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FK4B0343ZL All in one N-channel MOS FET ADVANCE INFORMATION Features For passive cell balancing circuits Built-in cell discharge resistor, gate-source

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Academic year: 2021

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(1)

Unit: mm  Features

 Marking Symbol : 2F  Packaging

 Absolute Maximum Ratings Ta = 25 ºC

Source-resistance Current

Note *1 Mounted on FR4 board ( 25.4 mm × 25.4 mm × t1.0 mm ).

FR4 board fully covered with copper pad ( 611 mm2 area, 35 mm thickness ).

*Di1 : Body Diode contained in MOSFET structure *Di2 : Zener Diode

*R1 : Gate Resistance *R2 : Discharge Resistance *R3 : Gate-source Resistance Page

2018.4.24 ver.5.0

For Automotive

 For passive cell balancing circuits

Built-in cell discharge resistor, gate-source resistor and zener diode CSP( Chip Size Package )

Halogen-free / RoHS compliant ( EU RoHS / UL-94 V-0 / MSL : Level 1 )

Parameter Symbol Rating Unit Embossed type ( Thermo-compression sealing ) : 20 000 pcs / reel ( standard )

JEITA

5 of 1

FK4B0343ZL

All in one N-channel MOS FET

   1. Gate 3. Drain 2. Source 4. Resistance DC ISR *1 150 mA Gate-source Voltage Drain-source Voltage V V VDS VGS 30 +5 / -0.5 Panasonic MLGA004-W-1212-RA01 — Total Power Dissipation

Operating Junction

and Storage Temperature Range Tj,Tstg -55 to +150 ºC

— Code PD *1 1.3

Equivalent circuit

W R1 R2 R3 Di2 Di1 2(S) 3(D) 1(G) 4(R)

(2)

 Electrical Characteristics Ta = 25 ºC  3 ºC

IDS = 75 mA, VGS = 2.5 V Body Diode Forward Voltage

Zener Diode Forward Voltage Zener Diode Reverse Voltage

Discharge Resistance

Gate-source Resistance*1

Note Measuring methods are based on JAPANESE INDUSTRIAL STANDARD JIS C 7030 Measuring methods for transistors.

*1 Guaranteed by design, not subject to production testing.

*2 Measurement circuit for Turn-on Delay Time / Rise Time / Turn-off Delay Time / Fall Time.

4V 0V 8V 0V Page

2018.4.24 ver.5.0

For Automotive

300 50 2100 R3 Rgs VGS = 1 V RDS(on)1 RDS(on)3 Rise Time *1,*2

Drain-source On-state Resistance

IDS = 75 mA, VGS = 4.5 V 40 0.7 RDS(on)2 Di1 VF(s-d) Di2 VF VZ R1 Ciss ID = 75 mA RL = 200 W Qg1 Qg2 Qgs

Turn-on Delay Time *1,*2 td(on)

td(off) Fall Time *1,*2 tf VDD = 15 V, VGS = 1.5 V IDS = 150 mA VDD = 15 V Gate-drain Charge *1 Rd VDR = 1 V R2

Turn-off Delay Time *1,*2

Gate-source Charge *1 Rg Qgd Gate Resistance *1 310 0.6 1.2 45 945 1.6 1.5 IF = -1 mA 5.5 Output Capacitance *1 1 Zero Gate Voltage Drain Current

VGS = 5 V, VDS = 0 V 30

Gate-source Leakage Current IGSS

IF = 75 mA, VGS = 0 V VDD = 15 V, VGS = 0 to 4 V IDS = 75 mA tr VDD = 15 V, VGS = 4 V IDS = 150 mA VDD = 15 V, VGS = 0 to 4 V IDS = 75 mA IZ = 1 mA 5.0 6.0 VDS = 30 V, VGS = 0 V Gate-source Threshold Voltage

Unit

Drain-source Breakdown Voltage VDSS IDS = 1 mA, VGS = 0 V 30 V

Symbol Conditions Min

Parameter Typ Max

μA mW V pF V μA IDSS 1.1 45 IDS = 320 mA, VDS = 10 V Vth IDS = 75 mA, VGS = 1.5 V 0.35 0.65 43 VDS = 15 V, VGS = 0 V f = 1 kHz 0.9 60 900 280 V V 200 of 5 2 ns 315 2.6 0.4 kW 55 W 400 kW Input Capacitance *1 Crss 380 nC

Total Gate Charge *1

Coss 58

Reverse Transfer Capacitance *1

160 f = 1 MHz PW = 10 ms D.C. 1 %

Vin

50 W

Vout

S

G

D

50 W

R

10 %

90 %

90 %

10 %

90 %

10 %

Vin

Vout

td(on) tr

td(off) tf

VGS

(3)

Technical Data ( reference )

Page

2018.4.24 ver.5.0

3 of 5 IDS - VDS*1 RDS(on) - IDS*1

IDS - VGS*1 RDS(on) - VGS*1 IF - VF(s-d)*1 IDS - VDS*1 1.E-05 1.E-04 1.E-03 1.E-02 1.E-01 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 VDS = 10 V Ta = 125 ℃ -40 ℃ 25 ℃ 85 ℃ 0 20 40 60 80 100 120 140 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 VGS = 1.5 V 2.5 V 4.5 V Ta = 25 C 0 20 40 60 80 100 120 140 0 1 2 3 4 5 Ta = 125 ℃ 85 ℃ 25 ℃ -40 ℃ IDS = 75 mA 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0 0.01 0.02 0.03 0.04 1.5 V 2.5 V VGS = 4.5 V Ta = 25 C 1.E-04 1.E-03 1.E-02 1.E-01 1.E+00 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1

Ta = 125 ℃

-40 ℃

25 ℃

85 ℃

VGS = 0 V

Body Diode Forward Voltage , VF(s-d) ( V )

Di ode F orw ard Cur rent , IF ( A ) Dr ai n Curr ent , IDS ( A ) Dr ai n Curr ent , IDS ( A ) Drain-source Voltage , VDS ( V ) Dr ai n -S ourc e O n -s tate Res is tanc e RDS(on) ( m W )

Drain Current , IDS ( A )

Dr ai n -s ourc e O n -s tate R es is tanc e RDS(on) ( m Ω ) Gate-source Voltage , VGS ( V ) Z er o G ate Vol tage D rai n Cu rr ent IDS ( A ) Drain-source Voltage , VDS ( V ) 1.E-11 1.E-10 1.E-09 1.E-08 1.E-07 1.E-06 1.E-05 1.E-04 1.E-03 0 10 20 30 40 50

Ta = 125℃

25℃

-40℃

85℃

Gate-source Voltage , VGS ( V )

(4)

Technical Data ( reference )

*1 Pulse measurement

*2 Mounted on FR4 board ( 25.4 mm × 25.4 mm × t1.0 mm ).

FR4 board fully covered with copper pad ( 611 mm2 area, 35 mm thickness ).

Page

2018.4.24 ver.5.0

IGS - VGS ( IF - VF )*1 IGS - VGS ( IR - VR )*1

Rth - tsw*2 Dynamic Input / Output Characteristics

Ta - Rd*1 Ta - ISR*1 4 of 5 0 1 2 3 4 5 0 2 4 6 8 VDD = 15 V IDS = 150 mA Ta = 25 C 1 10 100 1000 0.001 0.1 10 1000 Ta = 25 ºC Pulse Width , tsw ( s ) T herm al Res is tanc e , Rth ( ºC / W )

Total Gate Charge , Qg ( nC )

G ate -s our c e Vol tage , VG S ( V ) 1.E-06 1.E-05 1.E-04 1.E-03 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 Ta = 125 ℃ -40 ℃ 25 ℃ 85 ℃ G ate -s ourc e Leak age Cur rent -IG S ( A ) Gate-source Voltage , -VGS ( V ) G ate -s ourc e Leak age Cur rent IG S ( A ) Gate-source Voltage , VGS ( V ) 1.E-06 1.E-05 1.E-04 1.E-03 0 2 4 6 8 Ta = 125 ℃ -40 ℃ 25 ℃ 85 ℃ Ambient Temperature , Ta (℃ ) Di sc harge Res is tanc e , Rd ( Ω ) 0 10 20 30 40 50 60 70 80 -50 0 50 100 150 0 50 100 150 200 250 -50 0 50 100 150 Ambient Temperature , Ta (℃ ) S ourc e -r es is tanc e Cur rent , IS R ( m A )

(5)

Unit: mm

 Land & Stencil Pattern ( Reference )

Unit: mm

Page

2018.4.24 ver.5.0

For Automotive

 Outline

5 of 5

3

4

2

1

1.2

±0.03

1

.2

± 0 .0 3 Mark Identifier

( Top View )

( Front View )

( Bottom View )

0

.6

5

0.65

Φ0.35

±0.03

(0.2

7

5

)

(0.275)

3

4

2

1

0

.1

± 0 .0 2

Φ0.35

0

.6

5

0.65

(6)

ソニック株式会社または他社の知的財産権もしくはその他の権利の許諾を意味するものではありません。し

たがって、上記技術情報のご使用に起因して第三者所有の権利にかかわる問題が発生した場合、当社はその

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ある用途 - 特定用途(車載機器、航空・宇宙用、輸送機器、交通信号機器、燃焼機器、医療機器、安全装

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書での取り交わしをお願いします。文書での取り交わしなく使用されたことにより発生した損害などについ

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さい。したがって、最終的な設計、ご購入、ご使用に際しましては、事前に最新の製品規格書または仕様書

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(5) 設計に際しては、絶対最大定格、動作保証条件(動作電源電圧、動作環境等)の範囲内でご使用いただきま

すようお願いいたします。特に絶対最大定格に対しては、電源投入および遮断時、各種モード切替時などの

過渡状態においても、超えることのないように十分なご検討をお願いいたします。保証値を超えてご使用さ

れた場合、その後に発生した機器の故障、欠陥については当社として責任を負いません。

また、保証値内のご使用であっても、半導体製品について通常予測される故障発生率、故障モードをご考

慮の上、当社製品の動作が原因でご使用機器が人身事故、火災事故、社会的な損害などを生じさせない冗長

設計、延焼対策設計、誤動作防止設計などのシステム上の対策を講じていただきますようお願いいたします。

(6) 製品取扱い時、実装時およびお客様の工程内における外的要因(ESD、EOS、熱的ストレス、機械的スト

レス)による故障や特性変動を防止するために、使用上の注意事項の記載内容を守ってご使用ください。分

解後や実装基板から取外し後に再実装された製品に対する品質保証は致しません。

また、防湿包装を必要とする製品は、保存期間、開封後の放置時間など、個々の仕様書取り交わしの折に

取り決めた条件を守ってご使用ください。

(7) 本書に記載の製品を他社へ許可なく転売され、万が一転売先から何らかの請求を受けた場合、お客様にお

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No.010618

参照

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