新材料BaSi
2
による
薄膜太陽電池開発の現状
筑波大学 数理物質系
シリコン系 化合物系 有機系 結晶シリコン アモルファル 単結晶シリコン 多結晶シリコン 微結晶シリコン 多接合へテロ接合型(HIT) III-V族(GaAs) CIGS系 (CuInSe2 ) CdTe 有機半導体 色素増感
厚みによる分類
結晶シリコン太陽電池 薄膜太陽電池接合数による分類
単接合型太陽電池 多接合型太陽電池動作原理による分類
pn接合型太陽電池 色素増感太陽電池材料による分類
太陽電池殆どの太陽電池は、この型です
市販品の殆どは、この型です
50-300
m
< 10
m
太陽電池の分類
シリコン系 新材料 a=0.892nm c=1.158nm b=0.680nmBaSi
2
構造が単純、太陽電池動作の科学的根拠が明確
薄膜単接合で効率25%超を目指せる
Siベース多接合への展開も可能
Si基板a軸配向BaSi
2pn接合(2
m)
光吸収係数
が大きく、禁制帯幅1.3eVの新材料
現在(JST-CREST 2010~)
ガラス基板a軸配向BaSi
2pn接合(2
m)
将来
a=0.892nm c=1.158nm b=0.680nmBaSi
2安全・安心な豊富な元素を用いて、
エネルギー変換効率25%超を目指せる薄膜太陽電池
結晶Si系 薄膜Si系 CIS系 CZTS CdTe III‐V 有機
特徴は?
「太陽電池に適した
Eg」 + 「資源が豊富」 + 「吸収係数が大きく薄膜化可能」
+ 「Si(001),(111)面に高品質成長が可能」+ 「とLの両方が大きい」
太陽光との
整合: Eg 1.4 eVに制御可能 1.1 eV 1.7 eV(a‐Si)1.1eV(‐Si)
1m程度
1.4 eVに
制御可能 1.4‐1.5eV 1.4 eV 0.66‐2.0eV 1.0‐2.0eV 資源量 (地殻中存在 順位) 光吸収層 の膜厚 長期安定性 光劣化 結晶品質 Si(2位) Ba(14位) Sr(15位)
Si(2位) Si(2位) In(65位) Se(66位) Cd(62位) Te(70以下) Cu(26位) Zn(24位) Sn(50位) S(16位) Ga(34位)
As(51位) Ti(9位)I(58位)
100m 数10m 数m 数m 数m 数m 数m 光劣化無し 光劣化 光劣化無し 光劣化無し 電極材拡散 光劣化無し 高配向膜 バルク結晶高品質 アモルファス+ 微結晶 微結晶 微結晶 高品質 エピ膜 微結晶 アモルファス + 微結晶 光劣化無し
BaSi
2効率
資源
膜厚
安定性
効率
材料 項目日本発の新しい太陽電池材料
置換(Toxic NonToxicヘ)
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
1E-5
1E-4
1E-3
0.01
0.1
1
10
100
Atomic number
Existence ratio in earth’s crust [%]
O
Si
Al
Mg
Fe
Ca
Ga
Ge
As
Se
Sr
Cd
In
Sn
Sb
Ba
Pb
W
P
Mn
Te
S
H
Li
Be
B
C
N
桜井弘 「元素
111の新知識」 (講談社, 1997年)
資源が豊富: Si, Ba (Sr)
102 103 20 30 40 50 60 70 102 103 *Si(222) Si(111) BaSi2(600) BaSi2(400) BaSi2(200) Si(111) sub. (b) (a) SOI sub.
Intensity (Counts)
2
(deg)
SiO
2
0.1m-Si(111)
along Si[1-10] along Si[11-2]
RDE-BaSa
2MBE-BaSi
2大きな光吸収係数
薄膜化に有利
SiO
2
m-Si(111)
Undoped n-BaSi2Ba
Ba
Si
BaSi2 template (10nm)SiO
2
SiO
2
0 500 1000 1500 2000 2500 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 Transmittance Wavelength (nm)
T
T
mT
M 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 102 103 104 105 106Absorption Coefficient (cm
-1)
Photon Energy (eV)
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 0 1 2 3 4 5 ( ad h ) 1/ 2 (eV 1/ 2 )
Photon Energy (eV) R. Swanepoel: J. Phys. E: Sci. Instrum. 16 (1983) 1214.
m M
T
T
T
Toh,…, Suemasu, Jpn. J. Appl. Phys. 50 (2011) 06800.
1.34eV
3×10
4
cm
‐1
結晶
Siの40倍程度
~0.3mで、 63%の光を吸収する
Migas et al., phys. stat. sol. (b) 244 (2007) 2611. Ge Si GaAs
大きな
L(間接遷移型半導体)と、
大きな光吸収係数
(
)が利用できる
L
L
)
R
(
q
j
1
1
0L
&
の両方が大きい材料が有利
Si: 大きな L
& 小さな
(間接遷移型)
GaAs: 小さな L
&
大きな
(直接遷移型)
光電流(密度)
薄膜でも大きな光電流が期待できる
: 光吸収係数
L: 少数キャリア拡散長~光励起キャリアを補修できる範囲
BaSi
2光吸収層
(n~10
16cm
-3)で、約9m
Baba,.., Toko, T. Suemasu, JCG 348 (2012) 75.
0 10 20 30 40 50 60 70 80
EBIC current [arb. unit]
A' Distance [m] A
μm
4
9.
L
),
L
x
exp(
大きな少数キャリア拡散長L 光電流に有利
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
6.5
7.0
3x10
154x10
155x10
156x10
157x10
158x10
15Electr
on density [
cm
-3]
1000/T [1/K]
300
250
200
150
0
300
600
900
1200
Mobility [cm
2/V
s]
Temperature [K]
Morita,…, Suemasu, Thin Solid Films 508 (2006) 363.
Ba
S
i
Zintl phase (A
aX
x)
Si-Si: covalent
Ba-Si: ionic
B
Al
Ga
In
N
P
As
Sb
Si
11 13 14 15 Baサイトより、Siサイトが置換されやすい Y. Imai et al., Intermetallics 15 (2007) 1291.Thin Solid Films 515 (2007) 8242. APEX 1 (2008) 051403.
n=5×10
15cm
-3
e=820cm
2/Vs
アンドープ
BaSi
2の電気特性
Cu
Ag
不純物ドーピングによる伝導型・キャリア密度の制御
Du,…, Baba,.., Suemasu, Appl. Phys. Lett. 100 (2012) 152114. Sb doped n+-BaSi 2 undoped n-BaSi2 0.4 m Tunnel Junction
Si(111)
1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 0 20 40 60 80IQE (%)
Photon energy (eV)
0 V 0.5 V 1.0 V 1.5 V 2.0 V
RT
A
V
分光感度特性
内部量子効率
> 70%
新技術の特徴・従来技術との比較
• 従来はCIGS, CZTS, CdTeが薄膜太陽電池の
代表。しかし、必ずしも資源が豊富では無い。
・本技術の適用により、資源が豊富な元素のみ
を使い、従来の薄膜太陽電池以上のエネル
ギー変換効率が期待できる。
・Siベースのタンデム型太陽電池への展開も可能
Si(111)
BaSi2 (0.4 m)hv
n+-BaSi 2
W. Du,.., M. Baba,.., T. Suemasu, Appl. Phys. Lett. 100 (2012) 152114.
1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 0 20 40 60 80 100 IQE (%)
Photon energy (eV) 0 V 0.5 V 1.0 V 1.5 V 2.0 V RT
Target
pn diode
Si(111)
Formation of B-doped p+-BaSi 2
To be presented at Int. Conf. on MBE in Sept. 26, 2012
n-BaSi2 (2 m) p+-BaSi 2 内部量子効率 > 70% n∼1016cm-3
Si(111)
n+-BaSi 22mまで厚膜化
n-BaSi2 (2 m)pn diode on Glass
Glass
p+-BaSi 2 <111>Si by AIC n-BaSi2 (2 m)H24年6月現在の研究フェーズ
実用化に向けた課題
• 現在、薄膜成長、光学特性、ドーピング等の太陽電
池作製のための要素技術を確立。
• 光吸収係数、キャリア拡散長等、光電流の大きさを
支配するパラメータの測定に成功。極めて良好な値。
• 大きな内部量子効率を実現(高品質薄膜成長)
現在、in-situおよびex-situ(イオン注入)法による、
pn接合形成に向けて取り組んでいる。
全体の研究計画
全体の研究計画
・ガラス基板への展開
ガラス基板への展開
(111)‐oriented Si
Anneal
500℃, 10 h
SiO
2SiO
2SiO
2a-Si(100 nm)
Al(100 nm)
poly-Si
Al
MBE substrates
RMS = 14.7 nm
SiO
2Sub
SiO
2Sub
SiO
2Sub
(111)-oriented Si
(111)-oriented Si
(111)-oriented Si
Undoped n-BaSi2 ~300 nm(~1016 cm-3) RDE growth Tsub: 550℃ MBE growth Tsub: 500℃ n-BaSi2 template
Tsukada,…..Suemasu, J. Cryst. Growth 311 (2009) 3581.
100μm
EBSD(ND)
5 mm
5 mm
5 mm
5 mm
Al-induced crystallization (AIC) method
1.0 1.5 2.0 2.5 0.00 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05 0.06
4 V
2V (AIC-Si
×
10)
1 V
2 V
3 V
5 V
2%
4%
6%
8%
Photore
sponsivity (A/W)
Photon energy (eV)
RT
1.5 mm
n-BaSi
2 (0.3 m) <111>Si by AIC (p~1018cm-3)SiO
2hv
0.4 m 1.0 1.5 2.0 2.5 0.00 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05 0.062V (AIC-Si
×
10)
Photoresponsivity (A/W)
Photon energy (eV)
RT
0.1m
111
100 110
(a)
(b)
(c)
50 m
50 m
50 m
Underlayers
SiO
2AZO
ITO
EBSD
images
Al(100nm)
SiO
2sub.
a-Si(100nm)
Al
SiO
2sub.
poly-Si
TCO
TCO
SiO
2sub.
poly-Si
TCO
スパッタ法でのBaSi
2
膜の形成
東ソー製スパッタターゲット
1.0
1.5
2.0
2.5
0
2
4
6
RT
Phot
ore
spons
iv
it
y [m
A/
W]
Photon energy [eV]
bias voltage
0V
0.5V
1.0V
1.5V
2.0V
SiO
2
undoped n-BaSi2 (0.5 m) 1.5 mm hv Stripe-shaped electrode 米山貴裕,岡田敦史,鈴野光史,渋田見哲夫,松丸慶太郎,都甲 薫,末益 崇 "スパッタ法によるBaSi2 薄膜の形成と評価," 第59回応用物理学関係連合講演会, 17p-GP17-3, 東京, March 17 (2012).企業への期待
• ガラス基板へのBaSi
2
の展開について、
発明人: 末益 崇 出願番号: 2007-223671(筑波大学) 国際番号: PCT/JP2008/065312(JST) 「半導体材料、それを用いた太陽電池、 およびそれらの製造方法」