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重要となるデバイス・プロセス技術

JAIST Repository: 第10回科学技術予測調査 : マテリアル・デバイス・プロセス分野

JAIST Repository: 第10回科学技術予測調査 : マテリアル・デバイス・プロセス分野

... 3.5 応用デバイス・システム(ICT・ナノテク分野) 現状の性能を凌駕する新規デバイス技術として、スパコン用の集積回路技術、低消費電力メモリ、大 容量・高速ストレージ、高密度記録技術、ナノ機械システムがあげられている。またポストシリコンデ バイスとして、グラフェンなどの 2 次元系半導体のデバイス化・集積化技術や単一スピンを利用したデ ...

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超音波洗浄技術を用いた次世代半導体デバイスの洗浄技術に関する研究

超音波洗浄技術を用いた次世代半導体デバイスの洗浄技術に関する研究

... 10nm 示されている。最近の新聞発表では、台湾 TSMC 社が配線間 5nm の半導体デバイスの試作を始めたの報 道がなされている。この半導体デバイスの製造工程におい て、シリコンウェハ呼ばれるシリコン基板上のナノメー トルオーダの異物(パーティクル)の除去の必要性から、 製造工程の 1/3 ...

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中小製造業における「測定・解析」技術の導入プロセスと取引関係の変化

中小製造業における「測定・解析」技術の導入プロセスと取引関係の変化

... ところが,日本の半導体産業の国際競争力の低下に連動して,ステンレスの部分めっき技 術に関連した売上も徐々に減少してきた。こうした中で,次の事業の柱にしようしている のが「ダイヤモンド特殊電着技術」である。1995 年に,知り合いの工具企業から「金属表面 にダイヤモンドをめっきで固着すること」を要望される。これはめっきダイヤの複合技術 ...

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林業機械作業への習熟モデルの適用と技術習得プロセスの分析

林業機械作業への習熟モデルの適用と技術習得プロセスの分析

... 4.おわりに 機械操作未経験者 4 名を対象として,グラップルロー ダを用いた丸太の荷役作業について,習熟にともなう作 業所要時間の推移を追跡調査した。各オペレータともに 作業の所要時間は,作業経験の増加とともに減少し,経 験時間 10 時間程度まで急激に減少し,それ以降漸減す る傾向を示した。これらの習熟に対して対数線型習熟モ デルを適用した結果,今回調査したすべてのオペレータ に対して,決定係数 0.9 以上の高い相関により習熟モデ ...

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超音波洗浄技術を用いた次世代半導体デバイスの洗浄技術に関する研究

超音波洗浄技術を用いた次世代半導体デバイスの洗浄技術に関する研究

... 3.研究の方法 (1)ウエットプロセスにおける磁場の純水帯電の影響評価 実際の製造現場での現象を再現させるために、図 1 のよ うな実験システムを構築し、純水が帯電するか確認実験を 行った。市販の電磁石(ギガデコ TMS302)の磁界発生部 の間に純水を通して、その純水をファラデーケージで受け、 電荷を測定した。実験条件は噴射圧力 0.2 MPa、純水の比 抵抗値を 17.0 MΩ・cm、磁場:0, 55, 110 mT ...

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JAIST Repository: 国家技術戦略立案プロセスに関する技術経営論的考察

JAIST Repository: 国家技術戦略立案プロセスに関する技術経営論的考察

... (5)国家研究開発投資を上回るインテリジェンス活動投資 日本の科学技術政策は、科学技術系官僚(個人がリスクをとるのをできるだけ避けようするサラリ ーマンの国家公務員)が、科学技術専門家(主に大学教授)を諮問委員(薄謝で調達)にしてその答申 をベースにとりまとめ、国会で政治家の承認を受けるという意思決定プロセスがとられる。つまり国家 ...

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電子デバイスの技術進展による製品戦略の変化

電子デバイスの技術進展による製品戦略の変化

... 1.信頼性は 機械、構成品または設備が指定の条件のもので、ある定められた期間に わたって故障せずに要求される機能を果たす能力。(ISO12100-1:2003より) 狭義には、システム・機器などの故障や不具合の発生しにくさ。 (1)信頼性(Reliability of Machine) ...

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実験サイクルとしての情報技術導入プロセス

実験サイクルとしての情報技術導入プロセス

... Poole and DeSanctis (1990; 1992; 1994) は、意思決 定システムがグループレベルの意思決定プロセスに与 える影響に焦点を当てて、Adaptive Structuration Theory を提唱している。情報技術は、どのように情 報を集め、扱うのかについて、それ自体の構造を持っ ている。ユーザーは、情報技術の構造を認識し、その ...

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JAIST Repository: ノーベル賞と科学技術イノベーション政策 : 選考プロセスと受賞者のキャリア分析

JAIST Repository: ノーベル賞と科学技術イノベーション政策 : 選考プロセスと受賞者のキャリア分析

... 本研究における議論の出発点のひとつとして、 2000 年以降の日本出身のノーベル賞受賞者の増加が 挙げられる。第二次大戦以降、西欧諸国出身の研究者の受賞率が減少し、アメリカ出身の受賞者の割合 が増加するなかで、日本出身の受賞者の割合は 2000 年代以降増加している(図 A)。このことは、科学技 術イノベーション政策、特に基礎研究に対する支援方策の在り方を検討するうえでいくつかの視座を与 ...

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グラフェン複合物性の機能デバイス化技術の研究

グラフェン複合物性の機能デバイス化技術の研究

... 幸いグラフェンの主要な特性を反映するG-peakは、基 板効果を差し引けばピーク位置、半値幅等の各種物性を 反映する定量値を導出することは可能である。また、 2D-peakは基板の影響を受けないため精密な計測が可能 である。特に、2D-peakは層数によりその形状が大きく ことなることが知られており、この特性を用いてグラ フェンの層数評価が可能である。SiC上グラフェンで は、半値幅が40cm -1 ...

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JAIST Repository: スラリーアイス生成技術の開発プロセスと地域活性化への適用事例

JAIST Repository: スラリーアイス生成技術の開発プロセスと地域活性化への適用事例

... として まれている 域活性化 の 用事 を考 する。このスラ ーアイス 成 技術は 科大学が 業 域連 して開発した 自技術であり 日刊 業新 第 6 ノ くり連 大 を し 所に大きなインパクトを与えている。まず この技 術の研究開発のプロ スを する。 にポイントとして スラ ーアイス の開発プ ...

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技術の系統化調査報告「プロセス制御システムの技術系統化調査」

技術の系統化調査報告「プロセス制御システムの技術系統化調査」

... プロセス制御システムの技術系統化調査 A Technical Survey of Process Control Systems ■ 要旨 プロセス制御は、JIS-B0155によるプロセスの操業状態に影響する諸変量を、所定の目標に合致するように ...

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Software Engineering Center Information-technology Promotion Agency, Japan プロセス改善推進者育成コース プロセス改善とは 独立行政法人情報処理推進機構技術本部ソフトウェア エンジニアリング センタープロセス改善 Workin

Software Engineering Center Information-technology Promotion Agency, Japan プロセス改善推進者育成コース プロセス改善とは 独立行政法人情報処理推進機構技術本部ソフトウェア エンジニアリング センタープロセス改善 Workin

... 原子力発電所が狙われたのか ─―。屋外の防災無線58基からの「誤報」に、住民は一時騒然となった。 誤報は、津波や地震、ミサイル発射などの緊急情報を全国の市町村に送る消防庁の「全国瞬時警報システム(J-ALERT )」を通じて伝わった。美浜町の職員が消防庁の指示でJ-ALERTの受信装置を修理した直後だ。 原因は、動作確認に使った試験用の警報データの消去漏れだ。受信装置に残った警報が修理後に流れた。消防庁J- ...

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コンシューマデバイス安全規格の概要と規格策定の方法論 ( 独 ) 産業技術総合研究所 セキュアシステム研究部門 (RISEC) システムライフサイクル研究グループ (IPA/SEC コンシューマデバイス安全標準化 WG 副主査 ) 田口研治 産業技術総合研究所

コンシューマデバイス安全規格の概要と規格策定の方法論 ( 独 ) 産業技術総合研究所 セキュアシステム研究部門 (RISEC) システムライフサイクル研究グループ (IPA/SEC コンシューマデバイス安全標準化 WG 副主査 ) 田口研治 産業技術総合研究所

... – 車載E/Eシステムに関する機能安全規格 ([7]) • US. Food and Drug Administration Infusion Pump Improvement Initiative ([8]) – 500人以上の死への関連性 87 製品のリコール – “… and for making an argument as to why the evidence, your data and analyses, ...

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これに当たる ) 横軸となるのはプロセス項目であり 縦軸は能力の尺度となる ( 図 1) 横軸のプロセスは第 2 部の要求事項を満たしていれば どのプロセス参照モデル (PRM) を採用しても構わないが 一般的にプロセスの国際規格である ISO/IEC 12207( ソフトウェア ライフサイクル プ

これに当たる ) 横軸となるのはプロセス項目であり 縦軸は能力の尺度となる ( 図 1) 横軸のプロセスは第 2 部の要求事項を満たしていれば どのプロセス参照モデル (PRM) を採用しても構わないが 一般的にプロセスの国際規格である ISO/IEC 12207( ソフトウェア ライフサイクル プ

...  アセッサやプロセス改善推進者は、プロセス標準を作 り、展開し品質保証活動などを実施し、かつプロセスア セスメントを実施する。それと共にプロセス改善のプロ フェッショナルとして活動し、現場の改善を推進する役 目を持つことを考えている。現在、これらの人材を育成 し、資格認証する制度を検討中であり、実証実験を実施 している。今後、実証実験の成果をフィードバックし、 ...

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SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

... スマートカードリーダ/ライタのドライバのインストールについては、コンピュータに添付されている「ドライ バーズディスク & ユーティリティディスク」の「\Security\Smart\readme.txt」をご覧ください。 ■FMV-LIFEBOOK シリーズ、FMV-STYLISTIC シリーズをお使いの場合の注意事項 コンピュータ本体のリカバリを実行した場合、スマートカードホルダー、または内蔵スマートカードスロットの ...

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SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

... スマートカードリーダ/ライタのドライバのインストールについては、コンピュータに添付されている「ドライ バーズディスク 1」の「\Security\Smart\readme.txt」をご覧ください。 ■FMV-LIFEBOOK シリーズ、FMV-STYLISTIC シリーズをお使いの場合の注意事項 コンピュータ本体のリカバリを実行した場合、スマートカードホルダー、または内蔵スマートカードスロットの ...

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SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

... セキュリティチップのクリアについては、コンピュータ本体の『製品ガイド』の「 BIOS」-「認証デバイスのセ キュリティ機能を使う」をご覧ください。 なお、セキュリティチップで管理されている鍵や証明書の情報を引き続きお使いになるには、 SMARTACCESS を アンインストールしてセキュリティチップをクリアする前にバックアップし、再インストール後にリストアを行 ...

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SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

... 「FeliCa デバイス」の設定を「使用しない」にする、Windows にログオンできなくなる FeliCa 対応非接触 IC カードを使って Windows ログオンを行っている場合は、BIOS セットアップの「FeliCa デバイス」の設定を「使用する」にしてください。BIOS セットアップの設定については、コンピュータ本体 ...

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SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

SMARTACCESSファーストステップガイド(認証デバイスをお使いになる方へ)

... □ 自動バックアップファイル復元用トークン セキュリティチップで管理しているすべての鍵や証明書のバックアップを行います。 バックアップはスケジュールを設定することにより定期的に行うことができます。 セキュリティチップが故障しても、新しいコンピュータでこのファイルを用いて復元す ることにより、以前利用していた暗号化ファイルなどが利用できるようになります。 ...

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