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日大生産工      小山  潔、星川  洋

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Academic year: 2021

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(1)

マルチ化検出コイル渦電流探傷Θプローブにおけるきず評価に関する研究

日大生産工(院)  ○小松  慶亮

日大生産工      小山  潔、星川  洋

1.

はじめに

生産ラインにおける金属製品の表面きず検査に おいてはライン方向に長いきずの検出と、きずの 深さ評価が求められている。この検査に試験体に 非接触で高速度に探傷が可能な渦電流探傷試験を 適用することを考える。

従来から用いられている渦電流探傷プローブで は試験体とプローブの相対距離(以下、リフトオ フ)が変化すると雑音が大きくなる。また、ライン 方向に長いきずの検出は困難であるという問題点 があった。それに対し、リフトオフによる影響の 小さいΘプローブを用いて探傷を行うことで従来 のプローブと比較して信頼性高い検査が行えるこ とが報告されている

1)

。このΘプローブを用いて ライン方向に長いきずを検出するためには、検出 コイルをマルチ化したマルチ化検出コイル渦電流 探傷Θプローブが提案されている。

3mm間隔で検

出コイルを配置し、5 個一組で探傷信号を取り扱 う事で、ライン方向に長いきずの検出と位置の判 別が可能であることが分かった

2)

。また、きず深 さによって変化する信号位相を用いて、ニューラ ルネットワーク(以下、

NN)を適用することできず

深さ評価が行えることが分かった

3)

。そこで、マ ルチ化検出コイル渦電流探傷Θプローブの検出コ イルの間隔を変えたときにNNによるきず深さ評 価がどのように変化するか検討した。

2.

マルチ化検出コイル渦電流探傷Θプローブの 探傷原理

図1 にマルチ化検出コイル渦電流探傷Θプロー ブの構造を示す。このプローブは一つの矩形横置 きの励磁コイルと、複数の矩形縦置きの検出コイ ルから構成されている。

ここで複数ある検出コイルから一つを取り出 して原理について考える。このプローブは検出コ イルの巻線と平行に流れる渦電流成分をきず信号 として検出する。図

2(a)のように試験体にきずが

無い場合、誘導された渦電流は励磁コイルの巻線 と同方向にのみ流れ、検出コイルの巻線と平行方 向には流れないため信号は発生しない。またリフ トオフが変わっても検出コイルの巻線と平行方向 に渦電流が流れないのでリフトオフによる雑音は 発生しない。図

2(b)のようにきずがある場合、誘

導された渦電流はきずを避けるように流れる。こ の時、検出コイルの巻線と平行方向に渦電流が流 れるのできず信号が発生する。また、検出コイル の巻線と平行方向に流れる渦電流は検出コイルと きずの位置によって流れる向きが異なる。 従って、

きずの位置によって信号の極性が異なる。これを 用いることできず位置の判別が可能である。しか

し、図

2(c)のように検出コイル直下にきずが位置

した場合、避けて流れた渦電流が互いに打ち消し 合うために信号は発生しない。このように矩形縦 置きの検出コイルは検出コイルからやや離れた領 域で探傷していることが分かる。この領域を複数 並べた検出コイル同士で補うことによりきずがど こにきても検出することが可能である。

Scan direction Detecting coils

flaw

Y X

Exciting coil

1  マルチ化検出コイルΘプローブのモデル

Study on flaw evaluation by eddy current

Θ

probe with multiple detecting coils. 

Keisuke KOMATSU , Kiyoshi KOYAMA and Hiroshi HOSHIKAWA

(2)

Eddy Current Eddy Current

Flaw

2  試験体に誘導される渦電流

(c)  検出コイル直下にきずが位置した場合 Detecting coil

Flaw

Probe Scan direction

3  走査方向

θ

Detecting coil

3.

きず深さと信号位相の関係

非磁性材料にこのプローブを適用すると、きず 深さによって信号位相が変化する。この信号位相 に注目してきず深さ評価することを検討する。図

3

のようにきずに対し、プローブを垂直に走査す る。このように走査すると図

4

のようなきず信号 パターンを得ることができる。このパターンを見 るときず深さによって信号位相が変化しているこ とが分かる。

-0.04 -0.02 0 0.02 0.04 -0.04

-0.02 0 0.02 0.04

80%

60%

In-phase component [V]

Quadrature component [V]

(b)  きずがある場合 (a)  きずが無い場合

4  きず深さが変わったときの

信号パターン

Eddy Current

4.

実験方法

試験体として

160mm×160mm2

で、厚さ

1.5mm

の黄銅板を用いた。この試験体の中央にスリット 状のきずを放電加工し、そのきず幅を

0.5mm、長

さを10mm,15mm,25mm、 深さを板の肉厚に対し、

80%、60%、40%、20%とした。また、きず幅

0.2mm,0.8mm、長さを15mm、深さ80%の試験体

を用いた。

試験プローブの励磁コイルは縦70mm、 横7mm、

巻線断面積1×1mm

2

である。また検出コイルは幅

5mm、高さ10mm、巻線断面積1×1mm2

である。

以下に試験周波数

20kHz

の時の結果を示す。

Flaw

5.

マルチ化検出コイル渦電流探傷Θプローブの 実験結果

ライン方向に長いきずを検出するために検出 コイルを複数配置したマルチ化検出コイル渦電流 探傷Θプローブの模擬実験を行った結果を図

5

に 示す。複数ある検出コイルのうち、きずに最も近 い検出コイルを中心に

5

個一組で探傷信号を取り 扱う。こうすることできずの検出ときず位置の判 別を可能とする。図

5(a)は複数ある検出コイルの

一つときずが重なっている場合の結果である。き ずに最も近い検出コイルを

coil.0

として

5

個を抜 き出した探傷信号を見ると、

coil.-1

coil.1

できず 信号の極性が反転していることが分かる。検出コ イルに対するきず位置によって信号の極性が異な ることからきずは

coil.-1

coil.1

の間にあること が分かる。さらに

coil.0

に信号が発生していない

ことから

coil.0

直下にきずがあることが確認でき

る。また図

5(b)

のようにきずが

coil.0

coil.-1

間にある場合も同様に信号の極性が反転している

coil

の間にきずがあることが確認できる。以上の

(3)

0 -1 1 0 -1

Flaw Signal[V] 1 0 -1

-1 0 1

-20 -10 0 10 20

X P o s i t i o n [ m m ] 1

1 0 -1

0 -1 1 0 -1 1 0 -1

-1 0 1

-20 -10 0 10 20

X P o s i t i o n [ m m ] 1

1 0 -1

D.c.θ–1 D.c.θ–2

D.c.θ0

D.c.θ1

D.c.θ2

D.c.θ–1 D.c.θ–2

D.c.θ0

D.c.θ1

D.c.θ2

Detectingcoil

c. 0 c.-1 c.-2

c. 1 c. 2

図5  マルチ化プローブの各検出コイル信号

(a)検出コイル直下

にきず

(b)coil.0

と-1 の間 にきず

phase In

Quadrature

i =tan−1

ことからマルチ化検出コイル渦電流探傷Θプロー

θ

ブを用いることでライン方向に長いきずの検出と 位置の判別が可能であることが分かった。

また、図

5

の各点の信号位相を算出してきず深 さ評価することを考える。図

5(a)の各点を図6

の 信号パターンに対応させる。そして図中の式を用 いて信号位相を算出する。

6  信号位相の算出方法

7  きず深さと信号位相

8  きず長さと信号位相

0 20 40 60

Flaw length [mm]

Phase angle [deg]

10 15 25

Flaw : width 0.5mm , depth 80%

20 40 60 80

0 20 40 60

Flaw depth [%]

Phase angle [deg]

Flaw : length 15mm , width 0.5mm

0 20 40 60

Flaw width [mm]

Phase angle [deg]

0.2 0.5 0.8

Flaw : length 15mm , depth 80%

9  きず幅と信号位相

-0.04 -0.02 0 0.02 0.04 -0.04

-0.02 0 0.02 0.04

In-phase component [V]

Quadrature component [V]

c.θi

  非磁性材料にこのプローブを適用するときず深 さによってその信号位相が変化する。図

4

の信号 パターンのピークピーク値を直線で結び、その位 相角θを深さが変わった場合についてそれぞれ求 める。その結果を図

7

に示す。この図からもきず 深さによって信号位相が変化していることが確認 できる。また、きず深さが同じで、きずの長さや 幅が変わった場合について検討を行った。図

8

と 図

9

を見ると、信号位相はきずの長さ、幅ではな く、深さのみに依存していることが確認できる。

従ってこの信号位相を用いることできず深さ評価 の可能性があることが分かる。

  このきず深さによって変化する信号位相を用い

NN

を適用し、 きず深さ評価について検討した。

(4)

1.  NN

によるきず深さ評価

C C

C C

1.5

C C

C C

1.0

C C

C C

0.5

C C

C C

0

C C

C C

-0.5

C C

C C

-1.0

C C

C W

-1.5

20%

40%

60%

Dt.c位置 80%

Flaw: width 0.5mm , length 10mm

6. NN

を用いたきず深さ評価

NNは学習信号と教師信号を与えることで学習

し、 学習したNNは学習を行っていないものに対し ても正しく答えられる汎化能力を有している。図

10

Inputに図5

に示すマルチ化検出コイル渦電流

探傷ΘプローブのD.cθ

-2

から

D.cθ2

を入力する。

今回用いた学習信号はきず幅0.5mm、きず長さ

15mm、きず深さを80%,60%,40%,20%の信号位相

とした。また、きず深さに対する教師信号を図の ようにした。 学習させたきず位置は

3カ所で、coil.0

直下にきずがある場合、

coil.0

から

coil.-1側に1mm

ずれた場合、coil.0 から

coil.1

側に

1mm

ずれた場 合である。

この学習したNN に、きずの位置が-1.5mm から

1.5mm

まで

0.5mm

間隔と学習していない範囲に

ずれた時に、きず長さが変わった場合、幅が変わ った場合について判別させた。その結果の一例を 表

1

に示す。この表は判別を行わせたとき、教師 信号と

NN

の出力信号が一致した場合に正解出力

(Correct answer)としてC

を与え、教師信号と一致 しなかった場合、不正解出力(Wrong answer)として

W

を与えたものである。この結果を見ると学習し ていないものに対してもきず深さ評価ができてい ることが分かる。このように学習していないもの に対しても正解に近い出力することができるため に

NN

は少ない学習データで汎用性を持っている ことが分かる。

11

に検出コイルの間隔を

2mm

から

8mm

ま で変えて検討した結果を示す。この図を見ると検 出コイルの間隔が

3mm

付近で最も良い結果が出 ていることが分かる。従って、マルチ化検出コイ ル渦電流探傷Θプローブの検出コイルの間隔は

3mm

が適切であることが分かる。

Test frequency 20kHz

2 3 4 5 6 7 8

0 20 40 60 80 100

Rate of correct answer [%]

Detecting coil distance[mm]

11

  検出コイル間隔が変わったときの

NN

正解出力比

7.

おわりに

本研究では検出コイルをマルチ化したマルチ化 検出コイル渦電流探傷Θプローブにおけるきず検 出ときず深さ評価の検討を行った。

周波数が

20kHz

の時、 検出コイルの間隔を3mm

にしてマルチ化することで、ライン方向に長いき ずの検出が可能であることが分かった。また、き ず深さによって変化する信号位相を用いて、NN を適用することによりきず深さ評価ができる事を 確認した。

参考文献

1)

柄澤、小山、星川:リフトオフ雑音が発生しな い渦流探傷用新型上置プローブに関する研究  非 破壊検査第

50

11

pp736-742(2001)

2)

小松、小山、星川

:検出コイルをマルチ化した

渦流探傷Θプローブに関する研究  第8 回表面探 傷シンポジウム

pp53-58(2005)

3)

小松、小山、星川

:検出コイルをマルチ化した

渦流探傷Θプローブにおけるきず評価について  平成

17

年度

JSNDI

春季大会

pp159-160(2005) D.c.θ0

D.c-2

D.c-1

D.c1

D.c2

Input Output      F la w D e p th

80% 60% 40% 20%

0 1 0 0

1 1

1 0 0 0 0 0 0 0 0 0

N N

10  NN

と教師信号

図 9  きず幅と信号位相-0.04 -0.0200.02 0.04-0.04-0.0200.020.04In-phase component [V]Quadrature component [V]c.θi  非磁性材料にこのプローブを適用するときず深さによってその信号位相が変化する。図4の信号パターンのピークピーク値を直線で結び、その位相角θを深さが変わった場合についてそれぞれ求める。その結果を図7に示す。この図からもきず深さによって信号位相が変化していることが確認できる。また、きず深さが同じで、きずの長
表 1.  NN によるきず深さ評価 CCCC1.5CCCC1.0CC C C0.5CCCC0CC C C-0.5CCCC-1.0CCCW-1.5 20%40% 60% Dt.c位置80%

参照

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