主要なひずみと変位の影響線

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-の前後200mm付近から圧縮ひずみが急激に低下し、着目部位付近ではほぼゼロとなる形状になっているこ

とが分かる。これは、デッキプレートの版作用による正曲げ作用が、Ｕリブウェブ上における負曲げ作用に よって相殺されているためであると考えられる。また、載荷回数Ｎ＝1回から50万回載荷時までの間でひず みが全般的に大きくなるが、その後はあまり変化していない。

(5) ＳＦＲＣ舗装表面の載荷版近傍のひずみ

載荷版近傍におけるＳＦＲＣ舗装表面の横断方向ひずみについて、影響線の推移を図－5.3.19および図－

5.3.20に示す。前者は接着材タイプ供試体、後者はスタッドタイプ供試体の影響線である。図より、接着材

タイプ供試体と比較してスタッドタイプ供試体の発生ひずみが大きく、試験終了時には引張ひずみの最大値

が100μに近くなった。試験終了後のＳＦＲＣ舗装表面の観察によれば、ひび割れは発生していなかった。

(6) スタッド直下のデッキプレート下面ひずみ（接着材タイプ供試体）

接着材タイプ供試体には、図－5.3.21に示すように、端部のスタッド（S1）直下のデッキプレート下面に ひずみゲージ（名称 SD-1、Ｂが橋軸方向、Ｌが横断方向を表す）を取り付けた。このゲージによる橋軸お よび横断方向ひずみの橋軸方向影響線の推移を図－5.3.22に示す。図より、横断方向の圧縮ひずみが載荷回 数にしたがって減少しており、最終的には 10μ以下にまで低下している。スタッド（S1）に何らかの変状 が生じた可能性がある。

(7) スタッド直下のデッキプレート下面ひずみ（スタッドタイプ供試体）

スタッドタイプ供試体には、図－5.3.23に示すように、端部のスタッド（S1）直下や、輪荷重載荷位置近 傍のスタッド（S2～S5）直下のデッキプレート下面に、ひずみゲージ（名称SD-1～SD5、Ｂが橋軸方向、

Ｌが横断方向を表す）を取り付けた。

図－5.3.24は、端部のスタッド（S1）直下のひずみの橋軸方向影響線の推移を示したものであり、載荷回 数の増加に伴うひずみの変動は小さく、移動輪荷重試験の実施範囲ではスタッド（S1）は破断していないと 予想される。

図－5.3.25は、輪荷重載荷位置近傍のスタッド（S5）直下のひずみの橋軸方向影響線の推移を示したもの であり、スタッド位置に荷重が近いほど大きくなる傾向が分かる。この部位に最大の橋軸方向圧縮ひずみを 与える-800mm位置載荷でのひずみは、載荷回数が増えるにしたがって徐々に増加し、その後載荷回数210 万回で減少していることから、このスタッド（S5）の周辺のスタッドが破断している可能性が考えられる。

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-図－5.3.10 デッキプレートの鉛直変位の橋軸方向影響線

（接着材タイプ供試体）

図－5.3.11 デッキプレートの鉛直変位の橋軸方向影響線

（スタッドタイプ供試体）

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-図－5.3.12 デッキプレート側溶接部近傍の橋軸直角方向ひずみの橋軸方向影響線

（接着材タイプ供試体）

図－5.3.13 デッキプレート側溶接部近傍の橋軸直角方向ひずみの橋軸方向影響線

（スタッドタイプ供試体）

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-図－5.3.14 Ｕリブ側溶接部（載荷点直下のＵリブウェブ）近傍の鉛直方向ひずみの橋軸方向影響線

（接着材タイプ供試体）

図－5.3.15 Ｕリブ側溶接部（載荷点直下のＵリブウェブ）近傍の橋軸直角方向ひずみの橋軸方向影響線

（スタッドタイプ供試体）

舗装施工前最大-160μ

舗装施工前最大-160μ

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図－5.3.16 Ｕリブ側溶接部（載荷点の外側のＵリブウェブ）近傍の橋軸直角方向ひずみの橋軸方向影響線

（接着材タイプ供試体）

図－5.3.17 Ｕリブ側溶接部（載荷点の外側のＵリブウェブ）近傍の橋軸直角方向ひずみの橋軸方向影響線

（スタッドタイプ供試体）

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-図－5.3.18 載荷点直下におけるＳＦＲＣ舗装表面の橋軸直角方向ひずみの橋軸方向影響線

（スタッドタイプ供試体）

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-図－5.3.19 載荷点近傍におけるＳＦＲＣ舗装表面の橋軸直角方向ひずみの橋軸方向影響線

（接着材タイプ供試体）

図－5.3.20 載荷点近傍におけるＳＦＲＣ舗装表面の橋軸直角方向ひずみの橋軸方向影響線

（スタッドタイプ供試体）

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-図－5.3.21 スタッド直下のデッキプレート下面ひずみ計測位置

（接着材タイプ供試体）

図－5.3.22 スタッド直下のデッキプレート下面ひずみの影響線

（計測位置 接着材タイプ供試体：Ｓ１）

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-図－5.3.23 スタッド直下のデッキプレート下面ひずみ計測位置

（スタッドタイプ供試体）

図－5.3.24 スタッド直下のデッキプレート下面ひずみの影響線

（計測位置 スタッドタイプ供試体：Ｓ１）

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-図－5.3.25 スタッド直下のデッキプレート下面ひずみの影響線

（計測位置 スタッドタイプ供試体：Ｓ５）

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