トップPDF E in Me05 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me05 ans

E in Me05 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me05 ans

E in Me05 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me05 ans

21-6. 地面に落下する時刻 t 1 とその瞬間速度 v 1 を求めよ。また t 1 と t h にはどんな関係があるか ? v 1 と v 0 にはどんな関係があるか ? 【解答】落下点では高さが 0 であるので (4.12) お よび t 1 > 0 より y(t 1 ) = −

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E in Me 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me 最近の更新履歴 物理学ノート

7-2. この運動軌道(運動道筋)を図で表せ。 【 解 答 】前 問 結 果 (2.14) よ り 原 点 か ら 質 点 ま で 距 離 |r| は 時 間 に 依らず一定なので,この質点は円軌道を描く。図示すると右図通りにな る。角速度 ω 符号によって回転する向きが異なる。 ω > 0 なら図矢印 ように反時計回りに回転し, ω < 0 なら時計回りに回転する。

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E in SM04 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM04 最近の更新履歴 物理学ノート

E σ = −µ 0 Hσ (4.3) で 与 え ら れ る 。仮 に H > 0 な ら 上 向 き 状 態 エ ネ ル ギ ー が 低 く ,下 向 き 状 態 エ ネ ル ギ ー が 高 い 。逆 に H < 0 なら上向き状態エネルギーが高く,下向き状態エネルギーが低い。このように,スピンは磁場と同 じ向きに揃おうとする傾向を持つ。

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E in SM01 最近の更新履歴  物理学ノート

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1-3. コイン 1 枚を 2 回投げ,表が出る回数を n ˆ 。ただし,表が出る確率を p ,裏が出る確率を q とする。 1-4. コイン 1 枚を 3 回投げ,表が出る回数を n ˆ 。ただし,表が出る確率を p ,裏が出る確率を q とする。 問題 1. 確率 p で表,確率 1 − p で裏が出るコイン N 枚を一斉に投げる。それぞれコイン振る舞いは独立 とする。コインに i = 1, . . . , N と名前をつけ, i 番目コインが表なら 1 ,裏なら 0 という値をとる物理量 χ ˆ i を定義する。以下では,全系確率分布を p と書く。
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E in QM 最近の更新履歴  物理学ノート

E in QM 最近の更新履歴 物理学ノート

電球を 1.0 m 離れて見る場合,単位秒当たり瞳に飛び込む光子は何個か ? 瞳断面積は 0.50 cm 2 とする。 問題 4. 人間目が光を感じるには,視細胞内部にある 1 つ原子が約 2.5 × 10 −19 J エネルギーを受け取る必要 がある。視細胞とその内部原子を,それぞれ半径 10 −6 m, 10 −10 m 球とする。 4-1. 0 等星 *4 から光が,断面積 0.50 cm 2 瞳を通して入り, 1 つ視細胞に集められたとする。光を波と考え
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E in Me06 最近の更新履歴  物理学ノート

E in Me06 最近の更新履歴 物理学ノート

) で速度すなわち終端速度 v ∞ と, y ∞ (t) を求めよ *2 。 1-7. v y (t) と y(t) を t 関数としてグラフで表せ。 1-8. kt ≪ 1 場合, v y (t) と y(t) がそれぞれ下ように展開できることを確認せよ。 v y (t) = (v 0 − gt) − k(v 0 t −

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E in MeExam2009 最近の更新履歴  物理学ノート E in MeExam2009

E in MeExam2009 最近の更新履歴 物理学ノート E in MeExam2009

✎ この平面が xy 平面になるように座標系を選べ。 7-4. 同様に角運動量が保存する場合、質点速度 z 成分 v z が 0 になることを示せ。 7-5. 右図ように、時刻 t で r にあった質点 m が、時刻 (t + t) に r + r に進んだ。時刻 t で速度を v として面積速度を求めよ。

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E in SM02 最近の更新履歴  物理学ノート

E in SM02 最近の更新履歴 物理学ノート

5-2. この系状態数 Ω(E) を求めよ。系マクロ性に対する近似 (E ≫ E 0 ) を用いてよい。 例題 2. 3 次元空間中一辺 L ,体積 V = L 3 立方体中領域 (0 ≤ x, y, z ≤ L) だけを運動する N 個自 由粒子からなる系について,系エネルギー固有状態とエネルギー固有値,状態数 Ω(E) を求めよ。 自習 2. 2 次元空間中一辺 L 箱 (0 ≤ x, y ≤ L) 中だけを自由に運動する質量 m 自由粒子に対して,
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E in SM 最近の更新履歴  物理学ノート

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る。以下,単一物質からなる体積 V ,分子数 N マクロな系を考察する。経験則として,エネルギー U および V , N によって,この系平衡状態マクロな性質が完全に決まることが知られている。 マクロな量子系 熱力学で扱うマクロな系も,ミクロな視点からは相互作用し合う無数分子からなる量子系であ る。このような視点から記述したマクロな系をマクロな量子系と呼ぶ。

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E in SMExam2016 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in SMExam2016 ans

E in SMExam2016 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in SMExam2016 ans

統計力学演習 (Wednesday February 8th 2017) 期末試験 解答例 & 解説 1 解答 1. 次小問に答えよ。 (20 点 ) 1-1. ある系におけるミクロカノニカル分布熱力学的 重率を W(U, δU) とする。系エネルギー固有値 E i に

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E in Me06 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me06 ans

E in Me06 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me06 ans

図 25 問題 25. 速度 2 乗に比例する空気抵抗 f = −κmv 2 が働く場合 ( κ ≥ 0 ) *20 , 25-1. 鉛直上方を y 軸に選んで,運動概略図を描け。 【解答】図 25 通り。ここで v は y 軸正方向速度である。水平方向へ運

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E in TDExam2016 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in TDExam2016 ans

E in TDExam2016 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in TDExam2016 ans

圧力 P(T; V, N ) 変化,すなわち状態方程式情報を 含んでいない。状態方程式セットになってはじめて U (T; V, N ) 系熱力学的性質を完全に指定できる。つ まり U (T ; V, N ) だけでは,系熱力学的全情報を保有

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E in Me04 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me04 ans

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いた。鎖両端をそれぞれ A と B ,また A から x 離れた点を P とする。 B を力 F で水平に引っ張ると全体が加速度 a で動いた。 19-1. 運動様子を図示せよ。点 P における鎖張力を S とする。 【解答】右図通り。図 S は, A ∼ P 部分を右に引く張力である。もちろ ん実際には P で鎖はくっついているが, S が A ∼ P 部分に働くことを明らか にするため少し離して書いた。図左向き力は, S 反作用であり, P ∼ B 部分を左に引いている。
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E in Me05 最近の更新履歴  物理学ノート

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*2 長さ L ,質量 M ,時間 T ,電荷 Q ,温度 Θ を基本量と考えることで,全て物理量は基本量組み立て単位として表すことがで きる。 SI 単位系における基本量単位はそれぞれ m , kg , s , C , K である。ただし SI 単位系基本単位には,電荷でなく電流 A が採用されている。電流次元は CT −

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E in Me03 ans 最近の更新履歴  物理学ノート E in Me03 ans

E in Me03 ans 最近の更新履歴 物理学ノート E in Me03 ans

2.5 外積を用いる計算例 15 特に P が地面に接するは ωt = 2nπ 時で,その瞬間速度 v A は v A = Rω(1 − cos 2nπ, sin 2nπ) = (0, 0) = 0. (2.72) 地 面 に 接 す る 瞬 間 , P は 静 止 し て い る 。こ れ は 車 輪 が 滑 ら な い こ と を 意 味 す る 。車 輪 平 行 移 動 速 度 r ˙ 0 = (v, 0) と 回 転 運 動 に よ る 速 度 r ˙ A ′ = (−v, 0) 合 成 で あ る 。一 方 P が 車 輪 頂 上 B に あ る 時 , ωt = (2n + 1)π より,その瞬間速度 v B は
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J161 e JETTA 2012 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J161 e JETTA 2012

J161 e JETTA 2012 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J161 e JETTA 2012

Received: 14 November 2011 / Accepted: 26 June 2012 / Published online: 13 July 2012 # Springer Science+Business Media, LLC 2012 Abstract The paper proposes a hierarchical untestable stuck-at fault identification method for non-scan synchro- nous sequential circuits. The method is based on deriving, minimizing and solving test path constraints for modules embedded into Register-Transfer Level (RTL) designs. First, an RTL test pattern generator is applied in order to extract the set of all possible test path constraints for a module under test. Then, the constraints are minimized using an SMT solver Z3 and a logic minimization tool ESPRESSO. Finally, a constraint-driven deterministic test pattern gener- ator is run providing hierarchical test generation and untest- ability proof in sequential circuits. We show by experiments that the method is capable of quickly proving a large num- ber of untestable faults obtaining higher fault efficiency than achievable by a state-of-the-art commercial ATPG. As a side effect, our study shows that traditional bottom-up test
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J98 e JETTA 2002 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J98 e JETTA 2002

J98 e JETTA 2002 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J98 e JETTA 2002

Keywords: consecutive testability, consecutive transparency, test access mechanism, system-on-a-chip, design for testability, built-in self test 1. Introduction A fundamental change has taken place in the way digital systems are designed. It has become possible to design an entire system, containing millions of transis- tors, on a single chip. In order to cope with the growing complexity of such modern systems, designers often use pre-designed, reusable megacells knows as cores. Core-based systems-on-a-chip (SoC) design strategies help companies significantly reduce the time-to-market and design cost for their new products.
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J164 e IPSJ 2013 2 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J164 e IPSJ 2013 2

J164 e IPSJ 2013 2 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J164 e IPSJ 2013 2

Although the security level of SR-quasi-equivalents is almost the same as that of SR-equivalents, there are several merits when Fig. 10 Covering relation among classes. applying SR-quasi-equivalents to the scan chain. One merit is as follows. From Fig. 10, we can see all the circuits in I 2 SR, LF 2 SR, and I 2 LF 2 SR are SR-quasi-equivalent, and hence we can use any of them to organize the secure and testable scan chains which means it is very easy to design an SR-quasi-equivalent circuit. Another merit is as follows. As for the influence on test power due to shift register modification, the insertion of inverters and/or XOR gates can reduce test power even more than standard scan design if they are inserted appropriately. However, such modi- fied shift registers are not always SR-equivalent but mostly SR- quasi-equivalent. Hence, SR-quasi-equivalent circuits are useful to easily organize modified scan chains that satisfy low-power testing as well as security and testability similar to SR-equivalent circuits.
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J172 e 2017 9 IEICE 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J172 e 2017 9 IEICE

J172 e 2017 9 IEICE 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J172 e 2017 9 IEICE

Although the structure of a GSR is hard to be identi- fied, it may not be secure if part of the contents of the GSR leak out. To avoid such leakage, we consider more secure scan registers whose contents never leak out. First, we de- fine several concepts in the following. Consider a circuit C with a single input, a single output, and k flip-flops. C is called to be scan-in secure if for any internal state of C a transfer sequence (of length k) to the state (final state) can be generated only from the connection information of C, inde- pendently of the initial state, such that the transfer sequence is always different from that of a k-stage shift register. C is called to be scan-out secure if any present state (initial state) of C can be identified only from the input-output sequence (of length k) and the connection information of C, such that the output sequence is always different from that of a k-stage shift register. C is called to be strongly secure if C is scan-in secure and scan-out secure.
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J154 e MJCS 2010 1 最近の更新履歴  Hideo Fujiwara J154 e MJCS 2010 1

J154 e MJCS 2010 1 最近の更新履歴 Hideo Fujiwara J154 e MJCS 2010 1

The previous works show that DFT methods treat data path and controller separately. In fact, they need the insertion of additional hardware, like a test controller to control the data transfer from the primary input to the targeted fault and from the targeted fault to the primary output. In this paper, we introduce a new DFT method using a high level modeling known as Assignment Decision Diagram (ADD) [13] extended from the previous work that has been done in [12]. Different from [12], we abstract the DFT from the gate level and extend it to RTL. Additionally, our DFT method treats data path and controller unanimously. The DFT method augments a given RTL circuit based on the testability properties called thru function. We extract the thru function from the high level description of a given RTL circuit. Our method will improve test generation time and test application time as well as fault efficiency.
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