Na, K, Cl, 総Ca, 総Mg, IP, TP, ALB, T-BIL, UN, CRE, UA, TCHO, CK, ALP, LD, AMY, ChE,
LIP, P-AMY, CRP, GAの測定を日内測定および日間測定として定めたプロトコルにより実
施した。概要のフローを図 2.2-1, 2.2-2に示す。但しそれぞれの項目に主担当装置（自動分 析装置メーカ）１台を割り当て日内、日間測定を実施した。主担当装置以外の装置では、
日内の初回測定のみ実施した。
(1) 日内測定（第1日目 第1回～第3回）
1) Na,K,Cl
１日目は最初の１回目のみ検量し、標準物質、校正用試料、QAPトロール、装置メーカ指 定管理試料を 0時間目、3時間目、6時間目に測定する。
2日目は毎回検量し、標準物質、校正用試料、QAPトロール、装置メーカ指定管理試料を 0時間目、3時間目、6時間目に測定する。
2) Na,K,Cl以外
日内として 3回の測定を行う。毎回検量測定を行うが、最初の 1回目の検量のみから演算 するデータ Aと毎回の検量から演算するデータBの2種類に分ける。 標準物質、校正用 試料、QAPトロール、試薬メーカ指定管理試料を0時間目、3時間目、6時間目のインタ ーバルで測定し、日内の検量効果データを取得する。また装置の安定性確認のため、日立
340Kitと水BLKを毎回測定する。
(2)日間測定（第1回目～第15回目）
1) Na,K,Cl
日間測定は実施しない。
2) Na,K,Cl以外
第1回目は日内の第 1回目とする。翌日からの測定を第 2回目とし、ブランク測定結果に より最初の検量に補正を行い演算するデータAと毎回の検量から演算するデータBの2種 類に分け、標準物質、校正用試料、QAPトロール、試薬メーカ指定管理試料を第 1回目か ら第 15回目まで測定し日間の検量効果データを取得する。各測定の間に装置のOFF,ON を 実施する。カレンダー日の１日内に複数回の測定を可とする。日間測定と同様に装置の安 定性確認のため、日立 340Kitと水BLKを毎回測定する。
Na,K,Cl測定プロトコルのフロー
電源ＯＮ／所定の立上操作
検量実施
標準物質、校正用及び管理用 試料測定 n=5 インターバル：0時間目
標準物質、校正用及び管理用 試料測定 n=5 インターバル：3時間目
標準物質、校正用及び管理用 試料測定 n=5 インターバル：6時間目 2回目
3回目
電源ＯＮ／所定の立上操作
所定の立下げ操作／電源OFF
所定の立下げ操作／電源OFF １日目日内データとし
て３回測定
1回目
検量実施
標準物質、校正用及び管理用 試料測定 n=5 インターバル：0時間目
検量実施
標準物質、校正用及び管理用 試料測定 n=5 インターバル：3時間目
検量実施
標準物質、校正用及び管理用 試料測定 n=5 インターバル：6時間目 ２日目日内データとして
毎回検量実施て３回測定
1回目
2回目
3回目
図 2.2-1 Na,K,Cl測定フロー図
主担当装置 測定プロトコルのフロー （主担当装置のみ）
主担当装置以外は日内の 1回目のみを実施
図2.2-2 Na,K,Cl以外測定フロー図