM-AFM を用いた溶液中高分解能観察 ○鈴木 克之1_{，北村 真一}1_{，田中 秀吉}2_{，小林 圭}3_{，山田 啓文}3 （1_{日本電子（株） 開発本部 1G，}2_{（独）情報通信研究機構，}3_{京都大学 大学院工学} 研究科） 26pD07-O SEM-SPM を用いた Pt 系探針と融解 Ge 粒子の接触・切断過程のその場観察 ○富取 正彦1_{，大石 直樹}1_{，笹原 亮}1_{，谷 正安}2_{，新井 豊子}3 （1_{北陸先端科学技術大学院大学 マテリアルサイエンス研究科，}2_{フジ・インバック，} 3_{金沢大学 自然科学研究科）} 26pD08-O 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形を加えた鉄鋼の原子空孔分布計測 ○藤浪 真紀1_{，神野 智史}1_{，岡 壽崇}1_{，河島 祐二}1_{，鳴海 貴允}2_{，上殿 明良}2_{，大島 永康}3_， 大平 俊行3_{，鈴木 良一}3_{，鈴木 茂}4 （1_{千葉大学 大学院 工学研究科，}2_{筑波大学 数理科学研究科，}3_{産業技術総合研究所，} 4_{東北大学 多元物質科学研究所）} 26pD09-O 透過型陽電子顕微鏡開発における像改質のための一次ビームの改善とその評価 ○藤浪 真紀1_{，神野 智史}1_{，岡 壽崇}1_{，村谷 孝博}1_{，大塚 岳志}2_{，井上 雅夫}2_{，松谷 幸}2_， 栗原 俊一3 （1_{千葉大学 大学院工学研究科，}2_{日本電子，}3_{高エネルギー加速器研究機構）} 26pD10-O 透過型陽電子顕微鏡による透過像及び回折図形 ○大塚 岳志1_{，井上 雅夫}1_{，松谷 幸}1_{，栗原 俊一}2_{，堂山 昌男}3_{，岡 壽崇}4_{，神野 智史}4_， 藤浪 真紀4 （1_{日本電子，}2_{高エネ研，}3_{帝京科学大学，}4_{千葉大院工）}

■

E

会場

M-7

磁性材料

（13:00-15:00）

座長：佐藤和久、森 茂生

26pE03-O スピネル型磁性酸化物 Co（Fe,Mn）2O4 の磁気特性と微細構造 ○森 茂生1_{，吉留 和宏}1_{，堀部 陽一}2 （1_{大阪府立大学 大学院工学研究科 ，}2_{ラトガース大学 物理学科）} 26pE04-O マンガン酸化物の反強磁性相境界に現れるツイード構造の観察 ○長尾 全寛1_{，浅香 透}1_{，赤星 大介}2_{，原 徹}1_{，木本 浩司}1_{，桑原 英樹}2_{，松井 良夫}1 （1_{物質・材料研究機構 超高圧電顕共用ステーション，}2_{上智大学 理工学部 物理学科）} 26pE05-O マルチフェロイック六方晶フェライトの構造変調 ○浅香 透1_{，于 秀珍}2_{，平岡 裕治}3_{，木本 浩司}2_{，平山 司}2_{，木村 剛}3_{，松井 良夫}2 （1_{ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所，}2_{物質・材料研究機構 ナノ計測セ} ンター，3_{大阪大学大学院 基礎工学研究科）} 26pE06-O L10型 FePd 合金ナノ粒子の極微構造及び立体形状観察 ○佐藤 和久1_{，青柳 健大}1_{，今野 豊彦}1_{，弘津 禎彦}2 （1_{東北大学 金属材料研究所，}2_{大阪大学 産業科学研究所）} 26pE07-O ローレンツ電子顕微鏡法による強磁性ナノワイヤのスピン構造解析 ○長井 拓郎1_{，山田 浩之}2_{，甲野藤 真}2_{，有馬 孝尚}3_{，川崎 雅司}4_{，木本 浩司}1,5_{，松井 良} 夫5_{，竹口 雅樹}1,5_{，十倉 好紀}6 （1_{物質・材料研究機構 電子顕微鏡クラスター，}2_{産業技術総合研究所 エレクトロニク} ス研究部門，3_{東北大学 多元物質科学研究所，}4_{東北大学 WPI 材料機構，}5_{物質・材料} 研究機構 先端電子顕微鏡グループ，6_{東京大学大学院 工学系研究科）} 26pE08-O 磁場印加機構を持ったローレンツ観察用 TEM ホルダーの試作 ○徳田 良平，浜田 弘一，笹川 芳晃，有田 正志，高橋 庸夫 （北海道大学 大学院 情報科学研究科）

T-3

チュートリアル「材料解析のための分析電子顕微鏡法の基礎」

（15:10-18:10）

座長：今野豊彦

5 月 27 日（水） 第 2 日目

■

A

会場

I-1

TEM

・ STEM

（9:00-11:55）

座長：齋藤 晃、沢田英敬

（1_{日本電子 EOD EMG，}2_{Japan Science and Technology Agency, CREST，}3_{東京工業大}

学大学院理工学研究科，4_{東京工業大学大学院総合理工学研究科）} 27aA04-O 分解能 50pm の超高分解能顕微鏡の開発 ○近藤 行人1_{，沢田 英敬}1_{，細川 史生}1_{，富田 健}1_{，金山 俊克}1_{，大島 義文}2_{，田中 崇之}2_， 山本 直記2_{，谷城 康眞}2_{，高柳 邦夫}2 （1_{日本電子株式会社電子光学機器本部，}2_{東京工業大学 大学院 理工学研究科）} 27aA05-O 収差補正電子顕微鏡 R005 によるグラフェンの高分解能 TEM 観察 ○田中 崇之1,3_{，安部 悠介}1_{，沢田 英敬}2,3_{，奥西 栄治}2,3_{，近藤 行人}2,3_{，谷城 康眞}1,3_，高柳 邦夫1,3 （1_{東京工業大学 大学院理工学研究科 物性物理学専攻，}2_{日本電子，}3_JST-CREST） 27aA06-O 暗視野結像法による格子分解能の追求 ○明石 哲也1_{，原田 研}2_{，松井 功}3_{，富田 正弘}1_{，外村 彰}2,3 （1_{株式会社 日立ハイテクノロジーズ 先端解析システム第二設計部，}2_{株式会社 日立} 製作所 基礎研究所，3_{独立行政法人 理化学研究所）} 休憩（10 分） 27aA07-O 収差補正収束電子プローブをもちいた菊池バンドのプローブ位置依存性の観察 ○齋藤 晃1_{，多々良 美秀}2_{，田中 信夫}1 （1_{名古屋大学 エコトピア科学研究所 ナノマテリアル科学研究部門，}2_{名古屋大学 工} 学研究科 結晶材料工学専攻） 27aA08-O 分解能 50pm 顕微鏡用高安定 300kV 冷陰極電子銃の開発 ○富田 健1_{，谷城 康真}2_{，細川 史生}1_{，近藤 行人}1_{，金山 俊克}1_{，大島 義文}2_{，田中 崇之}2_， 山本 直樹2_{，沢田 英敬}1_{，高柳 邦夫}2 （1_{日本電子株式会社，}2_{東工大 大学院 理工学研究科）}

5

月

27

日

︵

水

︶

27aA09-O 磁場界浸型 C-FE 電子銃の開発（1）機構設計 ○大西 崇1_{，田村 圭司}1_{，渡辺 俊一}1_{，大江 俊美}3_{，市橋 幹雄}2 （1_{株式会社日立ハイテクノロジーズ，}2_{名古屋大学 エコトピア科学研究所，}3_名城大学 電気電子工学科） 27aA10-O 磁場界浸型 C-FE 電子銃の開発（2）理論解析 ○田村 圭司1_{，大西 崇}1_{，渡辺 俊一}1_{，市橋 幹雄}2 （1_{株式会社日立ハイテクノロジーズ，}2_{名古屋大学 エコトピア科学研究所）} 27aA11-O その場観察 TEM における局所領域の圧力測定技術の開発 ○渡部 明1_{，上野 武夫}1_{，矢口 紀恵}1_{，木股 雅章}2_{，吉田 昌史}3 （1_{（株）日立ハイテクノロジーズ，}2_{立命館大学理工学部，}3_{コーデンシ（株））}

■

B

会場

B-2

生体構造解析

（9:00-11:55）

座長：光岡 薫、佐藤主税

27aB06-O Structural analysis of Arabidopsis Mca2 using Zernike phase-contrast images ○重松 秀樹1,6_{，飯田 和子}2_{，中野 正貴}3_{，飯田 秀利}3,4_{，永山 國昭}1,5,6

（1_{岡崎統合バイオサイエンスセンター ナノ形態生理，}2_{都臨床研 細胞膜情報伝達 2，} 3_{東京学芸大学 生命科学，}4_{岡崎統合バイオサイエンスセンター 生命環境，}5_総研大

生理科学，6_{生理学研究所 ナノ形態生理）}

27aB07-O 脳由来神経栄養因子とアストログリア細胞の電子線構造解析 ○河野 朋子，湯浅 茂樹，諸根 信弘 （国立精神・神経センター 神経研究所） 27aB08-O 分子モーターキネシンのヌクレオチド交換機構の構造モデル ○仁田 亮，廣川 信隆 （東京大学 医学部 細胞生物学・解剖学） 27aB09-O 細胞膜につくられたコンパートメント構造：トモグラフィーと画像認識技術による可視化 ○木森 義隆1,2_{，諸根 信弘}1 （1_{国立精神・神経センター 神経研究所，}2_{（財）医療機器センター）} 27aB10-O ミクロソーム型プロスタグランジン E 合成酵素 1 の電子線結晶構造解析

○光岡 薫1_{，刑部 伸彦}2_{，Caroline Jegerschold}3_{，Ralf Morgenstern}3_，Per-Johan

Jakobsson3_{，Hans Hebert}3

（1_{産総研バイオメディシナル情報研究センター，}2_{バイオ情報産業化コンソーシアム，} 3_{Karolinska Institutet）} 27aB11-O ヒト赤血球膜蛋白質バンド 3 膜貫通ドメインの電子線結晶構造解析 ○山口 知宏1_{，廣明 洋子}2_{，池田 洋平}1_{，阿部 義人}3_{，康 東天}4_{，濱崎 直孝}5_{，藤吉 好則}2_， 平井 照久1 （1_{理化学研究所 播磨研究所 構造生理学，}2_{京都大学大学院 理学研究科 生物物理学，} 3_{九州大学大学院 薬学研究科 免疫薬品学，}4_{九州大学大学院 医学研究科 臨床検査} 医学，5_{長崎国際大学 薬学部薬学科 臨床検査学）}

■

C

会場

S-4

シンポジウム「材料微細構造解析機器としての SEM」

（9:00-11:50）

座長：桑野範之、板倉 賢

27aC05-S 低加速 SEM における In-lens 検出器と Out-lens 検出器の電子検出特性 （15） ○熊谷 和博1,2_{，関口 隆史}1,2

休憩（10 分） 27aC06-S （指） 鉄鋼微細組織解析における反射電子像測定条件の最適化 （15） ○佐藤  馨1_{，名越 正泰}1_{，山田 克美}1_{，立花 繁明}2 （1_{JFE スチール研，}2_{SII ナノテクノロジー）} 27aC07-S （指） ナノ材料の SEM 像コントラストとその理論的解釈 （20） ○鈴木 誠 （（株）日立ハイテクノロジーズ） 27aC08-S 帯電相殺機能を用いて取得した SEM 像情報 （15） ○立花 繁明1_{，高橋 昭治}2 （1_{エスアイアイ・ナノテクノロジー（株），}2_{株式会社リコー）} 27aC09-S 走査電子顕微鏡で見たシリコン系半導体薄膜の微細構造 （15） ○板倉 賢1_{，桑野 範之}2_{，立花 繁明}3_{，佐藤 馨}4 （1_{九州大学 大学院総合理工学研究院，}2_{九州大学 産学連携センター，}3_{エスアイア} イ・ナノテクノロジー株式会社，4_{JFE スチール研）}

27aC10-S （指） 材料微細構造解析機器としての SEM: 「SEM 解析の将来」についての討論 （10） ○桑野 範之1_{，板倉 賢}2_{，佐藤 馨}3 （1_{九州大学 産学連携センター，}2_{九州大学 総理工，}3_{JFE スチール研）}

■

D

会場

M-3

セラミック・鉱物 / M-6

金属材料

（9:00-12:00）

座長：村上恭和、阿部英司

27aD04-O HREM を用いた La2/3-xLi3xTiO3の欠陥構造解析

○鶴井 隆雄1_{，勝又 哲裕}2_{，稲熊 宜之}2

（1_{東北大学 金属材料研究所，}2_{学習院大学 理学部）}

27aD05-O （指） Microstructure and Properties of Ceramic Foam Produced via Polymeric Foam （20） Replication Method

○ Muhamad Nor Mohd Al Amin1_{，Akil Hazizan Md.}2_{，Ahmad Zainal Arifin}2

（1_{Department of Chemical Sciences, Faculty of Science and Technology, Universiti}

Malaysia Terengganu, Malaysia，2_{School of Materials and Mineral Resources Engineering,}

27aD06-O 低温における転位ループの一次元移動過程の TEM その場観察 ○荒河 一渡，森 博太郎 （大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター） 休憩（10 分） 27aD07-O Ni51Fe22Ga27強磁性形状記憶合金の磁気微細構造解析 ○村上 恭和1_{，進藤 大輔}1_{，貝沼 亮介}1_{，及川 勝成}2_{，石田 清仁}2 （1_{東北大学 多元物質科学研究所，}2_{東北大学 大学院工学研究科）} 27aD08-O STEM トモグラフィーを用いた鉄鋼材料中の転位組織の定量評価 ○光原 昌寿1_{，波多 聰}1_{，池田 賢一}1_{，中島 英治}1_{，田中 將己}2_{，東田 賢二}2 （1_{九州大学 大学院 総合理工学研究院 融合創造理工学部門，}2_{九州大学 大学院 工} 学研究院 材料工学部門） 27aD09-O FIB マイクロサンプリング法を活用した二面結晶方位解析 ○杉山 昌章1_{，池松 陽一}1_{，本田 和彦}2 （1_{新日本製鐵，}2_{新日本製鐵株式会社 君津技術研究所）} 27aD10-O 収束電子回折法による Al72Ni20Co8デカゴナル準結晶の構造精密化 2 ○村上 大樹1_{，齋藤 晃}2_{，田中 信夫}2_{，蔡 安邦}3 （1_{名古屋大学 工学研究科 結晶材料工学専攻，}2_{名古屋大学 エコトピア科学研究所，} 3_{東北大学 多元物質科学研究所）} 27aD11-O β− Ti 合金におけるω相の電子線トモグラフィーよる 3 次元解析 ○西田 稔，富久田 晃司，光原 昌寿，波多 聰，板倉 賢，中島 英治 （九州大学 大学院 総合理工学研究院 融合創造理工学部門）

■

E

会場

I-5

トモグラフィ

（9:00-11:55）

座長：金子賢治、馬場則男

27aE05-O TEM 暗視野トモグラフィーにおける 3 次元再構成精度に関する研究 ○木村 耕輔1_{，吉永 憲人}1_{，波多 聰}2_{，松村 晶}1,3 （1_{九州大学 工学府 エネルギー量子工学専攻，}2_{九州大学 総合理工学研究院 融合創} 造理工学部門，3_{九州大学 工学研究院 エネルギー量子工学部門）} 27aE06-O 半導体試料の電子線トモグラフィ法による解析 ○完山 正林1_{，関口 浩美}1_{，青山 一弘}1_{，金子 賢治}2 （1_{日本エフイー・アイ（株） ナノポートジャパン アプリケーションラボラトリー，} 2_{九州大学 大学院工学研究院材料工学部門）} 休憩（10 分） 27aE07-O 電子線トモグラフィー法による白金触媒の高分解能三次元再構成 ○佐藤 高広，今野 充，長久保 康平，渡部 明，小笠原 光雄 （株式会社 日立ハイテクノロジーズ ナノテクノロジー製品事業本部那珂事業所） 27aE08-O GdBCO-BZO 超電導線材中のピン止めセンターの三次元可視化 ○古屋 和基1,3_{，山田 和広}2,3_{，金子 賢治}2,3_{，加藤 丈晴}3,4_{，完山 正林}5_{，松下 照男}6 （1_{九州大学 工学府 材料物性工学専攻，}2_{九州大学大学院 工学研究院 材料工学部門，} 3 _JST-CREST，4_{（財）ファイセラミックスセンター，}5_{日本エフイー・アイ（株），}6_九州 工業大学工学部） 27aE09-O アークプラズマ法により生成した TiN 系複合ナノ粒子の構造解析 ○金子 賢治1_{，北脇 高太郎}2_{，奥山 秀男}3_{，宇田 雅広}3_{，目 義雄}3 （1_{九州大学大学院 工学研究院 材料工学部門，}2_{九州大学大学院 工学府材料 物性工} 学専攻，3_{物質材料研究機構）} 27aE10-O 3MV 超高圧電子顕微鏡におけるトモグラフィーシリーズ写真の遠隔自動撮影支援システム ○吉田 清和1_{，西 竜治}1_{，森 博太郎}1_{，岩野 恵}2_{，坂根 栄作}3_{，古津 忠夫}4_{，茂垣 宏明}4_， 小沢 賢4 （1_{大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター，}2_{奈良先端科学技術大学院大学 バイオサイエ} ンス研究科，3_{大阪大学 サイバーメディアセンター，}4_{（株）日立ハイテクノロジーズ）} 27aE11-O 透過電子顕微鏡用の高感度カメラの応用

○ MANIETTE Yves1_{，土屋 直人}1_{，TIETZ Hans}2

■

A

会場

I-1

TEM

・ STEM / I-4

各種位相法

（13:00-15:40）

座長：山本和生、渡辺精一

27pA01-O ガス雰囲気その場観察 TEM 法による Au/TiO2 触媒機構の研究

○田中 崇之1,3_{，佐野 健太郎}1_{，安藤 雅文}1_{，沢田 秀敬}2,3_{，細川 史生}2,3_{，奥西 英治}2,3_，近 藤 行人2,3_{，谷城 康眞}1,3_{，高柳 邦夫}1,3 （1_{東京工業大学 大学院理工学研究科 物性物理学専攻，}2_{日本電子，}3_JST-CREST） 27pA02-O レーザー誘起表面ナノ構造の Laser-HVEM 内その場観察 ○渡辺 精一1_{，萱島 知}1_{，谷津 茂男}1_{，川合 将義}2 （1_{北大 エネマテ HVEM，}2_KEK）

27pA03-O In-situ HRTEM による極薄 Si 酸化膜上での Ge ナノドットの歪み変化と成長に関する研究 ○趙 星彪1,2_{，藤林 裕明}3_{，田中 信夫}1,3 （1_{名古屋大学 エコトピア科学研究所，}2_CREST-JST，3_{名古屋大学 大学院 工学研究} 科） 27pA04-O ナノメカニクス接合強度解析ホルダーの開発とその応用 ○柴山 環樹1_{，松尾 元一郎}2_{，浜田 弘一}1_{，谷津 茂男}1_{，渡辺 精一}1 （1_{北海道大学 エネルギー変換マテリアル研究センター，}2_{北海道大学大学院 工学研究} 科）

27pA05-O Numerical correction of fringe artifacts in Zernike phase contrast images ○ Danev Radostin，Nagayama Kuniaki

（自然科学研究機構 岡崎統合バイオサイエンスセンター ナノ形態生理） 27pA06-O 位相差法を用いた透過電子顕微鏡による活きた生体高分子の観察へ向けて ○稲吉 悠里1_{，岡部 経弘}1_{，箕田 弘喜}1,2,3 （1_{東京農工大学 工学府 物理システム工学専攻，}2_JST，3_CREST） 休憩（10 分） 27pA07-O 電子回折顕微法における再生波動場の精度及び分解能向上への取り組み ○森下 茂幸1_{，山崎 順}2_{，加藤 丈晴}3_{，田中 信夫}2 （1_{名古屋大学 工学研究科，}2_{名古屋大学 エコトピア科学研究所，}3_{（財）ファインセ} ラミックスセンター ナノ構造研究所） 27pA08-O アハラーノフ・ボーム（AB）効果位相子の作製法と性能評価 ○永山 國昭1_{，大河原 浩}2_{，Danev Radostin}1_{，伊藤 俊之}3_{，喜多山 篤}3 （1_{自然科学研究機構 岡崎統合バイオサイエンスセンター，}2_{生理学研究所，}3_テラベー ス株式会社） 27pA09-O 低加速電子回折パターンの検出と回折顕微法への適用 ○土橋 高志1_{，上村 理}1,2_{，川原 宏太}2_{，阿部 昂}2_{，前原 洋祐}2_{，郷原 一寿}2 （1_{株式会社 日立製作所 中央研究所，}2_{北海道大学大学院 工学研究科）} 27pA10-O FIB-CVD を用いたナノ電子線バイプリズムの作製と評価 ○山本 和生1_{，中松 健一郎}2_{，松井 真二}2_{，平山 司}1 （1_{財団法人 ファインセラミックスセンター，}2_{兵庫県立大学）}

■

B

会場

B-2

生体構造解析 / B-3

細胞・組織 / B-5

植物

（13:00-16:00）

座長：片山栄作、峰雪芳宣

27pB03-O Zernike 位相差電子顕微鏡法の CEMOVIS 試料への応用

○福田 善之1_{，深澤 有吾}2_{，Danev Radostin}1_{，松井 広}2_{，重本 隆一}2_{，永山 國昭}1

（1_{自然科学研究機構 岡崎統合バイオサイエンスセンター ナノ形態生理研究部門，}2_自

然科学研究機構 生理学研究所 脳形態解析研究部門） 27pB04-O Phase contrast cryotomography of viruses

○ Danev Radostin，Nagayama Kuniaki

（自然科学研究機構 岡崎統合バイオサイエンスセンター ナノ形態生理）

27pB05-O アクトミオシン滑り運動中のミオシン頭部アナログのレプリカ画像からの 3 次元再構成 ○片山 栄作1_{，木森 義隆}2_{，馬場 則男}3

（1_{東京大学医科学研究所 分子構造解析分野，}2_{国立精神・神経センター，}3_{工学院大学 情}

報学部）

27pB06-O Live Cell Imaging と急速凍結 Deep-etch 電子顕微鏡法による細胞膜の同一箇所観察 ○石田 雄一郎1_{，臼倉 治郎}2 （1_{名古屋大学大学院 工学研究科 マテリアル理工学専攻，}2_{名古屋大学エコトピア科学} 研究所） 休憩（10 分） 27pB07-O X 線 CT を使った植物種子内部構造解析の可能性の検討 ○峰雪 芳宣1_{，早見 実人}1_{，唐原 一郎}2_{，玉置 大介}2_{，竹内 美由紀}1_{，佐藤 繭子}3_{，豊岡 公} 徳3_{，上杉 健太朗}4_{，山内 大輔}1 （1_{兵庫県立大学 大学院 生命理学研究科，}2_{富山大学 大学院 理工学研究科，}3_理化 学研究所 植物センター，4_{高輝度光科学研究センター）}

27pB08-O （指） Receptor mediated endocytosis process of vitellogenin in the ovary of Amsacta albistriga. （20） ○Chandrasekar Raman1_{，HJ Kim}2_{，Jae Seo Sook}1_{，Krishnan M.}2_{，Kobayashi M.}3_{，Paulo M.A. Luiz} 4

（1_{Division of Applied Life Sciences, Geyongsang National University, South Korea，} 2_{Department of Environmental Biotechnology, Bharathidasan University, India，} 3_{Laboratory of Biodynamics,Graduate School of Bioagricultural Sciences, Nagoya}

University, Japan.，4_{Instituto de Biociencias, Universidade de San Paulo, Brazil.）}

27pB09-O 透過電子顕微鏡による ATP 誘起のミオシンヘッド運動の観察

○稲吉 悠里1_{，箕田 弘喜}1_{，杉 晴夫}2_{，湯本 史明}3_{，宮川 拓也}3_{，宮内 裕美子}3_{，田野倉 優}3_，

秋元 剛2_{，小林 孝和}4_{，茶園 茂}5

（1_{東京農工大学 工学府 物理システム工学専攻，}2_{帝京大学，}3_{東京大学，}4_{芝浦工大，} 5_{日本大学）}

27pB10-O 加齢マウス副腎細胞の糸粒体内 DNA 合成に関する電顕ラジオオートグラフィー ○永田 哲士 （信州大学 医学部 解剖、信州医療福祉専門学校 解剖） 27pB11-O 凍結割断レプリカ標識法で観察した台形体核グルタミン酸作動性シナプスの発達過程 ○釜澤 尚美，重本 隆一 （自然科学研究機構 生理学研究所 脳形態解析研究部門）

■

C

会場

WS-1

冠ワークショップ「財団法人 風戸研究奨励会 受賞講演会」

（一般公開）

（13:30-16:40）

座長：廣川信隆

座長：市野瀬英喜

座長：山科正平

座長：弘津禎彦

座長：磯田正二

■

D

会場

M-6

金属材料

（13:00-16:05）

座長：助台榮一、石丸 学

27pD03-O Ti/TiC 複合材料中の TiC 粒子の微細組織変化に及ぼす熱処理の影響 ○中尾 和幸，津田 大，森 茂生 （大阪府立大学大学院 工学研究科 物質・化学系専攻） 27pD04-O STEM-EDS 法による複層鋼板界面組織観察 ○林 泰輔1_{，阿部 英司}1_{，原 徹}2_{，幾原 雄一}3 （1_{東京大学 工学系研究科 マテリアル工学専攻 阿部研究室，}2_{物質材料研究機構，} 3_{東京大学 工学系研究科 総合研究機構）} 27pD05-O Ti6Al4V 歯科用インプラントの陽極酸化による表面処理 ○長岡 紀幸1_{，山上 哲よし}2_{，吉田 靖弘}1_{，鈴木 一臣}1 （1_{岡山大学 大学院 医歯薬学総合研究科，}2_{京都インプラント研究所）} 休憩（10 分）

27pD06-O （指） Transmission electron microscopy of cast metals: case studies in Thailand

（20） ○ Chairuangsri Torranin1_{，Wiengmoon Amporn}2_{，Nisarattanaporn Ekkasit}3_，Pearce

John4_{，Shiojiri Makato}5_{，Isoda Seiji}6

（1_{Faculty of Science, Chiang Mai University，}2_{Faculty of Science, Naresuan University，} 3_{Faculty of Engineering, Chulalongkorn University，}4_{MTEC, Thailand，}5_{Kyoto Institute of}

Technology，6_{ICR, Kyoto University, Japan）}

27pD07-O （指） Electron microscopy of carbides in high chromium white cast iron

（20） ○ Wiengmoon Amporn1_{，Chairuangsri Torranin}2_{，Thomas Harry Pearce John} 3

（1_{Department of Physics, Faculty of Science, Naresuan University, Thailand，}2_Department

of Industrial Chemistry, Faculty of Science, Chiang Mai University, Thailand，3_National

Metals & Materials Technology Centre, Thailand） 27pD08-O In situ TEM observation of decomposition of sapphire

○陳 春林，古庄 公寿，永瀬 丈嗣，森 博太郎 （大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター） 27pD09-O C16-Zr2Ni における MeV 電子照射誘起アモルファス化と結晶化 ○永瀬 丈嗣1,2_{，森 博太郎}1_{，馬越 佑吉}3 （1_{大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター，}2_{大阪大学 大学院 工学研究科 マテリアル} 生産科学専攻，3_{（独）物質・材料研究機構）}

27pD10-O Ti-15Mo 合金中に冷却により生成する非熱的ω相の生成・消滅について ○助台 榮一1_{，松本 創}2

（1_{岡山理科大学 工学部 機械システム工学科，}2_{三菱化学）}

27pD11-O Mg-Zn-Y 長周期合金におけるキンク変形組織の TEM/STEM 観察 ○成田 渉1_{，阿部 英司}2_{，山崎 倫昭}3_{，河村 能人}3 （1_{東京大学大学院 工学系研究科 マテリアル工学専攻，}2_{東京大学工学部，}3_熊本大学 工学部）

■

E

会場

T-2

チュートリアル

「CEMOVIS ：凍結試料を用いたクライオ電子顕微鏡による生体構造解析」

（13:00-16:00）

座長：宮澤淳夫、諸根信弘

（40） ○ Gnaegi Helmut1_{，Peters P.} 2_{，Pierson J.}2

（1_{Diatome Ltd,，}2_{National Cancer Institute）}

27pE04-T （指） 凍結試料の TEM 観察 （40） ○青山 一弘 （日本エフイー・アイ（株） アプリケーションラボラトリー） 27pE05-T （指） CEMOVIS の評価とクライオ電子線トモグラフィー （40） ○岩崎 憲治1,2_{，宮崎 直幸}1,2_{，岡田（岸本） 愛子}1,2_{，伊藤 喜子}3 （1_{大阪大学 蛋白質研究所，}2_CREST，3_{ライカマイクロシステムズ）} 27pE06-T （指） まとめ （10） ○諸根 信弘 （国立精神・神経センター）

5 月 28 日（木） 第 3 日目

■

A

会場

I-6

分析電顕

（8:45-11:55）

座長：武藤俊介、山本直紀

28aA04-O 高空間分解カソードルミネッセンス測定による InGaN 量子井戸構造の“V-defect”の評価 ○村上 昌孝，吉川 正信 （東レリサーチセンター） 28aA05-O 分光測光型カソードルミネセンス顕微鏡による Deep UV イメージング ○西城 浩志1_{，鈴木 康友}2_{，塩尻 詢}3 （1_{近畿大学 生物理工学部 電子システム情報工学科，}2_{近畿大学大学院 生物理工学研} 究科 電子システム情報工学専攻，3_{京都工芸繊維大学 名誉教授）}

28aA06-O TEM-CL 法による Smith-Purcell 放射の研究 ○山本 直紀1,2_{，加藤 雅博}1 （1_{東京工業大学 理工学研究科，}2_JST-CREST） 休憩（10 分） 28aA07-O 収束電子回折法による強誘電体の静電ポテンシャル分布解析 ○津田 健治，田中 通義 （東北大学 多元物質科学研究所） 28aA08-O プリセッション電子回折を用いた方位と位相マッピング ○ MANIETTE Yves，土屋 直人 （アド・サイエンス）

28aA09-O 層状 La2CuSnO6薄膜のサイト分解能 O-K 殻 ELNES の解析

○治田 充貴，倉田 博基，小松 寛，島川 祐一，磯田 正二 （京都大学 化学研究所）

28aA10-O CFE 電子銃を搭載した球面収差補正装置付 STEM による STEM-EELS 材料解析

○稲田 博実1_{，中村 邦康}1_{，今野 充}1_{，矢口 紀恵}1_{，Zhu Yimei}2_{，Wall Joseph}2_{，Su Dong}2

（1_{（株）日立ハイテクノロジーズ ナノテクノロジー製品事業本部，}2_Brookhaven

National Laboratory, Upton NY USA）

5

月

28

日

︵

木

︶

28aA11-O STEM-EELS/SI への多変量解析の応用 ○武藤 俊介 （名古屋大学 大学院工学研究科） 28aA12-O 金属表面のナノ構造からのプラズモン発光 ○鈴木 喬博1_{，山本 直紀}1,2 （1_{東京工業大学 理工学研究科 物性物理学専攻，}2_JST-CREST）

■

B

会場

S-5

シンポジウム「微生物機能の多様性解析」

（9:00-10:20）

座長：山田作夫

B-1

動的バイオイメージング / B-7

生物試料作製 / B-8

その他

（10:30-11:45）

座長：出澤真理

28aB08-O 同種動物作成抗体による多重染色法 -tyramide と monovalent 抗体の比較-○北田 容章，出澤 真理 （東北大学大学院 医学系研究科 細胞組織学分野）

5

月

28

日

︵

木

︶

28aB09-O 培養細胞を用いたイメージングによるナノリスク評価法 ○辻 琢磨1_{，臼倉 治郎}1,2 （1_{名古屋大学 大学院 工学研究科 マテリアル理工学専攻 材料工学分野，}2_名古屋大 学 エコトピア科学研究所）

■

C

会場

S-3

シンポジウム「あなたは SEM で困っていませんか？」

（8:30-10:30）

座長：佐藤 貢、稲里幸子

WS-2

冠ワークショップ「綜合画像研究支援（IIRS）

」

（10:30-11:30）

司会：大隅正子

概要 認定 NPO 法人 綜合画像研究支援（Integrated Imaging Research Support、IIRS）が、財団法人新技術振興渡

辺記念会の助成により実施してきた調査研究により、全国の医学・生物学関連の研究者が容易にアクセスし て微細形態計測装置を共同利用できるネットワークに対する希求が非常に大きいことが判明しています。そ こで、我が国を代表する学識、設備、技術を誇る 5 基幹研究機関の協力を得て、微細形態研究装置共同利用 ネットワークを 2009 年 4 月 1 日より発足させました。これは、生命科学領域のあらゆる研究者に、微細形態 計測装置へ自由にアクセスでき、微細形態科学的研究を推進できる環境を提供することを目的としておりま す。当面、本ネットワークは試行的なものですが、近い将来は、共同利用のモデルケースにできるよう、更 に充実したものに発展させることを目標としています。このネットワークの仕組みと、今年度参加される 5 基幹施設長から、各基幹施設で提供できるサービスなどについてご紹介いただく予定です。 28aC05-WS 微細形態科学研究装置共同利用ネットワークの仕組み ○山科 正平 （綜合画像研究支援（IIRS）理事） 28aC06-WS 基幹施設の紹介 1 ○小澤 英浩 （松本歯科大学大学院歯学独立研究科・総合歯科医学研究所） 28aC07-WS 基幹施設の紹介 2 ○石田 欣二 （岩手医科大学 共同研究部門 バイオイメージングセンター）

28aC08-WS 基幹施設の紹介 3 ○穐田 真澄 （埼玉医科大学 中央研究施設 形態部門） 28aC09-WS 基幹施設の紹介 4 ○馬目 佳信 （東京慈恵会医科大学 総合医科学研究センター 共同研究施設） 28aC10-WS 基幹施設の紹介 5 ○佐藤眞美子 （日本女子大学電子顕微鏡施設） 28aC11-WS 総合討論 司会 大隅 正子

■

D

会場

S-1

シンポジウム「次世代の電子顕微鏡要素技術の開発」

（文科省委託事業）

（9:00-11:50）

座長：志水隆一