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岡山理科大学紀要 第54号 A pp. 43-49（2018）
（2018年10月30日受付、2018年12月６日受理）
44 ムハンマド アミヌル ヘルミ・國次真輔・中谷達行・清水一郎・平井広治・橋本輝夫
45 陰極真空アーク法により成膜した水素化テトラヘドラルアモルファスカーボンのトライボロジー特性
46 ムハンマド アミヌル ヘルミ・國次真輔・中谷達行・清水一郎・平井広治・橋本輝夫
47 陰極真空アーク法により成膜した水素化テトラヘドラルアモルファスカーボンのトライボロジー特性
48 ムハンマド アミヌル ヘルミ・國次真輔・中谷達行・清水一郎・平井広治・橋本輝夫
49 陰極真空アーク法により成膜した水素化テトラヘドラルアモルファスカーボンのトライボロジー特性
（Received October 30, 2018 ; accepted December 6, 2018）
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Lots PF3V6200W* with date code 1745 All other lots with date code > 1844 Change Category: Wafer Fab Change.. Assembly Change Test
Type of notification: Customers must notify ON Semiconductor (<[email protected] >) in writing within 90 days of receipt of this notification if they consider
