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《セミナー》
科学分析支援センター 徳永 誠
開催日：平成24年7月24日（火）
ご協力：株式会社日立ハイテクノロジーズ，ブルカー・エイエックスエス株式会社 出席：87名
内容：電子顕微鏡には，透過型（TEM）と走査型（SEM）の２種類がある．TEMは主として試料内部の微 細構造に関する情報が得られ，SEMは主として試料表面の微細構造に関する情報が得られる．科学分 析支援センターにはTEM 2台，SEM 4台が設置されており，X線元素分析装置（EDX）などの付属アタッ チメントも充実している．今回のセミナーでは，これらの装置を教育・研究に，より有効活用していただくた めに，TEM，SEM装置及び付属アタッチメントであるEDXの原理と基礎の解説，並びに当センター所有 の装置で測定可能なアプリケーションを中心とした実例を紹介して頂いた．
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