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場を120秒印加した時のMDI系およびTMHDI系PUEの電歪挙動を示す。
また、Table7に観測された収縮ひずみの測定結果を示す。収縮ひずみおよび 試料厚みより算出したひずみのバラツキの幅は、最大値と最小値との中間値に 対して±35％となった。PUEのひずみは電場強度の2乗に比例することは知 られており15・17、TMHDI系PUEの電場強度とひずみとの関係についての測 定結果をFig．15に示す。TMHDI系PUEにおいても、ひずみは電場強度の2 乗に比例することが判明した。式（1）に従って算出した電歪定数をTable7
に示す。バラツキの幅も勘案して比較すると、試料番号がNシリーズのTMHDI 系PUEの電歪定数はMシリーズのMDI系よりも大きくなることが判明した。
4．3．2 ウレタンセグメントに存在する水酸基（OH〉数の影響
官能基数が3個であるTMPを鎖延長剤として使用することにより、HS一ド メインの構成成分となるウレタンセグメン，トに存在する極性を有するOH基の 数の影響を検討した。試料MlおよびN1はプレポリマーのNCO当量数とTMP のOH当量数との比が1．Oの試料であり、TMPの1モル中に存在する3個の OH基のすべてがNCOと反応する。従って、ウレタンセグメント中にはOH
基は存在しない。試料Ml2およびNl2はプレポリマーのNCO当量数とTMP
のOH当量数との比が0．75の試料であり、TMPの1モル中に存在する3個の OH基のうち、平均0．75個のOH基がウレタンセグメント中に存在する。さらに・試料M2およびN2はプレポリマーのNCO当量数とTMPのOH当量
数との比が0，67の試料であり、TMPの1モル中に存在する3個のOH基のう ちの平均1．0個がウレタンセグメント中に存在する。Table7およびFig．16 にOH基数の影響を検討した結果を示す。Fig．16よりPUEのウレタンセグメ ント中に存在するOH基数が増大するにしたがい、PUEの電歪定数も大きく.!
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