JAIST Repository: ハロゲン架橋一次元複核錯体Pt_2(dta)_4IのX線構造解析
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(2) ハロゲン架橋一次元複核錯体 Pt2(dta)4I の X 線構造解析 中神 敏志. (三谷研究室). Pt2 (dta)4 I（ dta=CH3 CS2 0 ）は、Pt2 (dta)4 がヨウ素イオンで直線的に架橋され た構造をとっておりハロゲン架橋一次元金属錯体と呼ばれる。この物質系ではしばしば、 混合原子価状態と呼ばれる、金属が等価な酸化数でなくある決まった周期的な酸化状態 をとり、そのことが種々の興味有る物性を引き出している。表題の物質はこれまでに バッチ依存性が確認されており、その原因は不明である。また現在までに行なわれた 種々の物性測定により、低温領域においていくつかの構造変化が予想されているが、そ れを確かめる構造解析実験は行なわれていない。 [目的] バッチ依存性の起因を解明するために、4 種類のバッチの単結晶を X 線回折法に より構造解析を行なった。また、16K∼315K まで 25K ごとに計 13 点における構造解析 を行なった。 [バッチ依存性の実験、結果、考察] イメージングプレート方式の X 線回折計（マック サイエンス：DIP-320V ）を用い、X 線源には 50kV-90mA の MoK 線を使用した。解析 の結果、ユニットセル体積と S 原子の占有率との間には相関が見られ、S 原子位置に 2 サイト有る場合は S 原子が 1 サイトのみの時に比べユニットセル体積が 1.2 ％程大きかっ た（表１） 。この物質では c 軸方向にこのプロペラ構造が右回りと左回りの交互になって 、これにより密にパッキングしている。ところがこのプロペラ構造が乱れ、 おり（図 1 ） 右回りと左回りが交互に並ばなくなると構造解析の結果に S が 2 サイト現れ、更にパッ キングも密でなくなるためユニットセル体積が大きくなると推測される。過去の実験に 見られたバッチ依存はこのような S 原子占有率の乱れの大小が原因であると考えられる。 [温度依存性の実験、結果、考察] 使用 X 線装置、出力は上記の実験と同じである。ク ライオスタットはヘリウムガスフロー型を使用した。使用した単結晶はバッチ DS1 から 選んだ。解析の結果、空間群の変わるような構造相転移は見られなかった。各パラメー ターの温度比較を行なった。格子定数に 220K 近傍にピークが見られる（図 2 ）など、物 性測定から構造変化の有ると推測された温度においていくつか変化が見られた。際立っ た構造相転移は無くても、これらの点で起こっている構造の小さな変化が物性に影響を 与えてると推測される。詳細は当日発表する。 [序論]. 図は 平成 10 年度修士論文研究発表要旨集参照 keywords. ハロゲン架橋一次元複核金属錯体、単結晶 X 線構造解析、混合原子価. Copyright c 1999 by Satoshi nakagami.
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