トップPDF E in Me03 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me03 ans

C D 図 4 問題 11. 半径 R の車輪が等速 v で滑らずに転がっている。車輪上の 一点の座標と速度，加速度を求める。車輪の中心 O ′ が原点 O を通り 過ぎた時刻を 0 とする。また角速度 ω を ω :=

E σ = −µ 0 Hσ (4.3) で 与 え ら れ る 。仮 に H > 0 な ら 上 向 き 状 態 の エ ネ ル ギ ー が 低 く ，下 向 き 状 態 の エ ネ ル ギ ー が 高 い 。逆 に H < 0 なら上向き状態のエネルギーが高く，下向き状態のエネルギーが低い。このように，スピンは磁場と同 じ向きに揃おうとする傾向を持つ。

標本点： 試行によって得られる個々の結果。それ以上細分化できない。素事象ともいう。すべての標本点に 番号をふって， i = 1, 2, . . . , Ω とする。 標本空間： 標本点すべてからなる集合。 事象： 標本空間の部分集合（空集合や全体集合でも可） 。 A, B などで表す。任意の事象は，標本点またはそ の組み合わせで構成される。

今，ある量子系のエネルギー固有値問題が完全に解けたとする。すなわち ˆ H ϕ i = E i ϕ i (2.2) を満たす全ての ϕ i と E i が得られた事になる。ここで i = 1, 2, · · · は，エネルギーの低い順序に定める :

1. 直線上のある点 A の位置ベクトル a に，直線と平行なベクトル d の定数倍を加える。 2. 原点から直線に降ろした垂線の足を H ， H の位置ベクトルを h とする。 P と H を結ぶ線は， h と直 交する。 3. 直線の上の同一でない 2 つの点 S, T の位置ベクトルをそれぞれ s, t とする。 P は線分 ST を適当に 内分または外分した点である。

1-6. 地面に 落下 する 時刻 t 1 と その瞬 間の 速度 v y (t 1 ) を求め よ。ま た t 1 と t h にはど んな 関係 があ るか ? v y (t 1 ) と v 0 にはどんな関係があるか ? 1-7. v y (t) と y(t) を t の関数としてグラフで表せ。 問題 2. 水平面のある方向を x 軸，鉛直上方を y 軸とする。 xy 平面内の仰角 α の方向に *3 原点から初速度 V で質点を投げる場合を考える。

✎ この平面が xy 平面になるように座標系を選べ。 7-4. 同様に角運動量が保存する場合、質点の速度の z 成分 v z が 0 になることを示せ。 7-5. 右図のように、時刻 t で r にあった質点 m が、時刻 (t +
t) に r +
r に進んだ。時刻 t での速度を v として面積速度を求めよ。

3-8. この質点が等速運動になる条件およびその終端速度 v ∞ を求めよ。 3-9. 速度 v y (t) をグラフで表せ。 3-10. 下降中の高さ y(t) が下のように表されることを確かめよ。 y (t) = − 1 κ log

電球を 1.0 m 離れて見る場合，単位秒当たり瞳に飛び込む光子は何個か ? 瞳の断面積は 0.50 cm 2 とする。 問題 4. 人間の目が光を感じるには，視細胞内部にある 1 つの原子が約 2.5 × 10 −19 J のエネルギーを受け取る必要 がある。視細胞とその内部の原子を，それぞれ半径 10 −6 m, 10 −10 m の球とする。 4-1. 0 等星 *4 からの光が，断面積 0.50 cm 2 の瞳を通して入り， 1 つの視細胞に集められたとする。光を波と考え

環境において， b. 最大 仕事を用いて定義される。 2. エネルギー U (T; X ) は， c. 断熱 環境において， d. 断熱 仕事を用いて定義される。 3. エントロピー S(T ; X ) は，任意の断熱操作によっ て， e. 減少 しない。

図 25 問題 25. 速度の 2 乗に比例する空気抵抗 f = −κmv 2 が働く場合 （ κ ≥ 0 ） *20 ， 25-1. 鉛直上方を y 軸に選んで，運動の概略図を描け。 【解答】図 25 の通り。ここで v は y 軸正方向の速度である。水平方向へ運

21-6. 地面に落下する時刻 t 1 とその瞬間の速度 v 1 を求めよ。また t 1 と t h にはどんな関係があるか ? v 1 と v 0 にはどんな関係があるか ? 【解答】落下点では高さが 0 であるので (4.12) お よび t 1 > 0 より y(t 1 ) = −

βℏω ≪ 1 なので第 1 項より第 2 項がはるかに大きい。 そのため，上で . . . と記したテイラー展開の高次の項 に第 1 項と同程度の大きさの項が現れる可能性がある。 実際この例では次に − 1

加速度と糸の張力を求めよ。 【解答】運動の様子を図示すると右の通りである。前問と同様に滑車に対して m 1 の下 向きの加速度および m 2 の上向きの加速度を a とする。運動方程式を立てるため慣性系 に対する加速度を求めると， m 1 のそれは下向きで a − b ， m 2 のそれは上向きで a + b で ある。よって

ミクロカノニカル分布（小正準分布） 系のエネルギー固有状態 i = 1, 2, . . . の中から，エネルギー固有値 E i が U − Vδ < E i ≤ U を満たすものを全て拾い上げ，それらを「許されるエネルギー固有状態」と呼ぶ。ミクロカノニカ ル分布では，許されるエネルギー固有状態の全てが， 等しい確率で出現する。 従って，この確率モデルにおいてエネルギー固有状態 i が出現する確率を p (MC) i とすると

The concept of the constraints for a single test path for a datapath MUT is visualized in Fig. 3 . The test path constraints are divided into three categories. These are the set of path activation constraints C A , the transformation constraints C J and the propagation constraint c P , respectively. Path activa- tion constraints correspond to the conditions in the FSM state transitions that have to be satisfied in order to perform prop- agation and value justification through the circuit. Transfor- mation constraints, in turn, reflect the value changes along the paths from the inputs of the high-level MUT to the primary inputs of the whole circuit. These constraints are needed in order to derive the local test patterns for the module under test. The propagation constraints show how the value propagated from the output of the MUT to a primary output is depending on the values of the primary inputs. The main idea here is to check whether the fault effect will be masked when propagat- ed to a primary output. All the above categories of constraints are represented by common data structures and manipulated by common procedures for creation, update, modeling and simulation. In the following, the data structure and update operations of test path constraints are defined.

test generation time cannot be reduced because the test generation approach is the same as the full scan design. In the H-scan technique [7], some extra gates are added to the logic of the existing path so that signals transferred between the registers is enabled by a new input independent on the signals from the controller. The design-for-testability based on strong testability in [8-9] is guaranteed to generate test plans for all combinational hardware elements of the data path. However, the DFT methods in [8-10] assumed that a controller and a data path are separated from each other and the signal lines between them are directly controllable and observable from the outside of circuits. Therefore, extra multiplexers are added to the signal lines in between a controller and a data path, and an extra test controller is also embedded to provide the test plans for the data path. The method in [11] allows speed testing and achieves a much shorter test application time compared to the full scan approach. However, the hardware and delay overheads are larger compared to the full scan approach because of the extra multiplexers and test controller.

a) E-mail: fujiwara@ogu.ac.jp DOI: 10.1587/transinf.2015EDL8183 In this paper, we introduce another class of general- ized shift registers called generalized feedback shift registers (GFSR, for short), and consider the properties of GFSR that are useful for secure scan design. We present how to con- trol/observe GFSR to guarantee scan-in and scan-out opera- tions that can be overlapped in the same way as the conven- tional scan testing. Testability and security of scan design using GFSR are considered. The cardinality of each class is clarified. We also present how to design strongly secure GFSR as well as GF 2 SR considered in [13] .

a core are propagated to all input ports of the core from TPS, and the test responses appeared at an out- put port of the core are propagated to TRS consecu- tively at the speed of system clock. The propagation of test patterns and responses is achieved by using interconnects and consecutively transparent paths of surrounding cores. All interconnects can be tested in a similar fashion. Therefore, it is possible to apply any test sequence and observe any response sequence consecutively at the speed of system clock. We also proposed a design-for-testability method for making a given SoC consecutively testable based on integer linear programming problem. Our future work is to propose a DFT method for making cores consecutively transparent with minimum hardware overhead.

overhead scan design approach for protection of secret key in scan- based secure chips,” Proc. 25th IEEE VLSI Test Symposium. pp.455– 460, 2007. [7] G. Sengar, D. Mukhopadhyay, and D. R. Chowdhury, “Secured flipped scan-chain model for crypto-architecture,” IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol.26, no.11, pp.2080–2084, Nov. 2007.