[PDF] Top 20 J141 e IEICE 2008 3 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J141 e IEICE 2008 3

... key words: multi-clock domain SoC, test scheduling, test access mecha- nism, power consumption 1. Introduction Today’s SoCs embed hundreds of memory cores and several different types of logic cores obtained from various ... 完全なドキュメントを参照

... x 3 までの制御経路の順序深度は 1 であるので， y 3 ま での制御経路の順序深度が 0 となるように y 3 までの 制御経路 を変更すること で，タイミング調 整を行う． mux1 の伝搬入力 y 5 の取り得る順序深度は， y 0 まで の制御経路上に TM1 ... 完全なドキュメントを参照

... ，計算能力，通信能力など の点でパフォーマン スが 低いため ，移動端末にかか る負荷が 小さい手法が 望まれ る．分散シ ステムの問題とし て ， 端末の移動や ，トポロジーの変化に 伴うオーバヘッド を考慮し なければ ならない．更に ，無線チャネル の帯域幅 の空間再利用の観点など から ，クラスタ構成をすることによって ... 完全なドキュメントを参照

... 電子情報通信学会論文誌 2001/1 Vol. J84–D–I No. 1 ト対象回路の外部入力，外部出力のみに付加する．そ して，データパス中の各組合せ回路要素（演算器，マ ルチプレクサなど）ごとにテストを行う．つまり，テ ストパターンをテストパターン生成器から各組合せ回 路要素まで伝搬し，応答をその組合せ回路要素から応 答解析器まで伝搬する．このテストパターン，応答の ... 完全なドキュメントを参照

... 値がど のプ ロセ スの 入 力 変数 val の 値と も 一致し な いことや ，あるプ ロセ スの入力変数の値がど のプ ロセ スの作業変数の値とも一致し ない可能性がある．そこ で 本プ ロト コルでは ，作業用変数の値を並べ換え るこ とにより，ヒープ 順序を実現し た後，ネット ワーク全 体に ... 完全なドキュメントを参照

... SoC の実動作速度での連 続し たテ スト 系列の 印加に 利用可能であ る． c の G J は 無閉路であるので ，条件 1 より， c の各入力端子に 対し て， SoC の外部入力から 一つ以上の単純経路が 存 在する．更に 条件 3 より，各コアは 一つの 形状が 選択 され ， G J ... 完全なドキュメントを参照

... RCG に対し て最小クリーク分割 [4] を行い，分割後の 各クリークに対し ，レジ スタを割り当てる． 演算器バ インデ ィングでは ，まず，演算器の型ご と に 変 数と 同 様にし て 演 算コン パテ ィビ リテ ィグ ラフ （ OCG ）を作成する．次に ，設計目標中の演算に 関す る共有集合に 対し ， RCG と 同様のマージ を 行 う．演 ... 完全なドキュメントを参照

... type3 の制御経路，観測経路を用いることによ り， M に 属するすべての組合せ 回路要素を 同時にテ ストできる．このテ ストの間，制御経路及び 観測経路 に 現れ る制御信号（ テストプ ラン ）を固定し ておくこ とができる．つまり，一つのテ スト セッション M に 対し て ，一つの 制御パターン を 与えれば ，連続クロッ クでテ スト ... 完全なドキュメントを参照

... A BIST Based on Concurrent Single-Control Testability of RTL Data Paths Ken-ichi YAMAGUCHI † , Hiroki WADA †† , Toshimitsu MASUZAWA ††† , and Hideo FUJIWARA † あらまし レジ スタ転送レ ベルデ ータパスの組込み自己テ スト 法とし て ，単一制御可検査性に 基づ ... 完全なドキュメントを参照

... 昭 44 阪大・工・電子卒．昭 46 同大大 学院博士後期課程了．阪大工学部助手，明 治大理工学部教授を経て，現在，奈良先端 科学技 術大学院大学情報科 学研究科教授． 昭 56 ウォータールー大客員助教授．昭 59 マッギル大客員準教授．論理設計，高信頼 設 計 ，設 計 自 動化 ，テ ス ト容 易 化 設計 ，テ ス ト生 成 ，並 列処 理，計算複雑度に関する研[r] ... 完全なドキュメントを参照

... もつ ）ような順序回路のクラスを提案する．更に ，一般の順序回路から 最大展開モデルが 存在する無閉路順序回 路に 変更する部分スキャン 設計法について ，スキャン ハード ウェアオーバヘッド を最小にするスキャンレジ スタ 選択問題を 定式化し ，その問題を解くヒューリステ ィ ックアルゴ リズムを提案する．これ により，部分スキャン 設計に おけ るスキャン ハード ウェアオーバヘッド は ，ホールド ... 完全なドキュメントを参照

... 行うことが 困難であり，これらの特徴に 対応し た新し い並列計算モデ ルが 望まれ ていた ． 本論文では上記の要求に 対応し た並列計算モデ ルで あ る BSP （ Bulk-Synchronous Parallel ）モデ ル [9] ， 及び その 拡張モデ ルであ る BSP ∗ モデル [2] を 使用し てアルゴ リズムの提案を行う． BSP モデルは Valiant ... 完全なドキュメントを参照

... Genesis のテ ストプ ランと同様にデ ータパスの外部入力から回路要 素への任意の値の伝達と ，回路要素が 出力し 得る任意 の値のデ ータパスの外部出力への伝達を保証する．提 案する DFT 手法を 適用し た RTL デ ータパ ス上の各 回路要素に 対し てテ スト ... 完全なドキュメントを参照

... T 2 を圧縮し たテスト 系列 T を生成することができる． また ，テ スト 系列 T 1 , T 2 に 示すよ うに ，テ スト 系 列において 0 又は 1 に値が 決定し ている箇所と X で ある箇所は ，すべてのテスト 系列について一定である． この 情報から 複数のテ スト 系列が 圧縮可能か 否かは ， テ スト 系列中の値に 関係なく決定できる．よって，テ スト 系列が ... 完全なドキュメントを参照

... MSS の地理的，あ るいは ，論理的な 無線通信可能 領域を その MSS のセル と 呼ぶ ．あ る MSS のセル 内 に 存在する MH が 別の MSS のセルに 移動すると ，移 動元の MSS と MH との間の無線通信チャネルが 切断 され ，移動先の MSS と MH との間に ... 完全なドキュメントを参照

... VLSI の高集積化，大規模化に 伴い，回路の テ スト は ます ま す 重 要で か つ 困 難な 問 題と なって い る [1] ．テストの費用を削減するために ，設計の初期の 段階からテ スト 容易性を考慮することが 必要とされ て いる．抽象度の高い動作記述からレジ スタ転送レ ベル （ RTL ）の 回路を ... 完全なドキュメントを参照

... − 3n − 1 のプロトコルが提案されていた（ n:プロセッサ数） ．本論文では ，同期時 間 12n の無待機時計合せプ ロトコルを提案する．また，無待機時計合せプロトコルの同期時間の下界が n − 1 であることを証明し ，本論文で提案するプ ロト コルが 同期時間に 関し てオーダ 的に ... 完全なドキュメントを参照

... tion of Science (JSPS) under grant P01735. thermore, due to the increasing design complexity, a sub- stantial amount of test data are required to test an SOC. Several test scheduling techniques have been pro- posed [1], ... 完全なドキュメントを参照

... If N > P(P−1), Eq. (10) is always larger than Eq. (9). There- fore, j = 0 is the solution that minimizes Eq. (8).
A typical tester can operate at about 50 MHz and the CUT test frequency in modern DSM circuits ... 完全なドキュメントを参照

... tracting a set of constraints for the datapath logic and the controller. The authors argue that delay defects on the func- tionally untestable paths will not cause any chip failure. In constraint extraction procedure ... 完全なドキュメントを参照