品番表に"*"のない品番は、GNMシリーズ性能・試験方法(1)をご参照ください。
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GNMシリーズ 性能・試験方法 (1)
No. 項目 規格値
試験条件（JIS C 5102-1994）摘要 2C：−55〜125℃ B1：−25〜85℃
R1, R7, C7：−55〜125℃
使用温度範囲
1 基準温度：20℃
（ただし、R7, C7特性のみ：25℃）
個別指定によります。
定格電圧 2
連続して使用できる最大印加電圧
ただし、交流と直流が重畳される場合は、ピークツーピークまた はゼロツーピークの大きい方の値が定格電圧以内となるように使 用してください。
異常ありません。
外観
3 目視によります。
寸法表によります。
寸法
4 ノギスによります。
異常なく耐えます。
耐電圧
（端子または電極間）
5
7.1項によります。
試験電圧：温度補償用 定格電圧×300%
高誘電率系 定格電圧×250%
印加時間：1〜5秒間 充放電電流：50mA以下 C≦0.047μF：10000MΩ以上
C＞0.047μF：500ΩF以上 C：公称静電容量
絶縁抵抗
（端子または電極間）
6
7.6項によります。
測定電圧：定格電圧 充電時間：2分間 充放電電流：50mA以下
規定の許容差内にあります。
静電容量 7
7.8項によります。
（1）温度補償用
測定条件：表10の2, 3によります。
測定周波数：1±0.1MHz 測定電圧：0.5〜5Vr.m.s.
（2）高誘電率系
測定条件：表10の2, 3によります。
測定周波数：1±0.1kHz 測定電圧：1±0.2Vr.m.s.
30pF以上：Q≧1000 30pF未満：Q≧400＋20C C：公称静電容量（pF）
定格電圧25V以上：0.025以下 定格電圧16/10V：0.035以下 定格電圧6.3V：0.05以下
B1：±10%以内
（−25〜＋85℃）
R1, R7：±15%以内
（−55〜＋125℃）
C7：±22%以内
（−55〜＋125℃）
B1：＋10/−30%以内 R1：＋15/−40%以内 Qおよび
誘電正接（D.F.）
静電容量 温度特性 8
9
7.9項によります。
（1）温度補償用
測定条件：表10の2, 3によります。
測定周波数：1±0.1MHz 測定電圧：0.5〜5Vr.m.s.
（2）高誘電率系
測定条件：表10の2, 3によります。
測定周波数：1±0.1kHz 測定電圧：1±0.2Vr.m.s.
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温度補償用 高誘電率系
静電容量温度係数の公称値は表 Aによります。ただし、20℃以 下の静電容量変化率は表Aに規 定の範囲内にあります。
電圧 印加なし
電圧 印加時
7.12項によります｡
各段階での測定は、規定温度に達した後5分値とします。
ただし、電圧印加の場合は、温度安定後に電圧印加し印加後1 分値とします。
（1）温度補償用
試験条件：表12によります。
段階2の温度：−55±3℃
段階4の温度：＋125±3℃
（2）高誘電率系 試験条件
* R7：25±2℃
段階2, 6の温度：R1, R7, C7:−55±3℃、B1:−25±3℃、
段階4, 8の温度：R1, R7, C7:＋125±3℃、
段階4, 8の温度：B1:＋85±3℃
初期値測定：熱処理（150＋0/−10℃､1時間）後、室温に 24±2時間放置後測定
段階 1 2 3 4 5 6 7 8
20±2*
最低使用温度±3
20±2*
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GNMシリーズ 性能・試験方法 (1)
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No. 項目 規格値
試験条件（JIS C 5102-1994）摘要 温度補償用
著しい異常はありません。
端子電極の3/4以上に切れ目なくはんだが付着しています。
規定の許容差内にあります。
30pF以上：Q≧1000 30pF未満：Q≧400＋20C C：公称静電容量（pF）
定格電圧25V以上：0.025以下 定格電圧16/10V：0.035以下 定格電圧6.3V：0.05以下 端子電極のはく離およびその他の異常はありません。
固着性
耐振性
耐基板曲げ性
はんだ付け性 10
11
12
13
8.2項によります。
試料を図3の試験基板にはんだ付けします。
振動の種類：A 10〜55〜10Hz（1分間）
全振幅：1.5mm
互いに垂直なる3方向に2時間ずつ（計6時間）行います。
8.11.1項によります。
試験方法：図1, 2によります。
取付方法：リフローはんだ付け たわみ量：1mm
保持時間：5±1秒
#
試験用基板
材質：JIS C 6484
プリント配線板用銅張積層板（ガラス布基材エポキシ樹脂）
厚さ：0.8mm 銅はく厚さ：0.035mm
8.13項によります。
試験条件：はんだ槽法、方法1
はんだ種類：Sn-3.0Ag-0.5Cu（無鉛はんだ） 、 またはH60A/H63A（共晶はんだ）
はんだ温度：245±5℃（Sn-3.0Ag-0.5Cu）
230±5℃（H60A/H63A）
浸せき時間：2±0.5秒
浸せき位置：端子電極が隠れるところまで。
8.11.2項によります。
試料を図3の試験基板にはんだ付けします。
加圧力：5N 保持時間：10±1秒
#
試験用基板
材質：JIS C 6484
プリント配線板用銅張積層板（ガラス布基材エポキシ樹脂）
厚さ：1.6mm 銅はく厚さ：0.035mm 高誘電率系
外観 静電容量
Qおよび 誘電正接
a
ソルダレジスト 銅はく
c d
b b
a
c
d
ソルダレジスト 銅はく
図1
形状 寸法（mm）
a b c d
GNM1M2 GNM212 GNM214 GNM314
0.5 0.6 0.6 0.8
1.6 1.8 2.0 2.5
0.32 0.5 0.25 0.4
0.32 0.5 0.25 0.4
コンデンサ
45 45 支持台
容量計
たわみ量 20 50
R230
加 圧
加圧速度 1.0mm/秒
（in mm）
#
取付状態
#試験状態
図3 図2
100
1.0 5.0
b a
`
±
40
dc
100
1.0 5.0
ba
`
±
40
c
d （in mm）
（in mm）
（in mm）
#GNMpp4 #GNMpp2
#GNMpp4 #GNMpp2
図4
形状 寸法（mm）
a b c d
GNM1M2 GNM212 GNM214 GNM314
2.0±0.05 2.0±0.05 2.0±0.05 2.5±0.05
0.5±0.05 0.6±0.05 0.7±0.05 0.8±0.05
0.32±0.05 0.5±0.05 0.3±0.05 0.4±0.05
0.32±0.05 0.5±0.05 0.2±0.05 0.4±0.05 著しい異常はありません。
外観
±5%、±0.5pF
いずれか大きい値以内 ±10%以内 静電容量
変化率
GNMシリーズ 性能・試験方法(1)
2
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No. 項目 規格値
試験条件（JIS C 5102-1994）摘要
温度補償用 高誘電率系
9.3項によります。
試料を図3の試験基板にはんだ付けします。
温度サイクル：5回
放置時間：24±2時間
初期値測定：高誘電率系のみ適用します。
熱処理（150＋0/−10℃､1時間）後、室温に 24±2時間放置し測定
段階 1 2 3 4
最低使用温度＋0/−3 常温 最高使用温度＋3/−0
常温
30±3 2〜3 30±3
2〜3
温度（℃） 時間（分）
8.14項によります。
試験条件：はんだ槽法、方法1
はんだ種類：Sn-3.0Ag-0.5Cu（無鉛はんだ） 、 またはH60A/H63A（共晶はんだ）
はんだ温度：270±5℃
浸せき時間：10±0.5秒
浸せき位置：端子電極が隠れるところまで。
放置時間：24±2時間
予熱条件：浸せき前に予熱を120〜150℃で1分間 行います。
初期値測定：高誘電率系のみ適用します。
熱処理（150＋0/−10℃､1時間）後、室温に 24±2時間放置し測定
B1, R1, R7, C7：±7.5%以内 定格電圧25V以上：0.025以下 定格電圧16/10V：0.035以下 定格電圧6.3V：0.05以下 著しい異常はありません。
10000MΩ、500ΩFのいずれか小さい値以上
±2.5%, ±0.25pF いずれか大きい値以内 30pF以上：Q≧1000 30pF未満：Q≧400＋20C C：公称静電容量（pF）
はんだ 14 耐熱性
外観
絶縁抵抗
異常ありません。
耐電圧 静電容量 変化率
Qおよび 誘電正接
9.5項によります。
試験温度：40±2℃
試験湿度：90〜95%RH 試験時間：500±12時間 放置時間：24±2時間
ただし、槽より取り出した直後の定格電圧の印加は 適用しません。
B1, R1, R7, C7：±12.5%以内
定格電圧25V以上：0.05以下 定格電圧16/10/6.3V：0.05以下 著しい異常はありません。
1000MΩ、50ΩFのいずれか小さい値以上
±5%, ±0.5pF いずれか大きい値以内 30pF以上：Q≧350 10pF以上30pF未満
：Q≧275＋5C/2 10pF未満：Q≧200＋10C C：公称静電容量（pF）
耐湿性 16
外観
絶縁抵抗 静電容量 変化率
Qおよび 誘電正接
9.9項によります。
試験温度：40±2℃
試験湿度：90〜95%RH 試験時間：500±12時間 印加電圧：定格電圧 充放電電流：50mA以下 放置時間：24±2時間 B1, R1, R7, C7：±12.5%以内
定格電圧25V以上：0.05以下 定格電圧16/10/6.3V：0.05以下 著しい異常はありません。
500MΩ、25ΩFのいずれか小さい値以上
±7.5%, ±0.75pF いずれか大きい値以内 30pF以上：Q≧200 30pF未満：Q≧100＋10C/3 C：公称静電容量（pF）
耐湿負荷 17
外観
絶縁抵抗 静電容量 変化率
Qおよび 誘電正接
9.10項によります。
試験温度：最高使用温度±3℃
試験時間：1000±12時間 印加電圧：定格電圧×200% (*) 充放電電流：50mA以下 放置時間：24±2時間
初期値測定：高誘電率系のみ適用します。
電圧処理〔最高使用温度±3℃､定格電圧の 200%､1時間〕後、室温に24±2時間放置し測定 B1, R1, R7, C7：±12.5%以内
定格電圧25V以上：0.04以下 定格電圧16/10/6.3V：0.05以下 著しい異常はありません。
1000MΩ、50ΩFのいずれか小さい値以上
±3%, ±0.3pF いずれか大きい値以内 30pF以上：Q≧350 10pF以上30pF未満
：Q≧275＋5C/2 10pF未満：Q≧200＋10C C：公称静電容量（pF）
高温負荷 18
外観
絶縁抵抗 静電容量 変化率
Qおよび 誘電正接
B1, R1, R7, C7：±7.5%以内 定格電圧25V以上：0.025以下 定格電圧16/10V：0.035以下 定格電圧6.3V：0.05以下 著しい異常はありません。
10000MΩ、500ΩFのいずれか小さい値以上
±2.5%, ±0.25pF いずれか大きい値以内 30pF以上：Q≧1000 30pF未満：Q≧400＋20C C：公称静電容量（pF）
温度 15 サイクル
外観
絶縁抵抗
異常ありません。
耐電圧 静電容量 変化率
Qおよび 誘電正接
（単位：%）
2C 0
±
60 0.82−
0.45 0.49−
0.27 0.33−
0.18特性
温度（℃）
温度係数の公称値
（ppm/℃）*
−55
最高値 最低値
−25
最高値 最低値
−10
最高値 最低値
表A 各温度における静電容量変化率
* 温度係数の公称値は、20℃から125℃までの温度範囲における温度係数を示す。
(*) 定格電圧×150%のアイテムもあります。詳細は個別または納入仕様書をご確認ください。
GNMシリーズ 性能・試験方法(1)
2
品番表に"*"のない品番は、GNMシリーズ性能・試験方法(1)をご参照ください。
品番表に"*"のある品番は、GNMシリーズ性能・試験方法(2)をご参照ください。
GNMシリーズ 性能・試験方法 (2)
4.24項によります｡
各段階での測定は、規定温度に達した後5分値とします。
但し、電圧印加の場合は、温度安定後に電圧印加し 印加後１分値とします。
試験条件 :
*
4R6特性：25±2℃
9 静電容量 温度特性
電圧 印加なし
B1, B3：±10%以内 (−25〜＋85℃) R6：±15%以内 (−55〜＋85℃)
電圧
印加時 B1：＋10/−30%以内
4.8項によります。
測定条件
*
1ただし、表1のアイテムに関しては、測定電圧0.5±0.1Vrmsとします。
*
2ただし、表2のアイテムに関しては、測定電圧1.0±0.2Vrmsとします。
8 誘電正接（D.F.）
B1, B3*
3, R6：0.1以下 表3
*
3ただし、表3のアイテムに関しては、0.125以下とします。
4.7項によります。
測定条件
ドキュメント内
チップ積層セラミックコンデンサ
(ページ 70-73)