トップPDF E in Me03 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me03 ans

E in Me03 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me03 ans

E in Me03 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me03 ans

C D 図 4 問題 11. 半径 R 車輪が等速 v で滑らずに転がっている。車輪上 一点座標と速度,加速度を求める。車輪中心 O ′ が原点 O を通り 過ぎた時刻を 0 とする。また角速度 ω を ω :=

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E in SM04 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM04 最近の更新履歴 物理学ノート

E σ = −µ 0 Hσ (4.3) で 与 え ら れ る 。仮 に H > 0 な ら 上 向 き 状 態 エ ネ ル ギ ー が 低 く ,下 向 き 状 態 エ ネ ル ギ ー が 高 い 。逆 に H < 0 なら上向き状態エネルギーが高く,下向き状態エネルギーが低い。このように,スピンは磁場と同 じ向きに揃おうとする傾向を持つ。

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E in SM01 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM01 最近の更新履歴 物理学ノート

標本点: 試行によって得られる個々結果。それ以上細分化できない。素事象ともいう。すべて標本点に 番号をふって, i = 1, 2, . . . , Ω とする。 標本空間: 標本点すべてからなる集合。 事象: 標本空間部分集合(空集合や全体集合でも可) 。 A, B などで表す。任意事象は,標本点またはそ 組み合わせで構成される。

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E in SM02 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM02 最近の更新履歴 物理学ノート

今,ある量子系エネルギー固有値問題が完全に解けたとする。すなわち ˆ H ϕ i = E i ϕ i (2.2) を満たす全て ϕ i と E i が得られた事になる。ここで i = 1, 2, · · · は,エネルギー低い順序に定める :

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E in Me 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me 最近の更新履歴 物理学ノート

1. 直線上ある点 A 位置ベクトル a に,直線と平行なベクトル d 定数倍を加える。 2. 原点から直線に降ろした垂線足を H , H 位置ベクトルを h とする。 P と H を結ぶ線は, h と直 交する。 3. 直線同一でない 2 つ点 S, T 位置ベクトルをそれぞれ s, t とする。 P は線分 ST を適当に 内分または外分した点である。

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E in Me05 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me05 最近の更新履歴 物理学ノート

1-6. 地面に 落下 する 時刻 t 1 と その瞬 間 速度 v y (t 1 ) を求め よ。ま た t 1 と t h にはど んな 関係 があ るか ? v y (t 1 ) と v 0 にはどんな関係があるか ? 1-7. v y (t) と y(t) を t 関数としてグラフで表せ。 問題 2. 水平面ある方向を x 軸,鉛直上方を y 軸とする。 xy 平面内仰角 α 方向に *3 原点から初速度 V で質点を投げる場合を考える。

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E in MeExam2009 最近の更新履歴  物理学ノート E in MeExam2009

E in MeExam2009 最近の更新履歴 物理学ノート E in MeExam2009

✎ この平面が xy 平面になるように座標系を選べ。 7-4. 同様に角運動量が保存する場合、質点速度 z 成分 v z が 0 になることを示せ。 7-5. 右図ように、時刻 t で r にあった質点 m が、時刻 (t + t) に r + r に進んだ。時刻 t で速度を v として面積速度を求めよ。

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E in Me06 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me06 最近の更新履歴 物理学ノート

3-8. この質点が等速運動になる条件およびその終端速度 v ∞ を求めよ。 3-9. 速度 v y (t) をグラフで表せ。 3-10. 下降中高さ y(t) が下ように表されることを確かめよ。 y (t) = − 1 κ log

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E in QM 最近の更新履歴  物理学ノート

E in QM 最近の更新履歴 物理学ノート

電球を 1.0 m 離れて見る場合,単位秒当たり瞳に飛び込む光子は何個か ? 瞳断面積は 0.50 cm 2 とする。 問題 4. 人間目が光を感じるには,視細胞内部にある 1 つ原子が約 2.5 × 10 −19 J エネルギーを受け取る必要 がある。視細胞とその内部原子を,それぞれ半径 10 −6 m, 10 −10 m 球とする。 4-1. 0 等星 *4 から光が,断面積 0.50 cm 2 瞳を通して入り, 1 つ視細胞に集められたとする。光を波と考え
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E in TDExam2016 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in TDExam2016 ans

E in TDExam2016 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in TDExam2016 ans

環境において, b. 最大 仕事を用いて定義される。 2. エネルギー U (T; X ) は, c. 断熱 環境において, d. 断熱 仕事を用いて定義される。 3. エントロピー S(T ; X ) は,任意断熱操作によっ て, e. 減少 しない。

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E in Me06 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me06 ans

E in Me06 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me06 ans

図 25 問題 25. 速度 2 乗に比例する空気抵抗 f = −κmv 2 が働く場合 ( κ ≥ 0 ) *20 , 25-1. 鉛直上方を y 軸に選んで,運動概略図を描け。 【解答】図 25 通り。ここで v は y 軸正方向速度である。水平方向へ運

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E in Me05 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me05 ans

E in Me05 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me05 ans

21-6. 地面に落下する時刻 t 1 とその瞬間速度 v 1 を求めよ。また t 1 と t h にはどんな関係があるか ? v 1 と v 0 にはどんな関係があるか ? 【解答】落下点では高さが 0 であるので (4.12) お よび t 1 > 0 より y(t 1 ) = −

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E in SMExam2016 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in SMExam2016 ans

E in SMExam2016 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in SMExam2016 ans

βℏω ≪ 1 なので第 1 項より第 2 項がはるかに大きい。 そのため,上で . . . と記したテイラー展開高次項 に第 1 項と同程度大きさ項が現れる可能性がある。 実際この例では次に − 1

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E in Me04 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me04 ans

E in Me04 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me04 ans

加速度と糸張力を求めよ。 【解答】運動様子を図示すると右通りである。前問と同様に滑車に対して m 1 下 向き加速度および m 2 上向き加速度を a とする。運動方程式を立てるため慣性系 に対する加速度を求めると, m 1 それは下向きで a − b , m 2 それは上向きで a + b で ある。よって

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E in SM 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM 最近の更新履歴 物理学ノート

ミクロカノニカル分布(小正準分布) 系エネルギー固有状態 i = 1, 2, . . . 中から,エネルギー固有値 E i が U − Vδ < E i ≤ U を満たすものを全て拾い上げ,それらを「許されるエネルギー固有状態」と呼ぶ。ミクロカノニカ ル分布では,許されるエネルギー固有状態全てが, 等しい確率で出現する。 従って,この確率モデルにおいてエネルギー固有状態 i が出現する確率を p (MC) i とすると

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J161 e JETTA 2012 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J161 e JETTA 2012

J161 e JETTA 2012 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J161 e JETTA 2012

The concept of the constraints for a single test path for a datapath MUT is visualized in Fig. 3 . The test path constraints are divided into three categories. These are the set of path activation constraints C A , the transformation constraints C J and the propagation constraint c P , respectively. Path activa- tion constraints correspond to the conditions in the FSM state transitions that have to be satisfied in order to perform prop- agation and value justification through the circuit. Transfor- mation constraints, in turn, reflect the value changes along the paths from the inputs of the high-level MUT to the primary inputs of the whole circuit. These constraints are needed in order to derive the local test patterns for the module under test. The propagation constraints show how the value propagated from the output of the MUT to a primary output is depending on the values of the primary inputs. The main idea here is to check whether the fault effect will be masked when propagat- ed to a primary output. All the above categories of constraints are represented by common data structures and manipulated by common procedures for creation, update, modeling and simulation. In the following, the data structure and update operations of test path constraints are defined.
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J154 e MJCS 2010 1 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J154 e MJCS 2010 1

J154 e MJCS 2010 1 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J154 e MJCS 2010 1

test generation time cannot be reduced because the test generation approach is the same as the full scan design. In the H-scan technique [7], some extra gates are added to the logic of the existing path so that signals transferred between the registers is enabled by a new input independent on the signals from the controller. The design-for-testability based on strong testability in [8-9] is guaranteed to generate test plans for all combinational hardware elements of the data path. However, the DFT methods in [8-10] assumed that a controller and a data path are separated from each other and the signal lines between them are directly controllable and observable from the outside of circuits. Therefore, extra multiplexers are added to the signal lines in between a controller and a data path, and an extra test controller is also embedded to provide the test plans for the data path. The method in [11] allows speed testing and achieves a much shorter test application time compared to the full scan approach. However, the hardware and delay overheads are larger compared to the full scan approach because of the extra multiplexers and test controller.
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J168 e 2016 4 IEICE 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J168 e 2016 4 IEICE

J168 e 2016 4 IEICE 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J168 e 2016 4 IEICE

a) E-mail: fujiwara@ogu.ac.jp DOI: 10.1587/transinf.2015EDL8183 In this paper, we introduce another class of general- ized shift registers called generalized feedback shift registers (GFSR, for short), and consider the properties of GFSR that are useful for secure scan design. We present how to con- trol/observe GFSR to guarantee scan-in and scan-out opera- tions that can be overlapped in the same way as the conven- tional scan testing. Testability and security of scan design using GFSR are considered. The cardinality of each class is clarified. We also present how to design strongly secure GFSR as well as GF 2 SR considered in [13] .
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J98 e JETTA 2002 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J98 e JETTA 2002

J98 e JETTA 2002 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J98 e JETTA 2002

a core are propagated to all input ports of the core from TPS, and the test responses appeared at an out- put port of the core are propagated to TRS consecu- tively at the speed of system clock. The propagation of test patterns and responses is achieved by using interconnects and consecutively transparent paths of surrounding cores. All interconnects can be tested in a similar fashion. Therefore, it is possible to apply any test sequence and observe any response sequence consecutively at the speed of system clock. We also proposed a design-for-testability method for making a given SoC consecutively testable based on integer linear programming problem. Our future work is to propose a DFT method for making cores consecutively transparent with minimum hardware overhead.
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J170 e IEICE 2016 8 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J170 e IEICE 2016 8

J170 e IEICE 2016 8 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J170 e IEICE 2016 8

overhead scan design approach for protection of secret key in scan- based secure chips,” Proc. 25th IEEE VLSI Test Symposium. pp.455– 460, 2007. [7] G. Sengar, D. Mukhopadhyay, and D. R. Chowdhury, “Secured flipped scan-chain model for crypto-architecture,” IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol.26, no.11, pp.2080–2084, Nov. 2007.

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