構造解析学

授業科目名 （英文名） 構造解析学 (Structure Analysis) 科目区分 対象学生 ※ 単位数 2.00 開講年次・ 学期 2年次・後期 担当教員 福室 直樹 所属 工学研究科 ｵﾌｨｽｱﾜｰ・場所 ※ 連絡先 ※ 講義目的及び到達目標 固体材料（金属、半導体、セラミックス、ポリマー、および複合材料）の物性は、こ れらの物質の構成元素、化学結合状態、結晶構造、集合組織および表面形態などの構 造に依存する。従って、材料開発においては物性を制御する上で構造解析が非常に重 要である。本講義では、各種の元素分析法、表面分析法、結晶構造解析法および組織 ・形態観察法の原理と特徴を理解し、目的に合った手法を選択して得られた結果を解 析できるようになることを目標とする。 講義内容・授業計画 各種分析法の原理と特徴、および得られた分析結果の解析法について解説し、分析事 例を紹介する。 1. 固体材料の微視的構造と巨視的構造 2. 蛍光Ｘ線分析法 3. 電子顕微鏡1（走査電子顕微鏡とエネルギー分散型Ｘ線分光法） 4. 電子線マイクロプローブアナライザー 5. オージェ電子分光法, Ｘ線光電子分光法 6. 二次イオン質量分析法、グロー放電発光分光法, ICP発光分光法, ICP-MS 7. 各元素分析法に関する演習と解説 8. Ｘ線回折法1（Ｘ線の性質と結晶構造） 9. Ｘ線回折法2（結晶による回折と構造解析） 10 Ｘ線回折法3（結晶配向の評価と結晶粒径の測定） 11. Ｘ線回折法4（消滅則、構造因子、逆格子ベクトル） 12. 電子顕微鏡2（透過電子顕微鏡の像コントラスト） 13. 電子顕微鏡3（電子回折法、電子後方散乱回折法） 14. 電子顕微鏡4（観察用試料作製法） 15. 走査プローブ顕微鏡、その他の分析法 テキスト 「入門表面分析」 吉原一紘 著 内田老鶴圃、プリント配布 参考文献 「X線構造解析」 早稲田嘉夫 著 内田老鶴圃、「結晶電子顕微鏡学」 坂 公恭 著 内田老 鶴圃 成績評価の基準・方法 成績評価の基準 各種の元素分析法、表面分析法、結晶構造解析法および組織・形態観察法の原理と特 徴を理解し、目的に合った手法を選択して得られた結果を解析できる者に単位を授与 する。 講義目的・到達目標に記載する能力（知識・技能、思考力、判断力、表現力等）の到 達度に応じてSからCまで成績を与える。 成績評価の方法 レポート・小テスト30％、定期試験30％を基準として、受講態度（積極的な質問等） を含めて総合的に評価する。 履修上の注意・履修要件 ≪新型コロナウィルス感染症に伴う特例措置に基づく遠隔授業≫ ・当授業は、原則全ての授業を対面で実施する予定ですが、履修者人数によっては、 新型コロナウィルス感染症対策として、履修者を複数の教室に分けて教室間をオンラ インで繋ぐ方法や、対面授業と自宅でのオンライン授業を隔週実施する方法とする場 合があり、自宅等でオンライン授業の受講を視聴できる通信環境(PC・タブレット等の 端末やWi-Fi環境)が必要となる場合があります。最終的な授業方法は履修登録後に決定 ・連絡します。 実践的教育 該当しない。